Дифракция и ослабление

При контроле единичных изделий, например, стаканов и плит шиберного затвора, применяемых для разливки стали (когда экспериментальное построение тарировочного графика невозможно), определение у и П по величине производится расчетным путем по приведенным выше формулам. При этом точность контроля несколько ниже и зависит от полноты учета маскирующих факторов (дифракции и интерференции, связанной с многократным отражением). Выбор зон контроля производится в соответствии с конкретными потребностями. С целью ослабления влияния дифракции зоны контроля (просвечивания) по возможности сдвигаются относительно краев изделий (не менее чем на 2 см). В тех случаях, когда требуется провести контроль именно в краевых зонах, например вокруг отверстия в изделии, применяют поглощающие заглушки, перекрывающие прохождение излучения вне зоны контроля. Следует иметь в виду, что в этом случае построение тарировочного графика возможно только по экспериментальным данным. [c.248]

Ослабление на таких частицах всегда связано с явлениями рассеяния, дифракции и собственно поглощения. [c.145]

Дифракционная картина, описываемая формулой (43.4), характеризуется монотонным уменьшением интенсивности при увеличении угла дифракции от нулевого значения, т. е. отсутствием осцилляций и линий нулевой интенсивности (окружности при круглом отверстии и прямых линий при квадратном), а также быстрым спаданием интенсивности в крыльях . Все эти качества очень полезны в оптических приборах, и иногда специально вводят на периферийных участках плоскости ЕЕ искусственное ослабление волны (так называемая аподизация). [c.187]

Рио. 1-14. ВЛИЯНИЕ НА СПЕКТРАЛЬНЫЙ КОЭФФИЦИЕНТ ОСЛАБЛЕНИЯ ЛУЧЕЙ k ПОКАЗАТЕЛЯ ПОГЛОЩЕНИЯ г И ПАРАМЕТРА ДИФРАКЦИИ р. [c.37]

На рис. 1-16 показана зависимость коэффициентов рассеяния А расс и полного ослабления к от оптических констант вещества п vi % при сравнительно высоком значении параметра дифракции. [c.39]

Рис. 1-20. СПЕКТРАЛЬНЫЙ КОЭФФИЦИЕНТ ОСЛАБЛЕНИЯ ЛУЧЕЙ рд В ЗАВИСИМОСТИ ОТ ПАРАМЕТРА ДИФРАКЦИИ р И ПОКАЗАТЕЛЯ ПОГЛОЩЕНИЯ х ДЛЯ ЧАСТИЦ

Рио. 1-21. ВЛИЯНИЕ ПОКАЗАТЕЛЯ ПОГЛОЩЕНИЯ X И ПАРАМЕТРА ДИФРАКЦИЙ р НА СПЕКТРАЛЬНЫЕ КОЭФФИЦИЕНТЫ ОСЛАБЛЕНИЯ ЛУЧЕЙ к, И А огл [c.46]

Приведенные в первой главе данные показывают, что на величину и спектральный ход коэффициентов ослабления, а следовательно, и на зависимость степени черноты от температуры пламени большое влияние оказывают параметр дифракции р и дисперсия оптических параметров п(К) и х( )- Таким образом, для расчетов излучения частиц углерода в горящих факелах необходимо, наряду с размером частиц d, знать также их комплексные показатели преломления т Х) во всей области спектра теплового излучения промышленных пламен. [c.101]

На основании приведенных данных представляется возможным произвести сравнительную оценку долей полного ослабления, приходящихся на рассеяние и истинное поглощение, в зависимости от оптических параметров топлива и и х> 3 также от параметра дифракции р. [c.105]

Рио. 4-5. ЗАВИСИМОСТЬ ОТ ПАРАМЕТРА ДИФРАКЦИИ р И ДЛИНЫ ВОЛНЫ I СПЕКТРАЛЬНОГО КОЭФФИЦИЕНТА ОСЛАБЛЕНИЯ ДЛЯ ЧАСТИЦ УГЛЕРОДА МАЛЫХ РАЗМЕРОВ (САЖИСТЫЕ ЧАСТИЦЫ). [c.108]

Рис. 4-7. ЗАВИСИМОСТЬ СПЕКТРАЛЬНОГО КОЭФФИЦИЕНТА ОСЛАБЛЕНИЯ ЛУЧЕЙ ЧАСТИЦАМИ УГЛЕРОДА ОТ ДЛИНЫ ВОЛНЫ ИЗЛУЧЕНИЯ к И ПАРАМЕТРА ДИФРАКЦИИ р В ОБЛАСТИ

Несложно показать, что при Р<С1 и конечных т вытекающее из формул (1-10) и (1-11) асимптотическое решение приводит к линейной связи между безразмерным коэффициентом ослабления лучей кх и параметром дифракции р. [c.133]

