Дифракция распределение интенсивности

Как и в случае фраунгоферовой дифракции от одной щели, распределение интенсивности для дифракционной решетки в зависимости от угла дифракции можно также изобразить графически и аналитически. Все колебания, идущие от разных ш,елей в направлении гр =-- О, имеют одинаковые амплитуды и фазы колебания. Следовательно, все векторы амплитуд будут направлены вдоль одной линии и результирующая амплитуда будет [c.145]

Распределение интенсивности. Несложные вычисления, аналогичные вычислениям интенсивности для дифракции от одной щели, дают для дифракционной решетки с N щ,елями [c.145]

Аналогичные отклонения наблюдаются и при использовании УКВ. В частности, отчетливую дифракционную картину можно получить при дифракции УКВ-излучения на крае какого-либо экрана, но распределение интенсивности оказывается отличным от рассчитанного для сферического волнового фронта, так как установка с клистроном излучает волну, более похожую на плоскую, чем на сферическую, что следует учитывать при обсуждении этого простого и эффектного опыта. [c.267]

Эта формула играет первостепенную роль в дифракционной теории оптических инструментов. Распределение интенсивности при дифракции плоской волны на круглом отверстии задается функцией [c.288]

Распределение интенсивности н дифракционной картине при дифракции Фраунгофера на круглом отверстии [c.288]

Из-за дифракции никогда не получается фокусировка лазерного излучения в одной точке. Однако распределение интенсивности в плоскости фокусировки описывается кривой того же вида, какой имело распределение интенсивности по фронту до фокусировки (гауссова кривая другого масштаба). [c.290]

Распределение интенсивностей I/Iq при дифракции света на правильной структуре из N п елей [c.297]

На рис. 6.46 показано распределение интенсивности дифракции плоской монохроматической волны на двух параллельных щелях ш ириной Ь. Этот рисунок полностью соответ- [c.304]

Распределение интенсивности при дифракции монохроматической волны на двух щелях [c.304]

Вычисляя результаты интерференции элементарных волн, посылаемых вспомогательными источниками, мы приходим к значению амплитуды (интенсивности) в любой точке В, т. е. определяем закономерность распространения света. Результаты этих вычислений подтверждаются данными опыта. Таким образом, по методу Гюйгенса—Френеля удается получить правильное решение вопроса о распределении интенсивности света как в случае свободного распространения световых волн (прямолинейное распространение), так и в случае наличия задерживающих экранов (дифракция). [c.153]

Рассмотренные выше примеры показывают с достаточной убедительностью, что вычисления (аналитические и графические), вы-, полненные на основе постулата Френеля, дают правильное значение распределения интенсивности при явлениях дифракции, т. е. позволяют правильно отыскать амплитуду результирующей волны, если размеры препятствий или отверстий значительно больше длины волны. [c.168]

Рис. 9.4. Дифракция на щели влияние ширины щели на распределение интенсивности.

Рис. 9.11. Распределение интенсивности при дифракции на двух параллельных щелях шириной Ь, расположенных на расстоянии

Световой пучок, соответствующий каждому максимуму, проходя через вторую решетку, распадается на новую совокупность световых пучков, дающих максимумы вдоль вертикальной линии. Полная картина спектра подобна изображенной на рис. 10.1. Цифры 0,0 0,1 1,1 1,2 и т. д. около пятнышек показывают порядок спектра в первой и второй решетках интенсивность их убывает по закону распределения интенсивности в дифракционных спектрах решетки. Нетрудно дать элементарную теорию дифракции на такой решетке. [c.225]

Рис. 10.1. Схематическое изображение распределения интенсивности при дифракции на двумерной решетке.

Заканчивая изложение физических принципов голографии, сформулируем еще раз Соображения, лежащие в основе этого способа регистрации информации об объекте наблюдения, переносимой электромагнитным полем. Нас интересует информация, заключающаяся в распределении амплитуд и фаз в этом поле. Фотографирование распределения интенсивности в специально созданной интерференционной картине, возникшей при суперпозиции волнового поля объекта и когерентной ему опорной волны, дает возможность регистрации полной информации, переносимой изучаемым волновым полем. Последующая дифракция света на распределении почернений в фотослое голограммы восстанавливает волновое поле объекта и допускает изучение этого поля а отсутствие объекта наблюдения. Рассмотрим теперь некоторые практические применения голографии. [c.266]

