Темня Метод смещений

Методы выявления изменений (нарушений) микрорельефа поверхности на основе голографической интерферометрии обсуждались в работах [178-181]. Существо этих методов состоит в регистрации уменьшения контраста интерференционных полос, отражающего некоторое известное смещение объекта (например, наклон), вводимое между экспозициями дополнительно к нарушению микрорельефа. Падение контраста голографической интерферограммы является следствием уменьшения корреляции комплексных амплитуд световых полей, соответствующих двум экспозициям голограммы. Визуально оно обнаруживается в увеличении интенсивности в темных полосах (минимумах) интерференционной картины. Если при зтом зона нарушения микрорельефа поверхности оказывается меньше периода интерферограммы, то она остается невыявленной. [c.181]

При дальнейшем смещении апертурной диафрагмы конденсора относительно оси объектива до тех пор, пока световой пучок, направляемый конденсором на препарат, совсем не попадает в объектив, метод косого освещения превращается в метод темного поля в проходящем свете (рис. 2.26). В поле зрения микроскопа на темном фоне получаются светлые изображения частиц препарата за счет рассеянного им света. Метод применим для получения изображений прозрачных, непоглощающих, а поэтому и невидимых при наблюдении в светлом поле объектов. [c.36]

Метод дифракционного контраста основан на том, что электронные лучи, дифрагированные на дефектах, не попадают в отверстие апертурной диафрагмы, тогда как прямой пучок проходит через него. Это дает изображение в светлом поле. Если же в плоскость изображения попадают только дифрагированные лучи, а прямые лучи ее не достигают (это достигается смещением апертурной диафрагмы), то такое изображение называют темнопольным. В случае метода дифракционного контраста атомные плоскости в отличие от первого метода не разрешаются и наблюдаются результаты смещения атомов, и поэтому дислокации обычно изображаются темными линиями, а дефекты укладки и границы зерен дают интерференционные полосы . Контуры включения избыточных фаз при изучении тонких пленок выявляются достаточно четко из-за изменения условий дифракции, а также из-за интерференционного эффекта и скопления дефектов на границах. [c.77]

Относительно фотографий на фиг. 426 и 427 нужно добавить еще следующее. Светлые кольца на фотографиях не соответствуют областям, в которых смещение равно нулю, а давление принимает максимальное или минимальное значение. Действительно, в противном случае центру основания цилиндра соответствовала бы светлая область, поскольку ось цилиндра при радиальных колебаниях всегда является пучностью давления. Такая картина получается при наблюдении явления теневым методом (см. гл. III, 4, п. 1). Здесь (фиг. 428) светлые кольца соответствуют областям наибольшего давления, в которых показатель преломления наибольший. Напротив, на фотографиях, полученных в поляризованном свете, светлые места соответствуют областям различных радиальной и тангенциальной деформаций стекла. Промежуточные темные кольца, которые можно назвать узловыми линиями двойного лучепреломления, появляются в областях одинаковой радиальной и тангенциальной деформаций стекла. Как показал [c.388]

Методами интерференционной и оптической микроскопии при косом освещении параллельным пучком лучей детально исследовано поведение отдельных следов скольжения в крупных зернах медных образцов,, т. е. микротопография поверхности в следующих один за другим полуциклах знакопеременного деформирования с постоянной амплитудой. Экспериментально отчетливо выявлено возвратно-поступательное перемещение в следах скольжения. На рис. 13 в качестве примера показано одно и то же поле образца, полученное на интерферометре (а) и микроскопе при косом освещении (б), после растяжения (I) и последующего сжатия (II). Смещение интерференционных полос на ступеньках, которые возникли на поверхности образца в результате скольжения в одном направлении, соответствует темной линии при косом освещении. При сжатии образца изменилось как направление смещения интерференционных полос, так и освещенность следов скольжения. Наблюдаемые изменения свидетельствуют о последовательном образовании на поверхности образцов впадин и выступов. По изменению смещения интерференционных полос проведена количественная оценка смещения одной части кристаллита относительно другой в следах скольжения. Изменение величины смещения по следам скольжения особенно сильно проявляется при первых знакопеременных циклах деформирования, а потом затухает. [c.20]

Вращение П. вокруг оси изучается путем наблюдений видимых перемещений деталей по диску П. Так определены элементы экватора и период вращения Марса, Юпитера, Сатурна и Меркурия. Сплошной равномерный облачный покров не позволяет применить этот метод к Урану, Нептуну и Венере. Для первых двух период вращения определен на основе смещения спектральных линий в результате эффекта Доплера, для Венеры пока сделаны лишь первые оценки. Вращение П., у к-рых диск не различается (Плутон, астероиды), изучается но нериодич. колебаниям света, обусловленным прохождением через видимый диск светлых и темных участков. [c.29]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...