Микрофотография

На рис. 10 представлены микрофотографии шлифов металла, на которых специальными методами выявлены дислокации в виде отдельных точек (концы одиночных дислокаций). В одних случаях они обнаруживаются как следы выхода их на поверхность. [c.30]

Рис. 69. Микрофотография шлифа сплава Ni + 4% Сг, окисленного в течение 2 ч при 1200° С

Рис. 7.21. Микрофотография (0,3X0,45 мм) структуры зернистой поверхности вольфрамовой ленты после 100 ч нагревания переменным током при 2100 °С в вакууме (а) и дополнительно 70 ч нагревания при той же температуре, но постоянным током (6). Видна возникшая зернистая структура поверхности.

Рис. 1 13 Микрофотографии следов дислокаций, х 400

На рис. 1.13 представлены микрофотографии следов точечных дислокаций (отдельные точки), линейных дислокаций (сплошные прямые линии, а также спирали или полуокружности). В этом случае зерна дислокаций могут располагаться в виде сфокусированных пучков выгнутых линий или в виде сетки пересекающихся дислокаций. [c.20]

Из полученных микрофотографий отдельных участков фотоэмульсии составляются мозаики , дающие изображение следа ча- стицы на всем ее пути (см. вкл.). [c.52]

Петля продолжает расти и, наконец, выходит на поверхность. Возрожденная линия ВС продолжает развиваться, непрерывно образуются новые петли и линии, которые, в свою очередь, выходят на свободную поверхность. Суммарный эффект образования множества таких петель при выходе их на свободную поверхность проявляется в виде образования линий скольжения на грани кристалла. На рис. 87 показана микрофотография источника Франка-Рида в сплаве №-Ре. Явно виден цикличный волнообразный характер активности источника. [c.144]

Формирование промежуточных надмолекулярных структур есть способ образования более-менее однородных элементов мозаики на высшем масштабе из изначально неоднородных элементов низшего масштаба. Однородность элементов вовсе не подразумевает их идентичности. Микрофотографии показывают, что в одном н том же образце пека на масштабе зернистой структуры могут существовать зерна различных размеров. Точно так же отдельные зерна могут различаться и по своим физико-химическим характеристикам, хотя и не в такой степени, как индивидуальные химические соединения на молекулярном масштабе. [c.188]

Рис. 3,34. Первый виток спирали морфологическое сходство микрофотографии (х 120) (а) и модельной структуры (6)

Рис. 35.1. Микрофотографии последовательных стадий проявления кристалликов бромистого серебра.

Рис. 7.10. Молекула ДНК а) общий вид, б) скелет молекулы, в) электронная микрофотография фрагмента молекулы ДНК при увеличении

Пусть теперь над образцом производится испытание по другой программе В и снимается серия микрофотографий В,, В ,. .Вт. Будем называть материал однопараметрическим, если для каждой фотографии Bs можно найти тождественную фотографию Ах, В = Ах, и если из 5,+, >5, следует A +i>Ak. Теперь в качестве структурного параметра можно принять любую монотонную функцию q от к, q = q(k). [c.620]

Прочность борного волокна в поперечном направлении, по-видимому, невелика. Об этом можно судить потому, что на микрофотографиях шлифов разорванных композитов обнаруживаются продольные трещины. [c.688]

Рис. 25.10. Микрофотография поверхности шлифа вблизи очага разрушения у внутренней поверхности корпуса ракеты [123] Видны две трещины около коррозионной язвины.

Характерные виды вязкого разрушения представлены на рис. 2. На рис. 3 приведена микрофотография начала вязкого разрушения, показывающая наличие пор в нейтральной зоне образцов [1]. Указывается, что процесс образования пор является самым важным, поскольку без них не может возникнуть трещина и произойти пластическое разрушение, а также что разрушение должно обязательно начинаться у оси образца. [c.17]

На фиг. 2 и 3 представлены микрофотографии шлифов сплавов состава 94% W , 6% Со, имеющих в одном случае основную массу зерен W размером [c.535]

Фиг. 3. Микрофотография шлифа сплава 94% W + 6 % Со. X 1503. Размер зерна W -фазы 2-3

Фиг. 22. Микрофотография шлифа сплава вольфрам — углерод с эвтектической структурой ( V + Wj ).

Фиг. 1е. Микрофотография биметалла сталь — томпак, л 225.

