Световые волны разность хода

Границе пленки вновь происходит частичное отражение волн (рис. 262). Световые волны, отраженные двумя поверхностями тонкой пленки, распространяются в одном направлении, но проходят разные пути. При разности хода Л/, кратной целому числу длин волн [c.267]

X — длина волны падающего света) наблюдается интерференционный максимум света. Линза не вносит разности хода. Как следует из уравнения (78.4), условие интерференционного максимума для каждой длины световой волны выполняется при своем значении угла дифракции ф. В результате при прохождении через дифракционную решетку пучок белого света разлагается в спектр. [c.268]

Мы уже неоднократно отмечали, что во всех практических интерференционных схемах большое значение имеют размеры источника света. Если размеры источника значительно меньше длины световой волны, то, конечно, всегда получается резкая интерференционная картина, ибо разность хода от любой точки источника до какой-нибудь точки М интерференционного поля всегда будет одна и та же. Однако на практике мы обычно имеем источники, раз.меры которых значительно превосходят длину световой волны. Согласно изложенному выше, интерферируют между [c.80]

Порядок интерференции т связан с разностью хода интерферирующих световых пучков и длиной волны к соотношением [c.92]

Как было выяснено раньше, когерентными являются световые волны, излучаемые одной точкой источника света. Волны, излучаемые соседними его точками, уже не будут когерентными. Поэтому начнем с расчета интерференции световых пучков, излучаемых одной точкой протяженного источника света. Вычислим в соответствии с установленной на опыте локализацией интерференционной картины разность хода Д когерентных световых пучков / и 2 в точке А на поверхности клина (см. рис. 6.4). Линза, проектирующая интерференционную картину на экран, этой разности хода уже не изменит, и для световых пучков, сводимых воедино линзой в точке экрана А, она будет та же, что и в точке А. В ходе расчета, помимо непосредственной геометрической разности хода интерферирующих воли, надо учесть скачок фазы на л, испытываемый волной. [c.122]

Для перехода от т-то максимума для длины волны к соответствующему минимуму необходимо изменить направление падающего света так, чтобы разность хода изменилась на Хз/М, где N — число интерферирующих световых пучков (штрихов решетки) [c.214]

Легко видеть, что большая разрешающая способность хорошей дифракционной решетки достигается за счет огромных значений N (общего числа штрихов решетки) при незначительном т (2 или 3), тогда как в интерференционных спектроскопах N невелико (не более 20—30), но ш очень велико (десятки тысяч). Произведение тЫ есть число длин волн, представляющее разность хода между крайними световыми пучками, выходящими из прибора. Оно-то и определяет разрешающую способность любого прибора. [c.216]

Таким образом, (к — к) Ьп есть разность хода между волнами и возникающая вследствие дисперсии в толще призмы на длине (/1 — к)- Обозначив ширину светового пучка А В = А В , через Л, найдем [c.368]

Бесконтактное оптическое наблюдение за колебаниями поверхности контролируемого твердого тела осуществляют с помощью интерферометра [39]. Луч лазера 1 (рис. 1.39) расщепляется полупрозрачным зеркалом 2 на два луча они отражаются от неподвижного зеркала 3 и изделия 4, поверхность которого колеблется под действием ультразвуковой волны. Лучи принимаются фотоумножителем 5. Разность хода лучей в плечах интерферометра равна нечетному числу четвертей световых волн. Длина волны выбирается довольно большой (6,328-10 м от гелий-неонового лазера). Косинусоидальный закон изменения интенсивности интерферирующих лучей при колебаниях поверхности изделия аппроксимируется линейной зависимостью при амплитуде до 3-10" м. [c.68]

Д — линейная разность хода световых волн с колебаниями и So, получаемых при прохождении модели в рассматриваемой точке. [c.578]

НЬЮТОНА КОЛЬЦА — интерференц. полосы равной толщины в форме колец, расположенных концентрически вокруг точки касания двух сферич. поверхностей либо плоскости и сферы. Впервые описаны в 1675 И. Ньютоном. Интерференция света происходит в тонком зазоре (обычно воздушном), разделяющем соприкасающиеся поверхности этот зазор играет роль тонкой плёнки (см. Оптика тонких слоёв). Н. к. наблюдаются и в проходящем, и — более отчётливо — в отражённом свете. При освещении монохроматич. светом длины волны A. Н. к. представляют собой чередующиеся тёмные и светлые полосы (рис. 1). Светлые возникают в местах, где разность фаз между прямым и дважды отражённым лучом (в проходящем свете) или между лучами, отражёнными от обеих соприкасающихся поверхностей (в отражённом свете), равна 2ия (л = 1, 2, 3,. ..) (т. е. разность хода равна чётному числу полуволн). Тёмные кольца образуются там, где разность фаз равна (2л + 1)л. Разность фаз лучей определяется толщиной зазора 8т с учётом изменения фазы световой волны при отражении (см. Отражение света). Так, при отражении от границы воздух — стекло фаза меняется на я, а при отражении от границы стекло — воздух фаза остаётся неизменной. Поэтому в случае двух стеклянных поверхностей (рис. 2), с учётом различий в условиях отражения от ниж. и верх, поверхностей зазора (потеря по- [c.370]

Интерференционный метод. Этот метод основан на зависимости между показателем преломления и плотностью среды. Определение поля плотностей в данном случае сводится к измерению разности хода световых лучей, так как чем больше коэффициент преломления среды, тем медленнее распространяется в ней свет. В интерферометре коэффициент преломления измеряют, сравнивая время подхода к экрану определенной фазы световой волны с временем подхода соответствующей фазы другой световой волны, не проходящей через изучаемое поле потока [63, 64, 66, 74]. Неравномерное распределение плотности в исследуемой неоднородности вызывает смещение интерферометрических полос, по величине которого можно определить характеристики изучаемого процесса. [c.276]

Как видно, интерферировать могут только световые волны одной и той же длины и только в том случае, если разность фаз (ф1 —фг) остается постоянной во времени. Такие волны называются когерентными источники, их испускающие, также называются когерентными. Обычные источники как белого, так и монохроматического света не когерентны. Когерентные же источники в оптике получают искусственным путем. Когерентными источниками в оптике оказываются не сами источники света, а оптические изображения одного и того же источника, вернее — одной и той же весьма малой площадки светящегося тела источника. Световая волна от одного и того же источника разделяется оптическими приспособлениями на несколько частей, которые направляются затем по разным геометрическим путям. Эта, искусственно введенная, раз-пость хода обусловит существование постоянной разности фаз колебаний, т. е. приведет к возникновению когерентных световых волн. Полученные когерентные волны затем снова направляются по одному и тому же пути, и они, налагаясь друг на друга, создают интерференционную картину. Приборы, служащие для создания когерентных волн, а затем получения интерференции света, называются интерферометрами. [c.21]

В 1953 г. состоялась первая сессия Консультативного комитета по определению метра. Ее рассмотрению были предложены результаты исследований излучений Кг и d в сравнении с длиной волны красной линии естественного d, а также результаты попыток определить воспроизводимость этих длин волн в зависимости от разности хода в интерферометрах. Требования к первичной длине световой волны еще не были четко сформулированы. Достаточно было простоты линии и воспроизводимости длины ее волны с точностью не ниже 2—5- 10 , т. е. с точностью определения длины волны красной линии естественного d. Призванная рассмотреть задачу перехода на новое определение метра с научной точки зрения сессия Консультативного комитета прежде всего поставила вопрос о своевременности этого перехода, а затем уже о формулировании требований к точности воспроизведения нового эталона. В рекомендациях сессии было записано Время пришло положительно рассмотреть новое определение метра, основанное на длине световой волны, с целью одновременно придать эталону единицы длины более высокую точность воспроизведения, универсальность и неизменность , и далее Когда придет время, метр следует определить длиной волны светового излучения, распространяющегося в вакууме при относительном состоянии покоя как наблюдателя, так и излучателя. Это излучение должно быть определено двумя спектральными термами атома, спектр которого не имеет сверхтонкой структуры и термы не подвергаются никаким внешним возмущающим воздействиям . Таким образом, первая сессия Консультативного комитета фактически только сформулировала для метрологов задачи исследования спектральных линий, длина волны которых могла бы быть выбрана в качестве эталонной. Представленные на сессию комитета результаты работ по исследованию излучений изотопов Hg, d и Кг оказались недостаточными. [c.45]

Метод интерференции световых волн, как уже упоминалось, позволяет осуществить эту передачу. Пользуясь методом совпадения дробных частей порядков интерференции, если известно точно значение длин волн и приближенно разность хода, можно уточнить значение порядка интерференции, получить точно размер эталона Фабри и Перо, концевой или штриховой меры и, таким образом, передать значение естественного эталона искусственным и, далее — до изделий заводов и фабрик. [c.73]

РИС. 9.2. Отражение от двух эквивалентных плоскостей в звуковом пучке (т. е. плоскостей, расстояние между которыми равно длине волны звука Л), при котором происходит сложение фаз вдоль направления в, если оптическая разность хода АО + ОВ равна одной длине световой волны. [c.357]

Рассматривая последовательно таким способом все точки вдоль оси X, перпендикулярной биссектрисе угла 0, найдем распределение интенсивности в картине интерференции источников Si и S2 (см. график в нижней части рисунка). Основным параметром картины интерференции является ее период Л, т. е. расстояние между смежными максимумами интенсивности. Для того чтобы найти эту величину, достаточно приравнять в формуле (1) разность хода б к длине световой волны I. Подставляя в формулу (1) б = А, и обозначая величину пространственного периода Л, т. е. принимая аа = Л, найдем, что в случае интерференции двух плоских волн пространственный период интерференционной картины Л определяется следующим выражением [c.26]

Следовательно, используя точечный источник, при разности хода, лежащей в пределах дли11ы когерентности, можно наблюдать интерференцию. Другими словами, для световых волн, [c.193]

Проведем плоскость FD, перпендикулярную к направлению нормалей дифрагировавших волн. Распределение фаз, которое будет иметь место на этой плоскости, определяет соотношение фаз элементарных волн, собирающихся в точке Вф, ибо линза не вносит дополнительной разности фаз (таутохронизм, см. 20). Таким образом, достаточно определить разность хода, возникающую на пути от плоскости FE до плоскости FD. Из рис. 9.2 видно, что разность хода между волнами, идущими от элементарной зоны при точке F (край щели) и от какой-либо точки N (лежащей на расстоянии X от края щели), есть NP = хsin ф. Световое возмущение в точке Р плоскости FD запишется следующим образом [c.176]

Но произведение Мё. есть общая ширина решетки. Следовательно, максимальная разрешающая способность решетки определяется ее общей шириной или, точнее, максимальной разностью хода, выраженной в длинах волн, МсИХ, между световыми пучками, распространяющимися от первого и последнего штриха решетки. [c.215]

Для простоты рассуждений выберем в качестве объекта небольшое отверстие диафрагмы радиуса SjAi = ух, освещаемое слева параллельными пучками. На рис. 13.10 представлены два таких пучка, дающих изображения диафрагмы через две различные зоны оптической системы через центральную ее часть (пучок I, сплошные линии) и через периферийную область (пучок //, пунктир). Если пучки lall отображают АхВх с одинаковым увеличением, то изображение А2В2 будет резким следовательно, Л2 и В представляют собой точки, куда световые волны доходят через разные зоны системы в одной фазе. Точки Ах и Вх, равно как и Л2 и В , лежат соответственно на поверхности волны, распространяющейся по направлению /, т. е. колебания в них находятся в одной фазе. Путь волны 11 от Вх к В имеет по сравнению с путем от Ах к Л2 оптическую разность хода, равную [c.311]

Есть все основания полагать, что свет, испускаемый каким-либо атомом, сохраняет характер поляризации неизменным на протяжении времени, довольно длительного по сравнению с периодом колебания. Действительно, интерференция световых пучков (даже излучаемых не лазерами) может происходить при очень большой разности хода (до миллиона длг н волн), когда, следовательно, интерферируют между собой волны, кспущенные в начале и в конце временного интервала, охватывающего миллион колебаний. Возможность возникновения при этом интерференции доказывает, что состояние поляризации сохраняется на протяжении большого числа колебаний. Таким образом, излучение отдельных атомов может при благоприятных обстоятельствах (разреженный газ) сохранить неизменной не только начальную фазу, но и ориентацию колебаний в течение довольно длительного времени ( 10 с). [c.380]

Указание. Освещение когерентно, если разяичие в разности фаз световых волн, распространяющихся из разных точек источника и освещающих элементы структуры, мало по сравнению с 2.т1, Освещение структуры различными участками протяженншо источника можно рассматривать как освещение системой плоских волн ), падающих иа структуру по розным направлениям в зависимости от того, от какой точки источника они исходят. Все разнообразие направлений определяется угловыми размерами источника ф. Каждая плоская Еолна создает в пределах элемента структуры колебания, различающиеся по фазе на 2лi (p A, где ф,- — у ол, определяющий направление соответствующей плоской волны. Различия в разности хода, обусловленные размерами источника, составляют 1ф,-= ф,-= ф, а различие в разности фаз есть (2лД)с1ф. [c.889]

Характер Д. о. в. зависит от свойств п строения вещества и от того физ, процесса, к-рый создаёт вращение. Классич. электронная теория, моделирующая молекулу двумя связанными между собой, близко расположенными осцилляторами, объясняет воаникновенле оптич. активности наличием разности фаз световой волны в местах нахождения осцилляторов. Эта модель качественно неплохо описывает и ход вращат. дисперсии. Точный расчет хода Д. о. в. требует применения методов квантовой электродинамики с учётом мультипольных моментов переходов и затруднён вследствие сильной чувствительности явления к межмолекулярным взаимодействиям [1—4]. [c.648]

Нестационарная И. с. К пей относятся световые б и е н и я, наблюдающиеся при наложении световых нолей разл. частот. В этом случае возникает бегущая в пространстве и. к., так что в заданной точке пространства интенсивность света нернодическн меняется во времени с частотой, равной разности частот интерферирующих волн. Биения возникают в обычных (нелазерных) схемах И. с. при изменении во времени разности хода [c.167]

ОПТИКА ТОНКИХ СЛОЕВ — раздел физ. оптики, в к-ром изучается прохождение света через один или последовательно через несколько непоглощающих слоёв вещества, толщина к-рых соизмерима с длиной световой волны. Специфика О. т. с. заключается в том, что в ней определяющую роль играет интерференция света между частично отражаемыми на верхних и нижних аницах слоёв световыми волнами. В результате интерференции происходит усиление или ослабление проходящего или отражаемого света, причём аффект зависит от вносимой оптической толщиной слоёв разности хода лучей, длины волны (или набора длин волн) света, угла его падения и т. д. Тонкие слои могут быть образованы на массивной подложке из стекла, кварца или др. оптич, среды с помощью термич. испарения вещества и его осаждения на поверхность подложки, хим. осаждения, катодного распыления или хим. реакций материала подложки с выбранным веществом. Для получения таких слоёв используют разл. окислы AljOg (1,59), Si02(l,46), 423 [c.425]

ПОРЯДОК ИНТЕРФЕРЕНЦИИ — величина, равная разности хода интерферирующих лучей, выраженной в длингиг световых волн. Если иетерферирувэщие пучки отражаются от к.-л. поверхности и при этом проис- [c.87]

Две части светового луча, проходя через кюветы длиной I, заполненные веществами с различными п, приобретают разность хода и, сведённые вместе, дают интерференц. картину (схематически покдзава справа). Разность Дп = Па — пг = А /2, где — длина волны света, /е — число интерференц. порядков. Точность этих методов достигает 10- —10 . Их применяют, напр., при измерениях п газов в разбавленных растворов. Примерами Р., основанных на интерференц. методе, являются интерферометр Жамена, интерферометр Рэлея. [c.386]

Опыт показывает, что даже в том случае, если интерферируют волны, испускаемые одной и той же точкой изображения источника света, интерференционная картина будет видна только до определенной разности хода световых пучков. Это связано с тем, что в условие видимости максимума или минимума света в интерференционной картине входит длина волны. Поэтому, если на разделяющее устройство интерферометра падает белый свет, состоящий из большого числа длин волн, то интерференционная картина будет окрашена, так как максимумы и минимумы для разных длин волн приходятся на разные места волнового поля. С увеличением разности хода число интерференционных максимумов и минимумов растет. В каждой точке волнового поля оказываются максимумы и минимумы для нескольких длин волн. Происходит переналожение максимумов и минимумов для разных длин волн. В минимумах появляется свет, а максимумы сглаживаются, уменьшается конт- [c.21]

Дифракционная решетка характеризуется расстоянием между штрихами (а) или обратной величиной—числом штрихов на единицу длины (р). В результате интерференции лучей, отраженных поверхностями, расположенными между штрихами дифракционной решетки, максимальные значения будут наблюдаться в тех случаях, когда разность хода лучей равна целому числу волн. Чтобы понять значение этой разности фаз, рассмотрим две соответствующие точки А и А в соседних отражающих площадках решетки (рис. 7.1). Разность хода между световыми лучами, приходящими в точки А и А, такая же, как в отсутствие решетки, и равна Л В = асозф (В—основание перпендикуляра, опущенного из точки А на луч, падающий в точку А ). Разность пути светового луча, выходящего из А в направлении ip и выходящего из точки А в том же направлении, равна АВ = а os ф В — основание перпендикуляра, опущенного из А на луч, дифрагировавший из Л в направлении ф). Полная разность хода между лучами, приходящими в удаленную точку наблюдения после отра- [c.250]

Если смещение aai таково, что разность хода б становится равной половине длины световой волны, то очевидно, что колебания источников Si и также придут в точку сдвинутыми на половину длины волны, т. е. в противофазе. В этом случае горбы волны Wi совпадут со впадинами волны 11 2, волны взаимно погасятся. Интенсивность светового поля в этой точке будет равна нулю. Если смещение таково, что разность хода равна целой длине волны, то в эту точку волны снова придут в фазе и амплитуда колебаний в этой точке опять будет максимальной. [c.26]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...