Порядок отражения

Индекс (порядок) отражения и пропускания определяется количеством прохождений пучка в пластинке в направлении, совпадающем с направлением падающего пучка. Пучок, отразившийся от лицевой поверхности, имеет индекс 0. [c.34]

Рентгеновские лучи, обладая длинами волн, соизмеримыми с межатомными расстояниями в твердых и жидких телах, проходят сквозь непрозрачные для световых лучей объекты. Проходя сквозь вещество, они воздействуют на электроны атомов, сообщая электронам колебательное движение. Интерференция лучей, рассеянных электронами атомов кристаллического вещества, подчиняется закономерностям, связанным с особенностями строения кристаллов. Показано, что сложное явление интерференции рентгеновских лучей, рассеянных кристаллом, приводит к таким же результатам, какие должно дать зеркальное отражение лучей от атомных плоскостей кристалла. Явление интерференции описывается формулой Вульфа — Брегга пк = 2d sin 9, где п — порядок отражения к — длина волны рентгеновского излучения [c.66]

Растяжение меридионального рефлекса по 2 и то обстоятельство, что он является единственным, легко объяснить, если положить, что расстояния С между штрихами (дисками) распределены случайно по типу нарушений второго рода. Тогда при Дс/С г 0,25 будет наблюдаться только первый, притом размытый по X, порядок отражения. Соответствующая оптическая модель представлена [c.350]

ЛЮ полноты изложения требований безопасности труда в конструкторской и технологической документации" (РД 50-134 -78), в которых был регламентирован порядок контроля полноты изложения а, следовательно, и порядок отражения требований безопасности труда. [c.121]

Средства в размере до 70 % суммы скидок возмещаются за счет фонда материального поощрения. При этом указанный фонд может быть уменьшен не более чем на 20 % его планового размера. Порядок отражения скидок в бухгалтерском учете устанавливается Минфином СССР и Госпланом СССР. [c.65]

Благодаря тому, что можно установить взаимно однозначное соответствие между дифракционными лучами, к-рые дает монокристалл, и узлами О. р., понятие О. р. чрезвычайно удобно при описании дифракции на кристаллах рентгеновских лучей, электронов и нейтронов (см. Рентгеновский структурный анализ, Электронография,Нейтронография). Индексы узла О. р. /), 9 и / связываются с индексами h, knl, нек-рой серии взаимно параллельных узловых сеток решетки кристалла, соотношениями р = пЛ, q = пк, г = п1, где п — порядок отражения дифракционного луча от данной серии сеток. В этом случае каждому узлу О. р. приписывается определенный вес, выражаемый через интенсивности дифракционных лучей. Спм.мет-рия такой взвешенной О. р. описывается одной из точечных групп симметрии с добавлением центра инверсии (если его нет в этой группе) и всех порожденных этим добавлением элементов симметрии (закон центро-симметричности дифракции на кристаллах). [c.470]

Операция может содержать несколько проводок. Проводки не существуют отдельно от операций. Каждая проводка принадлежит одной и только одной операции. Операция, в свою очередь, всегда принадлежит документу, причем у документа может быть только одна операция. Сама операция может записываться при записи документа или в момент проведения, но проводки по документу формируются только при его проведении. Кроме того, для обеспечения ручного ввода операций существует специальный вид документа Операция , который не имеет собственных данных, а используется только в качестве носителя операции, введенной вручную. Порядок отражения проводок в бухгалтерском учете определяется последовательностью документов, которым принадлежат операции. [c.25]

Порядок отражения п связывает индексы интерференции в (7) и кристаллографические индексы отражающей плоскости (кЫ) ,Н = п к К=-пк-, 1 = п-1 [c.190]

Если исследуемый образец поместить в цилиндрическую камеру (рис. 8) и на пути отраженных лучей расположить рентгеновскую пленку, свернутую в виде цилиндра так, чтобы концы ее сходились у входного отверстия, то в результате пересечения диффракционных конусов с пленкой на последней образуется серия попарно симметричных линий. Каждая такая пара линий отличается своими индексами интерференции (HKL), которые показывают индексы плоскостей (hkl), в результате отражения от которых получилась данная линия и порядок отражения п. [c.132]

Кристалл Грань Порядок отражения Интенсивность [c.123]

В хороших приборах поверхность пластинок делают плоской с точностью до 1/200 длины волны. Внутренние поверхности пластинок (между которыми заключается слой воздуха) серебрят или покрывают каким-либо другим металлом с целью обеспечить достаточно высокий коэффициент отражения лучей. Интерференционная картина получается в виде колец равного наклона (рис. 7.5), ибо на эталон направляют расходящийся пучок света от широкого источника (на рис. 7.4 представлен ход одного из лучей этого пучка). Порядок интерференции определяется расстоянием между пластинками (от 1 до 100 мм, в специальных эталонах — значительно больше, до 1 м). В соответствии с этим наблюдаемые порядки интерференции очень высоки. При = 5 мм /и 20 000. [c.139]

Простая поворотная ось симметрии — прямая линия, при повороте вокруг которой на долю окружности, равную 1/л, где п — порядок оси, фигура совмещается сама с собой всеми своими точками. Так, при наличии в фигуре оси шестого порядка (п=6) такой поворот равен Ve окружности (на 60°). Кроме простых поворотных осей различают еще зеркально-поворотные оси, сочетающие одновременно действие поворота около оси на долю окружности 1/п и отражение в перпендикулярной ей плоскости. [c.14]

Подставляя в уравнение Брэггов (7) значение d из формулы (14) и принимая во внимание лишь первый порядок отражения ( = ]), получим выражение, называемое квадратичной формой для кубической системы [c.166]

Непосредственно получаемый в дифракционном (рентгеновском) эксперименте ряд межплоскостных расстояний йыа (или й п, где п — порядок отражения) вместе, с интенсивностями отражений характеризует данное кристаллическое вещество и лежит в основе рен-геновского фазового анализа. Кристаллическая [c.105]

Отсюда следует, что имеется только первьш порядок отражения (m = 1) и а = р. Следовательно,- отражается только волна с волновым вектором ко, а отраженная волна- имеет волновой вектор к. Другими словами, если голограмму плоской волны записать с помощыо опорной волны той же частоты, то, облучая голограмму опорной волной, восстановим плоскую волну, информация о которой содержится в. голограмме. [c.256]

СРС 1. Полюсные фигуры были получены съемкой в железном Ре —Ка) нефильтрованном излучении длиной волны А,=0,193597 нм. Угол 0 нахо-ДИЛИ из уравнения Вульфа-Брега пА,=2й 51п9, где п — порядок отражения X — длина волны излучения с1—межплоскостное расстояние. Поправку на дефокусировку и поглощение проводили путем съемки порошкового эталона. Кроме того, для оценки структуры сплавов, подвергшихся термоциклированию в работе, применяли метод внутреннего трения [166]. При этом использовали электромагнитный метод возбуждения, схема которого показана на рис. 2.1. Декремент колебаний измеряли при поперечных колебаниях свободно подвешенного в узловых точках образца на частоте 400 Гц методом счета числа периодов свободно затухающих колебаний при уменьшении амплитуды в 1/2 раза. Для проведения опытов изготавливали специальные образцы. Центральная часть образца — исследуемый сплав, концы — магнитная сталь. При постепенном увеличении амплитуды определяли декремент возрастания. Достигнутая при этом максимальная амплитуда колебаний т поддерживалась постоянной в течение всего времени измерения декремента убывания, который с помощью щелевого дискриминатора определялся при меньших амплитудах 0<е<Вт и отвечал тренированному с амплитудой е состоянию материала образца. При исследовании структурного состояния сталей до и после различных режимов ТЦО использовали еще один метод, согласно которому определяли значения фона внутреннего трения Qф [c.35]

Порядок отраженный евст проходящпй свет окиссл на свиице пли никеле йодид на серебре гидроокись па алюминии окисел иа железе окисел или сульфид иа меди [c.257]

САП определяет состав, форму, способ и порядок отражения исходной информации, устанавливает структуру ее трансляции на язык ЭВМ, организует математическое обеспечение вычислительного процесса и процесса согласования преобразованной информации с технологическими возможностями конкретного станка и обеспечивает подготовку программы обработки на программоносителе. САП, как правило состоит из следующих основных частей (групп программ) блока ввода исходных данных, преобразующих информацию с вводного языка на машинный (транслятор) процессора, выполняющего основные вычисления по подготовке информации для управляющей программы, но без связи с конкретным станком и системой ЧПУ постпроцессора, преобразующего входные данные процессора в форму кадров перфоленты для данного станка с конкретным пультом ЧПУ комплекса программ диагностики для выявления ошибок. [c.47]

X — длина волны рентгеновых лучей, А или кХ п — так называемый порядок отражения, равный числу длин волн, укладывающихся в разность хода между лучами, отраженными от двух соседних параллельных атомных плоскостей. [c.190]

Ответ При изменении порядка расположения сред коэ(1х )ициеит отражения остается неизменным по величине и меняется по знаку, р = —р (фаза изменяется на я). Коэффициент пропускания изменяется т = (1 — (А)1х. То обстоятельство, что порядок расположения сред меняет т при неизменном р, есть результат изменения сечения пучка при преломлении. Из закона сохранения энергии нетрудно показать, что при I р I = I р 1 должно быть тт = (1 — р-) (ср. также упражнение 191). [c.870]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...