Плотность тока в пучке

Плотность тока в пучке [c.29]

ТИМОЙ плотности тока в пучке интенсивность пучка возраС тает за счет увеличения его площади. Такой масс-ана-лизатор может быть использован для разделения изотопов с целью получения малых количеств чисты.к изотопов. Недостаток данной схемы — быстрое загрязнение коллектора с узкими каналами, на стенки которых попадают ионы, движущиеся по траекториям, отличным от равновесной. [c.50]

При увеличении толщины свариваемых металлов необходимо стремиться к уменьшению угла сходимости пучка на изделии и к повышению плотности тока в пучке в плоскости фокусировки, что согласно выражению (1.1) возможно при увеличении электронной яркости путем повышения плотности тока в кроссовере. [c.329]

Как известно, роль аберраций состоит в увеличении изображения без привлечения новых частиц. Это возможно только при изменении распределения плотности тока в пучке. Поэтому тщательное изучение аберраций должно основываться на исследовании распределения плотности тока. Было показано [176, [c.343]

Плотность тока в луче можно регулировать, меняя диаметр фокусного пятна на изделии без изменения значения общего тока, используя магнитную линзу. Такая линза представляет собой катушку с током, ось которой совпадает с осью луча. Для повышения эффективности работы ее помещают в ферромагнитный экран. В этом случае магнитное поле концентрируется в узком немагнитном зазоре. Фокусное расстояние линзы - расстояние от середины этого зазора до минимального сечения прошедшего сквозь линзу пучка - определяется конструкцией линзы, анодным напряжением пушки и током, протекающим по обмотке линзы. [c.197]

Поэтому вопрос об оптимальных условиях исследования решать следует экспериментальным путем. Однако в любом случае необходимо стремиться работать с минимальными плотностями тока в электронном пучке, что уменьшает как вероятность загрязнения подложки, так и изменений, происходящих в объекте (в частности, роста частиц). [c.37]

Здесь отметим только, что способность их выдерживать значительной плотности ток в электронном пучке позволяет применять кварцевые отпечатки при очень больших увеличениях, когда приходится интенсифицировать яркость изображения на экране микроскопа увеличением тока в пучке. [c.55]

Уже отмечалось, что использование неоднородного магнитного поля с коэффициентом неоднородности 0,8— 0,9 позволяет увеличить дисперсию масс-спектрометра. Однако создание прибора, предназначенного для измерения изотопов тяжелых элементов, связано с большими трудностями. Например, при радиусе отклонения ионов г = 200 мм и коэффициенте неоднородности га = 0,9 для системы отклонения на 180° согласно уравнению (2.6) длина траектории пути ионного пучка равна - 2500 мм, что почти в четыре раза больше, чем у прибора с однородным полем. В этом примере источник и приемник ионов удалены от поля приблизительно на 1 м. Расширение пучка ионов в поле при угловой апертуре 2—3° составляет около 100 мм, следовательно, ширина плоской части трубы и полюсных наконечников, создающих поле, должна быть не менее 150 мм. Все это увеличивает габариты трубы и магнита спектрометра, а также сильно усложняет конструкцию вакуумной части прибора. Напомним, что повышение дисперсии и разрешающей силы прибора за счет увеличения длины траектории ионного пучка неизбежно приводит к ослаблению светосилы прибора, так как допустимая плотность ионного тока в пучке обратно пропорциональна квадрату длины ионного пути. [c.38]

Требования к точности, предъявляемые практикой, обычно не очень высоки мы должны быть вполне удовлетворены, если можем предсказать размер пятна и плотность тока хорошо сформированного пучка с относительной точностью Ю7о. Проблема состоит в том, что при определении этих величин необходимо произвести несколько различных вычислений подряд. При расчетах обычных устройств сначала вычисляют распределение полей, затем траектории, аберрации и, наконец, размер пятна и плотность тока. В последующих вычислениях используются содержащие погрешность результаты предыдущих вычислений. В большинстве случаев очень трудно проследить распространение ошибок и оценить необходимую точность вычислений распределения поля, требуемую для достижения желаемой точности окончательного результата. Из-за двух- или даже трехмерного характера поля его вычисления являются обычно наиболее сложными. Поэтому естественно попытаться достичь максимально возможной точности этих расчетов в рамках имеющихся вычислительных ресурсов (время и память). [c.145]

