Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Задержка распространения

Универсальность. При определении ОА необходимо выбрать совокупность внешних параметров и совокупность выходных параметров у/, отражающих учитываемые в модели свойства. Типичными внешними параметрами при этом являются параметры нагрузки и внешних воздействии (электрических механических, тепловых, радиационных и т.п.). Увеличение числа учитываемых внешних факторов расширяет применимость модели, но существенно удорожает работу по определению ОА. Выбор совокупности выходных параметров также неоднозначен, однако для большинства объектов число и перечень учитываемых свойств и соответствующих им выходных параметров сравнительно невелики, достаточно стабильны и составляют типовой набор выходных параметров. Например, для макромоделей логических элементов БИС такими выходными параметрами являются уровни выходного напряжения в состояниях логических О и 1 , запасы помехоустойчивости, задержка распространения сигнала, рассеиваемая мощность.  [c.150]


Большинство выходных параметров объекта являются функционалами зависимостей V(Z), т. с. для их определения необходимо при заданных X н О выполнить решение системы уравнений (1.2) и по полученным результатам решения рассчитать V. Примерами выходных параметров-функционалов служат мощность рассеяния, амплитуда колебаний, длительность задержки распространения сигнала и т. п.  [c.23]

Рассмотренные варианты вставок, используемых для торможения трещин, не учитывают такую специфическую особенность усталостного разрушения, как закрытие трещин. Учет этого физического явления позволяет эффективно влиять на самоторможение и на задержку распространения трещины. Трещина всегда имеет большее или меньшее раскрытие. Сближение ее берегов принудительным способом непосредственно в вершине невозможно из-за наличия зоны пластической деформации перед вершиной трещины и развитого шероховатого рельефа излома (профиль берегов  [c.451]

Итак, выполнение отверстий в элементах конструкций, как наиболее простой технологический прием, может быть эффективно при использовании способов задержки распространения усталостных трещин. Установка втулок в отверстия и использование стяжных элементов позволяет существенно усилить эффект уменьшения концентрации напряжений в вершине усталостной трещины за счет ее притупления. Расположение стяжных элементов иод углом 45" к плоскости трещины создает предпосылку для возникновения взаимного перемещения берегов трещины в продольном направлении под действием растягивающей эксплуатационной нагрузки. Это приводит к контактному взаимодействию берегов уже сформированной трещины, к снижению ее раскрытия под действием эксплуатационных нагрузок и, в конечном итоге, к уменьшению скорости последующего роста трещины.  [c.455]

Хотя интуитивно может показаться неверным отбрасывание больших пиковых нагрузок для получения более критического режима испытаний, следует иметь в виду, что эффект задержки распространения трещин при случайных высоких нагрузках приведет к увеличению долговечности при испытаниях. Таким образом, исключение встречающихся менее 10 раз наивысших нагрузок из спектра испытательных нагрузок идет в запас прочности. Аналогичное усечение применяется при определении сроков проверки конструкций самолетов, в результате чего повышается вероятность обнаружения трещин до достижения ими критического размера. Более подробно вопрос о назначении сроков проверок рассматривается в разд. 8.8.  [c.295]


Образец нагружают в поперечном направлении и нагревают его продольную сторону определяют затухание (задержку) распространения трещины (рис. 1.361).  [c.138]

Основные электрические параметры микросхем время задержки распространения сигнала—400- 500 не, рассеиваемая мощность— менее 2 мВт, коэффициент нагрузки-4- 50, напряжение питания 4 В 10% помехоустойчивость —  [c.707]

Основные электрические параметры микросхем средняя задержка распространения сигнала — 35 — 50 не, рассеиваемая мощность—до 20 мВт, коэффициент нагрузки 4—20, напряжение питания 5 В 10%, помехоустойчивость не менее 0,9 В.  [c.707]

Рис. 23. К определению задержки распространения Рис. 23. К определению задержки распространения
КИМ образом задержки распространения примет вид [45]  [c.132]

Основной недостаток определения задержки распространения в виде функционала (5.11) состоит в том, что она не соответствует экспериментально измеряемой. Так как исходной информацией при оптимизации схемы являются технические требования, заданные на экспериментально измеряемые выходные параметры, то при оптимизации схемы выходные параметры следует вычислять аналогично.  [c.132]

