Покрытия, измерение толщины неметаллические

В настоящее время созданы приборы для измерения толщины неметаллических покрытий (например, лакокрасочных, пластмассовых и др.) на проводящей основе независимо от электрических свойств покрытия и основания, материала. Эти приборы, по существу, измеряют расстояние между накладным ЭП и проводящей поверхностью. По такой схеме построен, например, прибор Ц-скоп фирмы Гельмут Фишер, ФРГ. Диапазоны измере- [c.175]

Прибор КТП-2М. Прибор предназначен для измерения толщины неметаллических и гальванических покрытий на изделиях, изготовленных из ферромагнитных металлов. [c.49]

К числу основных параметров контроля относится местная толщина покрытия. Для ее определения используют неразрушающие магнитные, электромагнитные методы, методы вихревых токов или изотопные. Магнитные и электромагнитные методы целесообразны для измерения толщины покрытий, полученных электрохимическим, химическим путем, погружением в расплавленный металл и т. д., толщины керамических и эмалевых, лакокрасочных и полимерных покрытий, а также покрытий нанесенных способом металлизации на ферромагнитные стали. Изотопным методом измеряют толщину металлических и неметаллических покрытий на металлических и неметаллических основных материалах. [c.88]

Прибор ИТП-200. Предназначен для измерения толщины немагнитных гальванических покрытий (хром, цинк, кадмий и др.), а также неметаллических пленок (лаки, эмали и пр.) на изделиях, изготовленных из ферромагнитных материалов. [c.59]

Прибор ТМ-57. Прибор ТМ-57 предназначен для измерения толщины покрытий из любых металлов и неметаллических покрытий, нанесенных на любые металлы. [c.69]

Прибор ЭМТ. Прибор ЭМТ предназначен для измерения толщины разнообразных металлических и неметаллических покрытий на изделиях, изготовленных из немагнитных и ферромагнитных металлов. [c.76]

Прибор ППМ-6. Предназначен для измерения толщины немагнитных (металлических и неметаллических) покрытий, нанесенных на ферромагнитный материал, а также никелевых покрытий на латуни. [c.82]

Прибор УП-ЗМ. Предназначен для измерения толщины разнообразных металлических и неметаллических покрытий, нанесенных на детали из материалов, отличающихся от материала покрытия электропроводностью или магнитной проницаемостью. [c.83]

СТ СЭВ 3915—82 Защита от коррозии. Покрытия металлические и неметаллические неорганические. Общие требования к неразрушающим методам измерения толщины [c.642]

Для определения толщины покрытий, нанесенных на неметаллические подложки, кроме микрометрического метода можно использовать оптические методы, например метод светового сечения [10]. Принцип метода состоит в измерении смещения луча света а, отраженного поверхностью пленки и подложки, которая пропорциональна толщине покрытия (рис. 28) [c.140]

Вихретоковый вид контроля обеспечивает контроль заданного состава материала и сортировку сплавов по маркам, режимов термической и химико-термической обработки определение отклонения твердости материалов от заданной контроль физических свойств, однозначно связанных с удельной электропроводимостью измерение толщины гальванических, лакокрасочных и специальных покрытий выявление поверхностных и подповерхностных трещин, пустот, неметаллических включений, межкристаллитную коррозию и т. п. [c.202]

Сущность измерения заключается в том, что с помощью катушки-датчика, питаемой током высокой частоты, в контролируемом участке создается электромагнитное поле, которое индуктирует в металле подложки вихревые токи. Плотность и распределение вихревых токов зависит от величины зазора между датчиком и металлом, т. е. от толщины неметаллического покрытия. Толщину покрытия определяют по шкале индикатора толщиномера ТПН-1У, датчик которого установлен на поверхности окрашенной пластинки или изделия. Продолжительность одного измерения около 2 с. [c.28]

Из приборов с постоянным магнитом широкое применение получил прибор ИТП-1. Этот портативный прибор карандашного типа предназначен для измерения толщины немагнитных гальванических покрытий, осажденных на черные металлы, — чугун, железо и сталь. Он пригоден также для измерения толщин цветных металлов, нанесенных на сталь погружением в расплавленный металл (например, на оцинкованном, луженом или освинцованном железе, на биметаллах алюминий — железо, медь — железо и др.) для измерения всех лакокрасочных покрытий на стали толщины эмали на эмалированных изделиях, пленок эпоксидных смол, фторопласта-3 и прочих пластмасс при отсутствии зазора между неметаллическим покрытием и сталью. Такой [c.91]

