Наклонное просвечивание

Напряжения Оу, а , Хух и можно определить, анализируя параллельные плоскостям (х, у) и х, z) срезы модели с замороженными напряжениями. Оставшуюся компоненту Хуг можно найти при помощи наклонного просвечивания или добавочного среза, параллельного плоскости у, г). [c.500]

Отражательные полярископы наклонного просвечивания также сохраняют все особенности полярископов проходящего света, причем в них свет тоже дважды проходит через просвечиваемую модель. Однако в этом полярископе свет внутри модели до отражающей поверхности и после нее идет разными путями. Если двойное лучепреломление неоднородно, то наблюдаемый эффект следует рассматривать как интегральный по всему пути света. Возникающая ошибка пропорциональна углу между падающим и отраженным лучами. [c.57]

Ф и г. 2.18. Полярископ с диффузором, установленный как отражательный полярископ наклонного просвечивания. [c.58]

При таких условиях наклонного просвечивания получается (при повороте пластинки относительно оси 1 интерференционная картина с порядками полос [c.87]

Фиг. 3.16. Замороженная картина полос при наклонном просвечивании диска, сжатого по вертикальному диаметру (диск повернут на 35 относительно горизонтального диаметра).

Если поворот сделан относительно главной оси 2, то порядок полученных при наклонном просвечивании полос [c.88]

Ясно, что такое наклонное просвечивание позволяет отыскать новые соотношения между главными напряжениями. На фиг. 3.17 дана картина полос для того же диска, полученная при повороте на тот же угол относительно вертикального диаметра (главная ось 2), по которому производилось сжатие. Об использовании наклонного просвечивания для определения каждого отдельного главного напряжения [5] говорится в гл. 8 ). [c.88]

Если поворот просвечиваемой пластинки при наклонном просвечивании производится относительно оси 2, то аналогично получим [c.211]

Фиг. 8.5. Картина полос диска с отверстиями, сжатого по диаметру, при наклонном просвечивании под углом 35°.

НИИ, например R-39, при наклонном просвечивании пластинки обнаруживают двойное лучепреломление. Такие материалы не должны применяться для исследований с наклонным просвечиванием ). [c.213]

Этот эффект зависит скорее от способа изготовления пластинок, чем от самого материала. Если, например, полимеризацию пластинок из эпоксидной смолы заканчивать, освободив их от формы, то при наклонном просвечивании остаточный оптический эффект не наблюдается.— Прим. ред. [c.213]

Пример определения отдельных величин главных напряжений по этому методу рассмотрен на фиг. 8.4, 8.5 и 8.6. На первых двух фигурах воспроизведены полученные при прямом и наклонном просвечивании (под углом 35°) картины полос интерференции диска с четырьмя отверстиями, сжатого вдоль вертикального диаметра. Оптический эффект в диске пришлось для удобства просвечивания предварительно заморозить . Для наклонного просвечивания диск был повернут. Напряжения определяли по уравнениям (8.17). На фиг. 8.6 приведены результаты для двух углов поворота диска. Они сравниваются с результатами, полученными измерением величины механическим компаратором. Результаты определения аг этими тремя способами измерений очень хорошо согласуются друг с другом. Некоторое отклонение заметно для Oi. Площадь под кривой а2 уравновешивает нагрузку с погрешностью в пределах 1,5%. [c.214]

Составляющие а у, т у ш можно определить по результатам измерений в двух срезах замороженной модели в направлении плоскостей ху и xz. Оставшуюся составляющую находят путем наклонного просвечивания или на дополнительном срезе в плоскости yz. [c.215]

Наклонное просвечивание см. Просвечивание наклонное Напряжений главных траектории 429 [c.479]

Различие случаев О] = 2 О ч-тч а, = 12 = 0 а) О] = а2 = О, если поперечная деформация в изотропной точке равна нулю (проверяется толщемером) или если высверливание поперечного отверстия малого диаметра в модели не нарушает картины напряжений б) О] = = J2 =7 О, если при наклонном просвечивании изотропная точка раздваивается. [c.526]

Оптически чувствительные слои на поверхности детали [32]. Слой из оптически чувствительного материала (например, ЭД6-М) наносится на поверхность металлической детали или ее модели в жидком виде (и затем подвергается полимеризации) или наклеивается на нее в виде пластинки. Измерения проводят в пределах пропорциональности между наблюдаемым порядком полос интерференции и деформацией в слое. С применением нормального и наклонного просвечивания поляризованным светом, который отражается от поверхности металла, определяют разность и величины главных напряжений и их направления. Деформации (и напряжения) в поверхности металлической детали могут находиться как в пределах, так и за пределом упругости. При деформациях в пластической области для определения напряжений необходимо иметь зависимость между напряжениями и деформациями для данного материала и имеющегося соотношения главных деформаций. Для повышения предела пропорциональности слоя эксперимент может проводиться при повышенной температуре, соответствующей методу замораживания (100—130°) или применяют соответствующий материал слоя. [c.595]

Другой способ наклонного просвечивания среза состоит в применении призм. Призмы изготавливаются из стекла или из прозрачного материала, свободного от напряжений, с тем же показателем преломления, что и материал модели. На рис. 19 представлены поперечные размеры этих призм и среза. Формы поперечных сечений призм [c.76]

Объем необходимых измерений может быть существенно уменьшен, если ввести в рассмотрение функции напряжений. Это позволяет избежать или уменьшить количество измерений, в частности при наклонном просвечивании, которое снижает точность оп- [c.53]

В основу разработанного способа положен полуобратный метод Сен-Венана, согласно которому перемещения в направлении координатных осей нами представлены в виде явных функций координатного угла 0 (задача рассматривается в цилиндрических координатах г, 0, z ось 2 совмещена с осью модели). Принятое допущение находится в соответствии с известным решением Нейбера для случая изгиба гиперболоида вращения 161. Благодаря такому представлению переменные в выражениях для функций напряжений Папковича — Нейбера разделились, и, тем самым, объемная задача теории упругости об изгибе тела вращения свелась к двумерной. Вследствие этого напряжения выражаются через частные производные этих функций по независимым переменным гили далее — через величины порядков полос пг и пг и параметров изоклин "ф, полученные при просвечивании оптически чувствительного слоя модели в направлении нормали (прямое просвечивание) к его лицевой поверхности и под углом а (наклонное просвечивание) к нормали N — направление (рис. 1). [c.54]

Изложен метод определения напряжений в точках поперечных сечений тела, вращения по данным нормального и наклонного просвечиваний меридионального слоя поляризационно-оптической модели. Приведен пример определения напряженного состояния ступенчатого вала с галтелью на составной оптической модели из материала ОНС с оптически чувствительной вклейкой, [c.148]

Пример 2. Изгиб вала с надрезом. Компоненты главных напряжений в точках сечення по надрезу (фиг. 27, б) определяются по пластинке, вырезанной в плоскости изгиба с нормальным и наклонным просвечиванием. Экспериментально полученный коэффициент концентрации [c.531]

Из рисунка видно, что данные измерений высотных зависимостей структурной характеристики атмосферы, полученные путем наклонного просвечивания атмосферы с помощью лазера, подтверждаются результатами прямых метеорологических измерений. [c.231]

Регистрация картин полос при одновременном нормальном и наклонном просвечивании моделей из высокомодульных полимеров в задачах, связанных с разделением напряжений [c.197]

В плоской динамической задаче при наличии оси симметрии главные напряжения в точках вдоль этой оси могут быть получены методом наклонного просвечивания на установке, приведенной в табл. 15.1, схема 4 [8]. [c.204]

Дефект упаковки при просвечивании фольги электронным пуч-)м дает характерную систему светлых и темных полос (рис. 50). асстояние между полосами и их число зависят от толщины фольги, ориентировки п наклона плоскости дефекта упаковки. Изображе-ie полосы дефекта упаковки ограничено с двух сторон темными 1И светлыми линиями частичных дислокаций и еще с двух сторон шиями пересечения плоскости дефекта с поверхностями фольги. [c.97]

Фиг. 2.16. Типы полярископов с различным располошепием основных элементов. Полярископы с прямым просвечиванием плоский а), плоский с компенсатором (б) и круговой (в) отражательные полярископы Нёренберга плоский с компенсатором или без него (г) и круговой (3) е — отражательный круговой полярископ с одним поляроидом (только с темным полем) ж — отражательный полярископ наклонного просвечивания (плоский или круговой с компенсатором или без него).

Наклонное просвечивание. При прямом просвечивании получается одно уравнение, дающее разность и Оз. Если вывести еще одно уравнение, связывающее эти величщы, то их можно было бы определить раздельно. Как показано дальше, иногда на практике удобно для получения такой системы уравнений использовать соотношения между деформациями. Способ определения обоих неизвестных Oi и 02 на основе данных одного поляризационно-оптического метода дает наклонное просвечивание. [c.211]

В портативном полярископе, поз Боляющем измерять разность хода лучей при прямом и наклонном просвечиваниях фотоупругих слоев, пре дусматривается синхронное вращение поляризатора и анализатора с точ ностью 0,5° в пределах 0—170 , Лимб синхронного вращения поляроидов имеет цену 1°, нулевому отсчету лимба соответствует скрещенное положение поляризатора и анализатора. Пластинки в четверть волны могут быть выведены из оптической схемы поворотом на 45° по отношению к плоскостям поляризации поляроидов. Разность хода лучей в точках покрытия измеряют компенсатором Берека, который может поворачиваться на 270°. [c.390]

Из серийных зарубежных приборов такого типа наиболее распространен портативный отражательный полярископ с V-образным ходом лучей, вы-пускаемый в различных модификациях " фирмой Fotolasti In (США) для лабораторных и промышленных исследований. Конструктивно полярископ представляет собой два поляризатора диаметром 88 мм с поворотными поля-роидными фильтрами в волны, смонтированных вместе с осветителем на едином шарнирно опертом основании. Такая сборка обеспечивает синхронное смещение поляризующих элементов при любых перемещениях прибора. В зависимости от области применения приборы оснащены различными источниками освещения и фоторегистрирующей аппаратурой, устройствами для компенсационных измерений, приспособлениями для наклонного просвечивания. Чувствительность приборов составляет в долях полосы не менее 0,01 и при измерении параметров изоклин не более 2°. [c.391]

Все величины, входящие в это выражение, определяются при двух наклонных просвечиваниях под углами +4,5° и —45°, т. е. в плоскостях х оу и yxOZy. Из уравнения (102) определяется Oyi, а так как оси у и ух совпадают, то Oyi = (Уу. Следовательно, на одном срезе можно получить все компоненты напряжений по какой-либо линии внутри объемной модели. [c.76]

Наличие в модели цйлиндрических участков позволило непосредственно по измерениям на модели определить угол поворота при наклонном просвечивании, В области однородного напряженного состояния (см. рис. Z) Mai — т os а. Тогда сой а — 5,65/ 6,10 = 0,9262 и а 22°. Используя полученные экспериментальные данные, по рассмотренной методике определены компоненты напряжений в точках сечений / — / и II — II. Все вычисления выполнены на ЭВМ Мир-2 . [c.58]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...