Микроанализаторы рентгеновски

Сведения о химическом составе иногда можно получить с помощью рентгеновского или электронно-лучевого анализа поверхности покрытия или металлографическим исследованием шлифа готового изделия (под микроскопом или при использовании электронного микроанализатора). [c.135]

При использовании излучения СОг-лазера исследования процесса насыщения проводились на образцах из алюминия и нержавеющей стали [52]. Образцы перед лазерным облучением покрывались слоем мелкого неметаллического порошка, смешанного с медью и цинком. Распределение элементов в расплавленном поверхностном слое оценивалось с помощью рентгеновского микроанализатора. [c.33]

Рис. 4. Схема рентгеновского микроанализатора измерительные цепи

Характеристики рентгеновских микроанализаторов [c.499]

Специальные приборы современные электроннолучевые микрозонды представляют собой комбинацию рентгеновского микроанализатора и электронного микроскопа. [c.160]

Рентгеновские микроанализаторы [17] появились независимо от РЭМ, однако сейчас уже трудно представить себе РЭМ без приставок для рентгеновского микроанализа (РЛ 1А), Оба прибора очень хорошо дополняют друг друга. [c.70]

Рентгеновские микроанализаторы типа МАР и др. (см. раздел 6). [c.130]

Рассматривая возможности применения такого микроскопа [38], можно выделить две области спектра коротковолновую (0,1—0,5 нм), которая интересна в плане микроструктурного анализа материалов (металлы, сплавы), и длинноволновую (0,5— 5,0 нм), которая включает полосы поглощения важных для биологии легких элементов О, М, С. Выделяя с помощью фильтров или узкополосных многослойных покрытий линии определенных элементов, можно получить карту их распределения по образцу, как это делается в рентгеновских микроанализаторах, но со значительно меньшей радиационной нагрузкой. При таких исследованиях достоинствами сканирующего микроскопа являются одинаково высокое разрешение по неограниченному полю зрения, отсутствие ограничений, связанных с конечным размером ячеек детектора, и удобство непосредственной оцифровки как координат освещаемой точки объекта, так и интенсивности прошедшего света. [c.203]

Фиг. 27. Схема рентгеновского микроанализатора (электронного зонда).

В принципе возможно получение твердого раствора с концентрацией, превышающей максимальный предел равновесной растворимости. Однако подобное пересыщение твердых растворов в сплавах систем Al-Si, Al-Mg и других возможно только при сверхвысоких скоростях охлаждения в процессе кристаллизации. При литье в кокиль, предварительно подогретый до 200—250 °С, указанное пересыщение практически исключено, так как скорость охлаждения при этом сравнительно невысока. Диаметр области возбуждения рентгеновского излучения во-время исследования составлял 2—3 мкм. Локальность анализа за счет взаимодействия электронов с веществом по поверхности и глубине не превышала 5 мкм. Чувствительность прибора данного класса 10 —10 г [40 при точности 1—4 %, зависящей от определяемой концентрации. Дальнейшую обработку результатов измерений проводили на ЭВМ, входящей в состав микроанализатора. [c.33]

Выявленное распределение Si в структуре высокопрочного чугуна металлографическим методом подтверждено и методом рентгеноструктурного фазового анализа. На рис. 2.36 и 2.37 приведены результаты исследований структуры высокопрочного чугуна в литом состоянии и после то, выполненных с помощью рентгеновского микроанализатора МАР-1М. [c.70]

Совершенствование методов металлографического и химического фазового анализа чугуна [2,68], широкое применение электронного зондирования фаз на рентгеновских микроанализаторах [69] позволили в последние годы детально изучить распределение основных компонентов и примесей между фазами и в фазах чугуна. Основное внимание уделялось исследованию химической неоднородности серого чугуна [70—73]. [c.101]

Для определения химического анализа на элементы от В до U (кроме кислорода и фтора) в микрообъемах (3—10 мкм ) различных объектов, как металлических, так и неметаллических, применяется микроанализатор МАР-2 (рис. 47). Основной принцип работы заключается в том, что поток электронов, созданный электронной пушкой и имеющий определенную длину волны взаимодействия с микрообъемами поверхности объекта, вызывает характеристическое рентгеновское излучение. Его длина волны свойственна только одному определенному элементу, входящему в состав того или иного локального участка объекта. Измеряя интенсивность характеристического излучения и сравнивая ее с интенсивностью излучения от эталона, имеющего известное содержание этого же элемента, можно рассчитать его концентрацию в изучаемом объекте. [c.84]