Характер соединения основного металла с плакирующим иллюстрируется микрофотографиями (фиг. 1а—1к) [c.616]

Рио. 1. Микрофотографии шлифов образцов, отожженных в порошке бериллия. [c.96]

Рис. 3. Микрофотография поперечного шлифа образца.

Исследования [798, 7991 проводились с водными суспензиями двуокиси тория, рассматриваемыми как неньютоновские жидкости. Размеры частиц определялись по электронным микрофотографиям и составляли 0,7 мк и более приблизительно при нормальном логарифмическом распределении. Объелшая доля частиц твердой фазы в экспериментах доходила до 0,10 (при весовом соотношении [c.155]

Рис. 14.1. Микрофотография поверхности фосфатированиой мягкой стали марки 1010 (получена с помощью сканирующего электронного микроскопа). Покрытие получено из кислого раствора фосфата цинка с добавкой нитрата натрия в качестве ускорителя при выдержке в течение 1 мин при 65 °С [11а]

Метод голографии позволяет записывать на задашюм малом участке фотоэмульсии (особенно толстослойной) в 100—400 раз больше страниц печатного текста, чем методы обычной микрофотографии. Это дает полисе основание предполагать, что голография иайдет широкое применение при записи н хранении информации, что является в наше время одной из серьезных проблем. [c.221]

Покажем это на примере исследова11ИЯ фрактальной размерности зерен-ной ст11уктуры (D) стали, разработанной для высоконагруженных труб нефтяного сортамента [16], содержащей 0,4% С, 10% Мп и 1,4% V, дополнительно легированной Ni (7-13%) и Си (0,5-4%). Для определения D использовали метод покрытия микрофотографии изучаемой структуры равномерной квадратной сеткой с длиной стороны г, изменяющейся в интервале 1 -25 мм D определялось по соотношению (2.20). [c.98]

Рис. 3.36. Цеигр кристаллита макроструктуры морфологическое сходство микрофотографии (х 200) (а) и модельной структуры (6)

Использование ультрафиолета дает еще одно важное преимущество. Многие объекты, особенно биологические, во всех своих частях одинаково прозрачны для видимого света, вследствие чего их наблюдение в видимом свете затруднено. Но для ультрафиолетового света обнаруживается значительное различие в показателе поглощения разных частей объекта, так что соответствующие микрофотографии оказываются достаточно контрастными. Е. М. Брум-берг разработал весьма остроумную систему, позволяющую превосходно использовать различие в поглощении разных длин волн. Снимая препарат в трех группах длин волн и рассматривая все три фотографии одновременно в специальном приборе, снабженном тремя светофильтрами, соответственно передающими различие в этих трех группах длин волн, мы получаем по методу Брумберга очень богатое деталями изображение с разрешением, соответствующим короткой длине волны, примененной при фотографировании. [c.357]

Рассматривая ползучесть как некоторый вид квазивязкого течения металла, мы должны допустить, что в каждый момент скорость ползучести при данном структурном состоянии определяется однозначно действующим напряжением и температурой. Структурное состояние — это термин, чуждый по существу механике, поэтому применение его в данном контексте должно быть пояснено более детально. Понятие о структурном состоянии связано с теми или иньгаи физическими методами фиксации этого состояния — металлографическими наблюдениями, рентгеноструктурным анализом, измерением электрической проводимости и т. д. Обычно физические методы дают лишь качественную характеристику структуры, выражающуюся, например, в словесном описании картины, наблюдаемой на микрофотографии шлифа. Иногда эта характеристика может быть выражена числом, но это число бывает затруднительно ввести в механические определяющие уравнения. В современной физической литературе, относящейся к описанию процессов пластической деформации и особенно ползучести, в качестве структурного параметра, характеризующего, например, степень упрочнения материала, принимается плотность дислокаций. Понятие плотности дислокаций нуждается в некотором пояснении. Линейная дислокация характеризуется совокупностью двух векторов — направленного вдоль оси дислокации и вектора Бюргерса. Можно заменить приближенно распределение большого числа близко расположенных дискретных дислокаций их непрерывным распределением и определить, таким образом, плотность дислокаций, которая представляет собою тензор. Экспериментальных методов для измерения тензора плотности дислокаций не существует. Однако некоторую относительную оценку можно получить, например, путем подсчета так называемых ямок травления. Когда линия дислокации выходит на поверхность, в окрестности точек выхода имеется концентрация напряжений. При травлении реактивами поверхности кристалла окрестность точки выхода дислокаций растравливается более интенсивно, около этой точки образуется ямка. Таким образом, определяется некоторая скалярная мера плотности дислокаций, которая вводится в определяюпще уравнения как структурный параметр. Условность такого приема очевидна. [c.619]