Решение этой системы при известной полной поверхности частиц F позволяет определить относительное распределение частиц по квадрату диаметра. Максимальная точность метода достигается в области экстремальных значений коэффициентов ослабления. Метод не применим в области линейной зависимости между коэффициентом ослабления лучей и параметром дифракции. Нижнюю границу можно расширить путем использования сред с высоким показателем преломления. Примерная точность метода составляет 30%. Ее можно повысить, если воспользоваться дополнительно кривыми 2 и 5 рис. 7-8, относящимися к центрифугированным взвесям. [c.237]

К. С. Шифрин [Л. 73] показал физическую природу этого явления. Останавливаясь на нем, предварительно заметим, как определяется эффективное сечение ослабления, или коэффициент ослабления, методами геометрической оптики. Для небольшого количества частиц в единице объема, не перекрывающих друг друга, или для единичной частицы, эффективное сечение ослабления может быть в этом случае определено по соотношению между суммарной площадью поперечного сечения частиц и площадью нормального сечения падающего пучка лучей. При этом принимается, что дифракция на больших частицах отсутствует, и ослабляется (рассеивается и поглощается) лишь та доля падающего излучения, которая приходится на площадь поперечного сечения частицы. [c.157]

Зависимость (1) предполагает пространственную однородность ноля излучения в кристалле или нерегулярное строение (искажение) кристалла и правильно описывает ослабление интенсивности излучения при его распространении в кристалле в произвольном (не дифракционном) направлении. Она также верна и при к и н е м а т и ч. дифракции рентгеновских лучей в тонком (по сравнению с длиной первичной экстинкции) кристалле. Если толщина кристал.тга йЗ>)1о то, согласно (1), и.злучение полностью поглощается в нём. [c.89]

Полный коэф. рассеяния частицы в М. т. также представляется суммой коэф. для отдельных парциальных волн. Для больших частиц ка 1) показатель ослабления света е — 2ла , т, е. оя не зависит от Я, и равен удвоенному поперечнику сферич, частицы 2ла. Это объясняется тем, что половина ослабления происходит за счёт рассеяния и поглощения внутри частицы, а другая, тоже ла , вызвана дифракцией (рассеянием) света на контуре частицы [1, 2, 3]. [c.132]

На это, на первый взгляд парадоксальное, явление впервые было обращено внимание в работах К. С. Шифрина [591, который исследовал его физическую природу и показал, что это явление связано с особым характером дифракции электромагнитных волн на частицах больших размеров. При р -> оо эффективное сечение ослабления стремится к своему асимптотическому значению, равному удвоенной площади поперечного сечения частицы. Это означает, что частица отбирает из падающего потока в два раза больше энергии, чем падает на ее поперечное сечение. Указанное явление присуще всем частицам больших размеров независимо от их конкретных физических свойств. [c.53]

Влияние оптических констант п и X на фактор ослабления Кх для частиц больших размеров является более слабым, чем для малых частиц. В качестве примера на рис. 2-4 показано, как изменяется фактор ослабления К% в зависимости от х и для четырех значений параметра дифракции р в области от 5 до 100. Из рисунка видно, что с увеличением р влияние оптических констант на К заметно ослабевает. При значении р = 100 изменение величины X практически не влияет на К% в области значений п > 1. При всех рассмотренных значениях р с увеличением показателя преломления п зависимость Кх от X заметно ослабевает. [c.54]

На основании приведенных данных об оптических константах углерода были проведены расчеты коэффициентов поглощения и рассеяния для частиц различных размеров и разных значений длины волны излучения. На рис. 4-2 приведены данные, показывающие, как изменяются в зависимости от параметра дифракции р = пх/Х и длины волны излучения X факторы ослабления [c.117]

Так происходит вплоть до того момента, который изображен на рис. 2.1 б, В дальнейшем, несмотря на продолжающееся ослабление фокусировки за счет кривизны зеркал, размеры сечения пучка перестают расти, и дифракционная расходимость почти не изменяется. Этому можно дать единственное объяснение добавляется какой-то новый фактор, противодействующий расширению пучка. Таким фактором здесь является краевая дифракция. По мере последующего приближения резонатора к плоскому поле на краю зеркал несколько возрастает, с ним растет и роль краевой дифракции. Наконец, в плоском резонаторе краевая дифракция остается единственной причиной того, что пучок не выбегает из системы и имеет не такие уж большие потери. Придерживаясь терминологии Вайнштейна, можно сказать, что поле в плоском резонаторе фиксируется не каустикой, как в устойчивых резонаторах, а краями зеркал (см. 2.4, а также [16], 2.2). [c.91]

МЕЖЗВЕЗДНОЕ ПОГЛОЩЕНИЕ - ослабление света прп прохождении его в межзвездной среде. 1"лавными причинами М. п. света являются дифракция и рассеяние света на мелких частичках космич. пыли и послощение ими света. М. п. света селективно его величина зависит от длины волпы Я. На практике М. и. принимается обратно пропорциональным первой степени X однако детальные исследования показывают, что эта зависимость несколько меняется с изменением Я и различна для разных мест звездного неба. [c.169]

В табл. 5.7 показана схема И еще одного метода, основанного на измерении соотношений амплитуд продольных и поперечных волн, трансформированных на дефекте. Согласно этой схеме обнаруженный дефект озвучивают с помощью наклонного преобразователя с углом ввода 45° импульсами поперечных волн. Приемником с переменным углом ввода последовательно принимают импульсы продольных волн, распространяющихся от дефекта и отражающихся от донной поверхности изделия (угол приема приблизительно равен О. .. 20°), и поперечных, также распространяющихся от дефекта и отражающихся от донной поверхности (угол приема около 45°). Находят и измеряют максимум амплитуд поперечных и продольных волн. Определяют разность указанных амплитуд и вносят в нее поправку, зависящую от глубины залегания дефекта, толщины изделия, разности коэффициентов затухания и дифракционного ослабления поперечных и продольных волн. На рис. 5.40 приведены зависимости отношения амплитуд поперечных и продольных волн для трещины с раскрытием Ь = = 0,01. .. 0,15 мм, а также для эллиптических моделей дефектов. Из анализа кривых следует, что для плоскостных дефектов с коэффициентом формы Q < 0,07 (кривая 1) отношение AflAi уменьшается с увеличением высоты дефекта. Это обусловлено образованием волн дифракции первого и третьего типа. В то же время отношение амплитуд практически не зависит от размеров дефектов, если Q >0,10 (кривые 2, 3). [c.270]

Наряду с результатами экспериментальных исследований в книге приведены также данные теоретических расчетов спектральных коэффициентов ослабления лучей твердыми частицами в зависимости от параметра дифракции р и комплексного показателя преломления т в характерных для котельных установок областях спектра теплового излучения дисперсной системы и распределений частиц по размерам. Они позволяют сделать ряд общих выводов, касающихся влияния электромагнитных свойств вещества на рассеивающую и поглощательную способности частиц, а также могут быть использованы для расчетов радиационного поля в различных дисперсных системах. Для удобства и наглядности многие из данных по спектральным коэффициентам ослабления лучей твердыми частицами представлены в виде графиков. Из них отчетливо виден экстремальный характер зависимости ксэффици-ентов рассеяния и поглощения от параметра дифракции р. Видны области, в которых справедливы асимптотические решения для предельно малых и больших частиц, а также изменения в зависимости от р и п соотношения между рассеянием и поглощением. [c.6]

Приведенные на рис. 1-1—1-6 графики спектральных коэффициентов ослабления описывают зависимость k, А расс и /спогл от параметра дифракции р и комплексного показателя преломления т. Они могут использоваться при решении широкого круга задач теплообмена излучением в дисперсных системах, содержащих частицы [c.26]

Большие частицы. Большими будем считать такие частицы, размеры которых значительно превосходят длигу волны излучения (d X). В этих условиях параметр дифракции рЗ>1, а суммарный коэффициент ослабления к перестает зависеть как от Р, так и от оптических констант вещества п л %. [c.38]

Рис. 1-18. СПЕКТРАЛЬНЫЙ КОЭФФИЦИЕНТ ОСЛАБЛЕНИЯ ЛУЧЕЙ k В ЭДВИСИ-иасти от ПАРАМЕТРА ДИФРАКЦИИ р И ПОКАЗАТЕЛЯ ПОГЛОЩЕНИЯ х ДЛЯ

Рассмотренные особенности изменения спектральных коэффициентов ослабления в зависимости от наглядно иллюстрируются кривыми рис. 1-21. Здесь показана зависимость от X спектральных коэффициентов ослабления к, /срасс И /спогл при различных постоянных значениях параметра дифракции р 1. [c.45]

Воспользовавшись формулами (1-10) и (1-11), можно на основании данных о комплексных показателях преломления т к) установить численные значения спектральных коэффициентов ослабления лучей частицами углерода кх, /схрасс и кхпотл при различных значениях параметра дифракции р. [c.105]

Приведенные данные устанавливают результативную зависимость спектрального коэффициента ослабления ki от длины волны к при = idein. Эта зависимость обусловлена как влиянием параметра дифракции р, так и дисперсией оптических параметров углерода п Х) и Как видно из представленных данных, в рассматриваемой области спектра длин волн при d = idem увеличение длины волны X приводит к резкому падению к) для малых частиц и к сравнительно плавному росту для больших частиц. [c.111]

Рассмотрим, как изменяется в зависимости от размера частиц d и длины волны Я спектральный коэффициент ослабления лучей частицами углерода (кокса) в пылеугольных пламенах. Характерными здесь являются величины А 1погл при значениях параметра дифракции р>10. [c.113]

На рис. 4-12—4-14 приведены характерные для частиц различных твердых топлив и графита кривые изменения коэффициентов ослабления кх, кыотл и А ,расс в зависимости от величины параметра дифракции р. [c.116]

В литературе встречаются указания, что за счет дифракционных явлений большие частицы отбирают из потока излучения в 2 раза больше энергии, чем падает на площадь их поперечного сечения . Видимо, подобную формулировку об отъеме энергии можно применять без оговорок только тогда, когда приемниками излучения являются оптические устройства, и важно, насколько ослабленным приходит луч в определенную точку, лежащую, например, строго на его первоначальном направлении. В этом случае потерянным ( отнятым из потока) может действительно являться и отбрасывае.мое крупной частицей вперед излучение, коль скоро оно все же рассеяно, хотя бы в пределах довольно узкого телесного угла. Но в рассматриваемой здесь задаче теплообмена отнятым из потока будет лишь излучение, отброшенное назад. Поэтому во многих случаях теплообмена излучением в дисперсных системах крупных частиц роль дифракции на них может оказаться не особенно большой. Ведь при малой объемной концентрации частиц они не взаимодействуют, а для отдельной крупной частицы индикатриса рассеяния вытянута вперед. При плотной упаковке частиц возникнет кооперативный [c.84]

При д и п а м и ч. дифракции в условиях лауэвского пропускания значит, часть интенсивности поля проходит через толстые ( з> 1(Г ) кристаллы, практически не ослабляясь. Это явление и наз. А. п. э. При динамич. дифракции в кристалле устанавливается пространственно-неоднородная структура поля с масштабом неоднородности порядка размеров элементарной ячейки кристалла. Для правильного описания ослабления интенсивности такого поля показатель экспоненты в (1) должен учитывать не только величину фотоэлектрического поглощения, но и пространственную структуру поля. [c.89]

ДИФРАКЦИОННЫЙ ОТВЕТВИТЕЛЬ — дифращи-он-ная решётка с определ. профилем штриха, используемая для ответвления от мощного лазерного пучка относительно малых долей энергии излучения. Выбором профиля дифракц. штриха можно сконцентрировать энергию дифрагиров. излучения в один из порядков дифракции (обычно нулевой) па уровне 0,9—0,95 от падающего на ответвитель светового потока. Эта осн. доля пучка используется по целевому назначению лазера. В др. порядки дифракции ответвляются от 10 до 10 доли от падающего на Д. О. излучепия. Именно это ослабленное излучение используется обычно для измерения характеристик пучка. Достоинством Д. о. является возможность с помощью одного оптич. элемента формировать большое число измерит, каналов с достаточно широким диапазоном калиброванного деления и простран-ственного распределения ослабленного излучения. Угловое расстояние между соседними порядками определяется плотностью штрихов решётки и выбирается из [c.662]

L (ij) определяются схемой дифракции. Для кристалла с заметным поглощением в Q ( ) нужно учитывать экс-тинкционное ослабление проходящего и рассеянного лучей в объёме кристалла. При Д, р, л. в моза-ИЧН0А1 кристалле имеет место явление вторичной экс-тинкции. [c.672]

Уоллера фактор, (uj) — среднеквадратичная проекция амплитуды тепловых колебаний ядра на направление X. Ослабление прямого и дифрагированного пучков происходит в реальном кристалле также из-за поглощения и рассеяния нейтронов (экстинкции). Др. трудность связана с тем, что измеряемая интенсивность дифракц. максимумов пропорц. квадрату модуля структурной амплитуды / (Н) 2 и информация о её фазе оказывается утраченной для р(г) при этом нет однозначного решения. [c.285]

Обобщенный анализ радиационных свойств полидисперсных систем частиц угольной пыли, золы и углерода (сажи) проведен Р. Вискантой, А. Унгэном и М. Менгюсом [92 ]. При этом использовались также данные [7, 64] по оптическим константам и спектральным факторам поглощения и рассеяния. На рис. 3-12 показано, как изменяется доля рассеяния в суммарном ослаблении (критерий S ) в зависимости от осредненного параметра дифракции Рза = = (яЗ зг)/ , для частиц золы, бурого и каменного углей, а также для частиц антрацита и аморфного углерода (сажи). [c.95]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...