Искривление поверхности образца. Влияние радиуса кривизны можно измерить, сгибая листовой образец с известной толщиной слоя поверх цилиндрической оправки из неметаллического материала, обточенного на несколько ступеней, или изготовив эталонную оправку, обточенную на несколько ступеней, но равномерно покрытую слоями покрытия. Изменение измеренных значений следует нанести на график относительно радиуса кривизны. [c.249]

Металлическое покрытие должно быть сплошным, без точечных дефектов и равномерным по толщине. Сплошность оценивается долей покрытой поверхности. Точечные дефекты оценивают их числом на единицу площади и величиной самих дефектов (диаметром, формой и площадью). Их появление связано с процессом активации поверхности, а иногда и с загрязнением дисперсными частицами раствора металлизации. Толщину металлических покрытий на неметаллических материалах определяют общепринятыми методами измерения тонких пленок и специфическими, которые основаны на уникальных свойствах тонких пленок металла на неметаллах электропроводностью, оптической плотностью, цветами побежалости после превращения в прозрачное соединение. [c.528]

Данный метод особенно эффективен для измерения толщины металлического покрытия на неметаллической основе или неметаллических покрытий на металлической основе (например, анодных окисных покрытий на алюминии или лакокрасочных покрытий на металле) и позволяет получить измерения с точностью более 10%. Он может быть использован с соответствующим обоснованием для полностью металлических составов, когда электропроводимость покрытия и основного металла существенно различаются, но при условии тщательного соблю-)(ения режимов работы с прибором. Калибровка во всех случаях осуществляется при помощи эталонных образцов известной толщины. [c.138]

Прибор ЭМКП-4. Предиазначеи для измерения толщины немагнитных (металлических и неметаллических) покрытий, а также слабомагнитного (никелевого) покрытия, нанесенных на ферромагнитный материал. [c.57]

Отмеченные недостатки частично устранены. Остальные будут устраняться при совершенствовании приборов. Планами предусматриваются повышение точности измерения толщины и улучшение динамических характеристик приборов. Предусматривается также внедрение установок для измерения толщины оловяпистого п других металлических и неметаллических покрытий па различных материалах. [c.238]

Толщиномеры предназначены для определения размеров ОК и их отклонений от номинальных значений. Наибольшее распространение получили акустические (ультразвуковые), вихретоковые, магнитные и радиационные толщиномеры (табл. 8.85). Ультразвуковые толщиномеры позволяют измерять толщину металлических и некоторых неметаллических ОК при одностороннем доступе к ним, но требуют акустического контакта с их поверхностью, получаемого обычно моем жидкости (глицерин, вода, спирт). Вихретоковые толщиномеры не требуют контакта с ОК, по применимы только для контроля объектов, содержащих электропроводящие слои. Магнитные толщиномеры применяют, главным образом, для измерения толщины неферромагиитных покрытий на ферромагнитных основаниях. Радиационные тол-22—559 [c.337]

Получил развитие электроиндуктивный метод, известный под названием метода вихревых токов , созданы новые приборы, основанные на использовании данного метода. Такие приборы успешно применяются для выявления различных дефектов измерения диаметра проволоди, труб и толщины полос, контроля качества металлического и неметаллического литья и измерения толщины покрытий, измерения напряжений и предупреждения усталостного разрушения, обнаружения ферромагнитных включений в алюминиевых листах, контроля структуры материалов я т. п. [c.6]

Для измерения толщины теплоизоляционных неметаллических покрытий в последнее время созданы новые электроиндук-тивные приборы типов ТАК, ТПК и ЭФИТ с рабочей частотой 50 кгц. Низкая рабочая частота позволяет использовать между датчиком и прибором длинные кабели (в приборе ТПК был использован кабель длиной 8 м). [c.375]

Для измерения толщины сте1слопластика на неметаллической основе при одностороннем доступе используются резонансные СВЧ-колебания, возникающие в незамкнутом резонаторе, ограниченном с одной стороны диафрагмой полуоткрытого объемного резонатора, а с другой - границей раздела стеклопластик - неметаллическая оправка или слой теплозащитного покрытия. Структурная схема резонансного СВЧ-толщиномера приведена на рис. 1.19. [c.30]

В случае неметаллических покрытий и пленок (лаковых, фторопластовых, керамических и др.) чувствительность и градуировка шкалы прибора ЭМТ не зависит от типа пленки и для градуирования удобно использовать прокладки из пленки или бумаги,, толщина которых определена методами линейных измерений. Предел измерения может быть расширен до 500 мкм. [c.77]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...