Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Зрачок объектива

Как уже отмечалось, микроскоп позволяет наблюдать микроструктуру образца в светлом поле, при прямом и косом освещении. В светлом поле при прямом освещении нить лампы источника света 1 проектируется коллектором 2 и осветительной линзой 3 в плоскость ирисовой апертурной диафрагмы 4. Диафрагма 5 коллектора 2 проектируется осветительной линзой 3 в плоскость ирисовой полевой диафрагмы 6. Апертурная диафрагма 4 проектируется осветительной линзой 7 в плоскость выходного зрачка объективов 8 или 9. Полевая диафрагма проектируется осветительной линзой 7 в бесконечность. Так как объективы 8 и 9 рассчитаны на длину тубуса бесконечность , то изображение полевой диафрагмы проектируется объективами в плоскость предмета.  [c.93]


Полупрозрачная пластинка 10, установленная под углом 45° к оси осветителя, отражает часть света и направляет его в объектив. Пройдя объектив, лучи падают на плоскость предмета, отражаются от нее и снова проходят через объектив и полупрозрачную пластинку 10. Параллельные лучи, выходящие из объектива, сводятся ахроматической линзой 11 в фокальную плоскость окуляров 12, 13 или 14, где образуется изображение образца. Для направления лучей света в окуляр служит призма /5. Заполнение выходного зрачка объектива изображением нити лампы 1 проверяется включением в ход лучей линзы Бертрана 16. эа  [c.93]

Объективы 7 и 8 передают изображение полевой диафрагмы в плоскость объекта. Апертурная диафрагма проектируется линзой 6 в плоскость выходного зрачка объектива.  [c.99]

Для проверки заполнения выходного зрачка объектива нитью лампы источника света 1 в ход лучей включается линза 14. Часть света из объектива после ахроматической линзы 10 проходит прямо через призму 12, затем через проекционный окуляр 15, отражается от плоского зеркала 16 и попадает на фотопластинку 17 при этом зеркало 18 должно быть выключено. Изображение в плоскости кинопленки 19 получается при введенном в ход лучей зеркале 18 с помощью окуляра 20. Изображение в плоскости фото- 99  [c.99]

Приемлемо Приемлемо, если размеры коллиматоров не очень велики, и они расположены вблизи от входных зрачков объективов  [c.157]

Во входных зрачках объективов  [c.158]

В первой четверти нашего столетня по примеру Рора [301 качество изображения, даваемого фотографическим объективом, Оценивали по кривым продольной сферической аберрации и отступления от отношения синусов как функций от высоты падения луча на плоскость входного зрачка объектива и по кривым абсцисс фокусов бесконечно тонких меридионального и сагиттального пучков кривые продольной сферической аберрации чертили обычно для трех длин волн — основной D (X = 589,3 им), С (X = 656,1 им) и F = 486,1 нм). Иногда проводились кривые дисторсии как функции от угла поля зрения w, и хроматической разности увеличений. Эта совокупность кривых, несмотря на свою неполноту, позволяет получить предварительную оценку качества изображения и во всяком случае сразу исключить негодные варианты.  [c.208]

Большое распространение в последнее десятилетие получили методы анализа Фурье в науке и технике, в частности в оптике. Исследование всевозможного внда объектов, особенно обладающих периодической структурой, оказалось удобным вести с помощью оптических приборов, образующих спектры (т. е. преобразования Фурье) этих объектов. Использованию оптических систем для Фурье-анализа способствует их свойство при определенных, но легко осуществляемых условиях создавать преобразование Фурье амплитуд плоских предметов,, расположенных иа входном зрачке оптической системы [1.0, гл. X]. Если поместить фотографию (негатив) исследуемого объекта иа входной зрачок объектива и освещать его параллельным (когерентным) пучком лучей, то в фокусе объектива образуется спектр амплитудного распределения об кта. Все участки объекта, обладающие  [c.318]


