Поверхностного рельефа метод

Поверхностного рельефа метод 93 Поверхностные волны 255 [c.399]

При образовании мартенсита на гладкой (до превращения) поверхности стального образца формируется характерный рельеф, прекрасно различимый при увеличении (рис. 131, а). На рис. 131,6 показаны те же неровности поверхностного рельефа, сфотографированные с помощью специального метода интерференционной микроскопии. Принцип этого метода мы объяснять не будем, но фотография, думаем, скажет сама за себя. [c.224]

Косвенный метод исследования применяется ограниченно из-за трудности однозначно интерпретировать эффекты контраста на изображении и идентифицировать различные структурные составляющие, из-за частого возникновения артефактов, связанных с деформацией реплики при ее отделении от объекта и при различных манипуляциях с ней. Кроме того, разрешение электронно-микроскопических изображений лимитируется разрешением самой реплики, которое в лучшем случае достигает нескольких десятков ангстремов. В то же время развитие растровой (сканирующей) электронной микроскопии позволяет примерно с тем же разрешением прямо изучать поверхностный рельеф металлического образца, а также по рентгеновскому характеристическому излучению определять химический состав различных структурных составляющих и даже наблюдать картину распределения того или иного химического эле. гента по поверхности объекта. Поэтому практическая значимость косвенного метода невелика и в настоящее время ограничена электронной фрактографией. [c.50]

Гусев С. А., Платонов Ю. Я- Исследование поверхностного рельефа подложек и его влияние на оптические свойства зеркал в диапазоне длин волн 10— 100 А//Тез. Всесоюзного семинара Методы синтеза и применения многослойных интерференционных систем . — М. Изд-во МГУ, 1984. — С. 97. [c.244]

Фотохимическую обработку применяют для нанесения декоративных рисунков (имитации кожи и др.) на поверхность пресс-форм. Сущность этого технологического процесса заключается в воспроизведении на поверхности материала, покрытого слоем фоторезиста и способного выдерживать действия агрессивных сред, фотографического изображения, соответствующего заданному рельефу поверхности, и последующем удалении материала с экспонированных участков с помощью травителя. Фотохимический метод позволяет выполнять сложный поверхностный рельеф на деталях с глубиной профиля до 1,5 мм. [c.146]

Рис. 55. метод поверхностного рельефа а — схема установки б — звуковое изображение. [c.97]

Рис. 56. Дефектоскоп, основанный на методе поверхностного рельефа

Рис. 117. Схема ультразвуковой голографии по методу поверхностного рельефа жидкости

Среди методов второй грун-н ы наибольшее распространение получил метод поверхностного рельефа (рис. 5), основанный на свойстве [c.60]

Голографическая модификация метода поверхностного рельефа позволяет получить информацию не только об амплитудном распределении звукового поля, но и о его фазовой структуре. [c.60]

Среди методов второй группы наибольшее распространение получил метод поверхностного рельефа, основанный на св-ве свободной поверхности жидкости вспучиваться под действием падающего на неё изнутри жидкости звук, пучка. Получающийся рельеф хорошо виден при косом освещении. Для реализации метода диска Рэлея в смеси воды и ксилола образуют взвесь мельчайших чешуек лёгкого металла (напр., алюминия). В отсутствии звука эти чешуйки ориентированы беспорядочно, образуя при освещении матово-серую поверхность, а под действием звук, волны часть из них принимает определ. ориентацию, в результате чего на сером фоне появляется видимое изображение звук, поля. [c.76]

Описанная схема (и ей подобные) используется в осн. в диапазоне звуковых и низких УЗ частот от 1 до 300—500 кГц. В более ВЧ диапазоне методы регистрации голограмм основываются на пространств, носителях, чувствительных к интенсивности звука. Наибольшее распространение получили способы, основанные на методе поверхностного рельефа. Звук, волна, падающая на отражающую поверхность воды, деформирует её, формируя рельеф, представляющий собой акустич. голограмму, к-рая при освещении её светом восстанавливает изображение (рис. 2). [c.134]

Фиг. 5.2. Ультразвуковой аналог оптической голографической системы, основанный на методе поверхностного рельефа жидкости.

Примеры качественных изображений, полученных к настоящему времени, показаны на фиг, 5.5 и 5.6. Объект, изображенный на фиг. 5.5, представляет собой алюминиевую пластинку толщиной 4,8 мм, на которой профрезерованы буквы. Высота букв 4,5, ширина 0,5 и глубина 0,25 мм. Изображение получено методом поверхностного рельефа жидкости (фиг, 5.2) на частоте [c.167]

Фиг. 5.5. Фотография из жения, полученного методом поверхностного рельефа жидкости в реальном масштабе времени.

