ДИФРАКЦИОННЫЕ РЕШЕТКИ ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Кристаллические вещества обладают строгой периодичностью строения и представляют собой созданную самой природой дифракционную решетку для рентгеновского излучения. [c.47]

ДИФРАКЦИОННЫЕ РЕШЕТКИ ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ [c.249]

Кроме того, важное значение имеет гибкость МИС. Под этим подразумевается практическая возможность в каждом конкретном случае наилучшим образом подбирать тип и свойства многослойного рентгенооптического элемента путем оптимизации большого числа параметров. К таким параметрам относятся элементный состав МИС и толщины ее слоев. Период МИС может быть сделан переменным как вдоль поверхности, так и по глубине МИС может быть нанесена на плоские, сферические и асферические подложки, на дифракционные решетки, на тонкие, прозрачные для рентгеновского излучения пленки. Отсюда ясно, что диапазон изменения оптических свойств МИС и их возможности чрезвычайно широки. [c.116]

Под рентгенографическим анализом понимается совокупность разнообразных методов исследования, в которых используется дифракция рентгеновского излучения - поперечных электромагнитных колебаний с длиной волны 10 -10- Л. Применение рентгеновского излучения для исследования кристаллических веществ основано на том, что его длина волны сопоставима с расстоянием между упорядоченно расположенными атомами в решетке кристаллов, которая для него является естественной дифракционной решеткой. Сущность рентгенографических методов анализа как раз и заключается в изучении дифракционной картины, получаемой при отражении рентгеновских лучей атомными плоскостями в структуре кристаллов. [c.158]

Ответ. Рассмотрим случай, когда в каждом узле пространственной решетки размещены идентичные атомы. Если на такую решетку направить рентгеновские лучи определенной длины волны, то электроны атомов кристалла начнут вынужденно колебаться и станут вторичными источниками рентгеновского излучения, испускающими сферические волны, центрами которых являются атомы. Это вызывает взаимную интерференцию сферических волн, которые испускаются отдельными узлами решетки. Поэтому пространственную кристаллическую решетку можно использовать как объемную дифракционную решетку. В данном случае положим для упрощения, что оси решетки распо- [c.35]

Кстати, внешне аморфный металл ничем не отличается от кристаллического. Но из-за беспорядочного расположения атомов стекло не является дифракционной решеткой для излучения, и на дифрактограмме отсутствуют резкие брэгговские пики (рис. 137). Облучая закаленные из жидко-сти образцы сплавов рентгеновскими лучами, электронами или нейтронами, можно определить, успешно ли прошла аморфизация. [c.234]

Когда длина волны меньше пространственного периода решетки, при определенных условиях возможно появление волн, распростраияюшихся в направлениях, сильно отличающихся от направления падающей волны. Это явление подобно образованию дифракционных максимумов прн падении света на оптическую дифракционную решетку (см. 6.5). Однако если интересоваться распространением рентгеновского излучения в веществе в направлении, близком к направлению падающей волны, то зависимость плотности числа электронов N (лг, у, г) от координат становится несущественной н вместо нее можно рассматрнвгть усредненную по объему величину N—полную концентрацию электронов. Поэтому для преломления на малые углы, несмотря на нарушение условия Я. о, диэлектрическая проницаемость с (и)) н показатель преломления п (т) сохраняют свой обычный смысл н для рентгеновского излучения. [c.97]

Применение качественного рентгеновского анализа к бокситу ограничено следующим. Интенсивность дифракционных линий вещества зависит не только от концентрации кристаллов и числа отражающих плоскостей, но и от упорядоченности кристаллической решетки у них. Кроме того, для отражения рентгеновских лучей необходима определенная минимальная величина когерентных областей решетки. Эта минимальная величина зависит от длины волны применяемого рентгеновского излучения и структуры соответствующего кристаллического вещества. Поэтому невозможно дать общее правило. По Глокеру, частицы с линейными размерами менее IО мкм уже показывают значительное расширение линий при одновременном ослаблении интенсивности. [c.31]

В табл. 5.1 приведены данные о некоторых из запущенных на орбиту или разрабатываемых в настоящее время зеркальных рентгеновских телескопах высокого разрешения. Первые два телескопа, предназначенные для исследования рентгеновского излучения Солнца, были установлены в 1973 г. на американской орбитальной станции Скайлэб (эксперименты 5-054 и 5-056). Зеркальная система телескопа 5-054 состояла из двух совмещенных пар металлических зеркал параболоид—гиперболоид , изготовленных методом прямой полировки [71]. Объектив телескопа 5-056 был изготовлен из плавленого кварца [77]. Регистрация изображений Солнца в обоих телескопах проводилась на фотопленку. Спектральный диапазон определялся коэффициентами отражения зеркал и фильтрами. В телескопе 5-054 с помощью объективной дифракционной решетки регистрировались также изображения Солнца в различных спектральных линиях. В экспериментах на станции Скайлэб было получено несколько десятков тысяч рентгеновских снимков Солнца в различных стадиях его активности, которые дали огромный материал для исследования происходящих на Солнце физических процессов. [c.196]

