Приборы для измерения чистоты поверхностей

ПРИБОРЫ для ИЗМЕРЕНИЯ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТИ [c.665]

Заводом Калибр на базе пневматических длиномеров для измерения линейных размеров был разработан первый производственный пневматический прибор для проверки чистоты поверхности, в котором были использованы основные положения работы, проведенной в Бюро взаимозаменяемости. [c.119]

Двойной микроскоп Линника. Прибор предназначен для измерения чистоты поверхностей 3—9-го классов чистоты. Действие микроскопа основано на принципе светового сечения (фиг. 102). Прибор (фиг. 103) состоит из двух микроскопов микроскоп А служит для освещения исследуемой поверхности (проектирующий микроскоп), микроскоп В — для наблюдения и измерения получаемого очертания кривой [c.452]

Для измерения чистоты поверхности служат специальные приборы профилометры, профилографы, микроинтерферометры, двойные микроскопы МИС-11. В цехах, где производятся покрытия, обычно достаточна оценка чистоты обработки путем сравнения с эталонными образцами. [c.534]

Для измерения чистоты поверхности в настоящее время промышленностью выпускается ряд специальных приборов двойные микроскопы акад. Линника МИС-11, профилографы Левина ИЗП-17М, ИС-18, ИЗП-5, интерференционные микроскопы МИИ-1. [c.397]

Для измерения чистоты поверхности стенок отверстия или профиля внутренней резьбы на некоторых других приборах например, двойном микроскопе Линника (МИС-11), деталь нужно разрезать, что ограничивает возможность применения этих приборов. [c.163]

К наиболее распространенным приборам бесконтактного действия, удобным в цеховых условиях, принадлежит двойной микроскоп акад. В. П. Линника (фиг. 52). Он может быть использован для измерения чистоты поверхности от 3 до 9-го класса. Действие его основано на так называемом методе светового сечения (фиг. 52, а). Свет через узкую щель в одной трубке микроскопа падает под углом на измеряемую поверхность (фиг. 52, б) и дает резкие контуры сечения, образуемого тонким световым пучком. Эти контуры наблюдаются через вторую трубку микроскопа, расположенную под углом 90° к первой (фиг. 52, в), с увеличением от 50 до 250 раз. [c.65]

Этот прибор предназначен для измерения чистоты поверхности в единицах в соответствии с ГОСТом 2789-51 без дальнейших пересчетов. Прибор дает возможность измерять чистоту от 5-го до 12-го класса включительно. [c.334]

Следует отметить, что. переносные приборы, основанные на использовании радиоактивных излучений, практически не могут быть применены в случаях, когда необходимо определить толщину тонкого слоя отложений. Поэтому наряду с разработкой радиометрических методов обнаружения отложений в трубах целесообразна разработка и других методов в зависимости от конкретных заданных условий. Так, например, для обследования чистоты поверхностей и засоренности труб пароперегревателей, выполненных из аустенитных сталей, может быть применен индукционный метод измерений. В связи с этим был разработан прибор, схема которого показана на рис. 21. [c.48]

Измерение чистоты поверхности производится по среднему квадратическому отклонению высоты поверхностных неровностей или по среднему арифметическому отклонению в пределах 4—9-го классов чистоты по ГОСТу 2789-59 относительным методом, т. е. путем сравнения с аттестованными образцами того же вида обработки и классов чистоты. Шкала прибора тарируется по образцам соседних классов чистоты. Описанный метод пригоден для цехового контроля в массовом производстве. Может производиться качественная оценка чистоты поверхности непосредственным сравнением с образцами и оценка количественная (в или по тарированной шкале [c.254]

При случаях, когда требуется определить класс чистоты поверхностей деталей, недоступных не только измерению специальными приборами, но и сравнению с образцами чистоты, используют метод слепков. Сущность этого метода состоит в том, что с измеряемой поверхности снимают слепок, на котором получают изображение микронеровностей нужного нам участка поверхности. Затем с помощью специальных приборов определяют класс чистоты поверхности слепка. Для изготовления слепков рекомендуется масляно-гуттаперчевая масса, состоящая из 45% гуттаперчи, 35% трансформаторного масла и 20% битума У. В последнее время, в связи с развитием химии полимеров, для слепков получили применение эпоксидные смолы и силиконовые пасты. После затвердевания они обладают высокой прочностью, крайне [c.119]

На фиг. 58 изображен Индикатор поверхности № 533 , закрепленный в приспособлении № 589. Контролируемая цилиндрическая деталь лежит на призме и перемещается относительно прибора с помощью микрометрического винта, снабженного отсчетным барабаном. Для контроля чистоты поверхностей больших валов и шеек коленчатых валов к прибору прилагаются специальные приспособления (Л Ь 534—3 и № 1535). С помощью прибора молено также производить измерение чистоты поверхности в отверстиях иа небольшой глубине диаметром от 30 мм и на боль-ошх глубинах — диаметром от 60 мм. [c.81]