Рис. 47. Схема рентгеновского микроанализатора МАР-2

Основными методами исследования строения кристаллических веществ служат рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ [85, 88—91]. Особую ценность для изучения структуры имеют исследования с помощью рентгеновского микроанализатора (МАР-1). Последний предназначен для определения методом локального рентгеноспектрального анализа количественного химического состава в микрообъемах площадью 1—2 мкм .. [c.46]

Рис. 5, Принципиальная скелетная схема растрового электронного микроскопа рентгеновского микроанализатора

Кристаллич. спектрометры, к-рые употребляются в растровых Э, м.—рентгеновских микроанализаторах, дают возможность использовать характеристич. излучение в диапазоне от 13А до 0,5А. Между тем большой интерес представляет выявление в исследуемом материале (получение изображений, количественный анализ) таких легких элементов, как С, Ве, В [c.498]

Развитие электронной оптики и электронной микроскопии привело также к созданию отражательных, эмиссионных, растровых (электронных и рентгеновских) микроскопов, имеющих большие перспективы использования в исследовании металлов созданы новые приборы и методы металлофизического исследования, использующие электронную оптику и высококачественные электропитающие устройства электронных микроскопов рентгеноспектральные микроанализаторы, рентгеновские микроскопы, электронные анализаторы (для исследования потенциала кристаллической решетки), электронные зеркала (для исследования до-ме.нной структуры ферромагнетиков) и т. д. [c.165]

Другим распространенным методом анализа состава материалов является рентгено-спектральный микроанализ (РСМА). В РСМА веществ регистрируют характеристическое рентгеновское излучение из зоны торможения электронов зонда в твердой мишени. РСМА часто применяется вместе с РЭМ на одном приборе, в виде специальной приставки - микроанализатора. [c.156]

G помощью рентгеновского микроанализатора Сошеса изучено распределение атомов меди в диффузионной зоне. С увеличением давления в ударной волне наблюдается возрастание концентрации меди на поверхности образца после диффузионного отжига и уменьшение размеров диффузионной зоны. В образце, деформированном давлением 5 ГПа, атомы меди проникают до глубины 210 мкм, в то время как при давлении 30 ГПа — до глубины 60 мкм. По-видимому, до указанных слоев происходит и образование интерметаллидов, но их количество меньше чувствительности рентгеновского фазового анализа. Наблюдение за [c.122]

Рентгеноструктурный анализ образцов выполняли по изменению полуширины дифракционных линий (220) и (311), для чего использовали рентгеновский дифрактометр ДРОН-1 с железным излучением анода. Тонкую структуру образцов в исходном состоянии, а также на разных этапах испытания исследовали с помощью световой микроскопии и на просвечивающих электронных микроскопах JEM-7 и JEM-100. Микрорентгеноспектральный анализ проведен на микроанализаторе MS-46. [c.213]

Микроанализаторы. На рис. 4 показана принципиальная схема рентгеновского микроанализатора МР-6. Он позволяет исследовать распределения химических элементов по поверхности образца и наблюдать с большой глубиной резкости морфологию поверхности образца во вторичных, упруго-отраженных и поглощенных электронах. Мцкроанализатор МР-6 — прибор универсального назначения. Он рассчитан для использования в материаловедении, металлургии, а также биологии и других областях науки и техники. [c.497]

Рентгеновский микроанализ (локальный анализ) участков пробы 1—-3 мкм выполняют с помощью электронного зонда в микроанализаторе. Электронный зонд формируют с помощью электростатич. и магн. фокусировки до сечения диам. 1 мкм. Анализ осуществляют по рентг. излучению образца, к-рое разлагают в спектр с помощью рентг. спектрометра, В этой методе вводят поправки на Z определяемого элемента, поглощение его излучения в пробе и его флуоресценцию, возбуждаемую тормозной компонентой излучения и характеристич. излучениями др. элементов в пробе. Микроанализ применяют при исследованиях взаимной диффузии 2- и 3-компонентных систем, процессов кристаллизации, локальных флуктуациях состава сплавов и т. д. [c.379]

Большой интерес представляет исследование поперечного сечения окисленных образцов. Здесь можно получить информацию об изменении структуры окалины по ее толщине, а также о структуре подокисной зоны. РЭМ дает возможность получить изображения с увеличением от 50 до 10000. Этот диапазон перекрывается в значительной степени с диапазоном увеличений светового микроскопа на нижней границе и просвечивающего электронного микроскопа на верхней границе. Эффективность применения растрового электронного микроскопа значительно возрастает в сочетании с использованием рентгеновского микроанализатора (РМА), который является составной частью современных РЭМ. [c.25]

Рентгеновский флюоресцентный анализ. Относится к тому же виду исследования, как и црименение электронного микроанализатора (рис. 1.424). При этом вместо электронов возбуждения применяют рентгеновское излучение. Первичное рентгеновское излучение рентгеновской трубки возбуждает способность элементов к флюоресценции., Флюоресцентное излучение направляется в виде параллельного пучка и разлагается кристаллом анализатора. Интенсивность отдельных компонентов излучения определяется счетчиком гониометра. [c.160]

Локальность РСМД, т. е. эффективный объем вещества, в котором возбуждается характеристическое рентгеновское излучение, определяется в первую очередь диаметром зонда на образце. При анализе монолитных образцов линейная локальность (диаметр пятна на образце) не может быть лучше 1—2 мкм. Это объясняется тем, что электроны успевают пройти в образце расстояние 1—3 мкм прежде, чем их энергия станет недостаточной для генерации характеристического рентгеновского излучения. Согласно Кастену эффективный размер пятна из-за рассеяния электронов определяется выражением 5 = 0,033( — где Ео и Ек, выраженные в кэВ, соответственно энергия падающих на образец электронов, определяемая заданным ускоряющим напряжением, и энергия возбуждения характеристического рентгеновского излучения элемента с атомным номером Z и атомной массой А- р — плотность образца. Размер пятна существенно зависит от энергии электронов. Так, для чистого алюминия ( и=1,5 кэВ) размер пятна равен 6 мкм при о = 30 кэВ и 1,5 мкм при о = Ю кэВ. Обычно работают при напряжениях в интервале 10—20 кВ. Нецелесообразно уменьшать диаметр зонда до величин, меньших 0,3—0,5 мкм, так как при заданном ускоряющем напряжении пучки меньшего диаметра из-за рассеяния электронов будут возбуждать рентгеновские лучи с той же эффективной площади образца. Количественный РСМД можно проводить при размерах фаз 5 мкм. Минимальный объем частиц в экстракционных репликах, которые удается анализировать на микрозонде, составляет 0,2— 0,3 мкм . На электронном микроскопе-микроанализаторе (ЭММА) в экстракционных репликах или в фольгах определялся состав равномерно распределенных частиц с минималь- [c.146]

Это предположение было проверено экспериментально двумя методами методом абсорбционной рентгенографии на рентгеновском просвечивающем микроскопе и методом микрорентгеноспек-трального анализа на микроанализаторе. [c.113]

Возможность одновременного исследования структуры и элементного состава поверхности представляет особый интерес при изучении адсорбции, ее влияния на структуру поверхности взаимодействующих материалов при трении в активных смазочных средах. Для одновременного исследования структуры, состава и топографии роверхности комбинируют различные методы, а соответствующие приборы снабжают специальными пристав- ками. Широкое распространение получили просвечивающие и растровые электронные микроскопы с дифракционными приставками, растровый электронный микроскоп со спектрометром (рентгеновским микроанализатором) и др. [c.87]

О поведении покрытия в условиях длительной ползучести можно судить по данным, орлученным с помощью рентгеновского микроанализатора М8-46 (рис. 4.3, 4.4). Резкий спад на концентрационных кривых свидетельствует о слабой диффузии элементов покрытия в металл подложки. При испь(тании на ползучесть продолжительностью свыше 10 тыс. ч (при температуре 570 С и напряжении 63,7 МПа) диффузионная зона увеличилась с 10—13 до 15—20 мкм. С помощью количественного анализа (табл. 4.5) химического состава фаз покрытия - установлено, что в процессе испытания на ползучесть в покрытие из стали проникает до 30% железа. [c.65]

В недавние годы развитие метода рентгеновского микроанализа дало почти идеальный способ наблюдения косселевских и псевдокосселевских линий. В микроанализаторе интенсивный пучок электронов фокусируют на образце, так что образуется пятно диаметром в несколько микрометров и возникает флуоресцентное рентгеновское излучение, которое можно проанализировать, чтобы показать состав небольшой облучаемой области. При использовании [c.324]

Микроанализатор состоит из электроннооптической системы, камеры образцов, рентгеновских спектрометров (вакуумного Х = = 12,5—67 A) и невакуумного (Я = 0,7—1,25 к), а также системы регистрации и счета, в которую входят усилитель, амплитудный дискриминатор, пересчетный блок, высоковольтный выпрямитель, блоки питания, цифропечатающая машинка, самописец, контрольный генератор. [c.84]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...