В молибдене. Анализ микрофотографий показал наличие лишней по-пуплоскости, т. е. справедливость изображенной выше модели расположения атомов в районе краевой дислокации. [c.95]

Кроме разориентировок, связанных с движением дислокаций, внутри кристаллов часто наблюдаются переориентированные области решетки. На микрофотографиях они выглядят в виде полос, часто называемых деформационными полосами. Многие исследователи, изучавшие это явление, давали различные названия и по-разному трактовали механизм образования этих полос. А. X. Коттреллом и Р. Хоникомбом установлено существование двух главных типов внутри кристаллической переориентировки решетки и соответственно этому двух механизмов пластической деформации сбро-сообразование и ротационный сдвиг. [c.149]

Рис. 111, Электронная микрофотография (реплика) линий скольжения на стадии / деформации кристалла меди (а), полосы сброса в монокристалле алюминия (б) и дислокационные диполи в магннн на стадии легкого скольжения (в)

Рис. 25.11. Микрофотография конца трещины в образце, имеющем форму обода турбинного колеса [123]. Хрупкое мешзеренное разрушение в условиях ползучести.

Фнг. 7. Микрофотография шлифа сплапа состава 85 i W 5% TI 10% Со (марки Т5К10). X 1Я00. Светлые резко очерченные зерна — УС-фаза, серые округлой формы зерна—титапооаи фаза, занимающая 23—30 б объема сплава. [c.538]

Фнг. 8, Микрофотография шлифа сплава состава 79% W 1596 Т1С 6% Со (марки Т15К6). X 1500. Светлые резко очерченные зерна — W -фаза, серые округлие формы зерна — титановая фаза, темные прож 1лки — кобальтовая фаза. Титановая фаза занимает 50—55% объема сплава. [c.538]

Обобщены и систематизированы обширные данные, полученные при электронно-микроскопических исследованиях различных сталей и сплавов различного класса и назначения (более 50 марок), неме-дования микроструктуры, неметаллических включений, изломов и защитных покрытий. Даны рекомендации по расчету электроно-грамм. Приведены электронные микрофотографии структуры сталей и сплавов различного класса и назначения (более 50 марок), неметаллических включений, защитных покрытий и микрофрактограммы с изломов литого и деформированного металла. [c.28]

Часто различные варианты технологического процесса, приводящие к одинаковым, с точки зрения требований качества, результатам, при более глубоком изучении обнаруживают разные склонности к образованию дефектов. В качестве примера на рис. 150 приведены электронные микрофотографии поверхностей из стали 12Х18Н9Т с хромонитридным уйрочнением, обработанных шлифованием, полированием и алмазным выглаживанием (по данным канд. техн. наук А, С. Чабана). С точки зрения предъявляемых требований все три метода обработки им удовлетворяют, обеспечивая 10-й класс шероховатости. Однако электронно-микроскопический анализ показал существенную разницу в состоянии поверхностей. Шлифованная поверхность имеет большое число рисок глубиной порядка 1 мкм. На полированной поверхности рисок значительно меньше и их глубина не превышает 0,05 мкм. Выглаженная поверхность обладает однородным микрорельефом с относительно гладкими плато, занимающими 5—10% площади. При этом рисок обнаружено не было. [c.469]

Рис. 150. Электронные микрофотографии поверхностей из стали 12Х18Н9Т 10-го класса шероховатости

Микрофотографии шлифов поперечного среза покрытий дают четкую столбчатую структуру с характерной слоистостью. В соответствии со структурно-фазовыми преврашениями находятся и изменения свойств покрытий Это наглядно видно на кривых зависимости твердости от температуры отжига. Повышение твердости покрытий после отжига в области температур 200—400 С и 500—600 °С связано с выдетение.м фазы С02Р и 03W соответственно Изменение магнитных характеристик покрытий также связано с указанными выше структурно-фазовыми превращениями (рис 25) [c.70]

Рис. 2. Микрофотографии шлифов силицидных слоев, полученных в различных услониих. Поляризованный свет, увел. 200.

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...