Начальные скорости частиц имеют максвелловское распределение. Соответственно плотность тока в поперечном сечении пучка имеет гауссово распределение. Для упрощения вычислений реальный пучок можно заменить эквивалентным пучком с постоянной плотностью тока, полный ток / которого равен току в гауссовом пучке [174]. Тогда можно записать [c.340]

Таким образом, обладая громадной плотностью энергии в зоне обработки, по сравнению с другими источниками тепла (кроме лазера), возможностью изменения величины этой энергии (значением ускоряющего напряжения и тока в пучке) и места ее приложения с острой фокусировкой, точностью и подвижностью перемещения луча по зоне обработки, электронный пучок является весьма эффективным технологическим средством. [c.463]

Например, если энергия электронов достигает 100—150 кэв и луч сфокусирован в пучок диаметром до 0,01 мм, то уже при силе тока в пучке 0,1 ма создается настолько высокая плотность энергии, что материал в точке касания луча нагревается до температуры около 6000° С. Этот термический эффект действия электронов при их торможении и лежит в основе электронно-луче-вых методов обработки. [c.366]

Ускоряющее напряжение и ток пучка электронов определяют подводимую мощность пучка электронов, а ток фокусирующей линзы определяет плотность энергии в пучке и положение фокуса относительно поверхности свариваемого металла. [c.88]

Электронный луч создается в специальном приборе — электронной пушке (рис. 10), с помощью которой получают узкие электронные пучки с большой плотностью энергии. Пушка имеет катод /, который может нагреваться до высоких температур. Катод размещен внутри прикатодного электрода 2. На некотором расстоянии от катода находится ускоряющий электрод (анод) 3 с отверстием. Элект-ройы, выходящие с катода, фокусируются с помощью электрического поля между прикатодным и ускоряющим электродами в пучок с диаметром, равным диаметру отверстия в аноде 5. Положительный потенциал ускоряющего электрода может достигать нескольких десятков тысяч вольт, поэтому электроны, испускаемые катодом, на пути к аноду приобретают значительную скорость и энергию. Питание пушки электрической энергией осуществляется от высоковольтного источника 7 постоянного тока. [c.15]

М. имеет накаливаемый катод, миниатюрный объёмный резонатор с обладающим большой ёмкостью узким зазором, ограниченным сетками, и отражал, электрод. Большая ёмкость позволила сократить линейные размеры резонатора, к-рые у М. на порядок меньше длины волны генерируемых колебаний. Расположение катода непосредственно под сеткой, ограничивающей зазор резонатора, обеспечило предельное сокращение длины электронного пучка, что в свою очередь позволило достичь макс, плотности тока и повысить рабочий ток. В результате снизилось рабочее напряжение, возросли кпд, диапазон электронной настройки и стабильность частоты по сравнению с др. типами отражал, клистронов. [c.155]

Первое направление преследовало цель поиска более оптимальных конструкций источников с повышенными параметрами. Постепенно, по мере выполнения большого количества теоретических и экспериментальных работ, накопился ценный материал, который использовали при создании более совершенных ионнооптических систем. Уже в начале 60-х годов появились источники, обладающие повышенной светосилой и стабильными пучками ионов. Дальнейшая возможность повышения светосилы узкощелевых источников была быстро исчерпана, так как верхний предел интенсивности ионного источника ограничивается допустимой плотностью тока в пучке. Последняя составляет приблизительно 10 а мм поперечного сечения пучка. При указанной плотности тока электростатические силы расталкивания ионов еще мало заметны и мало влияют на фокусировку по направлению. [c.84]

Диск минимального рассеяния. Как следствие теоремы Шерцера и уравнения (5.79), удаленный луч всегда пересекает оптическую ось ближе объекту, чем параксиальный (см. рис. 64). Рассмотрим различные лучи, пересекающие оптическую ось в непосредственной близости от гауссовой плоскости изображения 2 = 2 (рис. 68). Для простоты аппроксимируем все лучи в этой области прямыми линиями [20], как если бы мы заинтересовались только их асимптотическим поведением. Это можно показать в грубом приближении, но при этом необходимо также предполагать постоянное распределение плотности тока в пучке, что сводит на нет любые дальнейшие изыскания с учетом реального хода лучей. [c.280]

В 90-е годы основным типом генераторов изображений, используемым при создании ДОЭ, становятся электронно-лучевые генераторы (ЭЛГ). Засветка пластин производщтся полосами электронного пучка определенной ширины методами векторного или полярного сканирования. Динамическая система отклонения учитыва-ет движение стола во время экспонирования и определяет координаты следующего штампа. Между двумя воздействиями на светочувствительный слой луч бланки-руется. Обладая способностью работать при больших плотностях тока в пучке на мишени, а также изменять размеры штампов в широких пределах, ЭЛГ имеют высокую производительность — десяткм квадратных сантиметров в минуту или десятки пластин в час. Пространственное разрешение ЭЛГ достигает величины ОД мкм, что снимает проблему фотоуменьшения для диапазона видимых волн. [c.247]

С другой стороны, повышенная электронно-возбуждетгная проводимость материалов используется для снижения плотности тока электронного пучка, поскольку ток затем может усиливаться в результате интенсивной генерации электронно дырочных пар в мишени. Снижение же тока тем более необходимо, что тслевизнс н-ный темп зарядки мишени с требуемым значением тока 400 м .А. [c.56]

При полном прохождении тока и при отсутствии различного рода несовершенств элек-тронно-оптической системы электронная яркость, представляющая собой плотность тока в единице телесного угла сходимости пучка, постоянна по всей его длине [13]. Так, [c.329]

Источником модулированного светового излучения могут служить также люминесцентные экраны электроннолучевых приборов (модуляция осуществляется изменением плотности тока в электронном пучке или перемещением пучка) и электролюминесцептпые устройства. Яркость таких источников значительно ниже яркости газоразрядных ламп, а инерционность определяется длительностью высвечивания люминофоров. [c.279]

Радиометрия — это метод получения информадии о внутреннем состоянии объекта контроля с регистрацией выходящего пучка излучения в виде электрических сигналов. Схема данного метода контроля приведена на рис. 6.17. В радиометрии используют в основном два метода среднетоковый и импульсный, которые различают способами регистрации излучения и электронной обработки информации. Контроль осуществляется сканированием объекта узким пучком. Плотность потока выходного пучка при наличии дефекта меняется и преобразуется в электрический сигнал, пропорциональный плотности пучка. В среднетоковом методе используют сцинцилляционные кристаллы, которые выдают сигнал в виде среднего тока, а в импульсном — полупроводниковые счетчики, которые регистрируют излучение в виде последовательности импульсов двумя независимыми полупроводниковыми детекторами. [c.164]

В процессе проведения эксперимента к цифровому вольтметру через аналоговый коммутатор подключаются датчики давления, тока электронного пучка и интенсивности излучения, возбуждаемого электронным пучком. Аппаратура работает в двух режимах первый — определение тарировочной зависимости излучения от плотности газа второй — получение зависимости интенсивности излучения от координаты с последующим пересчетом в профиль изменения плотности газа. Программное обеспечние комплекса включает две основные программы тарировка и эксперимент . [c.354]