Для определения 0в и Сто,2 по динамической твердости, получаемой с помощью приборов типа ВПИ, предложен ряд зависимостей. Однако в связи с большим разбросом данных определение ударной твердости менее надежно, чем статической. Применение этих приборов требует высокой чистоты поверхности в связи с небольшой величиной отпечатка и возможностью значительной погрешности при измерении отпечатка. [c.35]

ОЦЕНКА ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТИ И ПРИБОРЫ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ [c.422]

Для оценки чистоты поверхности и измерения ее шероховатости применяют эталоны чистоты поверхности и различные приборы. [c.513]

Из вышеуказанных бесконтактных приборов двойной микроскоп Линника МИС-11 предназначен для измерения чистоты обработанных поверхностей с 3-го по 9-й класс интерференционные микроскопы МИИ-1, МИИ-4, МИИ-5— для поверхностей с 10-го по 14-й класс. [c.214]

Профилометр КВ-7 состоит из датчиков двух типов (типа Б для измерения чистоты плоских и наружных поверхностей и типа М для измерения чистоты отверстий), электропривода и усилителя с показывающим прибором, смонтированным в общем корпусе. Электропривод пред- [c.174]

В настоящее время градуирование или проверка щуповых приборов для измерения чистоты поверхности производится по одному из следующих методов 1) с использованием плоскопараллельных концевых мер длины 2) с использованием производственных (технических) образцов чистоты поверхности 3) с использованием исходных (искусственных) образцов чистоты поверхности 4) с использованием электромеханического эквивалента чистоты поверхности. [c.236]

Изготовляя исходные образцы, их авторы стремились создать поверхности с искусственной шероховатостью, предназначенные для проверки и градуирования всех известных в настоящее время приборов для измерения чистоты поверхности, оптических и щуповых, в том числе и для градуирования прсфилометров. Созданные образцы должны охватывать весь диапазон классов чистоты — от 1 до 14-го. [c.241]

Д а в ы д о в Б. С., Исследование сопоставимости показаний щуповых и оптических приборов для измерения чистоты поверхности , Приборостроение № 3, 1956. [c.255]

Хотя развернутой классификации, которой было бы охвачено все многообразие методов и приборов для измерения чистоты поверхности, до сегоднящнего дня не разработано, представляется, однако, возможным в настоящее время классифицировать приборы, получившие наибольшее распространение в промышленности, основанные на методе ощупывания поверхности иглой. Эти средства измерений в достаточной мере апробированы практикой и обоснованы рядом теоретических исследований. [c.63]

В производственных условиях перед контролером часто возникает вопрос о возможности применения того или иного ш,упового прибора для измерения шероховатости поверхности изделий из мягких материалов. Профилометрам и профилографам присущи определенные погрешности, объясняемые природой контактного метода измерений. Основными пара-.метрами прибора, которые в первую очередь определяют величину искажений при ощупывании поверхности, являются, как указывалось выше, радиус закругления щупа г и усилие Р. Если радиус закругления иглы. можно рассматривать на определенном отрезке времени как величину постоянную для данного прибора, то измерительное усилие, в зависимости от динамических характеристик ощупывающей системы, скорости ощупывания и характера профиля контролируемой поверхности, может сильно изменяться- Это обстоятельство учитывается при конструировании приборов, В современных профилометрах и профилографах, благодаря рациональной конструкции датчиков, а также уменьшению скорости ощупывания добиваются значительного снижения доли динамической составляющей Р,) в общей величине усилия Р. Если радиус закругления иглы у большинства профилометров принят равным 10—15 мк. то измерительное усилие колеблется в весьма широких пределах и достигает в некоторых конструкциях 1—2 гс. Естественно, что при таких уси- лиях на поверхности контролируемого изде.лия, в зависимости от меха нических свойств, и в первую очередь, от твердости материала, будут оставаться более или менее глубокие царапины. Царапание, как следует из анализа, приводимого в главе VI, может по-разному сказаться на показаниях щуповых приборов. Когда размеры впадин велики по сравнению с размерами щупа (при пологом профиле с большим шагом неровностей), а перепад усилия ощупывания на дне впадины и на выступе характеризуется небольшой величиной, погрешности измерения незначительны. При узких микронеровностях, вследствие различных условий деформаций материала на гребешке и во впадине, происходит сглаживание профиля и соответствующее уменьшение измеренной высоты. Это уменьшение тем значительней, чем мягче материал контролируемого изделия и чище его поверхность. На фиг. 115 схематически показаны общие соотношения мелкду данными, получающимися при ощупывании, поверхности иглами с радиусами закруглений г= 10 мк при измерительных усилиях — 2 с С и показаниями оптических бесконтактных приборов. По оси абсцисс графика отложены классы чистоты, установленные с помощью оптических приборов по оси ординат — классы, получающиеся при ощупывании иглами, имеющими указанные выше г и Р. Кривая Т относится к теоретической поверхности абсолютно твердого тела с весь ма пологими неровностями кривая Л4 —- к поверхности изделий с твердостью Ял <20 кгс1мм и углом раскрытия впадин 100°. Между этими двумя кривыми располагаются кривые, относящиеся к поверхностям изделий из стали (С), бронзы (б) и т. п. При контроле профилометрами, имеющими значительные усилия ощупывания чистых поверх- [c.154]