При распространении электромагнитного излучения в периодических средах возникает много интересных и потенциально полезных явлений. К ним относятся дифракция рентгеновского излучения в кристаллах, дифракция света на периодических изменениях механических напряжений, возникающих при прохождении звуковой волны, и запрещенная зона для света в слоистых периодических средах. Эти явления используются во многих оптических устройствах, таких, как дифракционные решетки, голограммы, лазеры на свободных электронах, лазеры с распределенной обратной связью, лазеры с распределенным брэгговским отражением, брэгговские отражатели с высокой отражательной способностью, акустооптические фильтры, светофильтры Шольца и т. д. В данной главе мы рассмотрим некоторые общие свойства электромагнитного излучения в периодических средах и общую теорию его распространения в слоистой периодической среде. Эта теория имеет весьма близкую формальную аналогию с квантовой теорией электронов в кристаллах и поэтому позволяет использовать понятия блоховских волн, запрещенных зон, затухающих и поверхностных волн. Наконец, мы обсудим применение этой теории для решения ряда хорошо известных задач, таких, как расчет коэффициента отражения от брэгговского зеркала, коэффициентов пропускания фильтра Шольца и оптических поверхностных волн. Кроме того, мы обсудим двойное лучепреломление за счет формы и его применение в дихроичных поляризаторах. Периодические структуры играют также важную роль в интегральной оптике, рассмотрение которой мы отложим до гл. 11. [c.169]

В [148] для сдвига проекций при выполнении операции обратного проецирования использовались дифракционные решетки, точнее, фурье-голограмма транспаранта, состоящего из набора точечных отверстий на непрозрачном фоне. Транспарант представляет собой световую копию распределения кодированного источника. На рис. 6.13 изображена схема оптико-электронного процессора, использованного в [148] для записи кодированного изображения я его обработки в телевизионном режиме. Комбинация из рентгеновского ЭОПа и пространственно-временного модулятора света с электронной адресацией типа Титус позволяет в реальном Бремени получать кодированное изображение объекта 2 и вводить его в когерентно-опгический процессор для обработки. Элемент И представлял собой описанную выше фурье-голограмму. Перемещая ее вдоль оптической оси, можно последовательно выделять изображения различных продольных сечений объекта. Так как обработка кодированного изображения не требует когерентного излучения, то для уменьшения оптического шума применяется вращающийся диффузор 7. В этой работе в качестве кодированного источника использовалась совокупность десяти точечных излучателей, расположенных в соответствии с неизбыточным точечным распределением. [c.192]

Расстояние между плоскостями решетки d определяется путем ориентации кристалла в спектрометре. Следовательно, положение дифракционного максимума зависит от длины волны рентгеновского луча, падающего на кристалл, а длина волны рентгеновского характеристичного излучения от порядкового номера элемента уменьшается с увеличением атомного номера. Для регистрирования дифракционного максимума, по положению и интенсивности которого можно судить о типе и количестве данного элемента в пробе, в рентгеноспектрометре применяют счетчик Гейгера—Мюллера или сцинтилляционный счетчик с последующим подключением усилителя и самописца. Возможности и границы спектрографического метода для анализа бокситов описаны Пфундтом 12]. [c.21]

ЧТО может привести к ошибке при определении периода решетки. Поскольку нельзя предполагать, что опилки после отжига имеют тот же химический состав, что и исхедная отливка, то на этой стадии исследования их следует подвергнуть химическому анализу этот анализ будет характеризовать состав опилок, действительно выдержанных в камере под рентгеновскими лучами. Из небольшого количества опилок после их просеивания через тонкое проволочное сито для отделения более крупных частиц (во избежание получения несплошных дифракционных линий на рентгенограммах) готовят соответствующий образец для исследования рентгеновским методом. Затем по рентгенограммам, полученным в камере Дебая — Шеррера, определяют периоды решетки при съемке рентгенограмм используют излучение, даюш,ее дифракционные линии под большими брэгговскими углами, поскольку это обеспечивает максимальную точность измерений. [c.101]

При данной температуре множитель Дебая — Уоллера дифракционной линии уменьшается с увеличением величины вектора обратной решетки С, связанного с отражением. Чем больше С , тем слабее будет отражение при высоких температурах. Те.мпературная зависимость интенсивности отраже шого излучения для отражений (hOO) в алюминии показана на рис. 2.35. Теория, разработанная нами здесь для описания отражения рентгеновских лучей, столь же применима для описания эффекта Мёссбауэра (см. гл. 20 книги [12]), который заключается в упругом испускании у-квантов (у-лучей) ядрами. [c.102]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...