Рассмотреть голографирование объекта, состоящего из двух бесконечно удаленных точек, посылающих на голограмму волны с углами падения (pj, Фг. Вычислить распределение интенсивности в интерференционной картине на голограмме. Определить углы дифракции просвечивающей волны. Выяснить вопрос о подобии объекта и изображений (мнимого и действительного). Установить условия исчезновения действительного изображения. [c.914]

Рис. 5. Распределение интенсивности света при дифракции на действующем отверстии прямоугольной формы для бесконечно узкой щели спектрографа а — одиночная монохроматическая спектральная линия б — две близкие монохроматические линии

Картина распределения интенсивности волны при дифракции электронной волны на прямолинейном крае полубесконечной плоскости [c.64]

Аналитическое выражение, описывающее распределение интенсивности при дифракции Фраунгофера, зависит от формы и разме- [c.249]

Следует отметить, что несмотря на то, что зона / имеет более сложное распределение интенсивности, чем зона II, соответствующее случаю аномальной дифракции [144 ], в ряде случаев удается создать автоматическую аппаратуру, осуществляющую измерение диаметра волокна по анализу размера центрального дифракционного максимума либо одного или нескольких боковых максимумов в зоне /. Достоинством этой зоны является максимальная интенсивность излучения. [c.275]

Если на плоскую Д. р. падает параллельный пучок света, ось к-рего лежит в плоскости, перпендикулярной к штрихам решётки, то, как показывает расчёт, получающееся в результате интерференции когерентных пучков от всех N штрихов решётки пространственное (по углам) распределение интенсивности света (в той же плоскости) может быть представлено в виде произведения двух ф ний J Jg. Ф-ция Jg определяется дифракцией света на отд. штрихе, ф-ция Jjv обусловлена интерференцией N когерентных пучков, идущих от штрихов решётки, и связана с периодич. структурой Д. р. Ф-ция для данной длины волны Я определяется периодом решётки d, полным числом штрихов решётки N и углами, образованными падающим (угол 1 з) и дифрагированным (угол ф) пучками с норма-лью к решётке (рис. 2), но не зависит от формы штри- 057 [c.657]

Дифракция света происходит на частицах, размеры которых одного порядка с длиной волны падающего на них света. Угловое распределение интенсивности и степень поляризации рассеянного света являются функциями размера частицы, показателя прелом-.гения частицы (из нрозрачного вещества) и длины волны падающего света [3941. Для измерения углового распреде.ления и поляризации рассеянного света существует специальное оборудование [293]. Сущность дифракционного метода описана в гл. 5. [c.28]

Дифракция света от двух щелей. При рассмотрении дифракции плоской световой волны от щели мы видели, что распределение интенсивности на экране определяется направлением дифрагированных лучей. Это означает, что перемещение щели паралельно самой себе влево и вправо по экрану 5, (см. рис. 6.17) не приводит к какому-либо изменению дифракционной картины. Следовательно, если на з <ране Эх сделать еще одну щель, параллельную первой, такой же ширины h, то картины, создаваемые на экране каждой щелью в отдельности, будут совершенно одинаковыми. Результирующую картину можрю определить путем слол<ения этих двух картин с учетом взаимной интерференции волн, идущих от обеих щелей. Направим параллельный пучок когерентного света на непрозрачный экран с двумя идентичными щелями шириной Ь, отстоящими друг от друга на расстоянии а (рис. 6.24). Очевидно, в тех направлениях, в которых ни одна из щелей не распространяет [c.143]

Применение метода Гюйгенса—Френеля в данном случае весьма просто. Будем считать, что воображаемая поверхность а совпадает с плоскостью непрозрачного экрана и целиком закрывает исследуемое отверстие. В наиболее простом случае — нормальное падение исходной волны на поверхность экрана — дополнительная разность хода лучей от различных участков щели определяется углом дифракции (р. Упрощается и вычисление множителя А (ц/), значение которого влияет на интенсивность в центре дифракционной картины и не сказывается на распределении интенсивности. В эксперименте же, как правило, исследуется лишь относительная интенсивность (интенсивность в центре дифрак-ционнной картины условно принимается равной единице), так как относительные измерения несравненно проще и надежнее абсолютных измерений распределения освещенности, требующих предварительной градуировки приемников света, учета возможного поглощения и т. д. [c.282]

