Диффракция

Диффракция — огибание волнами препятствий. [c.52]

Исследование изменения высоты максимума затухания в зависимости от кристалличности, изменения модуля кручения полимера, а также исследование диффракции рентгеновских лучей, удельной теплоемкости позволяют определить отношение областей релаксации к аморфной или кристаллической фазе. [c.13]

Диффракцией света называется явление огибания световыми волнами препятствий, стоящих на пути распространения света, Диффракция имеет место только в том случае, если размер препятствия или отверстия соизмерим с длиной волны [c.228]

Диффракция света. Диффракцией света называется явление огибания световыми волнами препятствий, стоящих на пути распространения света. Диффракция имеет место только в том случае, если размер препятствия или отверстия соизмерим с длиной волны света. Для видимых лучей света длина волны лежит в пределах десятых долей микрона. В этом случае препятствия или отверстия, измеряющиеся в миллиметрах, уже относительно велики по сравнению с длиной волны. Поэтому диффракцией во многих случаях можно пренебрегать и считать, что свет распространяется прямолинейно, как это и делается в геометрической оптике. [c.317]

О специальных использованиях явления диффракции см. [5]. Другие сведения по физической оптике — там же. [c.317]

Дистилляция 364 Дифманометры И, 611 Дифференциальные манометры 611 Дифференциальные уравнения термодинамики 56 Диффракция света 317 Диффузоры 95 — Сила действия потока 662, 663 [c.709]

Для этой цели использованы результаты упомянутых выше исследований К. С. Шифрина по диффракции электромагнитных волн на сфере. [c.212]

В работах [7, 8] исследовали Ti-Zr сплавы после закалки и отпуска методами рентгеновской диффракции, металлографии, электронной микроскопии и измерения твердости. Метастабильных фаз р и со обнаружено не было. Предыдущие данные об образовании этих фаз, по-видимому, следует объяснить присутствием примесей внедрения. [c.403]

Таким образом, в рассматриваемом случае поправка выражается так же, как для учета эффекта диффракции, и, следо- [c.117]

Рентгенографический структурный анализ основан на диффракции (отражении) рентгеновских лучей рядами атомов в кристаллической решетке. Как известно из физики, зная длину волны у монохроматического пучка рентгеновских лучей, можно определить расстояние между рядами атомов и воспроизвести пространственное расположение атомов. [c.12]

Диффракцией можно пользоваться как способом получения интерференции, так как различные вторичные лучи могут быть собраны в фокусной плоскости телескопа, при условиях, необходимых для интерференции. [c.83]

Перейдём теперь к рассмотрению упругого рассеяния частиц поглощающими ядрами. Соотношения, полученные в 17, показывают, что поглощение вызывает дополнительное возмущение падающей волны и, следовательно, приводит к дополнительному упругому рассеянию частиц, которое не связано с образованием составного ядра и последующим испусканием частиц. Это упругое рассеяние, обусловленное наличием поглощающего рассеивателя, в случае малых. длин волн частиц / —радиус ядра) аналогично диффракции света от абсолютно чёрного шара и может быть поэтому названо диффракционным рассеянием Чтобы сделать более ясной эту аналогию, напомним, что диффракционные явления в оптике наблюдаются в том случае, если на пути распространения света стоит непрозрачный, поглощающий свет экран. Диффракционные явления, характеризующиеся отсутствием резкой границы между областями света и тени, представляют собой отклонения от геометрической оптики и непосредственно связаны с, волновой природой света они проявляются тем сильнее, чем меньше размеры непрозрачных тел по сравнению с длиной волны света. Так как ядра в определённой области энергии поглощают падающие на них частицы, т. е. ведут себя по отношению к ним как непрозрачные, поглощающие экраны, то, наблюдая в таких условиях упругое рассеяние частиц, мы должны получить диффракционную картину. [c.186]

Феноменологическая трактовка ядра как непрозрачного, поглощающего частицы экрана возможна в тех случаях, когда энергия частиц не превосходит нескольких десятков MeV для лёгких ядер и нескольких сотен MeV для тяжёлых. Если мы имеем дело с нейтронами, т. е. электрически нейтральными частицами, причём длина волны их значительно меньше радиуса ядра, то следует ожидать полной аналогии между упругим рассеянием таких частиц и диффракцией света от непрозрачного тела, имеющего форму и размеры ядра. [c.186]

