Фокусировка второго порядка

Фокусировка второго порядка [c.17]

Замена криволинейных идеальных границ поля прямолинейными по описанному способу дает возможность получить фокусировку второго порядка для расходящихся пучков с увеличенной апертурой (а =2 ), при этом величина сферической аберрации равна [c.19]

Графическое построение ионно-оптических систем и нахождение конфигураций границ магнитного поля дают вполне удовлетворительные результаты. Например, дисперсия для 1% разности масс может быть определена с точностью 5%, а найденная форма границ магнитного поля удовлетворяет условию фокусировки второго порядка, при которой аберрации не превышают га . [c.26]

В поле вида Яг = Яо Д я коэффициента неоднородности, лежащего в пределах от нуля до единицы, достигается фокусировка первого порядка. Для фокусировки второго порядка некоторые авторы [17—30] предлагают использовать поле, отличающееся от поля [c.34]

Траектории частиц в общем случае полностью определяются системой дифференциальных уравнений второго порядка (2.76) и (2.77). В аксиально-симметричных полях траектории определяются уравнениями (4.12) и (4.21). Так как теория фокусировки базируется на параксиальных лучах, нас в основном интересуют решения уравнений для параксиальных лучей (4.40) или (4.50). После определения траектории в меридиональной плоскости ее вращение определяется уравнением (4.32), которое является определенным интегралом. [c.357]

Для непрерывного лазера на Мс1 УА0 типичное значение N — порядка 10 . Так что для лазера мощностью 1 Вт с полностью синхронизованными модами и при использовании оптимальной фокусировки основного излучения внутрь кристалла ниобата лития длиною 1 см ожидается генерация непрерывного излучения с мощностью 90 мВт в зеленой области спектра. Это соответствует эффективности преобразования во вторую гармонику только около 10%, несмотря на его 66-кратное увеличение благодаря синхронизации мод. [c.140]

Вскоре после Кервина Хинтенбергер [7] опубликовал найденное им общее условие фокусировки, второго порядка для круговых границ магнитного поля радиусом (см. рис. 1.3) [c.20]

Для симметричного прибора с прямолинейными границами поля, когда 1 = 12 = 1, 81=82 = 8 И / 1 = / 2 = 0, условие фокусировки второго порядка по Хинтенбергеру принимает вид [c.21]

Это соответствует частному случаю фокусировки второго порядка, рассмотренному Кервином.. [c.21]

Перейдем к изложению результатов экспериментов в схеме КВС. На рис. 5.4 [206] приведено первое изображение, полученное в этой схеме. Дальнейшие примеры взяты из [224]. Рис. 5.5—5.7 — геометро-оптическое формирование изображения в схеме КВС. Рис. 5.5 демонстрирует возможность устранения астигматизма. На рис. 5.6 показаны геометрические аберрации в соответствующих фокальных плоскостях и рис. 5.7 демонстрирует результат их наблюдения. Рис. 5.8 показывает исчезновение геометрических аберраций второго порядка при помещении инфракрасного объекта в плоскость os p/ os(a-Ь Р). На рис. 5.9 астигматизм компенсирован цилиндрической линзой. Объект помещался в плоскость Zjr = Zp os p/ os(a-Ь р). Рис. 5.10 показывает прямое и преобразованное изображение щели, параллельной оси цилиндрической фокусировки накачки, Xir == = 1,06 мкм. Денситограмма этого изображения приведена на рис. 5.11. Рис. 5.12 дает преобразованное изображение точечного [c.134]

Zs2 — продольная координата точки наолюдения Гз2, в которой происходит фокусировка в направлении уу. В силу симметрии (П1.11) относительно замены а на г/, а г/ на х распределение поля вблизи второго фокуса г 2, определяемого формулой, аналогичной (П1.12), с заменой а на г/ описывается формулой (П1.13) тоже с заменой х у. Если поверхность S является поверхностью вращения (i = Ry), то положение обоих фокусов совпадает и интеграл по 2 в формуле (П1.13) превращается в интеграл Дебая [12]. Для вычисления аберраций необходимо в разложении фазы (П1.5) учесть члены более высокого, чем второй, порядка. Если ограничиться случаев, когда S является поверхностью вращения [c.146]

Поскольку фокусатор двумерен, а фокальная кривая одномерна, то существует одномерное множество Г( ) точек ( , г>) на апертуре фокусатора, направляющих излучение в одну и ту же точку X ( ) кривой (рис. 5.1). Сле/]уя принятой терминологии, будем называть это множество слоем. Структура лучевого соответствия (и) и вид слоев определяется следующим фундаментальным свойством все лучи приходящие в данную точку кривой фокусировки находятся на поверхности конуса, ось которого является касательной к кривой фокусировки в данной точке. Поэтому система слоев на апертуре фокусатора соответствует семейству кривых второго порядка, являющихся сечениями конических поверхностей плоскостью = 0. Строгое доказательство данных фактов можно найти в работе [12]. Простая и наглядная интерпретация указанного свойства может быть получена на примере более простой задачи расчета фазовой функции фокусатора в набор из N точек, расположенных на пространственной кривой (5.1). Будем считать, что координаты точек фокусировки (х,1,1/ , Zi) соответствуют возрастаюшцм значениям г — О,..., N параметра Для расчета фазовой функции <р (и) фокусатора в N точек разобьем апертуру фокусатора V на N областей (сегментов) 1). Фазовую функцию (и) в пределах сегмента определим из устовия фокусировки в точку (ж, ,г , ) на кривой. В этом случае при и е 0-1 фазовая функция фокусатора является фазой линзы с фокусом в точке xi,yi,Zi) [c.312]