Количественный м етод оценки ошован на измерении микрогеометрии поверхности при помощи приборов. Для контроля чистоты поверхности применяют следующие приборы [c.41]

Пневматический прибор для контроля чистоты поверхности предназначается для контроля поверхностей 4—9-го классов. Настройка Сопло производится по аттестованным техноло-гическим образцам чистоты поверхности или по образцовым деталям. д. , I. Метод измерения основан на определе- [c.520]

Щуповой профалограф-профилометр- (лабораторный) мод. 201 (ГОСТ 9504—60) предназначен для измерения шероховатости поверхности 5—12-го классов чистоты по показывающему прибору и 5—14-го классов при записи ирофилограммы с пределами увеличения 1000—200 ООО (вертикального) и 2—4000 (горизонтального). Погрешность показаний 10%. [c.514]

ИНТЕРФЕРОМЕТР — прибор, основанный на явлении интерференции волн. В соответствии с природой волн существуют интерферометры акустические для звуковых волн и И. для ол.-магн. воли. К последним относятся онтич. И. и радиоинтерферометр. В данной статье расс.матриваются оптич. И., к-рые получили наиб, распространение как приборы для измерения длин волн спектральных линий и их структуры для из.мере-ния показателей преломления прозрачных сред в метрологии для абс. и относит, измерений длин и перемещений тел, измерения угл. размеров звёзд (см. Интерферометр звкздпъьй) для коитроля формы, микрорельефа и деформации поверхностей оитич. деталей и чистоты мета ллич. поверхностей и пр. [c.170]

В 1944 г. в лаборатории Г. Апарина (МВТУ) была разработана конструкция механического профилографа на базе микрокатора — прибора для линейных измерений. Запись профилограм.мы осуществлялась посредством падающей дужки. Конструкция не получила дальнейшего развития, так как встретились затруднения, связанные с большой нестабильностью показаний первых образцов микрокатора. Однако идея использования микрокатора для определения чистоты поверхности оказалась правильной. [c.80]

Необходимо отметить, что с помощью большинства сконструированных в настоящее время щуповых приборов возможно определение чистоты поверхности в отверстиях диаметром от 8 до 12 мм. К таким приборам, как электродинамический профилометр, изготовлено большое количество приспособлений для измерения изделий самой различной конфигурации и размеров поршневых колец, часовых деталей, шеек коленчатых валов и т. п. Одно из таких приспособлений, разработанное в ЗНИИПП. для определения с помощью профилометра чистоты поверхности шариков подшипников качения, представлено на фиг. 78. [c.93]

Пневматический метод для определения чистоты поверхности впервые применил в 1937 г. П. Нйколо. Он пытался приспособить пневматический прибор, используемый до этого для измерения линейных размеров, к измерению шероховатости. При этом предполагалось, что впадины микронеровностей могут быть заменены при тарировке прибора эквивалентным зазором между торцом сопла и совершенно гладкой поверхностью. Таким образом считалось возможным оценивать размеры микронеровностей по параметрам — средняя глубина поверхностных неровностей или глубина сглаживания непосредственно в микронах. [c.118]

Измерение производится относительным методом по заранее аттестованным образцам на приборах Киселева или других приборах. Канд. тех. наук П. М. Полянским разработаны измерительные головки для контроля чистоты плоских поверхностей (фиг. 220а и 221) и цилиндрических поверхностей (фиг. 222). Полная схема пневматического прибора для суммарной оценки чистоты поверхностей изображена на фиг. 220. Этот прибор предназначен для контроля чистоты поверхностей от 3-го до 11-го классов. [c.160]

Электрическая лампочка питается через трансформатор от сети переменного тока 127/220 В. Накал лампочки может регулироваться реостатом, вмонтированным в корпус трансформатора. Для измерения неровностей различных классов чистоты к прибору прилагаются четыре пары сменных микрообъективов. Действие большой группы приборов для оценки шероховатости поверхности (профилометры и профилографы) основано на методе ощ,упывания поверхности. Ощупывание осуществляется специальной алмазной иглой с малым радиусом закругления вершины — до 10 мкм. В процессе измерения игла с очень небольшим давлением двигается по поверхности детали, то поднимаясь на гребешки, то опускаясь во впадины. Таким образом, игла копирует поверхность, воспроизводя своими движениями все имеющиеся на ней неровности. [c.30]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...