Измерение увеличения объектива

Зрение стереоскопическое 115 Измерение увеличения объектива 10 Изображение мнимое 5 —стереоскопическое 115 —фазово-контрастное 17 Иммерсия глицериновая 236 [c.246]

Окулярный винтовой микрометр предназначен совместно с объект-микрометрами для определения увеличения объективов, а также для измерения линейных размеров объекта, рассматриваемого через микроскоп. Микрометр используется с любым микроскопом, диаметр тубуса которого равен 25 мм. [c.180]

Измерение отклонений контура изображения детали от трафарета на экране масштабной линейкой с последующим делением полученного результата на увеличение объектива. [c.79]

Погрешности, зависящие от юстировки. Погрешность вследствие эксцентриситета спиральной сетки, достигающего 0,0015 мм при увеличении объектива 5 , может составить 0,0003 мм. Местные ощибки в пределах каждого витка спирали и периодические отступления от равномерности витка юстировкой не устраняются. Погрешность измерения, вызываемая этими причинами, не превышает 0,0005 мм. [c.104]

При увеличении объектива 5 погрешнее гь измерения по этой О 00032 [c.104]

Для контроля и измерения изделий на проекторах используют следующие методы 1) совмещение проецируемого контура с номинальным контуром изделия, выполненным в масштабе, соответствующем увеличению объектива 2) сравнение изображения с чертежом, на который нанесены два контура изделия, соответствующие его предельным размерам профиль годного изделия должен лежать между его предельными контурами [c.117]

Чертеж изделия изготовляют на ватмане, кальке, целлофане, плексигласе и укрепляют на экране. Увеличение объектива следует выбирать так, чтобы можно было наблюдать весь измеряемый размер. Процесс измерений на проекторах аналогичен измерениям на микроскопах. [c.117]

Измерение линейных величин объектов, рассматриваемых в микроскоп посредством винтового окулярного микрометра. До измерения линейных величин объектов необходимо предварительно измерить линейное увеличение объектива микроскопа, на тубус которого закрепляется винтовой окулярный микрометр. Измерение производится в следующей последовательности [c.34]

Для контроля размера деталей со сложными контурами (зубчатые колеса, резьбовые детали, червячные фрезы, профильные шаблоны, режущий и измерительный инструмент) в инструментальных цехах применяют проекторы. Проектором называется оптический измерительный прибор, контроль на котором производится методом сличения увеличенного контура детали с чертежом, вычерченным в таком же увеличенном масштабе (наиболее часто встречающееся увеличение объективов в 10, 20 и 50 раз). Суммарная погрешность измерения обычно 0,005—0,01 мм. [c.151]

Проектор светового сечения позволяет получить на экране изображение профиля изделия сложной формы, освещаемого с боков плоскими пучками света. На изделие обычно наносят слой черни (сажи и т. п.), чтобы усилить контраст изображения. Точность измерения контура может достигать 0,01 мм при увеличении 10—20. При контроле протяженных изделий применяют цилиндрические объективы. [c.57]

Общее увеличение микроинтерферОметра МИИ-4 составляет 490 при визуальном наблюдении и 260 при фотографировании. Размеры поля зрения 0,32 мм при визуальном наблюдении и 0,10 мм при фотографировании. Апертура объектива 0,65. Масса прибора 23 кг и габариты 300 x 340 x 380 мм. Средняя арифметическая погрешность измерений, по данным завода-изготовителя, составляет 0,03—0,04 мкм при измерении неровностей высотой 0,05—0,10 мкм и 0,06—0,08 мкм — неровностей высотой 0,2—1,0 мкм. Однако нередко погрешности оказываются в 1,5—3 раза большими. [c.95]

Такие же измерения могут быть осуществлены и по большему количеству пар, съемка которых должна производиться при одном и том же увеличении путем последовательного перемещения образца относительно объектива микроскопа. [c.262]

Микроскоп ММР-2 собрать для работы в темном поле с окулярами Гюйгенса 10 и объективом ахроматом F-8,2 А-037. При этом общее увеличение равно 244. Для измерения частиц в поле зрения окуляра 10 установить сетку и окуляр-линейку. Сетка предназначена для четкого ограничения поля зрения микроскопа и примерной оценки размера частиц. Для более точной оценки размера частиц служит окуляр-линейка. [c.72]

