Дебаеграмма

Происхождение и характер дебаеграммы легко понять, если описание рентгеновской интерференции проводить с помощью обратной решетки и сферы Эвальда. Поликристаллы представляют собой скопления беспорядочно ориентированных мелких кристалликов. Поэтому в обратном пространстве поликристалл можно представить в виде набора концентрических сфер, радиусы которых равны обратным значениям межплоскостных расстояний [c.53]

Найти способ различения на дебаеграммах кристаллов с ОЦК и ПК решетками. [c.187]

Рассмотрим несколько подробнее рентгенографический метод анализа текстур. Прежде всего с помощью этого метода легко устанавливается наличие или отсутствие текстуры. При отсутствии текстуры линии (или кольца) на дебаеграмме (рентгенограмме, снятой на фотопленку) зачернены равномерно (рис. 160,а). При наличии текстуры равномерность почернения линий исчезает. На линиях выявляются отдельные интерференционные максимумы почернения, расположенные вдоль этих [c.265]

Рис. 160. Вид дебаеграммы при отсутствии (а) и наличии (й) текстуры

Все КЭП, подвергнутые термической обработке, обладают более мелкозернистой структурой, чем никель. Дебаеграммы их представляют сплошные линии, а у никеля даже без отжига — отдельные точки. Последнее характеризует сравнительно грубозернистую структуру. [c.117]

По результатам расчета дебаеграмм были вычислены параметры кристаллической решетки отожженного электролитического рения (решетка гексагональная, плотно упакованная) а = = 2,76 А с = 4,44 А с а = 1,61. [c.98]

В системе Си — Ni — Fe при высоких температурах структура (в определенном интервале концентраций) представляет собой однофазный раствор с г. ц. к. решеткой, а при низких — двухфазную смесь. Переход в равновесное состояние при старении в начальной стадии идет через образование модулированной структуры. Рентгенографически это выражается в появлении сателлитов на дебаеграммах. Длина волны модулированной структуры определенным образом связана с расстоянием между сателлитами. Электронная микрофотография модулированной структуры сплава 60% Си + 20% Ni + 20% Fe приведена на рис. 94. [c.219]

Как уже отмечалось, МДК, как правило, получаются точечными, как от монокристаллов. Однако иногда, например при хаотическом распределении большого числа мелких кристалликов в матричном кристалле, на МДК фиксируются сплошные или состоящие из отдельных рефлексов кольца от этих кристалликов расчет таких МДК аналогичен расчету рентгеновских дебаеграмм. Подобный расчет применяют также в том случае, когда несколько кристалликов одной и той же фазы дают на МДК лишь одно-два отражения, не образующих какого-либо сечения обратной решетки данной фазы. [c.54]

РКД Получение дебаеграмм Ка.мера светонепроницаемая. 35-мм пленка прижимается к внутренней цилиндрической поверхности камеры диаметром 57,3 мм. Регистрация углов 6 =4- 84°. Центровка образца производится с помощью магнитного держателя — диска [c.119]

В Институте физики высоких давлений АН СССР разработаны варианты камер для получения дебаеграмм в интервале давлений от О до 100 кбар при регулируемой температуре 25—500 °С и в интервале давлений 0—130 кбар при температурах от 25 до —160 С [51]. Применение низкотемпературных камер в ряде случаев облегчает фиксирование путем закалки фаз, полученных в условиях высоких давлений. [c.130]

Л4. На дебаеграмме некоторого кубического кристалла, снятой на излучении меди /Са( = 1,542 А), видны линии под углами Брэгга в 12,3 14,1 20,2 24,0 25,1 29,3 32,2 и 33,1°. [c.10]

Начавшийся при 1100° С процесс рекристаллизации во всех исследованных сплавах продолжает развиваться при дальнейшем повышении температуры, что иллюстрируется падением твердости, уменьшением ширины рентгеновской линии р (см. рис. 89), появлением все большего числа точечных рефлексов на дебаеграммах, а также изменением микроструктуры сплавов (см. рис. 90). [c.235]

В заключение этого параграфа отметим, что хотя характерной вторичной структурой кристаллизующихся полимеров является аксиальная текстура, в ряде случаев наблюдаются и рентгенограммы дебаевского тина, что свидетельствует о хаотическом расположении кристалликов в образце. Критерием кристалличности служит резкость имеющихся на рентгенограмме колец. Методы расшифровки и анализа дебаеграмм такие же, как и для обычных кристаллов. [c.252]

Рис. 72. Пример оценки дебаеграммы образца с г. ц. к. решеткой при помощи логарифмической линейки

Рис. 82. Съемка текстуры медной проволоки иа дебаеграмму в соответствии с приведенным примером с указанием индексов отражений

Определение природы силицидных фаз и последовательности их образования с помощью дебаеграмм, снятых непосредственно с поверхности образцов, показало, что на первой стадии процесса силицирования на всех трех металлах образуются низшие силициды и только со временем начинают появляться и расти высшие силицидные фазы (табл. 54). Время появления каждой очередной фазы зависит главным образом от температуры процесса и природы силицируемого металла. [c.229]

Проанализируем случай распределения интенсивности рассеяния рентгеновских лучей поликристаллическим образцом (распределение интенсивности на дебаеграмме /о ==/д (<7 >))- Рассмотрим сначала [c.252]

Здесь 1,1 зависит от (ЯзЬ), и для т = (я1Ь)/2л >1 (10 ч-а (/ ) 0,1 [47,49]. Распределение интенсивности линий, например на дебаеграмме, в этом случае определяется интегралом [c.254]

Интегральную ширину распределения интенсивности на дебаеграмме инт можно получить ДЛЯ случая, когда р (х) не мало [c.255]

Распределение интенсивности на дебаеграмме, когда выполняется критерий (8.116), определяется лоренцевской кривой [c.258]

Как видно из рис. 29 (кривая 1), увеличение времени помола вначале значительно ускоряет растворение порошка, затем рост замедляется. Аналогичный характер имеет зависимость ушире-ния интерференционного максимума линии (1014) дебаеграммы и микроискажений решетки II рода (кривая 2). Полное соответствие между этими двумя зависимостями указывает на механо-химическую природу ускорения растворения. Коэффициенты ускорения реакции и уширение линий дебаеграммы измеряли [c.94]

Жаропрочные сплавы на никелевой основе имеют крупнозернистую структуру. На дебаеграммах, снятых с недеформирован-ного образца без вращения, наблюдаются отдельные четкие рефлексы. Пластическая деформация вызывает резкое изменение характера интерфренционных линий. На рентгенограммах вместо четких рефлексов появляются размытые сплошные линии. За глубину наклепанного слоя принимается толщина слоя, после удаления которой на рентгенограммах вместо размытых сплошных линий наблюдаются четкие рефлексы линий (331 и 420), анало- [c.84]

Угол между образующей к.-л, конуса, напр. -го, и наиравлепием первичного пучка равен 2v,s угол О/ брэгговский угол) связан Брэгга—Вульфа условием с межплоскостпым расстоянием системы атомных плоскостей, дающих данное отражение. Определяя по дебаеграмме углы iJ , можно вычислить межплоскосгные [c.575]

Вид электронограмм при дифракции быстрых электронов зависит от характера исследуемых объектов. Электро-нограммы от плёнок, состоящих из кристалликов, обладающих взаимной ориентацией, или тонких монокристаллич. пластинок, образованы точкцми или нятнами (рефлексами) с правильным расположением, от текстур—дугами (рис. 1), от поликристаллич. образцов—равномерно зачернёнными окружностями (аналогично дебаеграммам). [c.584]

Анализ дебаеграмм (с крупнозернистых образцов) показал, что быстрое охлаждение фиксирует беспорядочное распределение дислокаций, максимальную концентрацию дефектов и напряженное состояние. Ориентировка, очевидно, меняется непрерывно по всему объему пачки пластин при этом угол разориен-тировки составляет в пределах одной пачки 1—2,5°. [c.344]

Для определения фазового состава титановых сплаво применяли съемки дебаеграм.м на дифрактометре УРС50ИМ или ДРОН-1 с помощью Си/( -излучения, мо-нохроматизированного путем отражения от кристалла пентаэритрита, помещенного перед счетчиком Гейгера либо перед образцом. Скорость движения счетчика составляла 1 градус или четверть градуса в минуту, а диаграммной ленты — 1600 и 600 мм/ч. Кроме того, для контроля снимали дебаеграммы в камере РКУ-И4. [c.209]

В настоящее время авторы углубленно изучают структуры материала в состоянии расслоения после турбулентного пластического течения. Рентгепоструктурный анализ показывает увеличение блочности структуры и искаженности решетки (уширение линий на дебаеграммах). Однако для полной аттестации структуры и состояния материала необходимы более прецизионные метоД Ы исследования радиоспектроскопия, оптические методы, съемка дифракционного кино с использованием синхронного излучения и др. [c.22]

Мерой для измерения повреждений решетки, появляющихся в результате включений посторонних веществ, кроме таких чувствительных к структуре свойств, как твердость, может также служить ширина рентгеновских интерференций при рентгенографических тонкоструктурных анализах. С возрастанием повреждений решетки линии в дебаеграмме расширяются, а при отсутствии повреждений решетки они сужаются. [c.96]

В работах [74, 75] рассмотрено рассеяние рентгеновских лучей сплавами замеш,ения, содержащими дислокации, в простейшем приближении цилиндрического кристалла с одной аксиальной дислокацией. Анализ кривой распределения интенсивности и оценку интегральной ширины линии на дебаеграмме для кристалла, содержащего краевые дислокации, провел Вассамилет [73]. Отмечено, что форма кривой распределения, а также интегральная ширина сильно зависят от граничных условий, которые задаются на поверхности цилиндра. Поэтому результаты, полученные в простом случае изолированной дислокации в цилиндрическом кристалле, не применимы к реальным кристаллам, содержащим большое количество дислокаций. [c.231]

В начале 50-х годов Уорреном и Авербахом [76—78] был предложен метод, в котором с помощью фурье-анализа физического уширения профиль линии на дебаеграмме (или на дифрактограмме в методе 0 — 20-сканирования) разделяют вклад в распределение интенсивности рассеяния рентгеновских лучей от конечных размеров кристаллов (или когерентно рассеивающих областей кристалла — блоков) и искажений (или микроискажений кристаллической решетки) этих блоков. Основным допущением в этом методе является использование мультипликативного приближения для коэффициентов Фурье при разложении в ряд по ксс 1иусам [c.231]

Рассмотрим простейший пример винтовых прямолинейных дислокаций в упругоизотропно.м ГЦК кристалле. Интегральную ширину ад на дифрактограмме, полученную методом 0— 20-сканирования или на дебаеграмме, в этом случае можно записать как [5, 49] [c.247]

Анализ распределения интенсивности в пространстве обратной решетки показывает, что при заметном (хотя и не очень большом) избытке дислокаций определенного знака это распределение может быть существенно анизотропным — гораздо более широким в некоторых направлениях плоскости, перпендикулярной дифракционному вектору, чем в направлении этого вектора [33]. Эффекты, связанные с избыточными дислокациями, не проявляются на дебаеграмме, но приводят к существенной анизотропии распределения интенсивности на рентгенограмме качания и лауэграмме. Исследование такой анизотропии дает метод раздельного определения суммарной плотности дислокаций и плотности избыточных дислокаций Ап . Величина Т (Н ,) в этом случае имеет вид [33] [c.263]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...