Рассмотрим методы анализа чувствительности задержки распространения, вычисляемой на произвольном заданном уровне а [46].  [c.132]

Последовательность вычислений при определении составляющих градиента задержки распространения в пространстве параметров компонентов по описанному способу сводится к следующему. Производится численное интегрирование системы из т нелинейных дифференциальных уравнений (5.10) и п систем, каждая из которых состоит из т линейных дифференциальных уравнений с, переменными коэффициентами (5.15), до момента времени 4. когда выходной сигнал достигает заданного уровня а. Далее в соответствии с (5.14) вычисляются составляющие вектора дtt/д W.  [c.134]

Рис. 24. К приближенному определению задержки распространения Рис. 24. К приближенному определению задержки распространения
Перейдем к рассмотрению метода определения влияния параметров компонентов на задержку распространения, который требует интегрирования значительно меньшего количества систем дифференциальных уравнений. Этот метод использует идеи вариационного метода анализа чувствительности, однако позволяет найти влияние параметров на задержку распространения, определяемую на заданном уровне. Пусть задан уровень а, на котором вычисляется задержка распространения. Дадим некоторое приращение уровню - -Аа и —Аа (рис. 24).  [c.135]

Тогда задержку распространения можно определить Из приближенного выражения для площади 5, заштрихованной на рис. 24  [c.136]

Для нахождения —и -— поступим следующим образом. (Аналогичный подход использован в [45] при вычислении коэффициентов влияния задержки распространения, косвенно определенной через функционал (5.11).) Рассмотрим более общий функционал  [c.136]

Алгоритм вычислений сводится в этом методе к следующему. В прямом времени интегрируется система нелинейных дифференциальных уравнений (5.10) до момента времени когда выходной сигнал достигает уровня а+Аа. При этом запоминается вектор V (/). В обратном времени интегрируется система линейных дифференциальных уравнений с переменными коэффициентами (5.22) при начальном условии (4) = 0. С момента времени необходимо дополнительно интегрировать аналогичную систему дифференциальных уравнений (5.26) при начальном условии Ха ( х) = 0. Одновременно необходимо вычислять определенные интегралы, вошедшие в (5.27). При вычислении задержки распространения инвертирующих схем в выражениях (5.22), (5.26) и (5.27) ду ду  [c.138]


К недостаткам метода следует отнести, во-первых, необходимость запоминания всех текущих значений составляющих вектора V, во-вторых, метод позволяет определить чувствительность задержки распространения, усредненной по уровням от а—ка до а+Аа. В дальнейшем этот метод будем называть вариационным методом анализа чувствительности.  [c.139]

Воспользовавшись результатами вариационного метода анализа чувствительности, найдем составляющие градиента задержки распространения, определяемой строго на заданном уровне, в виде предельного соотношения  [c.139]

Этот метод свободен от недостатков, присущих предыдущему, т. е. не требуется хранить в памяти составляющие вектора переменных состояния V при интегрировании (5.10) и вычисляются коэффициенты влияния задержки распространения, определяемой строго на заданном уровне. Однако при применении этого метода возрастает порядок системы линейных дифференциальных уравнений. Если в первом методе порядок—(тХ ), во втором — 2т, то в третьем — (т Хт).  [c.141]

Покажем, что коэффициенты влияния управляемых параметров на задержку распространения можно также получить в виде (5.34), если воспользоваться результатами прямого метода анализа (5.14), (5.15) и (5.17). Пусть 2о(0—фундаментальная матрица (тУ т) решений системы  [c.141]

Сравнение рассмотренных трех методов расчета чувствительности задержки распространения к изменению управляемых параметров по количеству дифференциальных уравнений, которые необходимо интегрировать для dit  [c.142]

Представляет интерес сравнение результатов расчета чувствительности задержки распространения к изменению управляемых параметров, полученных методом приращений, прямым и вариационным методами анализа чувствительности для схем различной сложности.  [c.144]

