Разность фаз интерферирующих лучей

Для случая взаимного наклона зеркал ИФП, когда при неравномерной освещенности круглых зеркал распределение освещенности последних 1+Ф/(г) зависит только от радиальной переменной, формулу (1.90) можно свести к однократному интегралу (аналогично тому, как это было сделано выше при параболическом дефекте зеркал). При наличии клина между зеркалами разность фаз интерферирующих лучей определяется формулой (1.38). В этих предположениях для АК неравномерно 42 [c.42]

При освещении зеркальных пластин 5 телецентрическим пучком монохроматического света от точечного источника I образуется полоса равной толщины, имеющая бесконечную ширину, т. е. поле интерференции будет представлять собой равномерно освещенную поверхность, причем уровень освещенности ее (отношение интенсивности в интерференционной полосе к максимальной интенсивности) в общем случае будет различным в зависимости от разности фаз интерферирующих лучей (при данных параметрах интерферометра). [c.22]

Предположим, что изменение разности фаз интерферирующих лучей произошло за счет изменения показателя преломления ис следуемой среды Тогда из формулы (2) получаем при [c.207]

Рассмотрим фотометрический метод определения толщины пленок. Предположим, что разность фаз интерферирующих лучей из-за прохождения монохроматического пучка через пленку изменится па величину db, определяемую выражением (при ф 0) [c.231]

О Интерференция определяется разностью фаз интерферирующих лучей. [c.154]

Разность фаз интерферирующих лучей 150, 172 [c.350]

Этой разности времен соответствует разность фаз интерферирующих лучей [c.626]

Зависимость разности фаз Аф от геометрической разности хода интерферирующих лучей имеет вид [c.239]

Изменение фазы интерферирующих лучей может быть вызвано различными причинами, например, изменением показателя преломления, разности хода, плотности, давления, температуры и т. д. [c.123]

С этой целью найдем разность фаз между интерферирующими лучами в произвольной точке N фотопластинки. Эта разность фаз будет определяться разностью хода лучей, идущих от источника S по пути SMN и SN, т. е. [c.211]

До сих пор мы имели дело только с двумя интерферирующими лучами, когда встречались только две волны с некоторой разностью фаз. [c.136]

То обстоятельство, что в результате интерференции большого числа лучей мы получаем резкий переход (малое изменение направления ф) от максимума к соседнему минимуму, наглядно объясняется диаграммами рис. 9.1. Когда все складывающиеся N лучей находятся в одной фазе, мы получаем максимум, соответствующий амплитуде s = Na результирующего колебания, где N — число интерферирующих лучей и а — амплитуда каждого из них. Для получения минимума (см. рис. 9.1, в) необходимо, чтобы фаза последнего луча отличалась от фазы первого на 2я. Следовательно, при наличии N лучей различие в фа 5е двух соседних лучей должно равняться 2n/N (различие в разности хода JN), т. е. быть тем меньше, чем больше N. [c.199]

Интерференция наблюдается при наложении двух когерентных пучков света. Если разность фаз этих пучков в некоторой точке будет равна половине периода, то колебания погасят друг друга. В ре.зультате образуются чередующиеся темные и светлые интерференционные полосы. Когерентные интерферирующие пучки получают расщеплением светового луча от одного источника света. Разность фаз расщепленных пучков возникает, если оптические пути их различны, например, вследствие прохождения, через среды с различной плотностью и, следовательно, с неодинаковыми коэффициентами преломления. [c.122]

Лазерный луч в турбулентной атмосфере. При прохождении лазерного луча в турбулентной атмосфере наблюдаются [32] флуктуации фазы в световом пучке, нарушение когерентности, изменение средней интенсивности излучения на неоднородной трассе, случайные смещения центра тяжести светового пучка, сопровождаемые дрожанием лазерных пучков. Все эти эффекты существенны только при большом ходе х лазерного луча. Кроме того, в интерферометрии наиболее важна разность параметров двух интерферирующих лучей. Отсюда целесообразно обеспечить прохождение этих лучей по возможно более близким направлениям, чтобы не нарушать их когерентность. [c.93]

При сдвигах объекта вдоль оси z или его поворотах вокруг осей х и у изменяется фаза объектной и oпq)Hoй волн, однако очевидно, что разность фаз, определяющая аргумент косинуса в выражении для переменной составляющей интерференционного поля, остается постоянной. Следовательно, интерференционная картина в плоскости (ху) остается неподвижной, а смещаются только элементы изображения объекта (из-за однородного при сдвиге и неоднородного при повороте изменения его масштаба). При сдвиге объекта в собственной плоскости интерференционная картина также остается неподвижной, поскольку в плоскости голограммы встречаются и интерферируют соответствующие лучи. [c.43]