Общая формула, определяющая диффракцию, имеет следующий вид 1 1 [c.187]

В случае диффракции Фраунгофера все лучи, падающие на экран, имеют одинаковое направление, т. е. одинаковый волновой вектор к. Поэтому поле на поверхности интегрирования в формуле (20.1) можно представить в виде [c.188]

Нас интересует диффракция от абсолютно чёрного шара радиуса R, на который падает параллельный пучок лучей. Диффракционная картина в этом случае, согласно сказанному выше, совпадает с диффракционной картиной от круглого отверстия радиуса R в непрозрачном экране, перпендикулярно плоскости которого падает свет. Важно заметить, что диф-фракционные картины совпадают также и при к = к, так как в этом направлении в обоих случаях имеет место максимум интенсивности. [c.190]

Итак, рассмотрим диффракцию от круглого отверстия радиуса R. Обозначим проекцию вектора к на плоскость отверстия через ч (вектор к, как было сказано выше, перпендикулярен к этой плоскости). [c.190]

Такой же формулой определяется распределение света при диффракции от абсолютно чёрного поглощающего шара В этом случае под Iq следует понимать полную интенсивность света, падающего на площадь поперечного сечения шара. Мы видим, что в этом случае, так же как и при диффракции от круглого отверстия, максимум интенсивности лежит при х = О, т. е. в направлении распространения падающего пучка света. Иными словами, максимум интенсивности лежит в центре тени, получаемой по законам геометрической оптики. [c.191]

Эта формула в точности совпадает с формулой (20.6), полученной из элементарных оптических соображений. Мы видим, следовательно, что и обычная теория диффракции и точная теория рассеяния, использующая основное предположение о непрозрачности ядра для нейтронов, приводят к одинаковым результатам, что, собственно говоря, и следовало ожидать. [c.197]

Перейдём к рассмотрению рассеяния быстрых заряженных частиц, которые могут поглощаться ядрами (55. ei]. При этом также должны происходить диффракционные явления, в некоторой мере аналогичные диффракции быстрых нейтронов. Явление, однако, усложняется наличием заряда у частиц. В силу этого мы не можем пользоваться элементарной оптической теорией для описания интересующего нас рассеяния, которое можно охарактеризовать как диффракцию заряженных лучей около абсолютно чёрного заряженного тела. Чтобы определить амплитуду рассеяния, следует с самого начала пользоваться общей формулой теории рассеяния (17.5). [c.204]

Огюстен Жан Френель (Freanel) родился в Нормандии в 1788 г., умер в Париже в 1827 г. Вместе с английским физиком Томасом Юнгом он дал экспериментальные основы волновой теории света. Выдающимися являются его опыты с явлением диффракции и интерференции поляризованного света. Согласно его теоретической концепции световые явления порождаются поперечными колебаниями некоторой среды (эфира), которую, для того чтобы иметь бесконечно малую плотность, наделяют свойством упругих твердых тел. При помощи волновой теории света ему удалось в удивительном согласии с опытом объяснить не только классические явления геометрической оптики [c.378]

При спекании на воздухе цвет пленки переходит в белый при относительно низких температурах (несколько сот градусов). Это относится к окислению восстановленного Т10а, однако ВаНОз, по-видимому, не образуется до температур 1000—1100° С, когда начинается реакция. Выше этой температуры состав, по-видимому, остается тем же самым и решающим фактором, определяющим свойства пленки, является величина зерен кристалликов ВаТЮд. Пленка, как указывает рентгеновская диффракция, состоит главным образом из ВаТЮз со следами непрореагировавших ВаО и ТЮа- [c.299]

При сравнимости длины ввлны излучения с поперечными размерами неоднвродности явление диффракции размывает тень, и прибор не обнаруживает включения. Поэтому для успещной работы дефектоскопа необходимо, чтобы поперечные (перпендикулярные ходу лучей) размеры дефекта были не меньше длины волны. [c.275]

Природа рентгеновских лучей долгое время оставалась неизвестной. Английский ученый Дж. Стокс высказал гипотезу, что рентгеновские лучи представляют собой очень короткие электромагнитные волны, возникающие при торможении электронов при ударе их об анод. В 1904 г. английский ученый Ч. Баркла экспериментальным путем обнаружил поляризацию рентгеновских лучей. Доказательством того, что рентгеновские лучи представляют собой электромагнитные волны, было также открытое в 1912 г. немецким ученым М. Лауэ (совместно с В. Фридрихом и П. Книппингом) явление диффракции рентгеновских лучей при прохождении их через кристаллы. Последовавшие затем фундаментальные исследования русского ученого Г. В. Вульфа (1913 г.), английских ученых В. Г. и В. Л. Брэггов (1913 г.), Г. Мозли (1913 г.) и других привели к тому, что рентгеновские лучи получили широкое примение в физике и технике. [c.354]

Диффракция света 228 Диффузия металлов в мегаллих М. , Диффузоры 486 [c.538]

Действительно, в результате диффракции вдоль луча направляется энергия, равная полному количеству энергии, рассеянному частицей во всех направлениях по законам геометрической оптики. Эта диффрагированная энергия при толщинах излучающего слоя, значительно превышающих среднее расстояние между частицами, не дойдет до приемника излучения, т. е. в этом отношении ничем не будет отличаться от погло- [c.211]

Информация о взаимодействии Те с Ti представлена в работах р(, Э, Ш]. Диаграмма состояния Te-Ti не построена. Авторы работы [1] методом рентгеновской диффракции исследовали сплавы в области составов от 20 до 68 % (ат.) Те. Сплавы плавили в тиглях из AljOj, помещенных в эвакуированные и запаянные кварцевые ампулы. В качестве исходных материалов использовали Ti чистотой 99,99 % (по массе) с примесями в % (по массе) -0,003 % Fe, 0,003 % Мп, <0,01 % Fe и Те, дистиллированного в вакууме и содержащего <0,01% (по массе) Fe и следы А1, Mg и РЬ. [c.376]

При измерении температуры вершину петли нити устанавливают против изображения источника излучения. Прибор имеет подвижной ограничитель окуляра с двумя меняющимися апертурами, находящимися между вторым объективом и окуляром. Меньший ограничитель используется, насколько это возможно, дл я уменьшения эффекта диффракции, но при низких температурах для получения достаточно высокой интенсивности необходимо использовать болъшую апертуру без светофильтра — ниже 1000° и применяя светофильтр — при температурах до 1400°. [c.116]

На практике иногда невозможно добиться П0Л1Н0Г0 исчезновения нити из-за явлений диффракции. Изучая эти (Явле-ния, Каннольд [71] пришел к выводу, что ошибка не возникает, если нить против раскаленного тела всегда устанавливают в одинаковых условиях. Однако явление диффракции может служить источником ошибок, если условия работы прибора таковы, что не используется полная апертура линз объектива. Это может, например, иметь место, если пирометр наведен на узкую трубу так, что апертура ограничена трубой, а не собственно прибором. [c.117]

Потери вследствие диффракции, которые следует учитывать как тол1 о величина диаметра волокна становится меньше длины волны проходящего света. [c.571]

Одной из важнейших характеристик микроскопа является его разрешающая способность. Разрешающая способность микроскопа ограничена вследствие диффракции света и зависит от численной апертуры объектива и длины волны света. В результате диффрак-дии изображение бесконечно малой светящейся точки, рассматриваемой в микроскоп, имеет вид круглого светлого диска, окруженного несколькими слабыми светлыми кольцами. Освещенность первого кольца равна 1,75% освещенности диска. Диаметр диска [c.7]

В дальнейшем нас будет интересовать тот случай, когда и источник света и точка наблюдения Р находятся на весьма больших расстояниях от экранов. В этом случае, который известен под названием диффракции Фраунгофера, лучи, идущие от источника света, падают на экраны параллзльным пучком параллельными являются также лучи, идущие от экра-ноз в точку наблюдения. Поэтому при диффрзкщш Фраунгофера мы имеем дело с изменением направления пучка света, претерпевшего диффракцию около экранов. Интенсивность света является в этом случае функцией угла отклонения света от первоначального направления. Этот угол называется углом диффракции. [c.188]

Заметим, что по самому смыслу оптической диффракцион-ной теории отклонения от геометрической оптики должны быть небольшими это значит, что угол диффракции должен быть малым. Из полученной нами формулы (20.4 ) для сечения рассеяния легко заключить, что эффективный угол рассеяния [c.192]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...