Оо с огибающей, т. е. после поворота на угол тс. Фокусировка но идеальна, и о нибка фокусировки А = 2 Л (1 — os Д0). Если ДО достаточно мало, то А = И (АО) . По аналогии с оптикой Л наз. коэфф. аберрации второго порядка по yrjij 0. В направлении Н фокусировка отсутствует. Обычно источник ионов имеет вид узкой щели, вытянутой в направлении Я. Если в нанравлении прямой, проходящей через центр траекторий и соединяющей источник и изображение, ширина щели = 6, то изо-брая епие также имеет ширину д. Расстояние от источника до изображения равно 2В и в соответствии с (1) нронорциональио У Л/. П Л/о к близкой массе Л/д (1 -щается на величину = 7if [c.139]

В качестве примера приведем однометровый спектрометр скользящего падения, используемый на электронном синхротроне ДЭЗИ. Спектрометр смонт1фован по схеме Роуланда и предназначен для спектроскопии твердого тела в области спектра 10—400 А. В такой схеме пучок СИ падает на входную щель спектрометра после отражения от плоского зеркала. Такая схема, в которой на расширенную входную щель и далее на решетку падает параллельный пучок СИ, не является уже роуландовской. Схема не дает высокого разрешения (до 2 А),. но позволяет увеличить полезную интенсивность и избавиться от рентгеновского фона. Когда СИ падает непосредственно на входную щель спектрометра, возникает сильный фон из-за интенсивной жесткой компоненты СИ. Еще большего эффекта можно достичь, совместив фильтрацию (отражение) с фокусировкой СИ на входную щель спектрометра. При этом плоское зеркало заменяется на вогнутое, собирающее СИ на входную щель. При такой установке с фокусировкой на входную щель спектрометра разрешение улучшается в 10 раз (до 0,2 А), а интенсивность спектра увеличивается почти в 10 раз. В этой схеме спектры второго порядка проявляются в области около 100 А. В первой установке для выделения порядков применялись пленочные фильтры, а измерение поглощения проводилось при разных толщинах, чтобы путем расчега коэффициента поглоще- [c.236]

Особый интерес представляют два источника ошибок в опытах этого типа. Во-первых, в измеренный интервал времени входит не только время прохождения света, но также и время пробега электронов, переносящих сигнал между электродами фотоэлемента. Время пробега электронов зависит от положения изображения источника света на фотокатоде. Перемещение изображения на несколько миллиметров вызывает разность во временах пробега порядка 10- с. В ранних опытах этого типа сравнивались промежутки времени для двух световых пучков. Длина пробега одного пучка была постоянной, а длина пробега другого менялась. Однако было невозможно сфокусировать на фотокатоде совпадающие изображения от обоих пучков. Используя один пучок, Бергстранд получал только одно изображение. При этом надо было вводить поправку на время пробега электронов, но благодаря надлежащей фокусировке он смог добиться того, чтобы поправка была постоянной для данного прибора. Во-вторых, в точках максимума и минимума силы тока фотоэлемента, изменяющейся по синусоидальному закону, [c.321]

Из всех этих данных следует, что на частотах до 10 гц кавитационный порог в воде составляет несколько атмосфер. Такой низкий порог кавитации наблюдался тогда, когда кавитация происходила в больших объемах жидкости вблизи стенок или на поверхности источника звука, или, наконец, тогда, когда условия эксперимента таковы, что невозможно было избежать механических примесей и растворения некоторого количества газа в жидкости. Экспериментальная статхгческая прочность воды на разрыв (см. табл. 6) — 270 атм [30], что значительно выше приведенных здесь экспериментальных порогов кавитации. В настоящее время, однако, на ультразвуковых частотах получены пороги кавитации, по порядку величины близкие к статической экспериментальной прочности 120 атм [26], а для тщательно дегазированной воды даже более высокие — 380 атм [31]. Это связано, во-первых, с тем, что в этих экспериментах удалось избежать влияния стенок кавитация как в [26], так и в [31] наблюдалась при фокусировке, в малом объеме жидкости вдали от стенок экспериментального сосуда и от поверхности источника звука. Во-вторых, несмотря на интенсив- [c.272]

Одним из неудобств применения дифракционных спектрографов является, как известно, необходимость устранять паложение спектров различных порядков на псследуелгьиг спектр. Использование светофильтров не всегда дает должный эффект, поэтому иногда применяют предварите.тьное разложение спектра. Наибо.пее эффективным приемом здесь следует признать применеипе двойных монохроматоров с вычитанием диснерсии. В более простом случае возможно применение осветителя типа, приведенного на рис. 125, с установкой в нем 30° призмы, работающей первый раз в параллельном пучке, второй раз в сходящемся с фокусировкой на входную щель спектрографа. В других случаях поступают несколько иначе. Разделение порядков спектра производят с помощью небольшого спектрографа, который скрещивается с основным, давая спектр по высоте его щели. В результате спектры разных порядков получаются один под другим без наложения. Расстояние между этими [c.153]

В разд. 5.6.4 мы обсудили один из наиболее многообещающих способов компенсации аберраций осесимметричными линзами, а именно коррекцию мультипольными элементами. Поскольку в уравнении (3.82) первые квадрупольные, октуполь-ные и додекапольные члены появляются в связи с членами второй, четвертой и шестой степеней поперечных координат, ясно, что эти компоненты изначально ответственны за члены первого, третьего и пятого порядков в уравнении траектории. Другими -словами, идеальный квадруполь приводит к астигматической фокусировке, идеальный октуполь ответствен за аберрации третьего порядка, а идеальный додекаполь —за аберрации пятого порядка. В случае реальных элементов появляются компоненты более высоких гармоник и ситуация усложняется. Естественно, даже идеальный квадруполь имеет аберрации, но приведенная выше классификация обеспечивает приемлемый учет основных видов различных мультипольных компонент. [c.576]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...