Гс, / з=г-к, где Гк и Гб—сопротивления тел коллектора и базы транзистора соответственно. Чувствительность задержки распространения вычислялась в точке  [c.144]

Из таблицы следует, что при малых приращениях управляемых параметров (Д7 =0,01/ ) приращение задержки распространения сравнимо с величиной шага интегрирования, с точностью до которого определяется задержка распространения.  [c.145]

Вероятность появления гребней возрастает при переходе от некоторой совокупности выходных параметров, каждый из которых отражает одно определенное свойство схемы, к меньшему числу выходных параметров, интегрально отражающих различные свойства схемы. Например, в переключательных схемах быстродействие можно оценивать совокупностью таких отдельных параметров, как длительности задержки переднего и заднего фронтов, длительности самих фронтов. Эти выходные параметры не являются гребневыми функциями своих аргументов. Быстродействие можно характеризовать и таким интегральным параметром, как средняя задержка распространения сигнала 4р, отражающим скорости включения и выключения. Рост такого параметра, как сопротивление нагрузки коллекторной цепи, приводит к увеличению степени насыщения транзистора и, следовательно, к уменьшению фронта включения, но и к увеличению времени выключения. В результате может оказаться  [c.160]

Методы решения логических уравнений. Анализ переходных процессов в логических схемах выполняют с помо-щь 0 асинхронных моделей (4.56), т. е. на основе асинхронного моделирования. К началу очередного такта ti известны значения векторов внутренних V/= U]<, V2i, Vni) и входных Ui переменных. Подставляя V и U,- в правую часть выражений (4.57), получаем новые значения которые примут внутренние переменные в моменты времени где ТА — внутренняя задержка распространения сигнала Vk в соответствующем элементе схемы. Далее переходим к следующему такту, в котором вычисления по (4.57) повторяются со значениями векторов V и U, соответствующими новому моменту времени (напомним, что время измеряется в количестве тактов). Асинхронное моделирование называют потактовым.  [c.250]

ГО излома можно судить о величине максимального напряжения цикла. Чем больше площадь статического долома, тем выше нагрузка. Шероховатость этой зоны также завис№г от амплитуды напряжений. Меньшему значению амплитуды напряжений соответствует более гладкая поверхность усталостного излома. Усталостные линии представляют макроскопические признаки усталостного излома, связанные с замедлением скорости или задержкой распространения трещины. Они соответствуют амплитудам напряжений, не приводящим к увеличению длины трещины после действия более высоких амплитуд. Отсутствие усталостных линий свидетельствует об устойчивом распространении трещины при неизменной амплитуде напряжений. Различие расстояния между усталостными линиями свидетельствует об изменяющемся характере приложенных напряжений циклов. С увеличением длины грещины скорость ее распространения возрастает, в результате чего увеличивается шероховатость поверхности излома. В области статического долома разрушения носят сдвиговой характер. Макрофрактографические особенности изломов малоцикловой усталости заключаются в строении собственно усталостных изломов. При относительно малом числе циклов нагружения (до тысячи) изломы при малоцикловой усталости близки к таковым при статическом растяжении. Разрушение сопровождается заметной макроскопичской деформацией (сужением). По мере увеличения числа циклов нагружения характер разрушения изменяется от вязкого к хрупкому разрушению. Поверхность собственно усталостного излома более шероховатая и составляет значительно меньшую долю в изломе, чем зона статического долома.  [c.121]

Указанный комплекс мероприятий направлен на поддержание требуемого уровня надежности и безопасности эксплуатации ВС в пределах существующего ресурса (назначенного или продленного). Решающую роль в обеспечении высокого уровня безопасности полетов ВС играют именно операции по задержке распространения трещин. Вот почему так важна технологическая проработанность этих операций применительно к объектам разной геометрии, изготовленным из различных конструкционных материалов. Сами операции и их последовательность основаны на различных физических явлениях, сопровождающих рост трещин.  [c.444]


Анализ экспериментальных данных показа л, что предложенная модель задержки распространения сигнала в базис-н(тм элементе ипфровой схемы качественно правильно отражает реалг.ные физические процессы, протекающие в логических элементах.  [c.125]

