Измерение снижения отражения

Рис. 6.2. Схема измерения звукоизоляции и снижения отражения. Показаны краевые дифрагированные волны. / — положение гидрофона при измерении снижения отражения, II— при измерении звукоизоляции.

Как и при измерении звукоизоляции, имеются два типа измерений снижения отражения на образцах и на конкретных конструкциях изделия. [c.326]

З.2., Измерение снижения отражения [c.328]

Снижение отражения обычно измеряют с помощью установки, показ анной на рис. 6.2. Падающий и отраженный звуки (звуковые давления) измеряются зондовым гидрофоном, который помещается вблизи образца материала. Для разделения этих двух измеряемых сигналов применяют два способа. Используя импульсный режим, можно разделить падающий и отраженный звуковые импульсы на промежуток времени, который требуется импульсу, чтобы пройти путь от гидрофона к образцу и обратно. При использовании интерферометрического метода оба сигнала перекрываются и их уровни вычисляются по интерференционным максимумам и минимумам, которые обусловлены конструктивной и деструктивной интерференцией. Как и при измерении звукоизоляции, основные трудности связаны с отражениями и дифракцией. Дифракционные эффекты в этом случае не ограничиваются обычной дифракцией на краях препятствия. Если плоская волна падает нормально на отражающую пластинку, то отраженная волна неотличима от той, которую излучала бы сама пластинка, если бы она служила излучателем. Зонд, расположенный вблизи пластинки, находится в ближнем поле, или в зоне [c.328]

Камера для рентгеновского высокотемпературного исследования должна иметь диаметр больший, чем у обычных камер, работающих при комнатной температуре, по двум причинам. Выполнение камеры большего диаметра необходимо, во-первых, для размещения элементов, охлаждающих определенные части печи, во-вторых, для более высокой точности измерения размера элементарной ячейки кристаллической решетки (для улучшения разрешающей способности камеры). При работе с большими камерами также требуется и более длительная экспозиция, потому что поглощение воздухом падающего и отраженного лучей может быть значительным. Для уменьшения поглощения, а также для снижения теплового излучения печи необходимо по возможности получать рентгенограммы в вакуумных камерах. [c.70]

Приведен анализ методов определения поглощательной и излучательной способности твердых веществ. Предложен новый метод определения отражательной способности по индикатрисе отражения, существенно сокращающий время измерений без снижения точности. [c.160]

При решении задач А и В основное требование — высокая точ ность измерений. При решении задачи Б важное требование — высокая чувствительность, чтобы фиксировать рассеянное отражение от неровной противоположной поверхности, определять места наибольшего локального утончения стенок. Требования к точности измерения снижены. При ручном контроле нужно обеспечить широкий диапазон измерений, причем главная трудность — в снижении минимально измеряемой толщины. Результаты измерений необходимо представить в наглядной форме, например на цифровом табло. При автоматическом контроле нужно обеспечить высокую производительность измерений (т. е. выполнить возможно большее количество измерений в единицу времени) и следить за тем, чтобы толщина была не меньше и не больше заданного допуска. [c.234]

Аналогичные ошибки возникают при измерении звукоизоляции и снижения отражения некоторых акустических материалов вблизи частоты их резонанса. На рис. 3.35 вверху показана характеристика коэффициента отражения для резонансного поглощающего покрытия, которая подобна характеристике режектор-ного фильтра. При этом отраженный импульс искажается, как [c.171]

В некоторых измерениях исходя из звукоизоляции и снижения отражения вычисляют потери на поглощение , считая, что вся недостающая звуковая энергия поглотилась. Эту процедуру нельзя признать правильной, если материал не является поглотителем (например, в случаях окон, отражателей и экранов), так как на практике больше звуковой энергии может рассеиваться, дифрагировать или рефрагировать, чем поглощаться. [c.321]

Измерение звукоизоляции и снижения отражения очень просто в теории, но на практике может быть очень сложньш делом. [c.321]

Измерение импульса, отраженного от резонансного покрытия,, осложняется тем, что такое покрытие действует как режекторный фильтр. Основная частота (несущая) на резонансной частоте-покрытия ослабляется намного сильнее, чем боковые частоты в-, спектре импульса поэтому большое снижение отражения на резонансе маскируется малой его величиной на боковых частотах. Чтобы получить истинное снижение отражения вблизи резонансной частоты, на выходе зондового гидрофона необходимо иметь очень узкополосный фильтр. [c.329]

В настоящее время для определения размеров капель, взвешенных в паровом потоке, применяется метод, предложенный К. С. Шифриным и В. И. Голиковым [164], основанный на измерении индикатрисы рассеяния света под малыми углами. Конструкция зонда, в котором использован метод малоуглового рассеяния света, разработана в лаборатории турбомашин А. В. Куршаковым (МЭИ) (рис. 2.15). Зонд (рис. 2.15, а) представляет приемник /, жестко соединенный с трубой //. Труба может передвигаться в направляющей втулке, закрепленной в корпусе рабочей части стенда. Световой поток (показан стрелкой) от источника света — лазера ЛГ-66 попадает в просвечиваемый объем (вблизи сечения по А—А). Рассеянный в этом объеме свет попадает на зеркало I. Для снижения погрешности за счет паразитных отражений используется - диафрагма 2. Инди- [c.44]

Блеск покрытия обусловлен его способностью зеркально отражать падающий на покрытие световой поток. Это один из основных критериев оценки декоративных и защитных свойств лакокрасочного покрытия. Снижение блеска, как правило, обусловлено механическим разрушением или деструкцией покрытия и появлением на его поверхности шероховатостей, уменьшающих долю зеркально отраженного света. Фотометрические методы определения блеска основаны на измерении величины фототока, возбуждаемого в фотоприемнике пучком света, зеркально отраженного от поверхности покрытия. Измерение блеска покрытий проводят с помощью фотоэлектрических блескомеров типа ФБ-2, ФБ-5. На рис. 38 приведена принципиальная схема блескомера ФБ-2. За эталон матовой поверхности принято увиолевое стекло, зеркальная составляющая отражательного потока которого условно равна 65 /о- [c.150]

Для повышения точности измерения размеров по амплитуде сигнала в некоторых руководствах рекомендуется, поворачивая преобразователь или применяя преобразователи с разными углами наклона, найти максимальное отражение от дефекта, а затем его эквивалентный размер. Однако эта операция очень трудоемка. Особенно трудно отыскать оптимальный угол ввода. Так как чувствительность меняется при изменении угла падения, необходимо каждый раз после смены угла ее подстраивать. Для дефектов, расположенных вертикально, найти оптимальный угол наклона при контроле по совмещенной схеме (т. е. одним преобразователем) вообще невозможно. Здесь следует применить эхо-зеркальный метод контроля (см. рис. 3,а). Повысить надежность с бнаружения и точность измерения эквивалентной площади произвольно ориентированных небольших дефектов можно путем снижения частоты ультразвуковых колебаний (см. п. 9.9). [c.214]

Из уравнений (14.1) и (14.2) представляют интерес два следствия. Во-первых, при г + / = 90°, tg(r + ) становится бесконечным и / р = 0, а это означает, что отраженный свет полностью поляризован в плоскости поверхности. При г+ = 90°, sin г —eos i и из уравнения Снелла n = sin /sin r — tg i. Это основа углового метода Брюстера для определения показателя преломления, в котором определяется угол падения света, при котором отраженный луч может полностью отсекаться путем использования поворотного поляризующего фильтра. Методика требует высокоточной аппаратуры и может использоваться для определения показателя преломления черного стекла (используемого как стандарт при измерении блеска) или лаковых пленок на черном стекле, а также (с некоторым снижением точности) для пленок с высоким блеском. [c.419]

Измерения, проведенные на рефлектометре Гуревича, показали, что снижение коэффициента отражения за счет лака УВЛ-3 составляет в среднем 5—7%, тогда как за счет анодной пленки, полученной анодированием, снижение коэффициента отражения составляет всего лищь 3%. [c.34]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...