Получение голограмм методом поверхностного рельефа жидкости [c.171]

Необходимо учитывать, что применение методов фазового и интерференционного контрастов требует особо тщательной подготовки микрошлифов. Шлифы должны иметь высококачественную гладкую полированную (реже слабо протравленную) поверхность, на которой отсутствуют заметный рельеф и поверхностный наклеп. Для удаления деформированного поверхностного слоя, особенно в случае легко наклепывающихся сплавов, после механического полирования целесообразно приме- [c.27]

В 4.2.3 предложен метод анализа совместного влияния свойств поверхностного слоя и рельефа поверхности на контактные характеристики при нормальном нагружении тел. В качестве модели основания рассматривалось двухслойное упругое полупространство. [c.263]

Механические эффекты — метод поверхностного рельефа Соколова, ячейка Польмана и их модификации. [c.264]

В диапазоне высоких УЗ-частот для получения и регистрации акустич. голограмм используются разнообразные методы визуализации звуковых полей, а их восстановление в подавляющем большинстве случаев осуществляется оптич. способами. Наиб, раснростране-иие в Г. а. получили методы, основанные на повгдеро-моторных эффектах,— деформации поверхности раздела двух сред, изменения ориентации частиц в звуковом поле и т. д. Наиб, часто используется метод поверхностного рельефа, основанный па способности жидкости деформироваться под воздействием радиац- давления [c.513]

Сканирующая лазерная М. а. представляет собой разновидность голографии акустической, предназначенную для визуализации малых объектов. При облучении плоской УЗ-волной объекта, помещённого в жидкость, фронт волны после прохождения образца искажается из-за неоднородных фазовых задержек, а амплитуда изменяется в соответствии с неоднородностью коэф. отражения и поглощения в объекте. Прошедшая волна падает на свободную поверхность жидкости и создаёт на ней поверхностный рельеф, соответствующий акустич. изображению объекта. Рельеф считывается световым лучом и воспроизводится на экране дисплея. Этот метод реализуется в лазерном акустич. микроскопе (рис. 1), где У 3-пучок, излучае- [c.148]

Для получения реплики с извлеченными частицами шлиф исследуемого сплава протравливают таким образом, чтобы растворялась. только матричная фаза после этого на шлиф наносят пленку (например, углеродную), как при изготовлении негативного отпечатка. Далее образец с напыленной пленкой, насеченной лезвием на квадратики, протравливают по режиму, обеспечивающему растворение основы и сохранение второй фазы, до полного отделения пленки с частицами этой фазы (частицы фиксируются в пленке в тех положенпях, которые они занимали в образце). Изготовленная таким способом реплика позволяет изучать поверхностный рельеф шлифа, как и в случае косвенного метода, и, кроме того, получать четкие электронно-микроскопические изображения частиц второй фазы, определять их размеры, форму, распределение и (с помощью микродифракции) атомно-кристаллическую структуру. [c.50]

Изложенный выше метод расчёта зависимости внедрения системы штампов от действуюш ей на неё нагрузки был использован в [43] для обработки экспериментальных результатов, полученных Кендаллом и Табором [200]. Хорошее соответствие теоретических и экспериментальных зависимостей указывает на возможность использования модели в практике расчётов контактных характеристик тел, имеюш их поверхностный рельеф. [c.52]

Другой класс фоточувствительных материалов образуют фоторезисты, которые отображают информацию в виде рельефных картин. При освещении фоторезиста актиничным излучением в нем происходят химические изменения, приводящие к различной его растворимости для разных экспозиций. В зависимости от того, является ли обрабатываемый фоторезист негативным (или позитивным), проявитель с соответствующим растворителем способствует растворению либо неосвещенного, либо освещенного участка. Получающуюся картину поверхностного рельефа можно использовать для получения отражательных голограмм методом испарения металла, а также для копирования голограмм штампованием. В табл. 4 перечислены некоторые фоторезисты, выпускаемые промышленностью. Следует заметить, что в большинстве случаев толщина фоточувствительного слоя оказывается порядка микрометра. Существуют три типа процесса регистрации образование органической кислоты, поперечных фотосвязей (фотосшивок) или фотополимеризации мономера. Диапазон регистрируемых длин волн простирается от УФ-области спектра до 5000 А, причем для этого диапазона можно выбрать фоторезист, обладающий либо широкой, либо узкой полосой спектральной чувствительности. Для достижения предельного разрешения 250—1500 мм 1 необходима экспозиция около 10 Дж/см . [c.305]

