Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Структура фоновая

Представленные в сборнике результаты расчета влияния излучения посторонних источников при тепловых методах контроля и экспериментальные данные по чувствительности приемников излучения в зависимости от температуры среды и фоновой засветки позволяют учесть влияние излучения посторонних источников при измерении температуры, когда их интенсивность в несколько раз превышает полезный сигнал. Даны результаты исследования по оптимизации магнитных свойств и кристаллической структуры железо-кобальтовых сплавов, используемых в качестве материалов для полюсных наконечников в электромагнитах с высокой однородностью поля. Рассчитана оптимальная конфигурация проводников с током для коррекции поля в электромагнитах радиоспектрометров ядерного магнитного резонанса, показана возможность изготовления системы коррекции в виде плоских проводников с током.  [c.4]


Например, образование и развитие микрорельефов на полированной поверхности образцов, подвергаемых высокотемпературной деформации, происходит при одновременном выявлении фоновой структуры вследствие вакуумного травления. При этом на процесс избирательного испарения практически одновременно накладываются процессы поверхностной диффузии и конденсации паров на поверхности образца, что усложняет характер образующегося микрорельефа и в ряде случаев затрудняет расшифровку. Наличие в рабочей камере остаточных газов может приводить к образованию окисных пленок различной толщины, затрудняющих наблюдение действительной структуры на поверхности образца  [c.22]

Состав и структура комплекса технических средств в значительной степени зависят от специфики конкретной системы автоматизированного проектирования. Такие факторы, как объем и характер информации, циркулирующей в системе, способы взаимодействия оператора или пользователя с системой, вид промежуточной и конечной продукции, количество, уровень интеллекта терминальных устройств и их удаленность от центрального процессора, время реакции на запросы и быстродействие системы в целом, целесообразность организации фоновой работы центрального вычислителя, необходимость связи с другими автоматизированными системами и другие факторы во многом определяют архитектуру и характеристики комплексов технических средств, предназначенных для автоматизированного проектирования [1].  [c.40]

Радиационная стойкость — характеристика, позволяющая оценить стойкость радиоматериалов к воздействиям фоновых (ионизирующих) излучений а, р и у- лучей, потоков нейтронов и др. Фоновые излучения вызывают структурные изменения в диэлектриках органического и неорганического происхождения, а также в полупроводниках и даже в проводниках. Результатом этого является изменение первоначальных свойств и характеристик материала. Особенно сильное воздействие фоновое излучение оказывает на органические диэлектрики, вызывая их разрушение. Однако при небольших дозах облучения у некоторых органических диэлектриков (полиэтилен, полипропилен) улучшается их структура и основные характеристики. Особенно сильным фоновым излучениям подвергаются узлы радиоустройств и радиоматериалы в летательных аппаратах (ракеты, космические корабли и др.).  [c.21]

Закономерности пространственно-временной изменчивости характеристик аэрозоля в земной атмосфере отражают общие тенденции, относящиеся к некоторой фоновой обстановке. Трудно прогнозируемая изменчивость метеорологических условий оказывает столь существенное влияние на процессы образования и трансформации атмосферного аэрозоля, что его содержание и структура испытывают колебания по амплитуде, в несколько раз  [c.94]


Функция -A(t, х) представлена на рис. 5.5, я для t = 35, т.е. по окончании одного цикла колебаний. Решение состоит из одного солитона, распространяющегося в область отрицательных х, и осцилляторной волны, пики которой здесь и далее пронумерованы цифрами 1, 2,... Указанная структура сформировалась во время начальной отрицательной фазы колебаний. В положительной фазе образуется стоячая волна, аналогичная представленной на рис. 5.3. Наступающая очередная отрицательная фаза дает возможность распада стоячей волны на два солитона, отмеченных на фиг. 5.5, а символами 1с и 2с. Последние, в отличие от обсуждавшихся выше солитонов, (см. уравнение (5.3.2)), бегут по положительному фону, поэтому величина их фазовой скорости зависит не только от амплитуды, но и от фонового значения. Отметим в этой связи, что преобразование Галилея, примененное к  [c.104]

В действительности ионы колеблются около своих положений равновесия (см. гл. 21—26). Это не влияет на выводы, к которым мы приходим в настоящей главе (хотя в первое время исследователям, занимавшимся рентгеновской дифракцией, оставалось неясным, почему такие колебания не размывают картины, характерной для рассеяния на периодической структуре). Оказывается, что колебания приводят к двум основным следствиям (см. т. 2, приложение О) а) интенсивность типичных максимумов, позволяющих восстановить структуру кристалла, понижается, но не обращается в нуль б) возникает более слабое непрерывное фоновое излучение ( диффузный фон ).  [c.104]

