Полярископа светлое поле

Светлое поле полярископа. Если анализатор устанавливается так, что его плоскость колебаний располагается вертикально (параллельно плоскости колебаний поляризатора), то вектор выходящего света выражается следующим образом [c.43]

Ф и г. 2.5. Круговой полярископ со светлым полем. [c.44]

Первый элемент состоит из обычного плоского поляроида, к которому приклеена четвертьволновая пластинка, оси которой наклонены под углом 45° к плоскости колебаний плоского поляроида. Последний помещают снаружи всей установки, и он служит поляризатором. Второй элемент представляет собой точно такой же склеенный круговой поляроид. Плоский поляроид, являющийся анализатором, также помещают снаружи, а оси четвертьволновой пластинки устанавливают иод углом 90° к осям первой пластинки. Получается полярископ со светлым полем. [c.48]

Проверьте аналитически, что другие возможные способы получения темного и светлого поля (фиг. 2.4 и 2.5) в круговом полярископе эквивалентны способам, рассмотренным в настоящей книге. [c.60]

Принцип осуществления опытов понятен из фиг. 5.4, где воспроизведены полученные при светлом поле полярископа фотографии картин полос, соответствующие третьему этапу испытания. Балку, которая распределяет нагрузку на нижние диски, необходимо было поддерживать для того, чтобы вся конструкция не потеряла устойчивости. Результаты этого опыта приведены в табл. 5.6, где указаны порядки полос в центре наименее нагруженного диска и коэффициенты, на которые их нужно умножить, чтобы получить экспериментально измеренные порядки полос в других дисках. За первые 48 час испытания эти коэффициенты постоянны в пределах 2%, обнаруживая затем тенденции к небольшому уменьшению. Такое снижение можно, вероятно, объяснить продолжающейся полимеризацией, которая в таких [c.129]

Разрезку модели производили диском на шлифовальном станке с охлаждением. Срезы наблюдались и фотографировались в полярископе с диффузором. Картина полос осевого среза, полученная при светлом поле, воспроизведена на фиг. 10.2. Среднее напряжение в вершине выточки было в 2,19 раза больше номинального напряжения, вычисленного по ослабленному сечению. Коэффициент концентрации по Нейберу для выточки с отношением а/р = 3,9 составил 2,15. Экспериментальные результаты сопоставляются с теоретическими на фиг. 10.3 и 10.4. Отклонение экспериментальных величин от теоретических нигде не выходило за пределы 10%. В тех случаях, когда отклонение превосходило 5%, абсолютные погрешности были довольно малы. [c.281]

Коэффициент Пуассона для замораживания принят здесь равным р. = 0,5. На фиг. VI. 29 приведена получаемая при светлом поле в полярископе картина полос участка плоской модели с большим, средним и малыми зубьями. Для иллюстрации использования таких [c.479]

Если разность Д равна нулю, то и амплитуда (с) также равна нулю. Следовательно, если модели нет или модель не нагружена, то экран будет темным. Таким образом, мы получаем темное поле. Если ось анализатора повернута на 90° по отношению к то мы получаем освещенное поле, где место бывших темных полос занимают светлые полосы. Тот же эффект можно вызвать в плоскости полярископа, если поместить оси поляризатора и анализатора не под прямым углом, а параллельно друг другу. [c.170]

Ф и г. 3.5. Картины полос для круглого диска, сжатого сосредоточенными силами вдоль диаметра, при темном (вверху) и светлом (внизу) поле полярископа. [c.71]

Фиг. 10.9. Картины полос осевых срезов трех исследованных моделей при темном (слева) и светлом (справа) поле полярископа.

Фиг. 11.11. Картина полос около вершины выреза модели заряда при —32° С в темном (слева) и светлом (справа) полях полярископа.

Фиг. 11.14, Картины полос и граничные условия при стесненной усадке модели из полиуретанового каучука, скрепленной с кольцом по наружному контуру. а — картина полос при темном (слева) и светлом (справа) поле полярископа б — схема, поясняющая граничные условия.

Интенсивность выходящего из полярископа света зависит от ориентации оси пропускания анализатора А. Если направление оси анализатора параллельно оси поляризатора, то свет проходит, и поле полярископа является светлым (плоский параллельный полярископ). При скрещенных осях поляризатора и анализатора свет не проходит и поле полярископа является темным (плоский скрещенный полярископ). [c.531]

При просвечиванни модели в круговом полярископе с темным и светлым полем получаются два семейства полос. При томном поле возникают полосы целого порядка, а при светлом поле полосы половинного порядка, располагающиеся между полосами пер- [c.70]

Порядок полос (изохром) в точке определяют двумя основными методами. При первом из них фотографируют картину полос, вычерчивают график изменения порядка полос вдоль некоторой линии, а порядок полос в рассматриваемой точке определяют с помощью этого графика путем интерполяции или экстраполяции. Этот способ особенно удобен при достаточном числе полос. Другой метод состоит в непосредственном оптическом измерении порядка полос в данной точке. В круговом полярископе можно определить точки, в которых относительное запаздывание равно целому числу, полуволн порядок полос равен О, 1, 2, 3. . ., если полярископ настроен на темное поле, и V2, IV2, 2 /г. . ., если полярископ настроен на светлое поле. В произвольной точке модели, где дробная часть порядка полос отличается от Va, можно, добавляя или Бычитая дополнительную разность хода, сделать общий порядок [c.98]

Фиг. 7.1. Зафиксированная картина полос интерференции вращающегося диска из марблет-та, полученная по методу ползучести при светлом поле полярископа.

Готовые срезы рассматривали в полярископе с диффузором и фотографировали при светлом и темном поле. При небольших порядках полос измерения выполняли по методу Тарди. [c.295]

К интерференции линейно ноляризованных волн, вышедших из пластинок с некоторой разностью фаз. С этой целью за пластинкой Савара устанавливается анализатор. В поле зрения наблюдается интерференционная картина в виде почти прямолинейных светлых и темных полос, которые являются продолжением ветвей гипербол коноскоппческо картины одноосного кристалла. Максимальная контрастность полос достигается, когда анализатор установлен так, что его плоскость пропускания делит пополам угол между главными сечениями пластинок Савара. В этом положепии анализатор н естко скрепляется с пластинкой Савара, образуя собой очень чувствительный полярископ. Дело в том, что контрастность наблюдаемой в полярископ Савара интерференционной картины зависит также и от степени ноляризации [c.508]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...