Новым перспективным направлением ионно-лучевого модифицирования материалов является облучение вгисокоинтснсивными импульснь/-ми пучками ионов. В ряде лабораторий мира [83, 84] в последние годы была показана высокая эффективность использования мощных импульсных ионных пучков (МИП) для направленной модификации физи-ко-механических и химических свойств металлов и сплавов. Обычно используют ионные пучки с длительностью импульса порядка 10-100 не, энергией ионов 100-500 кэВ, плотностью тока j = 50-250 А/см и плотностью энергии 1-5 Дж/см-. В отличие от традиционной ионной имплантации при обработке МИП роль легирования весьма мала, так как доля легированной примеси меньше на три порядка (доза ионов ион/см ) и не превышает нескольких сотых процента. [c.168]

Основные технические характеристики давление в рабочей камере не выше 5 10 тор режим работы импульсньп1 длительность импульса тока пучка 5 10 с плотность тока пучка 40-150 А/см площадь сечения пучка ионов 40-100 см- [c.242]

Необходимым оборудованием для радиационно-энергетической обработки твердо-сплавных режущих пластин и инструментов являются вакуумная термическая печь, установка для нанесения покрытий, ускоритель сильноточных ионных пучков. Выбор режимов термической, ионно-плазменной и ионно-лучевой обработки осуществляется в соответствии с известными и специально разработанными технологическими рекомендациями. Наиболее важные варьируемые параметры технологического процесса - состав и толщина наносимого покрытия, плотность тока сильноточного ионного пучка, а также режимы окончательной термической обработки износостойкого комплекса. Стабилизационный отжиг, являющийся окончательной технологической операцией, желательно проводить в условиях вакуума с контролируемой скоростью охлаждения, которая регулируется циркуляцией инертного газа. Режимы и вид предварительной термической обработки назначаются для каждой марки твердого сплава, исходя из задач его дальнейшей эксплуатации, определяемых условиями трибомеханического нагружения модифицированного инструмента в прогдессс пезаиня. [c.267]

Активация исследуемых образцов вместе с эталоном осуществлялась однородным по сечению пучком протонов с энергией 2.67 МэВпри плотности тока 2 мкА/см в течение 1.5 ч на электростатическом ускорителе ЭГ-8. При данной энергии протонов наведенная активность образца определяется в основном радиоизотопом образующимся из изотопа кислорода 0 по реакции р, п) и распадающимся с испусканием позитрона со средней энергией 0.22 МэВ и периодом полураспада 110 мин. Из элементов, обычно входящих в состав покрытий и сплавов, только значительные количества бора, кальция и титана приводят к появлению заметной дополнительной активности [3], которая может быть учтена путем измерения активности аналогичных образцов с естественным содержанием изотопов кислорода. [c.178]

Для генерации ионных пучков анод диода делают из диэлектрика соответствующего хим. состава. В результате пробоя на поверхности анода образуется плазма, из к-рой под действием внеш. поля и поля пространственного заряда электронов эмиттируются ноны. Для увеличения энергии в ионном пучке ток электронов, пересекающих диод, должен быть уменьшен, но сохранён большой отрицат. пространственный заряд. Для этого используется либо поперечное. магн. поле, параллельное поверхности катода (т. н. ионные диоды с магн. изоляцией, рис. 3, а), либо полупрозрачные для ускоренных электронов аноды, покрытые диэлектриком (т. н. рефлексные диоды и триоды, рис. 3, б). Во втором случае электроны многократно проходят сквозь анод, создавая увеличенный отрицат. пространственный заряд, облегчающий вытягивание ионов из плазмы. При прочих равных условиях значение плотности тока ионов оказывается в M mg раз меньше плотности электронного тока. Эффективность ионных источников достигает 50—60% при импульсном токе ионов 1 MA ij напряягонии [c.504]

Смотреть страницы где упоминается термин Плотность тока в пучке : [c.319] [c.93] [c.205] [c.207] [c.424] [c.411] [c.56] [c.620] [c.208] [c.340] [c.602] [c.146] [c.478] [c.84] [c.319] [c.230] [c.23] [c.207] [c.435] [c.123] [c.503]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...