В другом варианте интерферометра на пути каждого из интерферирующих лучей ставится электрооптический кристалл в одном плече — исследуемый, в другом - эталонный [130]. Напряжение поля в обоих плечах интерферометра выбирают таким образом, чтобы разность фаз была равна нулю. Тогда [c.83]

Разность фаз соседних интерферирующих лучей б запишется в виде [c.23]

Порядок интерференционной полосы определяется разностью фаз, т. е. оптической разностью хода двух интерферирующих пучков. Для нахождения оптической разности хода будем рассматривать только два луча, отраженных одной и той же материальной точкой объекта в недеформированном и деформированном состояниях. Эта упрощенная интерпретация, которая не учитывает, насколько хорощо будут видимы интерференционные полосы и будут ли они видимы вообще, будет подтверждена и дополнена в следующем параграфе. Теперь же, забегая несколько вперед, заметим, что из-за шероховатости поверхности ее произвольные точки представляют собой взаимно некогерентные источники, поэтому только лучи, отраженные одной и той ке материальной точкой, могут дать наблюдаемую интерференцию. [c.80]

Известно, что результирующая амплитуда колебаний двух интерферирующих лучей с одинаковыми амплитудами и разностью фаз 6 равна [c.83]

Разность хода между интерферирующими лучами не должна быть слишком велика, так как интерферирующие волны должны принадлежать одному и тому же акту испускания. Средняя длительность таких актов в большинстве случаев порядка сек. Поэтому если указанное условие будет нарушено, то разность фаз не будет сохранять постоянного значения во времени. Имея это в виду, обычные технические интерферометры строятся таким образом, чтобы разность хода в них не превосходила 100—200 мм. [c.164]

Локализованные вблизи поверхности пленки или тонкой пластинки интерференционные полосы можно наблюдать невооруженным глазом либо с помощью лупы или сфокусированного на поверхность микроскопа. С помощью собирающей линзы интерференционную картину с поверхности пленки можно отобразить на экране (рис. 5.11, а). В самом деле, лучи, выходящие из точки Р, вновь соберутся в сопряженной точке Р (Р — изображение точки Р, создаваемое линзой). Так как оптические длины всех лучей между сопряженными точками одинаковы, интерферирующие лучи придут в точку Р с той же разностью фаз, какой они обладали в Р. Поэтому линза создает не только изображение поверхности пленки, но и системы интерференционных полос, локализованных на поверхности. [c.215]

Основные понятия. В результате интерференции двух или большего числа пучков в пространстве имеет место чередование максимумов и минимумов интенсивности, т. е. возникает система интерференционных полос. Интерференционной полосой называется геометрическое место точек с одинаковым интерференционным эффектом, соответствующим равным разностям фаз (разностям хода) между интерферирующими лучами. Результат интерференции наблюдается на некоторой поверхности. В частном случае этой поверхностью является плоскость. Область пространства, в которой перекрываются интерферирующие пучки, называется интерференционным полем. [c.104]

Здесь б=- с 1П1, т. е. разность фаз между соседними интерферирующими лучами Г12 и Ггз—амплитудные коэффициенты отражения для соответствующих номеров сред. [c.192]

Для различных углов дифракции ф (рис. 3.4.5) разность фаз интерферирующих лучей различна. Как и при многолучевой интерференции, возникающей при отражении от слоя диэлектрика, будет иметь значение разность фаз между соседними интерфе- [c.140]

Интерференционную картину от трех лучей (см. 6) можно получить, используя четырехзеркальные системы, т. е. рассмотренные ранее интерферометры Цендера—Маха, Рождественского, Жамена и др. Рассмотрим оптическую схему, в которой можно получить трехлучевую интерференционную картину, построенную на базе интерферометра Рождественского (рис. 15.1). В ход лучей внесены двойная щелевая диафрагма и одинарная диафрагма 5з. После входной щели 1, которая находится в фокальной плоскости объектива О1, свет параллельным пучком падает на разделительное зеркало Мх. Часть пучка проходит без изменения направления через щель 5з далее на отражательное зеркало М2 и полупрозрачное зеркало Мз. Другая часть пучка проходит двойную щель 2 и, отражаясь от М4, встречается с первой частью пучка на зеркале М3. В фокальной плоскости объектива О2 на экране 4 можно наблюдать трехлучевую интерференционную картину. Характер распределения интенсивности в этой картине в зависимости от разности фаз интерферирующих лучей дан на рис. 6.2. [c.111]

Интерференционные приборы. Принцип действия интерферометра изображен на рис. 16. 7 и 16. 8. Положение интерференционных пплпг. ппр/ ттрляртся разностью фаз интерферирующих лучей. Например, если в интерфехюметре Майкельсона (рис. 16. 8) в одном из пучков фаза будет изменяться (например, из-за изменения показателя преломления на пути лучей 1), то интерференционные полосы в поле зрения начнут перемещаться. На этой основе можно использовать интерференцию для измерения плотности вещества показателя его преломления, температуры вещества, измерения длин, углов и т. д. Для автоматизации процесса интерферометрического контроля необходимо осуществить автоматический счет полос, что можно достичь применением фотоэлектрической регистрации интерференционных полос. [c.341]

Наиб, отклонение испытывают лучи, выходящие из области макс, градиента наведённой поперечной неоднородности показателя преломления, расположенной на Гщ = а/2. Под меньптми углами 0 < 0Щ вдоль каждого направления идут два луча, интерферирующие между собой на большом удалении от нелинейной среды. В зависимости от разности фаз этих лучей Д<р под к.-л. данным углом может наблюдаться минимум или максимум амплитуды — возникает характерная кольцевая структура (рис. 2, в, и рис. 4, а). Это явление наз. нелинейными аберрациями, [c.408]

Маха-Зендера является модификацией интерферометра Майкельсона, а его теория аналогична теории последнего. На экране, расположенном в направлении F , при сведении лучей 1 и 2 в одну точку происходит интерференция. Интенсивность интерференционной картины определяется формулой / = 2/ (1 + os 5), где 5-разность фаз между интерферирующими лучами. Линии одинаковой интенсивности в интерференционной картине определяются условием 6 = = onst. Наиболее просто наблюдать и анализировать интерференционные полосы в виде концентрических окружностей, образуемых в результате того, что из точки S на пластину А падает не пучок параллельных лучей, а пучок расходящихся лучей. Однако для последующих рассуждений характер интерференционной картины несуществен, важно лишь, что она возникает. В направлении Fj также появляется интерференционная картина, распределение интенсивностей в которой дополняет распределение интенсивностей в направлении Fj таким образом, чтобы соблюдался закон сохранения энергии. [c.410]

В опыте Саньяка (1913) три зеркала Л, В и С и полупрозрачная пластинка D вместе с источником света и фотопластинкой Р смонтированы на платформе, которую можно приводить во вращение (рис. 8.9). Пластинка D делит свет от источника на два пучка, которые обегают контур AB D во встречных направлениях и затем образуют на фотопластинке интерференционную картину. Луч света, направление которого совпадает с направлением вращения, затратит на обход контура большее время, чем луч противоположного направления. Поэтому при вращении установки возникает разность фаз между интерферирующими лучами, пропорциональная угловой скорости платформы. В результате интерференционные полосы оказываются смещенными относительно их положения при неподвижной платформе. [c.413]

В формуле (3.4.15) б = (2яД) 2in os г — разность фаз между соседними интерферирующими лучами ттах = = РГс/(1—RT Y F — фактор резкости, который определяется по формуле [c.137]

Пока не будем учитывать различия интенсивности интерферирующих лучей, распространяющихся после решетки в различных направлениях. Этот вопрос будет рассмотрен в гл. 5. Если каждую щель считать точечным источником, то результат интерференции лучей в фокальной плоскости F1F2 объектива L (поле интерференции) дает картину многолучевой интерференции при конечном N числе пучков одинаковой интенсивности. Лучи, идущие через объектив L без отклонения, имеют нулевую разность фаз и собираются объективом в точке О. Здесь результирующее колебание будет представлять собой сумму всех N колебаний с амплитудами а. Амплитуда результирующего колебания будет равна аМ результирующая интенсивность определится квадратом этой величины, [c.140]

Просветление оптических поверхностей. В этом случае явление интерференции в тонком слое используется для уменьшения коэффициента отражения от поверхностей оптических деталей— такой прием называют просветлением оптики . Так же как и ранее, рассмотрим вначале качественно явление, которое имеет место при однослойном просветлении. На поверхность диэлектрика с показателем преломления Яг (рис. 3.7.1) наносится такой слой, чтобы его показатель преломления ni был бы меньше Пг (П1СП2). В этом случае при нормальном падении скачок фазы на я (или потеря в разности хода половины длины волны) будет иметь место два раза при отражении от границы сред / и // и //—III. Если толщина пленки по-прежнему Х/4, то результирующая разность хода отраженных лучей будет Х/4 + Х/4-f Х/2-f Х/2 = X-f Х/2. Здесь два первых слагаемых соответствуют прохождению волной два раза слоя II, а вторые слагаемые соответствуют скачку фаз при отражениях света на границах раздела менее плотной и более плотной сред. В результате интерферирующие волны окажутся в противофазе и погасят друг друга. Коэффициент отражения R для рассматриваемой длины волн X станет равным нулю. [c.192]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...