Для того чтобы достигнуть наибольшей разрешающей способности с объективом данной апертуры, необходимо, чтобы и конденсор имел такую же апертуру. Поэтому при работе с иммерсионными объективами следует иногда помещать иммерсионную жидкость (масло, глицерин) также и между верхней линзой конденсора и предметным стеклом. Однако апертура конденсора, освещающего препарат, не должна превышать апертуру объектива, служащего для наблюдения. В противном случае на препарат будет падать излишний свет, который не попадет в объектив, а это приведет к уменьшению контрастности изображения. Для регулирования осветительной апертуры конденсоры снабжены ирисовой диафрагмой Да, ограничивающей пучок лучей. Эта диафрагма расположена в передней фокальной плоскости конденсора и проектируется конденсором и объективом в выходной зрачок объектива аа.  [c.11]

Структуру препарата, рассматриваемого через микроскоп, можно различить лишь тогда, когда различные частицы препарата отличаются друг от друга и от окружающей их среды по поглощению (отражению) света или по показателю преломления. Эти свойства обусловливают разницу фаз и амплитуд световых колебаний, прошедших через различные участки препарата. От разницы фаз и амплитуд, в свою очередь, зависит контраст изображения. (Здесь под термином разница фаз следует понимать запаздывание или опережение во времени одного луча по отношению к другому разница амплитуд возникает из-за неодинакового поглощения света различными участками препарата и определяет различную интенсивность света, прошедшего через эти участки). Поэтому в зависимости от характера препарата в микроскопии применяются различные методы наблюдения, для осуществления которых служат принципиальные схемы, показанные на фиг. 5—9, где обозначены Об— объектив, АВ — препарат, К—конденсор, аа —выходной зрачок объектива. Да — апертурная диафрагма конденсора, А В — изображение препарата, создаваемое объективом.  [c.12]

При исследовании анизотропных препаратов к обычной схеме микроскопа добавляют перед конденсором— поляризатор, а после объектива — анализатор, находящиеся в скрещенном либо параллельном положении друг относительно друга. Объект может поворачиваться вокруг оси микроскопа. При скрещенных поляризаторе и анализаторе в темном поле зрения микроскопа видны темные, светлые или окрашенные двоякопреломляющие элементы объекта. Вид этих элементов зависит от положения объекта относительно плоскости поляризации и от величины двойного лучепреломления. Более точное определение оптических данных объекта делается с помощью различных компенсаторов (неподвижных кристаллических пластинок, подвижных клиньев и пластинок и др.). Все измерения при наблюдении в поле непосредственно объекта производятся при очень малой апертуре конденсора. Такое наблюдение называется ортоскопическим. При исследованиях с помощью микроскопа в поляризованном свете проводят также и коноскопическое наблюдение, т. е. наблюдение специфических интерференционных фигур в выходном зрачке объектива, для чего в схему микроскопа вводят дополнительную линзу, проектирующую изображение выходного зрачка в поле зрения окуляра. Эта линза носит название линзы Бертрана.  [c.16]

Вынимают окуляр и, наблюдая выходной зрачок объектива, перемещают лампу относительно коллектора так, чтобы было резко видно ее тело накала. Апертурную диафрагму конденсора открывают обычно до размера приблизительно /з выходного зрачка объектива.  [c.27]

Вспомогательный микроскоп, применяемый для настройки освещения по методу фазового контраста, полезно использовать и при настройке всех других методов освещения, так как он облегчает наблюдение выходного зрачка объектива.  [c.28]

Бинокулярный тубус снабжен сменными оптическими системами для получения трех ступеней увеличения при одном и том же объективе и окуляре. Это создает большое удобство в работе, быстроту перехода от одного увеличения к другому и позволяет значительно уменьшить комплект окуляров. Кроме того, в тубусе имеется система, позволяющая наблюдать выходной зрачок объектива. Последнее необходимо при настройке освещения для работы по методу темного поля или фазового контраста.  [c.46]


Исследование методом фазового контраста производится с помощью фазово-контрастного устройства КФ-3, схема которого показана на фиг. 38. В плоскости апертурной диафрагмы помещается кольцевая диафрагма 1, которая проектируется осветительной системой в выходной зрачок объектива 2. Линзы 3 проектируют выходной зрачок, а следовательно, и изображение диафрагмы 1,  [c.83]

Наблюдение в коноскопическом ходе лучей, когда объект освещается сильно сходящимся пучком лучей при высокой осветительной апертуре, благодаря чему в выходном зрачке объектива происходит интерференция лучей, характерная для данного изучаемого объекта. С помощью дополнительной линзы Бертрана, включаемой после анализатора, через окуляр наблюдается картина в выходном зрачке объектива.  [c.92]

Оптическая система конденсора должна быть центрирована относительно объектива микроскопа так, чтобы при отсутствии препарата в выходном зрачке объектива не было заметно никакого света.  [c.167]

Четвертая система линз совместно с окуляром образует вспомогательный микроскоп, предназначенный для наблюдения выходного зрачка объектива- Применяется этот микроскоп при настройке освещения по методу фазового контраста, темного поля и при коноскопическом исследовании на поляризационных микроскопах.  [c.179]

Пример 3. Спекл-фотография (пример усреднения по ансамблю). Передача изображений через турбулентную атмосферу сопровождается разрушением волновых фронтов, идущих от каждой точки объекта, так что волновой фронт, достигающий оптической системы, имеет случайные распределения амплитуды и фазы. Восходящие потоки, присутствующие в атмосфере, приводят к неоднородности ее плотности, что в свою очередь вносит фазовые искажения в волновой фронт. При достаточно длинном пути фазовые изменения волнового фронта приводят к случайным изменениям амплитуды в плоскости входного зрачка объектива. Как вблизи, так и вдали от входного зрачка системы, формирующей изображение, могут образоваться фазовые сдвиги, которые вызывают следующие искажения в изображении  [c.93]

Измеряемая деталь 9 располагается на столике /О, имеющем возможность перемещаться в двух направлениях с помощью микрометрических винтов //. На поверяемую поверхность детали с помощью проецирующего микроскопа от лампочки 1 под углом 45 направляются лучи света. Они проходят защитное стекло 2, двухлинзовый коллектор 3, щель 4, светофильтр 5, ахроматические линзы б и 7 и сменные объективы 8. Коллектор 3 вместе с ахроматическими линзами 6 н7 дает изображение нитн лампы / во входном зрачке объектива микроскопа, а щель 4 с помощью ахроматических линз и сменных объективов 8 изображается на поверяемой поверхности детали 9, на которой она рассматривается с помощью микроскопа наблюдения. Микроскоп наблюдения состоит из окулярного винтового микрометра 12 и дополнительной линзы 7. В обоих микроскопах применены парные объективы 8, корригированные на бесконечность.  [c.352]

Вызывает смещение марки в поле зрения зрительной трубы и по фотослою камеры Синхронизирует движение обоих кол-лиматорных пучков Действует таким образом, что пучки лучей из коллиматоров с марками поворачиваются вокруг оси, лежащей в плоскости зрачков объективов или вблизи них  [c.157]

В целом можно сказать, что комбинированный симметричный объектив с дифракционной асферикой довольно ограничен по своим возможностям. Силовым элементом в нем будет мениск с равными радиусами, который при небольшой толщине ввиду значительной кривизны поверхностен (требуемой для получения заданной оптической силы) не способен обеспечить значительного апертурного угла, т. е. высокого разрешения. При аномальном увеличении толщины мениска (di > г), добиваются высокого разрешения на оси системы, однако в этом случае входной зрачок объектива расположен вблизи предметной плоскости, в результате чего при отходе от оси резко возрастает угол между главным лучом и нормалью к поверхности мениска. Это приводит к росту аберраций высших порядков и уменьшению рабочего поля. Так, при габаритном размере системы L = 810 мм, что совпадает с габаритным размером симметричного двухлинзового дифракционного объектива при фокусном расстоянии каждой ДЛ f = 270 мм, и разрешении б = = 3 мкм на длине волны = 441,6 нм удается получить рабочее поле диаметром всего лишь 16 мм (ср. с данными табл. 4.6). Если не предъявлять высоких требований к разрешению и рабочему полю, комбинированный, триплет с дифракционной асферикой не лишен положительных качеств его светопропускание может быть обеспечено на уровне обычного рефракционного объектива, а хроматизм позволяет использовать излучение газоразрядных приборов, например типа ртутной лампы высокого давления (см. гл. 6).  [c.168]

С одной асферикой, рассмотренному в п. 5.1 при небольшой толщине менисков не обеспечивается высокое разрешение, а при увеличении их толщины оказывается очень неудачно расположенным входной зрачок объектива. Действительно, если апертурная диафрагма в объективе (рис. 5.7) находится посередине между менисками, то расстояние от вершины первой поверхности до входного зрачка  [c.177]

Рис. 6.3. Сканирующий лазерный осветитель t — выходная лииза конденсора 2 — предметная плоскость 3 — проекционный объектив (ход лучей показан условно) 4 - входной зрачок объектива Рис. 6.3. Сканирующий лазерный осветитель t — выходная лииза конденсора 2 — <a href="/info/283160">предметная плоскость</a> 3 — <a href="/info/412097">проекционный объектив</a> (ход лучей показан условно) 4 - <a href="/info/14461">входной зрачок</a> объектива

Новые лиизы Френеля нашли применение в первую очередь в качестве конденсоров, концентрирующих падающий на матовое стекло фотоаппарзтов световой поток в глаз наблюдателя, благодаря чему значительно увеличивается яркость рассматриваемого изображения поля э рения. Для этого линза Френеля должна изображать выходной зрачок объектива на зрачке глаза. Требования к кзчеству линзы весьма низки и сводятся к тому, чтобы весь пучок, прошедший через объектив, попал в зрачок глаза. Кроме того, необходимо, чтобы, рассматривая на матовом стекле (с помощью лупы или без нее) изображение снимаемого поля зрения, глаз не различал границ зон лиизы. Из этого условия определяется максимально допустимый размер зон.  [c.515]

Кривизна торцов САВ и iAyB определяется из следующих условий 1). поверхность САВ должна быть сферической, центр ее совпадает с центром выходного зрачка объектива 2) поверхность AiBi — сферическая с центром на входном зрачке системы ЛННЗ ij.  [c.575]

При наблюдении по методу темного поля после настройки освещения по Кёлеру следует нанести на конденсор каплю иммерсионной жидкости и установить его по высоте так, чтобы освещенное пятно на препарате было наименьшим. Наблюдая без окуляра выходной зрачок объектива, центрируют темный диск относительно выходного зрачка. Затем вставляют окуляр и проводят наблюдения.  [c.27]

Внешний вид микроскопа представлен на фиг. 23. На основании/укреплен массивный полый тубусодержатель 2 и осветитель 3. Рукоятка 4 служит для фокусировки нити лампы в выходной зрачок объектива, рукоятка 5 — для изменения размера полевой  [c.50]

Конструкция микроскопа представлена на фиг. 51. Основание 1 соединено с тубусо-держателем 2 шарниром, благодаря чему тубусодержатель может быть установлен в любое наклонное положение и закреплен с помощью рукоятки 3. На нижнем конце тубусодержателя расположены поворотное зеркало 4, конденсор с поляризатором 5 и предметный столик 6, наклоняемый вместе с тубусодержателем. Рукоятка 7 служит для перемещения конденсора по высоте. В верхней части тубусодержателя находятся механизмы фокусировки и тубус 8. Грубая фокусировка осуществляется с помощью рукоятки 9, точная — с помощью рукоятки 10. В нижней части тубуса смонтированы щипцовое устройство 11 с объективом и выдвижные салазки 12 с анализатором. Салазки 13 с линзой Бертрана перемещаются для фокусировки линзы на выходной зрачок объектива рукояткой 14. Гнездо 15 предназначено для кварцевых пластинок или компенсатора. На столике 6 устанавливают препаратоводитель.  [c.104]

Конденсор применяется с масляной иммерсией апертура конденсора 1,2. Конденсор рассчитан на предметное стекло толщиной не более 1,2 мм. При работе с высокоапертурными объективами необходимо уменьшить их апертуру до размера 0,85. В противном случае в объектив будут попадать прямые, не рассеянные, лучи, выходящие из конденсора, а это нарушит принцип освещения по методу темного поля. Для того, чтобы избежать этого при работе с высокоапертурным объективом, в выходной зрачок объектива помещают диафрагму, входящую в комплект конденсора.  [c.167]

Оптическая схема осветителя представлена на фиг. 91. Источник света 1 проектируется коллекторной линзой 2 и осветительной линзой 3 в выходной зрачок объектива 4. Полевая диафрагма 5 проектируется в плоскость препарата. При работе в светлом поле используется полупрозрачная отражательная пластинка 6. При работе в темном поле в ход лучей дополнительно включается диафрагма 7, которая пропускает свет в виде полого цилиндра. В этом случае свет отражается от кольцевого зеркала 8 и конденсором эпиобъектива 4 концентрируется на препарате. Пластинка 6 при работе в темном поле выключается. В систему могут быть введены сменные светофильтры 9, а также поляризатор 10 и анализатор 11 для исследования препарата в поляризованном свете.  [c.170]

Источник света проектируется в выходной зрачок объектива, а полевая диафрагма осветителя — в плоскость препарата. Светоделительная пластинка 6 покрыта специальным интерференционным покрытием, которое преимущественно отражает лучи с длинами волн от 365 до 440 ммк и пропускает лучи с длинами волн от 440 до 700 ммк. Такое покрытие частично отделяет свет люминесценции от возбуждающего света, полное же их разделение производится с помощью светофильтров. Набор прикладываемых к устройству светофильтров 4 позволяет выделить для возбуждения люминесценции сине-фиолетовую или ультрафиолетовую (с длиной волны до 365 ммк) области спектра. Для отделения света люминесцен-  [c.172]

С лампой 8 в 9 вт, имеющий наклоны для центрирования нити лампы относительно выходного зрачка объектива. Призма-ноляризатор может поворачиваться в пределах угла 90°, для чего служит рукоятка 2. Диаметр апертурной и полевой диафрагмы изменяется рукоятками 3 я 4. С помощью рукоятки 5 передвигается оправа с полупрозрачной пластинкой и призмой, которые могут попеременно вводиться в ход лучей. Кроме того, рукоятка 5 позволяет в небольших пределах изменять наклон пластинки при настройке освещения. Снизу на осветителе имеется щипцовое устройство обычного типа для крепления и центрирования объективов.  [c.176]

Среди большого числа предложений по созданию голографического кинематографа в книге рассматриваются принципы, разработанные и впервые экспериментально проверенные в НИКФИ в 1976 г., в основе которых лежат следующие четыре идеи. Во-первых, для киносъемки и кинопроекции трехмерных голографических изображений используют объективы с широким зрачком (около 200 мм), позволяющим зарегистрировать на голографической кинопленке множество изображений снимаемого объекта, каждое из которых отличается ракурсом, соответствующим определенной точке, расположенной в том или ином месте зрачка объектива. Широкий зрачок позволяет при кинопроекции воспроизвести множество изображений объекта в разных ракурсах, которые сливаются в единое трехмерное изображение. Трехмерное изображение снимаемой сцены уменьшается съемочным объективом до размеров кадра на пленке. При кинопроекции голографическое изображение, воспроизводимое голограммой-кадром фильма, увеличивается проекционным объективом до размеров, соответствующих размерам снятой сцены.  [c.110]

Ширина зрительной зоны определяется шириной зрачка объектива 5, высота зрачка которого во много раз меньше его ширины. В дополнение к точечно-фокусируюш,им свойствам голографиче-  [c.122]


Смотреть страницы где упоминается термин Зрачок объектива : [c.355]    [c.117]    [c.213]    [c.214]    [c.143]    [c.295]    [c.296]    [c.470]    [c.23]    [c.25]    [c.129]    [c.169]    [c.191]    [c.414]    [c.415]    [c.117]   
Микроскопы, принадлежности к ним и лупы (1961) -- [ c.8 ]



ПОИСК



Зрачок

Некоторые теоретические обосноваиня допустимых остаточных аберраций и центрального экранирования зрачка в объективах микроскопа

Объектив с широким зрачком

Перенесение предмета в бесконечность в объективах симметричных типов Дисторсия. Роль аберрации в зрачках

Фотографические объективы с удаленным зрачком



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте