Чистота спектра

Кроме соблюдения условий чистоты спектра следует принять меры против загрязнений спектра рассеянным светом, который всегда возникает в оптической системе спектрального прибора. В случае измерения спектров поглощения в ультрафиолетовой и видимой областях эти меры сводятся к применению сменных светофильтров, выделяющих те участки спектра, где проводятся измерения. В случае инфракрасных спектрометров основную долю рассеянного света составляет испускание с длиной волны 1—3 где лежит обычно максимум испускания источников. Избавиться от него применением абсорбционных светофильтров затруднительно. Поэтому в ГОИ недавно был разработан весьма эффективный способ применения матированных зеркал для устранения рассеянного света. Такие отражательные светофильтры (М-7, М-10, М-14) позволяют уменьшать рассеянный свет в некоторых случаях в 10—15 раз. Устанавливаются они на место плоских зеркал перед входной и за выходной щелями. Существуют, конечно, и другие, в частности, дисперсионные светофильтры для этой цели. [c.386]

Поляриметр Кудрявцева 517, 518 Поляриметры 508, 510—513, 514— 517, 520, 575 Полярископ Савара 511 Поляроиды 331, 496, 497 Понятие чистоты спектра 109 Поправка б для перехода oi воздуха к вакууму при градуировке шкалы длин волн 420 Порог контрастной чувствительности глаза 731 Пороги чувствительности глаза 287, 288 [c.815]

Теоретическая разрешающая способность г связана с чистотой спектра Р, которая соответствует понятию реальной разрешающей способности, выражением [c.385]

Чистота спектра 602. Чувствительность слуха. 242. [c.492]

Б точка белого цвета В Л/ — прямая одной доминирующей длины волны Л/ — точка с чистотой спектр ального цвет а 100% Ц — произвольная точка, с чистотой цвета изменяющейся от о до 100%. [c.39]

Люминесцентный анализ. Люминесценция широко используется для анализа состава и чистоты веществ, для обнаружения и распознавания различных примесей и загрязнений. Люминесцентный анализ основан на том, что каждое вещество имеет свой спектр люминесценции. Исследуемое вещество возбуждают и затем изучают спектральный состав его люминесцентного излучения. [c.201]

Интегральный метод вынужденных колебаний применяют для определения модуля упругости материала по резонансным частотам продольных, изгибных или крутильных колебаний образцов простой геометрической формы, вырезанных из изделия, т. е. при разрушающих испытаниях. Последнее время этот метод используют для неразрушающего контроля небольших изделий абразивных кругов, турбинных лопаток. Появление дефектов или изменение свойств материалов определяют по изменению спектра резонансных частот. Свойства, связанные с затуханием ультразвука (изменение структуры, появление мелких трещин), контролируют по изменению добротности колебательной системы. Интегральный метод свободных колебаний используют для проверки бандажей вагонных колес или стеклянной посуды по чистоте звука. [c.102]

Наиболее сильное воздействие на решетку оказывают тяжелые ядерные частицы. Кроме пар Френкеля они могут создавать сильно локализованные зоны смеш,ения или термические пики, в окрестности которых ускоряются процессы разупорядочения в расположении атомов и образуются значительно большие концентрации повреждений по сравнению с обычным представлением их возникновения за счет смеш,ения атомов. Тип, концентрации и распределение радиационных нарушений в кристаллах в значительной степени определяются видом и условиями облучения, энергетическим спектром излучения, чистотой и структурным состоянием металлов. [c.61]

Уже из первых исследований стало ясно, что между длинами волн Кг и имеется смещение, — следовательно, необходимо было добиться очень высокой чистоты изотопа криптона. И хотя содержание в естественной смеси очень большое, однако методом термодиффузии оказалось значительно легче получить высокий процент обогащения именно для крайнего изотопа Кг . Поэтому вместо предложенного на первой сессии излучения Кг в дальнейшем все исследования были выполнены с Кг . Из трех четных изотопов кадмия, излучение которых было исследовано, выбор пал на — тоже исходя из возможности получения более высокого коэффициента обогащения. Кроме излучений этих трех элементов, были также просмотрены излучения всех четно-четных элементов периодической системы. В частности, излучения РЬ , Хе з , Ne2°, Са , Th . Наилучшими по простоте возбуждения спектров в источниках, количеству и расположению линий в видимой области спектра и по ширине линий были признаны излучения изотопов d, Кг и Hg. [c.46]

Инфракрасные спектры позволяют помимо этого обнаруживать в углеводородах загрязнения и примеси. Так, рис. 99 показывает данные, полученные для нормального гексана максимальной чистоты и для другого гексана, подлежащего исследованию (раз- [c.149]

Определение полного спектра частот упругих колебаний, особенно в случае ранее не исследованного материала, является, наряду с анализом осциллограмм, действенным методом проверки чистоты эксперимента, позволяющим оценить отсутствие паразитных колебаний, так как приведенные выше соотношения справедливы лишь для чистых типов колебаний. [c.268]

Чистота непрерывного спектра [c.68]

Таким образом, существу-- ет определенная зависимость между освещенностью непрерывного спектра п его чистотой . [c.70]

Сравнение лазеров на твердом теле с газовыми показывает, что последние обладаня значительно большей монохроматичностью, большей чистотой спектра, направленностью излучения, охватывают более значительный диапазон длин волн и дают возможность работать в непрерывном режиме, сохраняя длительное время стабильность частоты. Все эти качества делают газовые ОКГ чрезвычайно удобными и перспективными системами, используемыми в качестве источников света в интерферометрии. [c.85]

Впоследствии Тауси и др. [101] описали монохроматор нормального падения, в котором решетка автоматически перемещалась, скользя по роуландовскому кругу. В работе [102] стремление упростить кинематику монохроматора заставило авторов отказаться от точного выполнения условий наилучшей фокусировки. Одним из решений было применение установки Игля, в которой решетка вращалась вокруг оси, расположенной вблизи ее центра, а входная и выходная щели оставались неподвижными. При вращении решетки происходит некоторое изменение чистоты спектра, но для многих целей разрешающая способность остается достаточной. Было показано, что решетка [c.156]

Для непрерывных спектров вводят понятие чистоты спектра , которое аналогично понятию практической разрешающей способ-Р 0стн оно определяет интервал длин волн света, создающего изображение щели. Связь теоретической разрешающей снособности ) с практической Р или чистотой снектра дается выражением P= ) ЗI, [c.109]

Чистота спектра указывает на степень загрязиенпостп данного участка непрерывного спектра соседними, близлежащими участками спектра. Поэтому степень монохроматичности непрерывного излучения, даваемого монохроматором прн конечной шпрнне входной щели нельзя увеличить путем уменьшения тпи-рнны его выходной щели. [c.110]

Можно поставить пебольшую призму в параллельном пучке телескопической системы (рис. 4.17, б), а после нее обтектив камеры, который построит изображение спектров звезд по всему полю. Такая система называется бесщелееым спектрографом. Так как телескопическая система обладает увеличением (см. рис. 1.4 и 4.10), то углы падения па призму в этом случае значительно больше, чем при использовании объективной призмы. Для объектов, удаленных от оптической оси, призма оказывается установленной пе под углом наименьшего отклонения, что портит чистоту спектра. Поэтому полезное поле бесщелевого спектрографа значительно меньше, чем у камеры с объективной призмой, но зато его можно использовать с большими телескопами и исследовать спектр самых слабых объектов. [c.116]

В технологических применениях все большее значение приобретают компактные и сравнительно дешевые лазеры на YAG Nd с длиной волны 1,06 мкм. Использование ближней ИК области спектра обеспечивает более эффективную доставку энергии к обрабатываемой поверхности, чем в случаях примения СОг-лозеров. Кроме того, что на меньшей длине волны возможна более тонкая фокусировка излучения, важное значение имеет и тот факт, что на длине волны 1,06 мкм ка < (хравило легче забежать экранировки обрабатываемой поверхности плазмой оптического пробоя [I]. Это обеспечивается как более высокими чем для длины волны 10,6 мкм, порогами оптического пробоя, так и тем, что плАзменная чистота при полной однократной ионизации воздуха атмосферного давления недостаточна для того, чтобы плазма становилась полностью непрозрачной для излучения в видимом и ближнем ИК диапазоне. [c.154]

Группа 16. а) Медь. Результаты отдельных экспериментов для меди неплохо согласуются друг с другом. Результаты, полученные Эстерманом и др. [60], несколько превышают средние значения это объясняется скорее всего недостаточной чистотой их образца и сравнительно большим разбросом данных. Результаты Кеезома и Кока [85, 86] лежат примерно на 5% выше результатов Корака [75], хотя разброс данных первых авторов имеет тот же порядок величины. Экспериментальные результаты по определению зависимости в(Т ) приведены на фиг. 5 как легко видеть, они очень хорошо согласуются с теоретическими кривыми, построенными Лейтоном на основании вычислений колебательного спектра. [c.338]

Одновременно с этим проверяется и ее чистота. Загрязнения проявляют себя в виде четких темных горизонтальных полос, пересекающих весь спектр. Даже пылинки, прилипшие к кромкам ножей щели и имеющие размеры в несколько микрон, могут заметна испортить изображение линий. Чистят щель хорошо заостренной, спичкой, острый конец которой вводится в пространство между ее ножами и осторожно проводится вдоль них. Перед тем как вынуть спичку, щель нужно снова раздвинуть. Следует помнить, что спектральная щель — весьма точный механизм и при неосторожном обращении острые полированные кромки ножей легко могут быть повреждены. Щель защищается от пыли защитным стеклом, роль которого иногда играет антивиньетирующая конденсорная линза.. Специальная крышка (без необходимости не снимать ) защищает эту линзу и щель от пыли и механических повреждений. [c.26]

Большинство технических твердых материалов непрозрачно для инфракрасного излучения это означает, что поглощение и излучение происходят на поверхности и определяются ее температурой и состоянием, т. е. шероховатостью, чистотой и т. п. Твердые 4ела имеют обычно непрерывный спектр. [c.62]

П. с. применялся при изучении бета-распада ядер (оценки массы антинейтрино), исследовании тонкой структуры -спектра, изомерных состояний ядер (см. Изомерия ядерная), при обнаружении захвата ядром -электрона (см. Электронный захват), исследовании слабых конверсионных пиков (см. Конверсия внутренняя) и в др. случаях. Он используется также в астро-фиаике, археологии, геологии, медицине и т. д. Нек-рое вром. применение основано на зависимости лавинного разряда от напряжённости поля у анода и чистоты на- [c.149]

СПЕКТРАЛЬНЫЙ анализ — совокупность методов определения элементного и молекулярного состава и строения веществ по их спектрам. С помощью С, а. Определяют как осн. компоненты, составляющие 50— 60% вещества анализируемых объектов, так и незна-чит. примеси в них (до 10 —10 % и менее).С. а. — наиб, распространённый аналитич. метод, св. 20— 30% всех анализов выполняется с помощью этого метода, в т. ч. контроль состава сплавов в металлургии, автоыоб. и авиац. пром-сти, технологии переработки руд, анализ экология, объектов и материалов высокой чистоты, хим., биол. и мед, исследования. Особо важное значение С. а. имеет при поисках полезных ископаемых. [c.617]

На рис. 2 приведены фототермоионизац. спектры чистых образцов Ge и Si. Линии в спектрах относятся к техноло-гически неконтролируемым остаточным кол-вам примесей и примесных комплексов, В образце Ge (рис. 2, а) суммарная концентрация акцепторов jVa = 6-10 см , доноров Л д = 9 10 см -, темп-ра образца Г=6,5 К, разрешение 0,03 см . В образце Si (рис. 2,6) Л л=10 м 10 см , Т= 1 К, разрешение 0,25 см . Кроме анализа чистоты Ge и Si Ф. с, используется также для исследования локализованных состояний и анализа примесей в арсениде галлия, фосфиде индия, теллуриде кадмия, ПП алмазе и др. Чистые полупроводники AjB, содержат больше остаточных примесей, чем Ge и Si. Для устранения эффектов, связанных с перекрытием состояний близко расположенных атомов примеси, приводящих к сильному уширению и даже исчезновению линий в спектрах, исследуемые образцы помещают в маги, гголе, к-рое сжимает основное и возбуждённое состояния, увеличивает энергии связи электронов и снимает перекрытие состояний. [c.362]

Во второй главе описывеются применявшиеся нами способы очистки исходных материалов от посторонних примесей и методы контроля степени чистоты выращенных монокристаллов. В этой же главе рассматривается зависимость между световой суммой ультрафиолетовой люминесценции неактивированных фотохимически окрашенных кристаллов щелочно-галоидных соединений и концентрацией центров окраски, а также связь между спектрами поглощения центров окраски и спектральным распределением стимулирующего действия видимого света на ультрафиолетовое свечение. [c.6]

Таким образом, интервал длпн волн, попадающий в каждую точку непрерывного спектра и определяющий его чистоту , равен спектральной ширине щелевой аппаратной функции 6А п зависит от Уц /5. с1г. ( ). и Г. Следует отметить, что такое рассуждение можно провести для любой точки непрерывного спектра. [c.69]

Существенно в наших выводах то обстоятельство, что спектральная ширина аппаратной функцпп 6>., определяющая чистоту непрерывного спектра, входит п в выражения (1.76) для освещенности непрерывного спектра и это не случайно. В самом деле, величина Топ (А) ЛОо sin е. входящая в выражепие для равна освещенности монохроматической. линии (см. (1.( 2)). а 6/. [c.69]

Смотреть страницы где упоминается термин Чистота спектра : [c.152] [c.40] [c.110] [c.110] [c.110] [c.385] [c.386] [c.390] [c.376] [c.307] [c.176] [c.515] [c.53] [c.426] [c.145] [c.17] [c.77] [c.65] [c.542] [c.473] [c.70] [c.70]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...