Из всего сказанного следует, что для коррозионного зарождения и развития трещины большое значение имеет исходный (фоновый) уровень электрохимической гетерогенности поверхности чем он выше, чем хуже условия для коррозионного зарождения трещины, тем более устойчив металл. Действительно, отожженньхе (нормализованные) стали с гетерогенной перлит-ферритной структурой весьма стойки к коррозии Под напряжением. Стали же, закаленные на мартенсит с гомогенной структурой твердого раствора, обладают наибольшей склонностью к коррозионно-механическому разрушеншо [8, 71].  [c.67]

Исчерпывающее исследование последней из упо.мянутых моделей применительно к моделированию процессов разрушения при землетрясениях было проведено Эндрюсом [8,9]. В этих работах, посвященных изучению роста трещин сдвига, в окрестность вершины трещины была введена зона сцепления, моделирующая постепенное ослабление сопротивления скольжению. В этой. модели скольжение берегов трещины в окрестности вершины будет начинаться тогда, когда сдвиговое напряжение достигнет некоторого критического значения это скольжение будет происходить с постепенным уменьшением сопротивления до тех пор, пока диссипированная энергия не достигнет некоторой вполне определенной величины, после чего скольжение будет продолжаться либо вовсе без сопротивления, либо с некоторым остаточным (фоновым) сопротивлением. В состоянии сверхвысокого ускорения сдвиговая трещина с данным типом структуры окрестности ее вершины способна преодолеть рэлеевский барьер скорости и распространяться далее со сверхзвуковой скоростью. Данная частная модель сдвиговой трещины подробно обсуждалась Френдом [46].  [c.120]

Структурная схема подсистемы Пилот приведена на рис.38. Важное место в структуре подсистемы занимает графический редактор. Он выполняет две функции. Во-первых, редактор представляет собой управляющую оболочку для работы различных программных крейтов, реализующих такие функции как расчет, обработка запросов к специализированной базе данных и базе данных системы АОНИКА , вывод на экран или на печать различной информации, связанной с проведением сеансов моделирования. Во-вторых, редактор предназначен для создания графических топологических моделей различных физических процессов электрических, тепловых, механических и аэродинамических. В процессе функционирования графический редактор формирует действующую расчётную структуру в топологическом виде, которая в дальнейшем анализируется при помощи единого расчетного модуля в различных режимах (статический анализ, анализ во временной и частотной областях, анализ чувствительности). В процессе моделирования возможно применение принципа динамического изменения параметров элемента схемы или параметра конструкции (тюнинг в реальном масштабе времени). При таком подходе параметр маркируется и изменяется при помощи виртуального тюнера. Процесс изменения параметра сопровождается одновременным отображением результатов анализа в виде графиков и диаграмм. При таком подходе процесс анализа математической модели выполняется в фоновом (скрытом) режиме.  [c.94]


Если фазовые неоднородности вносят искажения в преобразованные изображения на самых низких пространственных частотах, то рассеяние света в различных слоях структур ПВМС приводит к появлению шумовых компонент а широком спектре пространственных частот. Эти шумы определяют фоновый уровень пропускания ПВМС и таким образом оказывают значительное влияние па динамический диапазон и контраст формируемых и преобразуемых изображений.  [c.50]

В экспериментах по измфению отношения сигнал/фон в качестве объекта использовался равномфно освещенный диффузный рассеиватель, вычитаемая часть которого в промежутке между зкспозициями перекрывалась непрозрачным зкраном. Поэтому освещенность единицы площади разностной и фоновой частей изображения практически не зависела от структуры объекта.  [c.179]

С энтузиазмом мы стремились найти новые средства улучшения качества изображения [24—26]. Мы заключили, что проблема сопряженного изображения является в основном надуманной и ее решение связано с модуляцией несущей пространственной частоты голографическим сигналом. Такую задачу можно было решить, введя отдельную когерентную фоновую волну, которую мы назвали опорным пучком. Он должен был падать на фотопластинку под некоторым ненулевым углом относительно направления распространения объектной волны. В результате на картину дифракции Френеля габо-ровского голографического процесса накладывалась тонкая картина полос. Фотография наложения этих двух пучков представляет собой голограмму с несущей частотой, или внеосевую голограмму с тонкой интерференционной структурой. Такая голограмма выглядит как дифракционная решетка и имеет все ее свойства.  [c.18]

