Полярископ

Как уже отмечалось, если в системе, изображенной на рис. 18.4, убрать поляризатор П] и направить па пластинку естественный свет, то интерференционной картины не будет. Если же на пластинку направить частично поляризованный свет, то через анализатор ГК будет наблюдаться интерференционная картина, хотя и не такая контрастная, как при падении линейно поляризованного света. Таким образом, сочетание кристаллической пластинки и анализатора представляет собой устройство, позволяющее при появлении интерференционной картины обнаруживать частичную поляризацию в падающем свете. Такие устройства называются полярископами. Чувствительность полярископа зависит в первую очередь от конструкции и ориентации кристаллической пластинки (вместо одной пластинки можно применять систему пластинок). Наиболее известен полярископ Савара, в котором используются две кварцевые пластинки равной толщины, вырезанные под углом 45° к оптической оси и сложенные так, чтобы их оси были в скрещенном положении (рис. 18.8). При достаточной яркости исследуемого света с помощью полярископа Савара можно обнаружить степень поляризации порядка 1—2 %. Очевидно, что полярископом можно только обнаружить поляризацию, а для ее количественного измерения необходимо специально проградуированное компенсирующее устройство (например, стопа стеклянных пластинок, по- [c.60]

Если поляризатор и анализатор вращаются так, что их оси остаются перпендикулярными, то полосы остаются постоянными, а изоклины двигаются. Когда это вращение производится достаточно быстро, изоклины становятся невидимыми. Круговой полярископ приводит к тому же эффекту, но чисто оптическими средствами. [c.168]

Напомним, что через Ь обозначено а/У 2 и что а—амплитуда на выходе из поляризатора. Здесь, разумеется, не учитывались потери света в приборе. Сравнивая этот результат с результатом (ж) для плоского полярископа, замечаем, что множитель sin 2а теперь отсутствует, и следовательно, на экране появятся изохромы, но изоклин не будет. [c.170]

Если разность Д равна нулю, то и амплитуда (с) также равна нулю. Следовательно, если модели нет или модель не нагружена, то экран будет темным. Таким образом, мы получаем темное поле. Если ось анализатора повернута на 90° по отношению к то мы получаем освещенное поле, где место бывших темных полос занимают светлые полосы. Тот же эффект можно вызвать в плоскости полярископа, если поместить оси поляризатора и анализатора не под прямым углом, а параллельно друг другу. [c.170]

Эту трудность можно преодолеть с помощью метода, основанного на наблюдениях, которые сделали Брюстер и Максвелл- ). Оказалось, что животные клеи, такие, как рыбий клей, если их высушить под нагрузкой, а потом разгрузить, сохраняют в полярископе остаточную интерференционную картину, как если бы они все еще оставались под нагрузкой и оставались упругими. [c.174]

Полиномы Лежандра 386 Полосы муаровые 177 Поляризатор 163 Поляризация круговая 168 Полярископ круговой 168 Посадка кольца на вал 427 Потенциал логарифмический 481 [c.574]

Рис. 27. Схема полярископа для контроля внутренних напряжений в прозрачных объектах

Внутреннее напряжение определяют с помощью полярископа, типовая схема которого показана на рис. 27. [c.110]

Для определения направлений главных напряжений пластинки выводят из полярископа. При этом возникает картина изоклин (геометрическое место точек, где направления главных напряжений совпадают с плоскостью поляризации прибора). Синхронно вращая поляризатор и анализатор, можно зафиксировать поле изоклин. [c.110]

Успехи в создании преобразователей изображения позволили распространить методы фотоупругого анализа на материалы, непрозрачные в видимом свете (полупроводники, германий и кремний, инфракрасные стекла и ряд других). Известны телевизионные инфракрасные полярископы, системы с лазерным сканированием (полярископы с оптико-механическим сканированием объекта). [c.111]

Полярископ. Изохромы. Сущность оптического метода исследования напряжений наглядно представляется при рассмотрении прибора, называемого полярископом. Схема полярископа изображена на рис. 85. Он состоит из двух поляроидов или призм Николя, называемых поляризатором (/) и анализатором (//) полярископа. [c.131]

Испытываемый нагруженный образец 3 — плоскую модель, изготовленную из листа оптически чувствительного материала толщиной в несколько миллиметров, устанавливают в полярископе между анализатором и поляризатором перпендикулярно к направлению луча. В ненагруженном состоянии образец почти не изменяет освещенности на экране, и если полярископ был установлен [c.132]

Если плоскость /—/ (рис. 86) колебания лучей, вышедших из поляризатора, параллельна какой-либо из главных площадок в данной точке образца (иными словами, если крест полярископа совпадает с крестом главных площадок), то разложения луча не происходит на экране в данном месте будет темная точка. Такие точки в непрерывном поле напряжений образуют темные линии, называемые изоклинами. Во всех точках одной изоклины направления главных площадок параллельны направлениям креста полярископа. [c.135]

Вращая нагруженный образец или, наоборот, вращая полярископ (поляризатор и анализатор в скрещенном состоянии), а образец оставляя неподвижным, заметим, что изоклина перемещается по изображению образца система же изохром, как обусловленная только величинами б, при этом, конечно, остается без изменения. [c.135]

Каждому положению полярископа относительно образца соответствует вполне определенная изоклина (а иногда и не одна). На рис. 87, а совмещены изоклины для круглого диска, сжатого двумя сосредоточенными силами в диаметральном направлении. Изоклины соответствуют значениям угла между крестом полярископа и линией действия сил, равным 5°, 10°, 15" и т. д. [c.136]

На каждой изоклине изображены крестиками соответствующие положения креста полярископа, совпадающего с крестом главных площадок. Для всех точек одной изоклины наклон крестиков один и тот же. [c.136]

Изоклины иногда мешают наблюдению изохром. Для того чтобы удалить изоклины, располагают на пути хода лучей в полярископе, например, слюдяные пластинки определенной толщины по обе стороны образца (на рис. 85, а они показаны пунктиром и обозначены буквами А VI В), ориентированные своими главными сечениями под углом 45° к кресту полярископа и скрещенные между собой. Слюда поляризует проходящий через нее свет в двух взаимно-перпенди-кулярных плоскостях. Толщина пластинок такова, что разность хода получаемых двух лучей по выходе из пластинки составляет четверть длины волны применяемого монохроматического света следовательно, разность фаз по выходе из первой пластинки равна [c.136]

Устройство зеркального полярископа системы Белоусова—Зайцева показано схематически на рис. 88 в двух проекциях. Источник света в виде многочисленных электрических ламп помещается под куполом, окрашенным в белый цвет с целью наибольшего отражения света. Лучи, падающие на зеркало 2 (поляризатор) под углом, равным углу полной поляризации (56 55 ), отражаются от него поляризованными в вертикальной плоскости. Другое такое же зеркало [c.137]

Определение цены полосы из опыта на чистый изгиб. Исследуя в полярископе модель балки, подвергаемой чистому изгибу, нетрудно определить цену изохромы (см. выше, п. 2). [c.137]

Рис. 90. Зона чистого изгиба балки представляется в полярископе равномерным полем параллельных полос — изохром этой зоне соответствует прямолинейная эпюра напряжений (справа).

Крест полярископа 131 Кривая Велера 40, 41, 42 [c.286]

Планиметр 181 Ползучесть 60 Полнота диаграммы 13 Поляризатор 131 Полярископ 131 [c.287]

При оптическом методе исследование ведется не на самой детали, а на геометрически подобной ей по форме и характеру нагружения модели, изготовленной из оптически активного материала. Такую модель помещают в специальную установку, называемую полярископом, нагружают и просвечивают Пучком плоскополяризованного света. При этом на экране появляется изображение модели, покрытое системой полос, анализ которых позволяет изучить характер напряженного состояния модели в каждой ее точке. После соответствующего пересчета данные исследования переносятся на натурный- объект. Обоснование правомерности такого переноса дано в теории упругости, где доказано, что при некоторых условиях, в пределах упругих деформаций, распределение напряжений в детали не зависит от упругих констант ее материала. [c.229]

Полярископ ППУ-5 предназначен для учебных целей и качественного исследования напряженного состояния в моделях деталей машин и сооружений, изготовленных из оптически активных материалов и загружаемых силами, подобными действующим на оригинал. Конструкция и оптическая схема полярископа показаны на рисунке 137. [c.243]

Поляризатор и анализатор заключены в поворотные оправы, обеспечивающие возможность вращения поляризующих элементов вокруг оптической оси полярископа. Отсчет углов наклона главных плоскостей поляризатора и анализатора производится [c.244]

Устройство полярископа ППУ-5 позволяет [c.245]

Для проведения строгих исследований, когда требуется получить численные значения величин главных напряжений по всей модели, применяются более совершенные полярископы, к числу которых относятся, в частности, координатно-синхронные поляриметры КСП-5 и КСП-7. [c.245]

Фотоупругие модели изучаются в полярископе. Простейший плоский полярископ состоит из источника света, поляризатора [c.496]

Рнс. I. Схема расположения элементов плоского полярископа Слева направо источник света, поляризатор, модель, анализатор а — плоскость поляризации Ст и ст — главные напряжения. [c.496]

Рис, 2. Схема расположения элементов кругового полярископа. Слева направо источник света, поляризатор, первая пластинка в четверть длины волны, модель, вторая пластинка в четверть длины волны, анализатор а — плоскость поляризации. [c.496]

Этот метод исследования напряжений (разделы метода фотоупругость, фотопластичность, фотовязкость, динамическая фотоупругость и др.) позволяет определять поля деформаций и напряжений при действии известным образом расположенных нагрузок. Модели выполняют подобными по форме и нагрузке исследуемой детали или конструкции и просвечиваются в полярископе. Разности главных напряжений и их направления в плоскости наблюдения определяют измерением порядка полос интерференции или по точкам при просвечивании плоской модели или среза замороженной объемной модели. По напряжениям в модели, используя формулы по- [c.337]

Мы видели, что только что рассмотренный плоский полярископ дает для некоторого выбранного значения а соответствующие изоклины, а также изохромы или полосы. Таким образом, затемнения на рис. 101 показывают ориентации главных осей, совпадающие с ориентациями поляризатора и анализатора. В действительности фотография, показанная на рис. lO l, получена в круговом полярископе, который является модификацией плоского полярископа, позватяющей исключить из рассмотрения изо-клины ). Схематически этот полярископ показан на рис. 99, б, на котором по сравнению с рис. 99, а добавлены две пластинки Qp и в четверть волны. Пластинка в четверть волны — это кристаллическая пластинка, имеющая две плоскости поляризации и действующая на луч света подобно модели с однородным напряженным состоянием. Она вносит разность фаз А в соответствии с равенством (е), но толщина этой пластинки подобрана так, чтобы выполнялось условие А -=л/2. Используя уравнение (е) со значением Д для света, покидающего Qp, замечаем, что можно прийти к простому результату, если принять равным 45° угол а, представляющий сейчас угол между плоскостью поляризации призмы Р и одной из осей Q . Тогда можно записать [c.168]

Как мы видели, обычный полярископ определяет лишь разность главных напряжений и их направления. Если требуется найти главные напряжения во всей модели или на границе, где нагрузка неизвестна, требуются дополнительные измерения или вычисления. Для этого было предложено много разных методов. Здесь мы даднм лишь краткое описание некоторых из них ). [c.173]

Пластинки W4 служат для создания круговой поляризации и увеличения чувствительности. Обычно их подби- рают такой толщины, чтобы без объекта поле полярископа было окрашено Ь чувствительный фиолетовый цвет [c.110]

Представим себе, что луч света пропущен через поляризатор. Этот луч будет поляризованным в главной плоскости поляризатора (плоскость /,/ на рис. 85, б). Луч будет освещать экран аб. Вращая теперь анализатор вокруг линии хода луча, можем установить главную плоскость 2,2 анализатора перпендикулярно к главной плоскости /,/ поляризатора тоГДа ма йкраНё буДёТ ТШНб. ПоЛЯрН-скоп в таком положении называется скрещенным. Крест 1,1—2,2, образуемый при этом главными плоскостями поляризатора и анализатора, называется крестом полярископа. [c.131]

Рис. 85. Схема устройства полярископа а — схема прохождения луча света б — расположение главных плоскостей поляризатора и анализатора / — / — главная плоскость поляризатора 2—2 — главная плоскость анализатора плоскости / —/ н 1—2 взаимно перпендикулярны — полярископ скрещен (натемно), т. е. находится в рабочем состоянии.

Поясним причину этого явления. Рассмотрим (рис. 86) элемент abed, вырезанный из образца по главным площадкам. Пусть колебания, соответствующие лучу, выходящему из поляризатора и падающему на образец, происходят с амплитудой а в плоскости I—I. Через т и п обозначим амплитуды колебаний, соответствующие лучам, выходящим из образца. Падая на анализатор, скрещенный с поляризатором (пунктирный крест на рис. 86 изображает крест полярископа), эти лучи проходят через него с амплитудами nti и til. Если бы не было отставания одного луча от другого (т. е. при б = О и, следовательно, при разности фаз 0 = 0), на экране не было бы света, так как амплитуды и равны друг другу по абсолютной величине и различны по знаку колебания взаимно гасили бы друг друга. То же было бы и при = X, 2Х, 3 . и т. д., где Я, — длина световой волны (это соответствует разности фаз [c.132]

Рис. 86. Амплитуды лучей Т5 полярископе а — амплитуда коле-б.чний, образующих плосиопо-ляризованиый луч, выходящий из поляризатора и падающий на образец тип— амплитуды колебаний лучей, выходящих из образца abed и падающих на анализатор nii и п, — амплитуды двух интерферирующих колебаний, выходящих из анализатора и освещающих экран.

Полярископ зеркальный. Выше рассмотрен полярископ с поляроидами или призмами Николя. Такие полярископы удобны в работе и широко применяются в настоящее время. Но они имеют ограниченное поле просвечивания, определяемое размерами поляроида. Существуют полярископы, основанные на поляризации света при отражении его от зеркала. Поляризатором и анализатором в них являются морблитовые зеркала. Эти полярископы более громоздки, чем поляроидные, но зато они допускают исследование моделей большей величины — до 0,5 м и больше в поперечнике — без перестановки их в полярископе. [c.137]

Рис. 88. Схема зеркального полярископа / — крышка, а которую вмонтированы осветительные лампы. 2 к J — морблитовые зеркала.

Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий том 1 (1986) -- [ c.110 ]

Лабораторный практикум по сопротивлению материалов (1975) -- [ c.131 ]

Введение в фотомеханику (1970) -- [ c.5 ]

Оптический метод исследования напряжений (1936) -- [ c.0 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...