Из приборов светового сечения в СССР выпускаются приборы ПСС-2, вместо ранней модели МИС-П. Новая конструкция микроскопа имеет примерно те же технические данные, что и модель МИС-11, но обладает лучшими оптическими характеристиками, позволяющими значительно увеличить точность измерения. Прибор снабжен сменными объективами. Общее увеличение микроскопа 75 , 266 , 337 и 750 . Поле зрения прибора соответственно 3,6 1,2 0,8 0,36 мм (при измерении шероховатости поверхности с помощью оптических приборов длина участка измерения ограничивается полем зрения прибора). [c.121]

I Микроскоп универсальный УИМ-21 O. OI мм Угловой шкалы I мин. Продольной шкалы—200.л/jf, поперечной шкалы—юо мм У] лы 0—360 градусов Продольное напра-вление 0—2-0 мм поперечное направление 0—100 мм поле зрения б мм. Увеличения зо> 50 15 , i Л в % Измерение а) элементов профиля наружной резьбы б) конусов в) углов г) шаблонов с рисками д) сложных шаблонов с закруглениями е) метчиков с нечётным числом канавок ж) элементов червячных фрез 1. Ножи прямые и резьбовые 1 2. Приспособление. для поверки метчиков 1 с нечётным числом канавок 3 Круглый поворот- ный стол со шкалой 4. Высокие центры 5. Сменные объективы 6. Проекционное устройство 7. Фотокамера 1 Типы Цейсса и СИП [c.656]

Пределы угловых измерений в град. . . Оптическое увеличение (сменные объективы). .................. [c.509]

Для наблюдения за структурой и измерения сетки (рис. 6.4) на крышке вакуумной камеры (1) размещен металлографический микроскоп 2 типа МВТ. Измерение сетки осуществляется с помощью микрометрической оптической головки типа МОВ-1-15. Фотографирование структуры или сетки осуществляется с помощью микрофотонасадок МФН-1 (на пластинки 9 X 12 см) и МФН-12 (на фотопленку) при увеличениях до 300 крат при рабочем расстоянии объектива около 80 мм. На рис. 6.5 приведены отдельные моменты развития деформаций в вершине трещины). Для наблюдения за развитием трещины, а также для измерения раскрытия трещины и деформаций в ее вершине при больших увеличениях используется также промышленная телевизионная установка, присоединяемая непосредственно к металлографическому микроскопу (рис. 6.6). Изображение зоны развития трещины подается на телеэкран (рис. 6.7). [c.225]

Фирма Оптон (ФРГ) выпускает малогабаритный Двоййой микроскоп Ыс1118сЬпШ—МПггозкор, имеющий 5 пар сменных объективов, устанавливаемых в револьверной головке. Увеличение объективов от 200 до 400. Пределы измерения высот неровностей от 3,5 до 100 мкм. [c.113]

В результате экспериментов, проведенных на образцах стали и полупроводниковых материалов было, например, показано, что число случаев с одинаковыми величинами диагоналей отпечатков индентора при подсчете их с помощью количественного телевизионного микроскопа, как правило, в два раза больше, чем при измерении на ПТМ-3. Средние значения диагоналей отпечатков индентора, полученные при измерениях на приборах ПТМ-3 и Квантимет-720 , отличаются на небольшую величину, которая для выбранного материала образцов и увеличения объектива является постоянной. Различие в размерах диагоналей отпечатков, получаемое при повторных измерениях с помощ,ью анализатора изображения, не превышает 1,5—2%. [c.288]

При измерениях необходимо знать точное значение увеличения объектива, которое определяется так. Специальная шкала с ценой. деления 0,01 мм, так называемый объект-микрометр, рассматри-звается через микроскоп, как объект. Вторая шкала с ценой деления, например, 0,1 мм, помещается в фокальной плоскости окуляра (окулярный микрометр). Затем, подсчитав число делений изображения объект-микрометра, приходящихся на один интервал оку--лярного микрометра, вычисляется увеличение объектива. [c.10]

Дополнительные приспособления и принадлежности измерительная бабка ИБ-21 для измерения метчиков с нечетным числом канавок круглый стол СТ-9 для измерения углов, круговых штриховых мер и др. приспособление для измерения вертикальных координат ИЗВ-21 с пределами измерения по шкале 100 мм и ценой деления 0,001 мм бабка с высокими центрами для контроля угла и шага резьбовых калибров диаметром свыше 100 до 250 мм V-образные бабки для бесцентровых измерений деталей длиной до 1500 мм проекционная насадка ПН-7 фотонасадка головка двойного изображения приспособление для измерения элементов внутренней резьбы диаметром свыше 13 м.ч приспособление для внутренних измерений сменные объективы с увеличением IX, 1,5Х, 5х. [c.246]

В настоящее время выпускается также прибор светового сечения модели ПСС-2. Эта конструкция микроскопа имеет примерно те же технические данные, что и модель МИС-П, но обладает лучшими оптическими характеристиками, обеспечивающими более высокую точность измерения. Сменные объективы дают увеличение 75 , 266 , 337 и 750 . Поле зрения прибора соответственно 3,6 1,2 0,8 и 0,36 мм (при измерени шероховатости поверхности с помощью оптических приборов длина участков измерения ограничивается полем зрения прибора). [c.111]

Цену деления шкалы можно устанавливать в пределах 0,2— 0,05 мкм. Увеличение микроскопа 37,5 Увеличение объектива 3 (апертура 0,09), а окуляра 12,5 На интерферометре ИКПВ измеряют объекты длиной до 150 мм, а на интерферометре ИКПГ — до 500 мм. Подвижное зеркало может перемещаться на расстоянии до 0,5 мм. Предельная погрешность измерений определяется по формуле [c.180]

Зрительная труба катетометра состоит из объектива 10 с фокусирующей линзой И, сетки 12 и окуляра 13. Продольным смещением отрицательной линзы И осуществляется перефокусировка трубы. Перед объективом могут быть установлены светофильтр 8 и насадочные сменные линзы 9, которые применяют при изменении расстояния до объекта измерения. Увеличение зрительной трубы с насадочными линзами 20,5 12 и 8 . [c.87]

Объектив микроскопа образует увеличение изображения предмета в плоскости, удобной для рассматривания через окуляр. Увеличение объектива равно —где 0 и Ц— рабочие расстояния объектива, удовлетворяющие соотношению (2). Если — фокусное расстояние окуляра, измеренное в сан-тшиетрах, то его увеличение, согласно (4), равняется 25/ /1 [, Следовательно, [c.238]

Но в этой особенности окуляра Рамсдена есть и его преимущество. В фокальной плоскости Р можно поместить микрометр (шкалу на стеклянной пластинке или нити, перемещаемые микрометрическим винтом) и таким путем измерить размеры действительного изображения, даваемого объективом микроскойа. При этом микрометр и действительное изображение, даваемое объективом, оба находятся перед окуляром, и аберрации полевой линзы окуляра искажают их одинаково. Тем самым в окуляре Рамсдена устраняется основной недостаток окуляра Гюйгенса как измерительного прибора. Зная линейное увеличение объектива микроскопа, легко вычислить и размеры самого предмета. Поэтому в микроскопах, служащих для измерения длин и углов, применяются окуляры Рамсдена с окулярными микрометрами. [c.171]

БМИ — большой микроскоп инструментальный. Выпускаются также универсальные микроскопы, в которых вместо микрометрических измерителей применены миллиметровые шкалы с отсчетными спиральными микроскопами. Однако, несмотря на конструктивные различия, принципиальная схема измерения всех микроскопов является общей и заключается в визировании различных точек детален, перемещаемых для этого по взаимноперпендикулярным направлениям, и в измерении этих перемещений посредством тех или иных отсчетиых устройств. Для обеспечения лучшего визирования микроскопы снабжают сменными объективами различной степени увеличения. Рассмотрим конструкцию (рис. 10.17, б) и принцип действия БМИ (рис. 10.17, а). [c.130]

Проекторы предназначены для контроля н измерения деталей, спроецированных в увеличенном масштабе на экран. Проекторы могут работать в проходящем и отраженном свете. Их используют главным образом для контроля изделий со сложным профилем шаблонов, плат, лекал, зубчатых колес, HiTaMnoBaHHbix детален, фасонных резцов и т. п. Свет от источника (рис. 5.17, а и б) через конденсор 1 параллельным пучком направляется на проверяемую деталь 2. Объективом 3 действительное обратное изображение детали, через систему зеркал 5—6 проецируется на экран 4. Контролируемое изображение детали на экране можно проверять различными методами, например сравнения с вычерченным в увеличенном масштабе номинальным контуром с двойным контуром, вычерченным в соответст-вки с 1]редельными положениями годного профтля показаний от-счетных устройств проектора с помощью масштабных линеек совмещением противоположных контуров детали. В соответствии с ГОСТ 19795—82 выпускают проекторы типа ПИ с экраном диаметром до 250 мм 250—400 мм и свыше 400 мм. Часовой проектор ЧП (рис. 5.17, б) состоит из осветителя I, сменных конденсоров 3, стола 5 с продольным и поперечным винтами 4 п 9 (цена деления [c.129]

Примером многолучевого интерферометра может служить прибор Муль-тими фирмы Иогансон (Швеция). Его увеличение 50 и 150, апертуры объективов 0,14 и 0,18, поле зрения 3,25 и 1,18 мм соответственно. Пределы измерений 2. .. 0,01 мкм, точность до 0,002 мкм. [c.69]

Отличительной особенностью тепло-визионных микроскопов является увеличение оптического объектива, большее единицы. У таких микроскопов, как приставка к тепловизору АГА-680, оно больше 50. Тепловизионные микроскопы предназначены в основном для обследования и измерения тепловых полей изделий микроэлектроники. [c.139]

Наблюдаемое смещение Ь измеряют с помощью винтового окулярного микрометра—такого же, как при измерениях неровностей на микроинтерферометре. С2ущественное отличие измерений на двойных микроскопах МИС-11 и ПСС-2 по сравнению с измерениями на микроинтерферометрах МИИ-4 и др. заключается в необходимости предварительного определения цены деления круговой шкалы MOB при каждой паре сменных объективов в отдельности. Такая необходимость возникает в связи с тем, что увеличение у любого микроскопа зависит от оптической длины А его тубуса, что следует из формулы [c.107]

Измерение изображения неровностей теневой проекции выполняют с помощью винтового окулярного микрометра МОВ-1-Х15, цену деления к )уговой шкалы барабана которого определяют с помощью ступеньки определенной высоты, образованной притер-тьШи к стальной или стеклянной пластине концевыми мерами различной длины, например с разностью длин 100 или 200 мкм. Осветителем служит лампочка накаливания 8 В, 20 Вт, включаемая в сеть переменного тока через трансформатор ТР8-100-220/8 В. Увеличение и апертура сменных объективов составляют ><1, 0,03 х2, 0,02 и хЗ,7, 0,11. Общее увеличение с окуляром Х15 равно Х15, ХЗО и Х55. Линейное поле зрения составляет соот-Ёетственно 11 6,3 и 2,9 мм. Пределы измерения прибора от 40 до 320 мкм.. Погрешность показаний составляет =15%. [c.114]

Промышленностью выпускается мало аппаратуры для измерения твердости нагретых образцов [36, с. 370]. В Японии, например, фирма Ниппон Когаку К. К- изготавливает твердомер Никон , с помощью которого можно исследовать различные материалы в вакууме или в инертных средах (аргоне, гелии, азоте), измеряя под микроскопом диагонали отпечатков алмазного или сапфирового индентора Виккерса непосредственно после их нанесения на нагретый образец. Микроскоп снабжен объективом с рабочим расстоянием 18 мм и апертурой 0,3. Оптическая система микроскопа обеспечивает увеличение при визуальном наблюдении поверхности образца в 100 раз и при измерении диагоналей отпечатка в 300 раз. Диаметр поля зрения в первом случае составляет 1,6 мм, во втором 0,53 мм. [c.114]

Прибор ПМТ-3 имеет следующие характеристики увеличение микроскопа 130Х и 487Х параметры линейного поля зрения микроскопа с объективами фокусное расстояние — 23,2 л м, апертура 0,17—1,3, фокусное расстояние 6,2, апертура 0,65—0,3 пределы измерения диагоналей 0,005—0,25 мм нагрузка 0,049 Н (5 гс) — 1,902 Н (200 гс). [c.267]

Определенный интерес представляют проекторы с двойным и тройным экраном. В качестве примера следует указать на проектор Р-400 (фиг. 3), дающий две взаимно-перпендикулярные проекции детали. Вертикальный экран / диаметром 400 лш имеет вращающийся круг для измерения углов с точностью до 6. Проектор имеет сменные парные объективы 2 с увеличением 10 , 20 , 50 и 100 , с полем зрения 40, 20, 8 и 4 мм, две осветительные лампы J мощностью 100—200 вт (при эпископической проекции) и одну лампу мощностью 300 вт (при диаскопической проекции). [c.382]

Упрощенный проектор для массовых измерений компактен, прост по конструкции, имеет вертикально расположенный экран размером 340 X 240 мм и увеличение 35 . На проекторе можно измерить детали размером до 9 X 65 мм. Более совершенным является проектор с комбинированным объективом (предложение П. А. Остав-нова), в котором имеется возможность плавно менять увеличение от 10> до 60Х. [c.384]

Если микропроектор используется как микроскоп, то для наблюдения применяют сменные окуляры 7 , 10 и 15 , позволяющие вместе с объективами рассматривать объекты с увеличением от 63 до 300 . Для измерения размеров объектов применяют на экране штриховую 100-миллиметровую шкалу или пользуются препарато-водителем предметного стола, имеющего продольное перемещение + 25 мм и поперечное перемещение +30 мм с отсчетом по нониусу 0,1 мм. [c.386]

Оптические линейки (рис. 10.8) производят измерение отклонений измеряемого профиля от исходной прямой, заданной лучом, проходящим через центры зеркальнолинзовых объективов, образующих афокальную автоколлимационную систему. Лучи света от лампочки 6, пройдя через призму 5, линзу 4, призму 17 и левую половину кубика 12, освещают визирную марку 2 и через зеркально-линзовые объективы 1 к 13 создают изображение визирной марки на полевой диафрагме 3. Микрообъек-тиа 11 переносит увеличенное изображение визирной марки 2 в плоскость биссектор-ной сетки 7, которое окуляром 9 проецируется на экран 8. [c.288]

X 0,6 м. В результате достигается почти 800-кратиое увеличение снимаемого объекта и находившиеся в фокусе объектива трассирующие частицы при изображении на экране имеют диаметр порядка 1 мм. Удлиненных изображений частиц, свидетель-ствуюп1,их о возможном влиянии длительности искровой вспыигкп на точность измерений, не наблюдалось. [c.194]

Допуски на несоосность и непрямолинейность изготовляемых с высокой точностью среднегабаритных изделий (станки, дизели и т. п.) составляют 5—20 мкм. Визирные трубы, предназначенные для измерения среднегабаритных изделий, должны иметь высокую точность измерения, постоянное увеличение на всем диапазоне и.з мерения, обеспечивать возможность визирования марок, близк расположенных к объективу трубы. Повышения точности измер ния с помощью трубы можно достигнуть уменьшением погрешност визирования, что связано с выбором рациональных конструкт сетки и марок, а также путем выбора схемы трубы, исключаюш возможность появления погрешностей от фокусирующего элеме трубы, и применением отсчетного механизма высокой точности [c.374]

Приведем основные характеристики прибора АКТ-400 увеличение 32 , входное отверстие 40 мм, фокусное расстояние объектива 400 мм, цена деления шкалы в поле зрения 1, цена деления точной шкалы в поле зрения 1", предел измерения 10, чувствительность прибора (удвоенное увеличение) 64 . Вариация показаний прибора, как результат погрешности при совмещении в поле зрения изображения автсколлимационной щели с вертикальным штрихом, ". [c.146]

МИКРОСКОП оптический (от греч. mikroa — малый и skopeo — смотрю) — оптич. приб для получения сильно увеличенных изображений объектов (или деталей их структуры), не видимых невооружённым глазом. Разл. типы М. предназначаются для рассматривания, изучения и измерения микроструктуры орга-нич. клеток, бактерий, срезов тканей, микрокристаллов, волокон, минералов, микросхем и др. объектов, размеры к-рых меньше мин. разрешения глаза (см. Разрешающая способность), равного 0,1 мм. М. даёт возможность различать структуры с расстоянием между элементами до 0,2 мкм. Обычно М. имеет двухступенчатую систему увеличения, образованную объективом и окуляром а обеспечивающую увеличение до 1500 краг, В оптич. схему М. входят также элементы, необходимые для освещения объекта. [c.141]

Принципиальная схема измерения представлена на рис. 3. В микроскоп с семикратным увеличением рассматривалось изображение, отраженное от поверхности раздела твердая стенка — воздух и поверхность жидкости — газовый поток. Использовался поляризационный микроскоп с короткофокусным объективом, позволявшим вести подсветку непосредственно через объектив. [c.264]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...