При данных условиях накачки длительность импульсов излучения ЗГ и УМ была одинакова и составляла около 30 не. Выходное излучение ЗГ с телескопическим HP имело четырехпучковую структуру два некогерентных пучка сверхсветимости с расходимостью 50 и 18 мрад (фоновые пучки) и два резонаторных пучка с малой расходимостью [127, 129, 130]. При увеличении резонатора М 60 второй резона-торный пучок имеет дифракционную расходимость (0диф = 0,07 мрад). По мере возрастания М мощность в фоновых и втором резонаторном  [c.133]

При уменьшении радиуса кривизны зеркала ЗГ процентное содержание мощности на выходе УМ в фоновом пучке возрастает, что связано с увеличением мощности в пучке ЗГ с 0геом = 50 мрад. Введение в коллиматор диафрагм с диаметрами отверстий 0,3-1,0 мм (диаметр зависит от радиуса кривизны зеркала ЗГ), которые в несколько раз превышали расчетные значения с отв = 0,06-0,3 мм, привело к практически полному устранению влияния фонового сигнала ЗГ на работу УМ и получению однопучковой структуры выходного излучения. Об эффективности подавления фонового сигнала свидетельствуют и осциллограммы импульсов излучения, зарегистрированные на выходе ПФК и УМ (рис. 5.10, б, в). Распределение интенсивности выходного пучка системы в дальней зоне имеет такую же форму, как и распределение качественного пучка ЗГ (см. рис. 5.9, б).  [c.144]

В случае резонатора с одним зеркалом выходное излучение имеет строго двухпучковую структуру оно содержит пучки сверхсветимости с геом = 40 и 15 мрад. Характеристиками излучения второго пучка ( геом = 15 мрад) можно управлять в широких пределах, изменяя радиус кривизны выпуклого зеркала на два порядка меньше расстояния от зеркала до выходной апертуры АЭ, этот пучок излучения обладает качеством, близким к дифракционному, благодаря чему его можно сколлимировать в узконаправленный пучок, сфокусировать в пятно малого диаметра с высокой плотностью пиковой мощности ( 10 Вт/см ), а также выделить с помощью пространственного фильтра из фонового пучка с низкой когерентностью (40 мрад).  [c.147]

Измерения Динтциса и Стейна [59] дали чрезвычайно малое значение деполяризации для аргона р = 0,06. Лазерные эксперименты позволили отделить фоновую поляризацию, связанную с очень слабой вращательной структурой спектра комбинационного рассеяния. По этой причине найденные ранее значения коэффициента деполяризации непрерывно исправляются в сторону уменьшения [180, 48]. Дж. Принс и В. Принс [152, 153] показали из довольно общих соображений, что выражение (17) справедливо для жидкостей.  [c.110]

В связи С таким неполным и недостаточно надежным описанием структуры и газового состава земной атмосферы перед аэроклиматологами встает задача скорейшего получения более совершенных и репрезентативных статистических моделей. Новые модели должны включать в себя весь комплекс физических параметров, определяющих спектральную прозрачность земной атмосферы в видимом и инфракрасном участках спектра, учиты-вать не только фоновые характеристики высотного распределения этих параметров, но и их изменчивость во времени и в пространстве они должны создаваться также на основе данных наиболее представительных выборок высотных наблюдений.  [c.163]

В сложных молекулах с развитой энергетической структурой возбуждение от поглощенного фотона лазерного излучения за счет соударений с атомами и молекулами атмосферного воздуха перераспределяется по разным уровням в результате безизлучатель-ных переходов. Этот процесс обычно приводит к широкополосной флуоресценции, имеющей почти непрерывный спектр. Еще более сложным и широким спектром флуоресценции обладают люмини-сцирующие аэрозоли. Как правило, люменисценция аэрозолей является паразитным фоновым эффектом, затушевывающим полезную информацию о сигналах резонансной флуоресценции в нижних слоях атмосферы.  [c.23]

Фиг. 94. Структура кадмиевых покрытий в фенолсуль-фоновых растворах в присутствии коллоидов и капиллярно - активных веществ, ув. 500. Фиг. 94. Структура <a href="/info/6711">кадмиевых покрытий</a> в фенолсуль-фоновых растворах в присутствии коллоидов и капиллярно - активных веществ, ув. 500.