Образцы из порошка изготовляли в прессфррме при удельном давлении 5 т см между пуансонами, имеющими специально отполированные торцы, что обеспечивало получение гладкой зеркальной поверхности торцев исследуемых образцов и устраняло необходимость механической доводки. Такой метод получения зеркального или обратного шлифа обеспечил получение четко наблюдаемого под микроскопом поверхностного рельефа составляющих прессованных заготовок частиц и залегающих между ними пор. Для того чтобы в процессе высокотемпературного металлографического исследования наблюдать один и тот Же участок поверхности образца, на нее при помощи индентора мйкротвердомера ПМТ-3 наносили риски в вид1е координационной сетки с размером ячейки 0,1 X X 0,1 мм . Благодаря этому о спекаемости прессованных заготовок можно было судить по исчезновению Не только межчастичных пор, но и этих искусственно нанесенных углублений (рис. 1). [c.153]

Интересно отметить, что при некоторых видах деформации (прокатке, циклическом растяжении) вытянутые участки локализации дислокаций, обнаруживаемые в состоянии СН, могут приводить к самоорганизации системы в виде макроскопически протяженной полосовой структуры (рис. 3.23, а также рис. 3.8—3.10). В случае прокатки вольфрама (см. рис. 3.10) кристаллическая структура темных полос дифракиионньши методами не выявляется. Особенно характерна такая структура для поверхностных слоев усталостно нагруженных монокристаллов (рис. 3.24). При снятии нагрузки в таких кристаллах обнаруживается поверхностный рельеф, соответствующий рассматриваемым полосам. Однако в большинстве случаев наличие направленных микрополос в состоянии СН приводит к направленности границ формирующихся структурных элементов, что неоднократно отмечалось при наблюдениях фрагментированной структуры [7]. [c.95]

Рассмотрим сущность указанных методов ультразвуковой голографии. На рис. 117 изображена схема ультразвуковой голографии по методу поверхностного рельефа. Две сходящиеся ультразвуковые волны, одна из которых опорная, а другая предметная, возбуждаются от одного генератора на частоте 7 МГц. Поле интерференции образует поверхностный рельеф — ультразвуковую голограмму. Поверхностный рельеф фотографируется, и оптическое изображение восстанавливается в сходящемся пучке лазера. Именно этот метод заложен в основу промышленной ультразвуковой голографической установки, выпускаемой фирмой Холотрон (США). [c.210]

Метод поверхностного рельефа. Наибольшее распространение получили способы, основанные на методе поверхностного рельефа. Звуковая волна, падаюш ая на отра-жаюш ую поверхность воды, создаёт на ней давление звукового излучения, пропорциональное интенсивности звука, и деформирует её. Если деформированную поверхность осветить когерентным светом, то возникает фазовая модуляция отражённого света, к-рую для получения оптич. изображения необходимо превратить в амплитудную. Это можно сделать, напр., применяя теневой метод или метод фазового контраста. Однако при этом очень плохо передаётся информация о низких пространственных частотах, к-рые доминируют в акустич. изображении. Голографич. метод регистрации позволяет устранить этот недостаток и передать информацию о низкочастотной структуре изображения, поскольку её можно перенести на высокочастотную пространственную несуш ую — опорный пучок. Одной из разновидностей метода является т. н. безлин-зовая Г., при к-рой предмет 3 (рис. 6) [c.93]

Интенсивно разрабатываются методы количеств. Э. м.— точного измерения разл. параметров образца или исследуемого процесса, напр, измерение локальных электрич. потенциалов, магн. полей (рис. 6), микрогеометрии поверхностного рельефа и т. д. МЭ используются и в технологич. целях (напр., для изготовления микросхем методом электронолитогра-фии). [c.880]

Для записи ультразвуковых голограмм был предложен ряд детекторов, работа которых сходна с работой фотопластинки, но наибольшее развитие получил метод поверхностного рельефа жидкости [17, 9], который и ранее использовался для визуализа-црш ультразвуковых полей [13]. Бегущая ультразвуковая волна перемещает жидкость, и если ультразвуковой пучок направлен вверх на ее поверхность, то происходит стационарное смещение поверхности вдоль волнового фронта пучка, которое обычно на несколько порядков больше амплитуды поверхностных колебаний. Способ, каким этот эффект может быть использован для создания голограммы с последующим оптическим восстановлением, показан на фиг. 5.2. Приближенный анализ метода проводился в приложении 1. [c.160]

Альтернативой методу поверхностного рельефа является использование электронно-акустического преобразователя ([14] и гл. 3, стр. 94 настоящей книги), По существу это быстродей [c.161]

В 10—30-х годах текущего столетия были опробованы методы микроскопического анализа изучение под микроскопом поперечного шлифа электролитически покрытой поверхности, измерение под микроскопом неровностей поверхности по репликам из желатина и т. д. Предпринимали попытки косвенной оценки неровностей поверхности по потерям энергии маятника при торможении его неровностями поверхности во время качания, по разности размеров деталей до и после доводки, по предельному углу регулярного отражения света, по теневой картине поверхности на экране с увеличенными изображениями поверхностных дефектов, по расходу воздуха через участок контакта сопла с испытуемой поверхностью, по четкости изображения растра на испытуемой поверхности или на экране после отражения от нее светового пучка, по электрической емкости контактирующей пары испытуемая поверхность — диэлектрик с нанесенным слоем серебра , по нагрузке на индентер при определенном его сближении с испытуемой поверхностью, по изображению мест плотного соприкосновения призмы с неровностями поверхности и т. д. Были опробованы методы исследования рельефа поверхности с помощью стереофотограмм и стереокомпаратора. На производстве в этот период доминировали органолептические методы контроля визуальное сравнение с образцом, сравнение с помощью луп, сравнение на ощупь ногтем, краем монеты и т. п. В 30-х годах был предложен и реализован в двойном микроскопе метод светового сечения (Линник, Шмальц), а также метод микроинтерференции и основанные на нем микроинтерферометры, сочетающие схемы микроскопа и интерферометра Майкельсона. В этот же период [c.58]

Такое сочетание приборов в единой системе значительно расширило аналитические возможности как микроанализаторов, так и растровых электронных микроскопов. В методе РСМА обеспечена возможность просмотра с большой глубиной резкости всей поверхности исследуемого образца, выбора методически оправданных зон анализа и высокой прицельности. Информация о рельефе и структурных компонентах поверхности объектов, полученная по методу РЭМ, дополняется сведениями о распределении элементов в поверхностном слое. Эти данные часто являются определяющими при решении ряда практических задач. [c.497]

При записи оптич. информации в двухслойной структуре воздействие светового сигнала приводит к стеканию части поверхностного заряда на подложку (тем большему, чем больше освеп1ённостъ данного микроучастка поверхности) в трёхслойной структуре, напротив, заряд противоположного знака переходит с подложки на граничащую с запоминающим слоем поверхность фотополупроводника. В обоих типах структур м.-статич. силы притяжения разноимённых зарядов деформируют поверхность мягкого запоминающего слоя (либо сразу, либо после его нагревания—т, п, теплового проявления), образуя рельеф, в к-ром распределение глубины соответствует распределению потока излучения по поверхности, т. е. в получаемом рельефе кодируется оптич. информация. При считывании записанной информации различия толщины рельефа вызывают разл. изменения фазы считывающей световой волны. Фазовые различия не воспринимаются глазом и др. приёмниками оптич. излучения. Поэтому их преобразуют в изменения амплитуды световой волны (т. е. интенсивности считывающего пучка), к-рые регистрируются приёмниками излучения (включая глаз). Такое преобразование осуществляют гл. обр. теневым методом, но в принципе его можно сделать по аналогии е методом фазового контраста в микроскопии. [c.266]

Представляется также интересным метод, при котором освещение (нагревание) приводит к изменению поверхностного натяжения тонкого слоя жидкости [180]. Конструктивно в этом слу- [ае ПВМС представляет собой структуру, состоящую из прозрачной подложки и нанесенных на нее поглощающей пленки и слоя жидкости. Структура помещается в кювету с окошком, которая герметизируется. Управляющий сигнал (изображение) проецируется через подложку на поглощающий слой, в качестве которого была использована пленка висмута. Модулируемый пучок (обычно в видимом диапазоне длин волн) проходит через окошко кюветы и отражается or цоглощающей ИК-излучение ме ал-лической пленки-экрана. Поскольку деформация слоя связана с наличием градиентов температуры на поверхности, то рельеф воспроизводит только контуры изображения. Это, конечно, сужает o6via TH применения устройства. [c.209]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...