Измерение отражения

Непосредственное определение количества топлива и воды в масле обычными химическими методами является сложным и трудоемким процессом. Кроме того, ввиду значительных потерь времени на химический анализ невозможно применение метода при ускоренных испытаниях. Поэтому был использован сверхвысокочастотный метод [4,], основанный на измерении отраженной мощности в резонаторе. [c.144]

Рис. 5. Установка для измерения отражения и пропускания веществами потока инфракрасного излучения, создаваемого лампой для сушки

Рис. 58. Расположение приборов при измерениях отражения материалами полного потока излучения инфракрасной лампы для сушки (справа) и при измерениях прозрачности (в центре)

Новые возможности экспериментального определения оптических констант связаны с измерением отражения от многослойных интерференционных систем (МИС), в изготовлении которых в последние годы достигнут значительный прогресс (см. гл. 4 и приложение III). В основе этого способа определения оптических постоянных лежит измерение угловой зависимости отражения МИС вблизи угла 0ь, определяемого условием Вульфа—Брэгга, в необходимом интервале энергии рентгеновского излучения. По результатам этих измерений строятся аналогичные расчетные зависимости (метод расчета см. в гл. 4), в которых используются значения 63, Уг, ух, определенные. с достаточной точностью. Подбором искомого значения 6 i добиваются совпадения расчетной и экспериментальной зависимостей. Таким способом авторами работ [37, 66] с использованием многослойной структуры Ti—С получена дисперсия константы б для Ti в районе /(-края поглощения. [c.24]

Первой из них является окисление поверхности, которое сказывается на результатах метода отражения. Как будет показано далее, глубина проникновения мягкого рентгеновского излучения очень мала и составляет для различных материалов единицы или десятки нанометров. Поэтому метод измерения отражения оказывается очень чувствительным к состоянию поверхностного слоя. Например, для А1 толщина окисной пленки на поверхности может достигать 10 нм, что и приводит к завышению значения коэффициента отражения. [c.25]

Точность определения параметра кристаллической решетки зависит от степени устранения систематических ошибок, возникающих при записи отражения и измерении отраженных углов. Систематические ошибки являются результатом эксцентричности образца, недостаточно точного знания радиуса цилиндра, на который намотана пленка, сокращения пленки после ее проявления и поглощения образцами части рентгеновских лучей. [c.69]

Оптические свойства металлов.определяются путем измерения отраженного излучения. При отражении от металлов формула Френеля при нормальном падении и Д1 = 1 для амплитудного коэффициента отражения запишем из (2.3.10) в виде [c.81]

Сильные ударные волны можно использовать для измерения показателя преломления в сжатом веществе. Для этой цели можно воспользоваться измерениями отражения света от поверхности фронта волны. Ширина фронта гораздо меньше длина волны света, и благодаря этому поверхность фронта отражает как граница двух сред. Коэффициент отражения определяется через показатели преломления сред по формулам Френеля. [c.260]

С общей функцией измерений связано столь же принципиальное требование к измерениям отражение размеров измеряемых величин (область вещественного, материального) числом, математическим понятием (область абстрактного) [11]. Число может быть выражено любым принятым в математике способом. В об-ще.м случае целесообразно говорить о коде, выраженном комбинацией цифр в любой системе счисления, или комбинацией уровней электрического напряжения в каком-либо устройстве, или комбинацией знаков, зафиксированных на любом носителе (магнитная, перфолента и др.). Следует подчеркнуть два обстоятельства. [c.22]

Структурные амплитуды измеренных отражении определяются следующим образом [c.13]

Для контроля видимых дефектов поверхности шариков. Сортирует на годные и брак. Датчики фотоэлектрические (измерение отраженного светового потока о помощью фотосопротивления). Производительность 6700 uim/час. [c.206]

Рис. 11.64. Схема опыта по измерению отражения света от фронта ударной волны а) до взрыва б) в процессе распространения ударной волны по воде.

Измерение отражения и пропускания таблеток, содержащих сухой образец [c.87]

Измерение отражения с помощью двух волоконных световодов [c.206]

Рис. 9.4. Измерение отражения двумя волоконными световодами

Нарушение условий свободного поля является преобладающим источником ошибок и забот при измерениях. Отражения от поверхности, дна, стенок, колонн, координатно-поворотного оборудования и т. д., температурные градиенты, газовые пузырьки, морские организмы, мусор, турбулентность воды и т. д.— все это нарушает условия свободного поля. Если возмущение одинаково влияет на оба гидрофона (образцовый и градуируемый), то ошибка исключается. Однако часто это не так. Например, ненаправленный гидрофон больше подвержен влиянию отражений, чем направленный. Образцовый гидрофон, насколько это возможно, должен быть подобен градуируемому гидрофону по размерам, форме и конструкции. [c.33]

Когда используют короткие импульсы и падающая и отраженная волны разделяются во времени, необходимо также разделить отраженные и дифрагированные импульсы. Эти два требования о разделении сигналов предъявляют противоречивые требования к. выбору расстояния от зонда до образца. Увеличение этого расстояния улучшает разделение падающего и отраженного импульсов, но ухудшает разделение отраженного и дифрагированного.. Уменьшение этого расстояния приводит к обратному эффекту. На практике используют наименьшие расстояния и минимальные длины импульсов. Однако длину импульса невозможно сделать короче, чем примерно два периода, что и обусловливает низкочастотный предел измерений. Для резонансных отражателей необходимо использовать более длинные импульсы. Импульсные измерения отражений в воде в общем целесообразно использовать тогда, когда длина и ширина образца в пять или более раз превосходят длину волны. [c.329]

Для проведения измерений отражения с учетом поляризации СИ, сверхвысокого вакуума, необходимости изменения угла падения СИ на образец создаются специальные рефлектометры. Поворот в этот рефлектометр должен быть введен без нарушения сверхвысокого вакуума — это магнитные поворотные муфты. Рефлектометр, схема которого приведена на рис. 40, позволяет измерять зависимость отражения, пропускания и фотоэмиссии от угла и поляризации для пленок, полученных напылением непосредственно в вакууме. Измерения отражения в этом рефлектометре могут проводиться в большом диапазоне углов падения света на образец (от 15 до 80°). Для определения оптических констант важно измерение отражения при двух различных углах паде- [c.241]

В вакуумном ультрафиолете используются и измерения отражения. При этом рефлектометр устанавливается за выходной щелью монохроматора и измеряются как отношения отражения при разных углах, так м отражение в зависимости [c.250]

Подобная чувствительность при исследовании свойств вещества в объеме создает огромные экспериментальные и теоретические трудности. Для точности измерений необходимы исключительно тщательная химическая очистка поверхности и тщательное устранение дефектов и нарушений структуры, вызванных обработкой. Если для некоторых случаев (жидкости, металлы) такие способы, хотя и трудные, все же разработаны, то в ряде случаев эта проблема еще не решена. Если даже приняты все необходимые меры предосторожности, все же для суждения о свойствах вещества в объеме по результатам измерений отражения необходимо иметь надежную теорию, связывающую свойства поверхности и толщи, или уточнить эту связь независимыми экспериментами. [c.21]

Из всего изложенного ясно, что измерения отражения для анизотропных сред могут давать все сведения о значениях констант и, кроме того, служить для определения ориентации осей в кристалле, ориентации отражающей поверхности, симметрии кристалла и т. д. [c.76]

При надлежащем выборе области спектра, в которой проводятся измерения отражения света (для каждого металла индивидуально), даже пользуясь упрощенными формулами (28.10) и (28.11), можно извлечь весьма большую информацию о свойствах металла в объеме, основываясь на достаточно надежной теории. [c.232]

Использование соотношений между п и х (е и е") в дополнение к измерениям отражения. [c.247]

Наиболее естественно использовать дисперсионные соотношения, имеющие весьма большую общность и не зависящие от конкретных свойств вещества ). Здесь возможны два пути измерение одной из констант (например, к или е") и вычисление другой (соответственно п или е ), или же (что при использовании отражения Удобнее) одно измерение отражения с последующей обработкой результатов с помощью формул Крамерса— Кронига. [c.289]

Если излучатель и приемник эхолота поместить рядом друг с другом на дне так, чтобы посылаемые излучателем импульсы отражались от поверхности моря, то можно определить глубину и ее изменение во времени, т. е. непрерывно измерять волнение и приливы и отливы. Особое преимущество такого устройства состоит в том, что сама измерительная аппаратура может быть.расположена сколь угодно далеко от места измерений. Новейшие измерения отражения звука от поверхности моря выполнил Либерман [1205]. [c.425]

М. D e г 1 b e г e. Измерения отражения и пропускания в инфракрасных лучах. Mesures, 78 стр. 99, июль 1943. [c.411]

Эксперименты по измерению отражения лазерного излучения от неидеальной плазмы ксенона 41] осуществлялись с использованием взрывных генераторов ударных волн в постановке, подобной показанной на рис.9.10. Варьирование электронной концентрации в ксеноновой плазме осуществлялось изменением начальных параметрюв [c.358]

Широко распространенный метод Т. С. Ласло содержит систематическую ошибку. Показано, что правильный результат можно было бы по.11учить в двух случаях когда углы падения О -т- 90 , а измерения отражения О н- 10° или когда углы падения О -ь 10°, а измерения отражения О -г 90°. Оценена погрешность за счет модуляции температуры образцов. [c.182]

Вместо соб1фания излучения из полусферы при падении луча на образец для измерения ОС объектов со смешанным характером отражения можно использовать полусферическое освещение (например, с помощью шара Ульбрихта) и измерение отражения в заданном направлении (рис. 1.6.2). [c.63]

Ф. Вольц (1972) 1,0 2,6 0,004—0,32 2,5 40,0 0 Измерение отражения и пропускания КВ таблеток, содержащих сухой образец Бедфорд (США), Арктика [c.86]

В соответствии с методами разнообразны и оптические схемы измерений. Многие схемы описаны в цити- рованной литературе обзор ряда схем дан, например, в обзоре [34] (см. ниже 35). В последнее время для измерений отражения, как и для других оптических измерений, применяются методы фурье-спектрометрии (применительно к отражению см. [35, 36]). Они сложнее технически, но существенно повышают объем получаемой информации, давая сведения не только об амплитудах, но и о фазах. [c.249]

Выше уже указывалось, что при измерениях отражения уже начинают пользоваться методами фурье-сректроскопии [35, 36, 223]. [c.293]

Описанная методика синтеза согласующих переходов может быть применена к задаче согласов1ания вибратора с питающей линией. На рис. 12.11,а приведена экспериментально измеренная величина входного сопротивления одного из видов вибраторов, лрименяемых в синфазных антенных решетках. Следует отметить, что сопротивление вибраторов, находящихся в разных точках антенного полотна, различно из-за неодинакового взаимного влияния и различной высоты над землей. Однако в случае решетки, образованной вибраторами, параллельно запитываемыми от общего фидера, можно пользоваться усредненными значениями входного сопротивления, получаемыми, например, в результате измерения отраженной волны в общем фидерном тракте Использование усредненного значения входного сопротивления и соответственно одинаковых согласующих переходов для всех вибраторов значительно упрощает процесс измерения входного сопротивления и приводит к более простой системе питания вибраторов При этом в точке питания каждого из вибраторов будет иметь место некоторое рассогласование, связанное с отличием его действительного входного сопротивления от усредненного, однако отраженные волны, складываясь в общем фидере, будут взаимно компенсироваться Общий фидерный тракт в этом случае будет настроен на режим бегущей волны, что важно для обеспечения нормальной работы передатчика, а рассогласование отдельных вибраторов сводится к некоторому искажению ам1плитудно-<ф азового распределения в рас-крыве антенны, что часто не имеет существенного значения. Приведенные на рис. 12.11,а значения входного сопротивления являются такими усредненными значениями. [c.80]

Второй метод измерения отражений, создаваемых конструктивными узлами, заключается в следующем. Фидер нагружается на антенну или эквивалент, создающий коэффициент отражения не более 0,02. Снимается зависимость КБВ и входного сопротивления на входе питающего фидера от частоты. При наличии в фидерном тракте одной сосредоточенной неоднородности, создающей отраженную волну, КБВ с изменением частоты изменяется медленно, а входное сопротивление меняется периодически. Период изменения Д/, МГц, определяется расстоянием I, м, от входа ф идера до неоднородности Л/=150// По измеренному значению периода определяют местонахождение неоднородности. [c.487]

Для выявления дефектов в покрытии и для определения прочности сцепления между покрытием и подложкой применяют также трансмиссионный метод [58, 59]. В некоторых системах покрытий измерение отраженной энергии не позволяет адэкватно установить дефект. Это обусловлено тем, что граница между [c.265]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...