Аппаратная функция щелевая

Аппаратная функция щелевого спектрального прибора. Пусть сигнал на входе спектрального прибора представлен функцией [c.345]

Аппаратурные искажения при щелевой аппаратной функции [c.101]

Рис. 1.53. К выводу уравнения свертки при щелевой аппаратной функции.

Классические спектральнее приборы, для выделения узких линий в которых применяются щелевые диафрагмы, имеют общий недостаток при увеличении разрешающей способности (сужении щелей) уменьшается регистрируемый световой поток. Такая зависимость характерна для схем щелевых приборов, в которых ширина аппаратной функции связана с величиной выходящего из спектрометра потока. В [ряде же случаев требуется высокое разрешение при регистрации очень слабых спектральных линий. [c.421]

В растровых спектрометрах вместо входной и выходной щелей устанавливают растры. Их подбирают так, чтобы аппаратная функция спектрометра была не шире, чем со щелевыми диафрагмами. При этом светосила такого прибора, как правило, на два порядка выше классического. Необходимо иметь в виду, что преимущество этих приборов значительно в той спектральной об- [c.422]

Р (у) = 1/2. Тогда А (у) = 1/2 + ( (у), т. е. аппаратная функция имеет таковой вид для классического прибора, плюс постоянная засветка. Разрешающая способность определяется характером растра и может быть достаточно высокой при значительно большей величине регистрируемого потока, чем в щелевом монохроматоре с тем же разрешением. [c.434]

Нормировка функции h(x) дает аппаратную функцию f(x ) (в математике она называется функцией Грина, а в оптике щелевой функцией) [c.61]

Рассмотрим практически важный случай систематических искажений спектральных линий при работе с широкой щелью, ширина которой миого больше нормальной ширины (5 > о)- т. е. случаи чпсто щелевой аппаратной функции. Щелевая аппаратная функция. как уже отмечалось, имеет форму прямоугольника (см. рис. 1.24.а) с шириной основания 5о и описывается уравнениями (1.48). Входящий во второе из них коэффициент А находится пз ус.ловия нормировкп (1.103) [c.101]

Выраженпе для щелевой аппаратной функции имеет вид [c.46]

Для щелевой анпаратной функции согласно принятому критерию разрешения сП = as = имеем Л/ = О и АШ ах = О, т. е. провал в центре отсутствует (рис. 1.24, о). Но при (11, лишь незначительно превышающел А1, 4 и А///тах — 100% (рис. 1.24, ь), т. е. аппаратные функции но перекрываются. [c.46]

Отметим, что прп ширинах щелей, близких к нормальной ( 1 %о), аппаратная функция имеет форму, промежуточную между дифракционной и щелевой, п ее трудно аппрокспмпровать простым аналитическим выражением. [c.47]

Так, например, если аппаратная функция чисто щелевая, то а = 2= % (/о А) Г и увеличение линейной дисперсии = /з dq/d k за счет увеличения ие приводит к росту так как и dl dX и 8.2 пропорциопальны В то же время увеличение dl/dX за счет увеличенпя угловой дпсперсии dц/dk ведет к росту, у/, так как 2 не зависит от с/ф/с/л. Если же аппаратная функция определяется в основном фотоэмульсией, то а не зависит от параметров спектрального прибора п увеличение dl/dX как за счет увеличения /2, так п за счет d(f/dX приводит в некоторых пределах к росту практической разрешающей способности. Ио, естественно, она во всех случаях не лгожет быть сделана больше теоретической разрешающей способности данного спектрального прибора. [c.49]

Распределение освещенности в спектральной линпи зависит от формы аппаратной функции. Рассмотрим сначала случай широкой входной щели (sj s ) п безаберрацпоиной фокусирующей оптики, т. е. случай чисто щелевой аппаратной функции (1.48) с шириной = S. Будем также считать, что яркость постоянна по ширине п высоте входной щелп. Поскольку в нашем случае (см. рпс. 1.29) на щель отображается источник при условии иолного заполнения коллиматора, то это соответствует некогерентному освещению щели. [c.55]

Мы рассмотрели случай широких щелей ( 1 ), безаберра-ционпой фокусирующей оптики и пренебрегали дифракцией, т. е. имели дело с чисто щелевой аппаратной функцией. При ширинах щелей, близких к нормальной ( > ю), а также прп наличии аберраций аппаратная функция от.шчается от чисто щелевой, а ее полная ширина бо.тьше геометрической ширины 8.2, определяемой (1.3). [c.58]

Естественно, что прп широких щелях, когда в (1.65) 32 )3> 6X2, аппаратная функция становится близкой к чпсто щелевой с шириной = 6 2, которая линейно связана с %. [c.62]

Для определенности примем, что ширина ш ели больше нормальной т. е. что аппаратная функция чисто щелевая и имеет шнрпну 5. Тогда полная длина, занимаемая участком спектра Аа в фокальной плоскости, равна (см. рис. 1.33) [c.65]

Таким образом, интервал длпн волн, попадающий в каждую точку непрерывного спектра и определяющий его чистоту , равен спектральной ширине щелевой аппаратной функции 6А п зависит от Уц /5. с1г. ( ). и Г. Следует отметить, что такое рассуждение можно провести для любой точки непрерывного спектра. [c.69]

И. наконец, в (1.S0) вместо спектральной ширины щелевой аппаратной функции бл введем определяемую ею практическою разрешающун) способность = л б/,. Тогда окончательно имеем [c.73]

Такпм образом, уравнение щелевой аппаратной функции можно представить в виде [c.101]

Выражение для освещенности в хмаксимуме наблюдаемого контура при чисто щелевой аппаратной функции легко найти, положив в уравнении свертки (1.108) х = 0. Получим [c.344]

Ленинградско1М институте точной механики и оптики. Входной растр представлял собой пластинку размером 16X16 мм. Вся-поверхность была разбита на 34 строки, каждая из которых состояла из 535 элементов. Вероятность того, что данный элемент прозрачен, была принята равной 1/2, таким образом, эффективная площадь отверстий составляла 8X16 мм. Четные строки растра представляли собой негативное изображение-предыдущей строки. Распределение прозрачных участков в нечетных строках было статистически независимым как по отношению к соседним элементам, так и по отношению к другим, строкам. Выходной растр получался путем фотографирования действительного изображения входного растра на выходе спектрометра при освещении линией HgI 546 нм. Модуляция светового потока осуществлялась путем периодического смещения выходного растра в направлении, перпендикулярном дисперсии прибора, на расстояние, равное ширине одной строки. В-этом случае изображение растра, при условии точной настройки прибора на выбранную длину волны, совмещается со своим негативом, и световой поток полностью перекрывается. Спектрометр имел дифракционную решетку 600 штр/мм и раоотая в. области от 0,54 до 2,5 мкм (два диапазона 0,54- 1,25 мкм и 1,09ч-2,5 мкм). Получена реальная разрешающая сила б-Ю (ширина аппаратной функции 0,011 нм для v=546 нм). Конструкция прибора обеспечивала постоянство разрешающей силы-при сканировании спектра. По сравнению с обычным щелевым спектрометром, построенным по той же схеме, выигрыш в светосиле составил приблизительно 270. раз. [c.57]

Прп наличии нещелевых уширяющих факторов результирующая аппаратная фуп- Рпс. 1.30. Приближен-кция имеет вид. изображенный схематически ная форма не чисто на рпс. 1.3и. Поскольку при такой аппарат- щелевой ппаратной ной функции освещенность в различных точ- Ф>пкцпп. [c.59]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...