Примечание. Наряду с ликвидацией неполадок диспетчер принимает меры к локализации (задержке распространения) прорыва за счёт задела — временное питание ооследуюшнх операций (участка) из задела за счёт сроков — временное сохранение графика работы последующих операций за счёт использования страхового опережения в графике выполнения работ.  [c.227]

В импульсном режиме работы используют различные варианты УЗ импульсных посылок [15]. Получение измерительной информации связано с определением задержки распространения зондирующих импульсов. Передача импульсов в виде пакетов, заполненных колебаниями несущей частоты, дает энергетический выигрыш и обеспечивает высокую помехоустойчивость и информативность измерительного какала. Схемы акустических виброизмерителей и их метрологические характеристики рассмотрены в работе [29].  [c.132]

Лазерный локатор PATS работает следующим образом. Вначале оператор с помощью видеоконтрольного устройства 11, сопряженного с телевизиром 8, производит поиск цели. Для этого ручкой управления 12 формируют сигналы управления приводами 13, которые, вращая зеркало 7, нужным образом ориентируют в пространстве оптическую ось системы. Когда отметка цели попадает в центр поля зрения телевизира 8, лазерный локатор переходит в режим автоматического сопровождения цели, одновременно измеряя угловое положение цели и дальность до нее. Автосопровождение цели осуществляется по сигналам пеленгатора 17, а дальность измеряется устройством 19 по времени задержки распространения лазерного импульса до цели и обратно. Для уменьшения влияния фонового излучения в приемный оптический тракт введен интерференционный фильтр 16. Измерение углового. положения цели производится дат-  [c.195]

В, задержка распространения сигнала менее 400 не, Яагрузоч-иая способность от 3 до 6, помехоустойчивость более 100 мВ.  [c.705]

Так, в методе приращений бесконечно малые приращения заменяются конечными приращениями, а в вариа-цноипом методе вычисляются коэффициенты влияния управляемых параметров на задержку распространения,  [c.146]

Быстродействие методов становится особенно заметным при возрастании количества управляемых параметров. На рис. 46 приведена схема интегрального токового ключа, при расчете составляющих градиента задержки распространения неинвертирующего выхода которой к управляемым параметрам отнесены величины сопротивлений / 9, где Яъ — сопротивление тела базы транзистора Т1 Яв п —объемные сопротивления тел коллектора и базы транзистора Тг Я Яэ — аналогичные сопротивления транзистора Т3. Чувствительность задержки распространения вычислялась как через приращения (А/ 1 = 0,1 Яг), так и исследуемыми методами в точке / 1 = 270 Ом, 2=300 Ом, Яз=1,2 кОм, Яi = 2 кОм, / 5=- 7= 9= 103 Ом, Яе — Яв—б Ом, С = С2 = Ь пФ, Сз = = 10 пФ.  [c.147]

В этом примере рассмотрим подготовку исходных данных, процесс оптимизации и его результаты для схемы токового ключа, показанной на рис. 46. В отличие от предыдущих примеров здесь использовалась математическая модель схемы в виде системы дифференциальных уравнений. Интегрирование этой системы позволяет получить такие выходные параметры схемы, как з.р — задержка распространения сигнала — верхний уровень выходного напряжения Ai/gjjj — перепад напряжения на выходе. Параметры и i/n —допустимые уровни помехи в логических состояниях О и 1 — можно было бы найти в процессе анализа передаточной характеристики, полученной путем решения системы алгебраических и трансцендентных уравнений. Однако в данном случае для 11 и i/n имеются достаточно точные явные зависимости от параметров компонентов [18], которые мы и включим в ММС  [c.228]


Смотреть страницы где упоминается термин Задержка распространения : [c.196]    [c.77]    [c.241]    [c.709]    [c.39]    [c.131]    [c.131]    [c.133]    [c.135]    [c.140]    [c.145]    [c.220]   
Система проектирования печатных плат Protel (2003) -- [ c.0 ]



ПОИСК



Время задержки распространения

Задание задержек распространения

Задержка распространения моделирование

Задержка распространения переменная перекрытия

Задержки

Задержки распространения сигнала



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте