Микроанализаторы

Преимуществом растровых или сканирующих микроскопов является возможность исследовать непосредственно поверхность излома без использования промежуточных реплик, высокая при-цельность и получение объемных изображений. Перспективным является также изучение с помощью сканирующих микроскопов предварительно травленой поверхности излома и особенно совмещение сканирующего микроскопа с микроанализатором. Сканирующие микроскопы обладают меньшей, чем просвечивающие микроскопы, разрешающей способностью и, как правило, меньшей контрастностью изображения. Габариты исследуемых образцов ограничены по высоте и площади, т. е. в ряде случаев необходимо разрезать поверхность разрушения на части, что при исследовании аварийных изломов часто недопустимо. [c.190]

Сведения о химическом составе иногда можно получить с помощью рентгеновского или электронно-лучевого анализа поверхности покрытия или металлографическим исследованием шлифа готового изделия (под микроскопом или при использовании электронного микроанализатора). [c.135]

При использовании излучения СОг-лазера исследования процесса насыщения проводились на образцах из алюминия и нержавеющей стали [52]. Образцы перед лазерным облучением покрывались слоем мелкого неметаллического порошка, смешанного с медью и цинком. Распределение элементов в расплавленном поверхностном слое оценивалось с помощью рентгеновского микроанализатора. [c.33]

Рис. 4. Схема рентгеновского микроанализатора измерительные цепи

Локальность рентгеноспектрального микроанализатора, [c.498]

Основные технические данные некоторых зарубежных микроанализаторов приведены в табл, 6. [c.498]

Характеристики рентгеновских микроанализаторов [c.499]

Микроанализаторы, работающие в режиме сканирования (обегания заданной площади), могут быть использованы для подсчета числа неметаллических включений, определения их размера и идентификации. [c.315]

Распределение углерода в металлах и сплавах представляет особый интерес. Система Fe — С наиболее изучена вообще большинство работ по исследованию поведения примесей внедрения в сплавах посвящено поведению углерода. Данные о распределении углерода могут быть непосредственно сопоставлены с результатами многочисленных исследований свойств металла, зависящих от концентрации и характера распределения углерода. Содержание углерода в сплавах, как правило, очень невелико и современные микроанализаторы, способные регистрировать углерод, часто не обладают достаточной чувствительностью. [c.480]

Специальные приборы современные электроннолучевые микрозонды представляют собой комбинацию рентгеновского микроанализатора и электронного микроскопа. [c.160]

Рентгеновские микроанализаторы [17] появились независимо от РЭМ, однако сейчас уже трудно представить себе РЭМ без приставок для рентгеновского микроанализа (РЛ 1А), Оба прибора очень хорошо дополняют друг друга. [c.70]

Рентгеновские микроанализаторы типа МАР и др. (см. раздел 6). [c.130]

Рис. 6.1. Схема рентгеноспектрального микроанализатора

ТАБЛИЦА 6.1 ТЕХНИЧЕСКИЕ ДАННЫЕ НЕКОТОРЫХ МИКРОАНАЛИЗАТОРОВ [c.145]

Рассматривая возможности применения такого микроскопа [38], можно выделить две области спектра коротковолновую (0,1—0,5 нм), которая интересна в плане микроструктурного анализа материалов (металлы, сплавы), и длинноволновую (0,5— 5,0 нм), которая включает полосы поглощения важных для биологии легких элементов О, М, С. Выделяя с помощью фильтров или узкополосных многослойных покрытий линии определенных элементов, можно получить карту их распределения по образцу, как это делается в рентгеновских микроанализаторах, но со значительно меньшей радиационной нагрузкой. При таких исследованиях достоинствами сканирующего микроскопа являются одинаково высокое разрешение по неограниченному полю зрения, отсутствие ограничений, связанных с конечным размером ячеек детектора, и удобство непосредственной оцифровки как координат освещаемой точки объекта, так и интенсивности прошедшего света. [c.203]

Другим распространенным методом анализа состава материалов является рентгено-спектральный микроанализ (РСМА). В РСМА веществ регистрируют характеристическое рентгеновское излучение из зоны торможения электронов зонда в твердой мишени. РСМА часто применяется вместе с РЭМ на одном приборе, в виде специальной приставки - микроанализатора. [c.156]

G помощью рентгеновского микроанализатора Сошеса изучено распределение атомов меди в диффузионной зоне. С увеличением давления в ударной волне наблюдается возрастание концентрации меди на поверхности образца после диффузионного отжига и уменьшение размеров диффузионной зоны. В образце, деформированном давлением 5 ГПа, атомы меди проникают до глубины 210 мкм, в то время как при давлении 30 ГПа — до глубины 60 мкм. По-видимому, до указанных слоев происходит и образование интерметаллидов, но их количество меньше чувствительности рентгеновского фазового анализа. Наблюдение за [c.122]

Исследование покрытия № 4 методом локального рентгеноспектрального анализа на микроанализаторе Камека позволило представить качественную картину распределения элементов в переходном слое и в зоне покрытия (рис. 3). На концентрационных кривых распределения элементов в покрытии обнаружены желеэо и кремний, которых нет в составе жаростойкого сплава системы Ni—Сг—А1. Это обстоятельство указывает на то, что и в случае синтезирования покрытий методом адсорбционно-физического отложения выбор состава матрицы играет важную роль [1, 6]. [c.147]

Исследование распределения углерода на микроанализаторе MS-46 показало, что уменьшение амплитуды напряжения при малоцикловом нагружении приводит к укрупнению частиц углерода и переходу их в приграничные зоны зерен (рис. 157, а-—в). При дальнейшем уменьшении амилитуды нагружения карбидные частицы дробятся и появляются частицы правильной геометрической формы малых размеров, образующие длинные, по-разному ориентированные цепочки карбидов (рис. 157, г). [c.201]

Рентгеноструктурный анализ образцов выполняли по изменению полуширины дифракционных линий (220) и (311), для чего использовали рентгеновский дифрактометр ДРОН-1 с железным излучением анода. Тонкую структуру образцов в исходном состоянии, а также на разных этапах испытания исследовали с помощью световой микроскопии и на просвечивающих электронных микроскопах JEM-7 и JEM-100. Микрорентгеноспектральный анализ проведен на микроанализаторе MS-46. [c.213]

Такое сочетание приборов в единой системе значительно расширило аналитические возможности как микроанализаторов, так и растровых электронных микроскопов. В методе РСМА обеспечена возможность просмотра с большой глубиной резкости всей поверхности исследуемого образца, выбора методически оправданных зон анализа и высокой прицельности. Информация о рельефе и структурных компонентах поверхности объектов, полученная по методу РЭМ, дополняется сведениями о распределении элементов в поверхностном слое. Эти данные часто являются определяющими при решении ряда практических задач. [c.497]

Микроанализаторы. На рис. 4 показана принципиальная схема рентгеновского микроанализатора МР-6. Он позволяет исследовать распределения химических элементов по поверхности образца и наблюдать с большой глубиной резкости морфологию поверхности образца во вторичных, упруго-отраженных и поглощенных электронах. Мцкроанализатор МР-6 — прибор универсального назначения. Он рассчитан для использования в материаловедении, металлургии, а также биологии и других областях науки и техники. [c.497]

Дополнительная проверка распределения азота, углерода и кислорода по глубине азотированного слоя, проведейная с использованием микроанализатора ХМА-5В, показала, что уменьшение содержания азота в карбонитриднрй фазе связано с повышением концентрации в ней углерода и кислорода (рис. 78), По-видимому, такой характер распределения азота и углерода всегда имеет место при газовом азотировании конструкционных сталей. [c.184]

Опробование хромированных покрытий, полученных электрохимическим способом, показало повышение коррозионной стойкости стали. Однако при этом хрупкость и технологичность листовой стали ухудшается. Например, при изгибе хромированного листа на 180° на его поверхности образуются трещины, распространяющиеся на всю толщину покрытия. Исследования электролитически хромированного листа на микроанализаторе Камека [c.203]

Масс-спектрометрический анализ осуществляется в двухимпульс-ном времяпролетном микроанализаторе [190] с давлением остаточных газов 10 Па. Длина времяпролетной части составляет 105 см, угловой размер зондирующего отверстия 0,9°. Все эксперименты проводились при охлаждении образцов до температуры жидкого азота. [c.135]

Рентгеновский микроанализ (локальный анализ) участков пробы 1—-3 мкм выполняют с помощью электронного зонда в микроанализаторе. Электронный зонд формируют с помощью электростатич. и магн. фокусировки до сечения диам. 1 мкм. Анализ осуществляют по рентг. излучению образца, к-рое разлагают в спектр с помощью рентг. спектрометра, В этой методе вводят поправки на Z определяемого элемента, поглощение его излучения в пробе и его флуоресценцию, возбуждаемую тормозной компонентой излучения и характеристич. излучениями др. элементов в пробе. Микроанализ применяют при исследованиях взаимной диффузии 2- и 3-компонентных систем, процессов кристаллизации, локальных флуктуациях состава сплавов и т. д. [c.379]

Большой интерес представляет исследование поперечного сечения окисленных образцов. Здесь можно получить информацию об изменении структуры окалины по ее толщине, а также о структуре подокисной зоны. РЭМ дает возможность получить изображения с увеличением от 50 до 10000. Этот диапазон перекрывается в значительной степени с диапазоном увеличений светового микроскопа на нижней границе и просвечивающего электронного микроскопа на верхней границе. Эффективность применения растрового электронного микроскопа значительно возрастает в сочетании с использованием рентгеновского микроанализатора (РМА), который является составной частью современных РЭМ. [c.25]

С помощью рентгеноспектрального микроанализатора осуществлялся анализ концентрации элементов в выделениях и в матрице. Применялся метод энергодисперсионной спектроскопии при ускоряющем напряжении первичного пучка. электронов 20 кВ. [c.80]

Рис. 155. Изменение концентраций марганца (а, в) и никеля (б, г) в месте соединения двух деталей из аустенитной стали 1Х18Н9Т (а, б) и сплава ВЛ7-20 в, г) при ПСП с исчезающей прослойкой из сплава марганец—никель штриховые линии — тотчас после сварки сплошные линии — после диффузионного отжига (1100 С, 22 ч) (рентгеноспектральный анализ на микроанализаторе Камека выполнен канд. техн. наук Дзыковичем И. Я-)

Рентгеновский флюоресцентный анализ. Относится к тому же виду исследования, как и црименение электронного микроанализатора (рис. 1.424). При этом вместо электронов возбуждения применяют рентгеновское излучение. Первичное рентгеновское излучение рентгеновской трубки возбуждает способность элементов к флюоресценции., Флюоресцентное излучение направляется в виде параллельного пучка и разлагается кристаллом анализатора. Интенсивность отдельных компонентов излучения определяется счетчиком гониометра. [c.160]

Принципиальная схема рентгеноспектрального микроанализатора (электронного микрозонда), предложенная Кастеном, показана на рис. 6.1. Все применяемые в настоящее время микрозонды состоят из следующих основных частей [c.144]

Локальность РСМД, т. е. эффективный объем вещества, в котором возбуждается характеристическое рентгеновское излучение, определяется в первую очередь диаметром зонда на образце. При анализе монолитных образцов линейная локальность (диаметр пятна на образце) не может быть лучше 1—2 мкм. Это объясняется тем, что электроны успевают пройти в образце расстояние 1—3 мкм прежде, чем их энергия станет недостаточной для генерации характеристического рентгеновского излучения. Согласно Кастену эффективный размер пятна из-за рассеяния электронов определяется выражением 5 = 0,033( — где Ео и Ек, выраженные в кэВ, соответственно энергия падающих на образец электронов, определяемая заданным ускоряющим напряжением, и энергия возбуждения характеристического рентгеновского излучения элемента с атомным номером Z и атомной массой А- р — плотность образца. Размер пятна существенно зависит от энергии электронов. Так, для чистого алюминия ( и=1,5 кэВ) размер пятна равен 6 мкм при о = 30 кэВ и 1,5 мкм при о = Ю кэВ. Обычно работают при напряжениях в интервале 10—20 кВ. Нецелесообразно уменьшать диаметр зонда до величин, меньших 0,3—0,5 мкм, так как при заданном ускоряющем напряжении пучки меньшего диаметра из-за рассеяния электронов будут возбуждать рентгеновские лучи с той же эффективной площади образца. Количественный РСМД можно проводить при размерах фаз 5 мкм. Минимальный объем частиц в экстракционных репликах, которые удается анализировать на микрозонде, составляет 0,2— 0,3 мкм . На электронном микроскопе-микроанализаторе (ЭММА) в экстракционных репликах или в фольгах определялся состав равномерно распределенных частиц с минималь- [c.146]

Микрорентгеноспектральный анализ, выполненный на микроанализаторе Камека в 500 точках, показал, что под действием введенного в сталь молибдена колебания концентрации хрома и марганца значительно уменьшились. Так, если в стали ШХ15СГ, не содержащей молибдена, концентрация хрома колебалась в пределах 0,60—3,80%, а марганца в пределах 0,50—2,40%, то после введения молибдена эти колебания находились в пределах 1,20— 2,70% и 0,90—1,70% соответственно. Следовательно, интервалы [c.40]

Исследование статистического распределения хрома в стали марки ШХ15, выполненное на микроанализаторе (Камека), показало, что в стали, разлитой непрерывным способом, концентрация хрома колеблется в более узких пределах, чем в стали, разлитой в изложницы. Это соотношение сохраняется и после прокатки <ак для слитков равного сечения, так и для слитков различного по величине сечения. [c.98]

Результаты, полученные на микроанализаторе, подтверждаются также и данными распределения микротвердости при равной макротвердости (HR ) колебания микротвердости стали непрерывной разливки находятся в более узких пределах, чем колебания микротвердости стали, разлитой в изложницы. [c.98]

Это предположение было проверено экспериментально двумя методами методом абсорбционной рентгенографии на рентгеновском просвечивающем микроскопе и методом микрорентгеноспек-трального анализа на микроанализаторе. [c.113]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...