Множитель (sinu/u) характеризует распределение интенсивности в результате дифракции плоской волны на каждой щели, а множитель (siniVti/sinft) учитывает интерференцию между пучками, исходящими от всех щелей. Множитель /о определяет интенсивность света, излучаемого в направлении ф - О, которая зависит от потока энергии, падающего на решетку света. [c.293]

Распределение интенсивности при дифракции света на решетках с различной формой пхтрихов [c.299]

Итак, получс-и интересный результат, а именно открывается возможность зксперимента 1Ьно игличигь правильное расположение вызывающих дифракцию центров от хаотического их распределения на какой-то плоскости, где расстояние между ними лишь в среднем постоянно. Более того, детальное исследование симметрии и распределения интенсивности дифракционной картины позволяет определить характер правильного распределения таких центров на плоскости. Но наиболее значительны и поучительны вопросы дифракции электромагнитных волн на пространственной структуре. [c.348]

Рис. 9.8. к расчету дифракции волны с амплитудой колебаний, и.чменяющейся по волновому фронту (а), фотографии поперечного сечения лазерного пучка с гауссовым распределением интенсивности при разных расстояниях между плоскостью наблюдения и лазером (б, в, г) и фотография, полученная при ограничении лазерного пучка щелью (<3). [c.185]

Величина хю есть, очевидно, ширина гауссова распределения интенсивности поля на расстоянии z от экрана ЕЕ. Согласно соотношению (43.6) квадрат ширины распределения на расстоянии z равен сумме квадрата исходной ширины (щ ) и квадрата ширины zlkWf , подсчитываемой по формуле для дифракции Фрауцгофера (ср. (43.5)). При z-> оо (практически при 2яшоА) ве- [c.187]

Эффекты акустооптич, взаимодействия используются как при физ. исследованиях, так и в технике. Дифракция света на УЗ даёт возможность измерять локальные характеристики У 3-полей. По угловым зависимостям дифрагированного света определяются ди-аграмма направленности и спектральный состав акустич. излучения. Анализ эффективности дифракции в разл. точках образца позволяет восстановить картину пространственного распределения интенсивности звука, В частности, на основе акустооптич. эффектов осуществляется визуализация звуковых полей. С помощью брэгговской дифракции удаётся получить информацию о спектральном, угловом и пространственном распределении акустич, фояонов в ДВ-области фононного спектра. Этот метод представляет ценность для изучения неравновесных акустич. фононов, иапр. в условиях фононной (акустоэлектрической) неустойчивости в полупроводниках, обусловленной усилением [c.46]

В процессоре для фурье-разложения сигнала с использованием дифракции Рамана — Ната (рис. 3) монохроматпч. свет падает на АОЯ 1, в к-рой распространяется. звуковой сигнал, являющийся пространственным изображением электрич, сигнала S (t) на входе АОЯ. В результате в фокальной плоскости аа ЛИН.ЗЫ 2 возникает распределение интенсивности све- [c.49]

Вторая ф-ция Jg, влияюп1 ая на результирующее распределение интенсивности в спектре, обусловлена дифракцией света на отд. штрихе она зависит от величин d, -ф и ф, а также и от формы штриха — его профиля. Расчёт, учитывающий Гюйгенса — Френеля принцип, даст для ф-ции Jg выражение [c.658]

Для изучения рассеяния атомных или молекулярных потоков (рис. 1) монокристаллич. (или газовую) мишень (/), играющую роль дифракц. решётки, помещают в камеру (2), в к-рой поддерживается высокий вакуум (вакуум необходим для устранения паразитного рассеяния на остаточном газе и его адсорбции на поверхности монокристалла). На мишень направляют узкий молекулярный пучок 3). Распределение интенсивности рассеянных пучков в пространстве измеряют с помощью [c.663]

Способ образования когерентных пучков в М. э. и его оптич. схема такие же, как у дифракционной решётки. Угл. распределение интенсивности в результирующей интерференционной картине в плоскости дисперсии также определяется произведением двух функций дифракционной — (sinii/и) при дифракции на одной ступеньке шириной d и интерференционной функции (sinAi. /sini ) , определяемой интерференцией N когерентных пучков от всех ступенек М. э. [c.28]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...