Оценка чистоты поверхности и приборы для измерения шероховатости

Для оценки чистоты поверхности и измерения шероховатости поверхности применяют эталоны чистоты поверхности и различные приборы. [c.328]

Измерение шероховатости поверхности бесконтактным способом производят с помощью оптических приборов акад. В. П. Линника. Одним из основных приборов для количественного определения шероховатости поверхности является двойной микроскоп МИС-11. Он предназначен для измерения шероховатости в пределах 3—9-го классов чистоты по ГОСТу 2789—59. Для оценки шероховатости 10—14-го классов чистоты используют интерференционные микроскопы МИИ-1 и МИИ-4. [c.81]

Приборы для определения класса чистоты. Для деталей и изделий, поверхности которых отшлифованы и отполированы в целях декоративной отделки, при оценке качества их обработки нет необходимости в точном определении класса чистоты обработки, но определение порядка величины класса часто бывает необходимым. Для точных определений степени шероховатости по ГОСТу 2789—59 предусмотрены приборы, изготовляемые в соответствии с ГОСТом 9847—61. Это оптические приборы типа ПСС, действие которых основано на принципе светового сечения, и приборы типа ПТС, действие которых основано на принципе теневого сечения. Они предназначаются для измерения шероховатости от 1 до 9-го класса. [c.23]

Для измерения высоты микронеровностей и отнесения обработанной поверхности к тому или иному классу чистоты применяются специальные приборы двойной, микроскоп Линника, микропрофилометры, микроинтерферометры и др.), а также эталоны шероховатости (для оценки поверхности методом сравнения). Измерение шероховатости поверхности должно производиться в направле- [c.71]

Электрическая лампочка питается через трансформатор от сети переменного тока 127/220 В. Накал лампочки может регулироваться реостатом, вмонтированным в корпус трансформатора. Для измерения неровностей различных классов чистоты к прибору прилагаются четыре пары сменных микрообъективов. Действие большой группы приборов для оценки шероховатости поверхности (профилометры и профилографы) основано на методе ощ,упывания поверхности. Ощупывание осуществляется специальной алмазной иглой с малым радиусом закругления вершины — до 10 мкм. В процессе измерения игла с очень небольшим давлением двигается по поверхности детали, то поднимаясь на гребешки, то опускаясь во впадины. Таким образом, игла копирует поверхность, воспроизводя своими движениями все имеющиеся на ней неровности. [c.30]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...