С другой стороны, как следует из (2.6), фоновая планетарно-то-пографическая завихренность имеет нулевое средневзвешенное значение, т. е. напоминает дипольную структуру, проявляющуюся в отдельных циркуляционных кольцах, наличие которых ставит вопрос о гомо-генизиции ПЗ к различным значениям этой характеристики в разных циркуляционных кольцах, что естественным образом приводит к проблеме фронтов в поле ПЗ, формирующихся в ФТ. Тогда мы приходим к задаче о совместной эволюции фронтов ПЗ и вихрей в поле ФТ [7].  [c.476]

Представим давление Р х, у, z) как фоновое Роо у, z), которое определяется структурой натекающего на подводную гору течения через геостро-фические соотношения, и возмущения давления <тФ(ж, у, z), обусловленного топографией  [c.628]

Во-вторых, при вычитании фоновых наблюдений (до ГРП) из последующих наблюдений (после ГРП) удалось выделить зону техногенной трещиноватости как самостоятельный объект на месторождении, который проявляется на всех картах разностных значений ЭРВ (рис. 4.26). По ним можно оценить структуру зоны техногенной трещиноватости, направление ее развития от скважины и динамику ее релаксации, а также количественно оценить относительное изменение интенсивности трещиноватости в зоне воздействия ГРП. Учитывая тот факт, что вновь образованная открытая трещиноватость по технологии ГРП была закреплена проппантом, то она не могла исчезнуть (схлопнуться как на Оренбургском НГКМ), по крайней мере, в течение периода выполнения наблюдений СЛБО и поэтому проявилась на всех разностных картинах. Кроме того, необходимо учитывать, что за счет естественных геодинамических и других техногенных факторов, которые имели место на данной площади в момент проведения наблюдений (искусственное заводнение из СКВ. 1952, 779, 1130, ГРП в скв. 3527 - рис. 4.24, взрывы в сейсмических скважинах и др.), изменение этой зоны возможно лишь в сторону увеличения ее размеров и интенсивности, но не ее уменьшения, поскольку полости трещин закреплены. Стабильность местоположения зоны техногенной трещиноватости, а также отсутствие эффектов уменьшения ее размеров и интенсивности, можно считать подтверждением достоверности результатов исследований.  [c.148]

Представленные результаты фонового наблюдения СЛБО 31 мая характеризуют структуру распределения трещиноватости на площади 2x2 км в толще пашийских отложений на отметке -1460 м (рис. 9.6а) и в разрезе, проходящем через скв. 844 (рис. 9.7а). Далее наблюдение СЛБО проводилось на следующий день после воздействия (4 июня) и на представленных срезе (рис. 9.66) и разрезе (рис. 9.76) четко отмечается образование зоны интенсивной трещиноватости в районе скв. 844, где проводилось воздействие. На структурном срезе видно, что эпицентр вновь образованной зоны аномально высокой трещиноватости совпадает с местоположением скважины-излз ателя, а на вертикальном разрезе - эпицентр субвертикальной аномалии приурочен к интервалу воздействия. Таким образом, можно однозначно утверждать, что в результате воздействия на его начальном этапе образовалась локальная аномалия интенсивной трещиноватости. За счет эффекта дилатансии ее оконтуривает зона уплотнения, образование которой на северо-западном конце аномалии привело к расформированию находящейся здесь (в северо-западном углу площади) достаточно обширной зоны высокой трещиноватости. Причем перераспределение открытой трещиноватости в этой обширной зоне произошло за счет перетока трещиноватости в боковые линейные зоны, в результате чего вместо одной зоны интенсивной трещиноватости сформировались две локальные. По результатам следующего наблюдения (7 июня) отмечается значительное уменьшение интенсивности зоны, образованной воздействием и, возможно, в связи с этим восстановление структуры и формы обширной аномалии в северо-западном углу площади (рис. 9.6в). Уменьшение интенсивности аномалии, образованной воздействием, происходит одновременно с перетоками трещиноватости по четьфсм диагонально ориентированным направлениям, в результате чего в районе скв. 844 начинает формироваться зона низкой трещиноватости, которая достигает минимума при следующем наблюдении (10 июня), т.е. когда воздействие в скважине еще продолжалось. В дальнейшем после завершения воздействия при следующем наблюдении СЛБО (13 июня) отмечается рост трещиноватости в районе скв. 844, который достигает своего максимума 19 июня (но значительно меньшего, чем 4 июня). Далее опять начинается спад интенсивной трещиноватости вплоть до конца наблюдения (24 июня).  [c.294]


Смотреть страницы где упоминается термин Структура фоновая : [c.303]    [c.360]    [c.98]    [c.131]    [c.131]    [c.550]    [c.593]    [c.596]    [c.597]    [c.148]    [c.354]    [c.180]    [c.153]    [c.692]    [c.38]    [c.78]    [c.217]    [c.106]   
Тепловая микроскопия материалов (1976) -- [ c.32 ]



ПОИСК



Фоновый ток



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте