Линия эквивалентная Ширина

Эквивалентная ширина — ширина соседнего с линией участка непрерывного спектра, энергия которого равна энергии, поглощенной в линии. [c.1200]

Простейшим массовым методом определения параметров 3. а. по спектральным линиям является метод кривых роста, позволяющий без знания профилей линий, по одним эквивалентным ширинам находить все осн. характеристики 3. а., включая хим. состав. Для звёзд с детально изученными спектрами используют метод синтетич. спектра — метод сравнения с наблюдениями теоретически рассчитанных спектров с учётом наиб, важных (обычно многих тысяч) спектральных линий. Это позволяет уточнить все осн. параметры 3. а. Более тонкие характеристики, такие, как вращение звезды, вертикальные движения, наличие пятен и т. д., определяют исследуя профили спектральных линий и их переменность. [c.62]

Эквивалентная ширина одиночной линии, уширенной за счет соударений, может быть определена из уравнения (2.706), если подставить в него значение Xv из (2.65) и затем проинтегрировать его. Аналогично Wi для линии с доплеровским уширением можно определить путем подстановки в уравнение (2.706) значения Xv из (2.69) и проведения интегрирования. Подробности этих вычислений и окончательные выражения для Wi можно найти в книге [49]. [c.109]

Эддингтона приближение 340 Эквивалентная ширина одиночной линии 109 [c.612]

Метод эквивалентной ширины. Эквивалентная ширина линии (или полное поглощение)—это энергетический поток, поглощенный в линии и отнесенный к спектральному потоку, падающего излучения. Или, иначе говоря, это щирина линии поглощения, имеющей прямоугольный контур, внутри которого свет поглощается полностью, поглощающий столько же энергии, что и рассматриваемая линия. Для оптически толстых слоев, ко-пда поглощение в центре линии ТЗ К велико, что падающее излучение полностью поглощается, эквивалентная ширина линии определяется ее крыльями [47, 48]. В этой области контур линии определяется только затуханием и тогда [c.296]

I — длина поглощающего слоя, у — постоянная затухания, X — длина волны, с —скорость света, т и е — масса и заряд электрона, Ля. — эквивалентная ширина линии. Постоянная затухания определяется соотношением [c.296]

Собственное уширение резонансных линий криптона исследовалось в работе [42]. Измерялись эквивалентные ширины ли- [c.332]

Эквивалентная ширина сближения линии связи с линией передачи [c.173]

Для телевизионных экранов и других носителей визуальной информации (например, фотопленки) используют разные критерии и разные измерительные миры телевизионные линии - это ширина штриха в один элемент разрешения, оптические линии - это период штриховой миры, при котором линии разрешаются, т. е. в поперечном сечении яркостной реакции на штриховую миру имеется провал. Таким образом разрешение экрана в 640 телевизионных линий эквивалентно 320-м оптических линий. В радиолокационной технике разрешение измеряют по ширине импульсной реакции на уровне -3 дБ или по расстоянию между точечными отражателями, при котором в реакции наблюдается провал. Эта оценка соответствует оптическим линиям. [c.128]

Внесение в резонатор усиливающей среды, которая частично или полностью компенсирует потери излучения при отражении от его зеркал, эквивалентно увеличению коэффициента отражения до некоторого эффективного значения / эфф ( < эфф 1)- Благодаря этому резонансная полоса сужается в (1—Я)/ 1— эфф) раз. Если считать, что при стационарной генерации лазера усиление в активной среде полностью компенсирует потери излучения при отражении от зеркал резонатора, то надо положить эфф=Г Это дает нулевую ширину резонансной полосы и соответственно нулевую спектральную ширину линии генерации лазера. В действительности, спонтанное излучение ( шум ) приводит к тому, что усиление в активной среде лазера оказывается меньше потерь в резонаторе . Недостаток усиления компенсируется непрерывным поступлением энергии со стороны спонтанного излучения. Вследствие этого. / эфф<1 и ширина линии генерации оказывается хотя и крайне малой, но вое же конечной величиной. Ее теоретическое значение составляет 10 Гц. В реальных случаях в силу ряда [c.281]

Площади прямоугольников (а при одинаковых основаниях также и их высоты), естественно, пропорциональны еще и частостям. Ширина распределения (размах варьирования) ординат профиля эквивалентна наибольшей высоте неровностей профиля / тах, представляющей собой расстояние между линией выступов профиля и линией впадин профиля в пределах базовой длины. Эти линии эквидистантны средней линии, и первая из [c.33]

Работы по созданию сосудов новых рулонных конструкций ведутся в нескольких направлениях, одним из которых является разработка конструкции и технология изготовления спирально-рулон-ных сосудов [30, 31]. В такой конструкции рулонная полоса большой ширины (метр и более) навивается на центральную трубу по винтовой линии, причем каждый последующий слой навивается в противоположную сторону. Теоретически при определенном шаге навивки осевая и кольцевая прочность сосуда без скрепления слоев между собой становится равной прочности эквивалентного монолитного сосуда. В этих сосудах удачно сочетается ряд преимуществ, связанных со снижением трудоемкости их изготовления и повышением надежности. Важное преимущество этой конструкции — отсутствие массивных кольцевых швов. [c.43]

Рис. ЗЛ1. Прохождение сферических волн по телескопическому резонатору а - одна из расходящихся волн в, - прохождение по эквивалентной линии расходящихся волн с центрами кривизны внутри зоны шириной 1а б) и вне ее (в)

Ширина линии может быть определена несколькими эквивалентными способами. В предложенном варианте все величины [c.269]

Величину А Райхе назвал эквивалентной шириной". Это название оправдывается следующим соображением. Предположим, что имеется линия с прямоугольным" контуром поглощения, при этом поглощение в пределах линии бесконечно большое (рис. 286(5 ). Для такой линии у = оо при [c.516]

Эквивалентная ширина спектральной линии преобразуется при К. с. так же, как и длина волны максимума 1[птенсивности (1+г) [c.487]

КРИВАЯ РОСТА — завпсимость интенсивности спектральной линии поглощения от числа атомов, участвующих в её образовании. Применяется для определения физ. условий и содержания хим. элементов в атмосферах звёзд, а также для определении сил осцилляторов. В качестве параметра, характеризующего иптенсив-ность линии, используется эквивалентная ширина спектральной линии (полная энергия излучения поглощённая в линии, выражаемая шириной соседнего участка непрерывного спектра, в к-ром [c.490]

Для нанесения марок почернений спектр излучения абсолютно черного тела фотографировался при разных экспозициях, константа Шварцшильда полагала СЬ равной единице. Удалось измерить эквивалентную ширину линии при различных концентрациях углекислого газа. Концентрацию углекислого газа можно связать с концентрацией атомов углерода. На оснавании этих измерений удается построить кривую роста и выделить ее пря-.молинейный участок. [c.297]

Теория рассеяния излучения в спектральной линии — одна из важных глав теоретической астрофизики [77]. Она развивалась, начиная с двадцатых годов нашего столетия. Сначала рассматривалось образование фраунгоферовых линий поглощения без рассеяния. Согласно модели атмосферы Шварцшильда—Шустера над фотосферой, где формируется непрерьшный спектр, располагается слой, содержащий поглощающие в линиях атомы. При этом в центре пинии поглощение наибольшее и убывает согласно профилю поглощения. Это давало возможность качественно объяснить величины эквивалентных ширин линий. Однако профили линий этой теорией воспроизводились неадекватно. Необходимо было учесть рассеяние. [c.136]

Исследование профилей и эквивалентных ширин (полного поглощения) Фрауп-гоферовых линий дает сведения о хим. составе атмосферы С. и о [c.577]

Иногда поступают наоборот. Из наблюдений определяют профили линий и подбирают соответствующее распределение физ, условий с глубиной. Чем слабее линия, тем глубже она образуется. Данные о хим. составе и о турбулентной скорости получают чаще всего с помощью кривых роста, к-рые дают связь между полным поглощением в липии (ее эквивалентной шириной 1 1—где /о—интепспвность [c.577]

Когда забивная крепь находится в центре основания плотины, то соответственное падение давления между напором верхнего и нижнего бьефов вдоль основания плотины составит 70,5% всего перепада давления через плотину. Для больших отношений ширины плотины к глубине свай величина этого снижения достаточно высока, но все же это незначительное уменьшение процента является противоположностью тому выводу, что дает теория Бляя. В последней теории свайная крепь успешно заменяется дополнительной эквивалентной шириной основания, равной периметру свай, и падение давления вдоль всей растянутой ползущей линии принимается линейным. Падение давления, обязанное наличию свай в упомянутой теории, пропорционально только глубине забивки свай, но не зависит от их местоположения. Непосредственным выводом из высоких перепадов давления через свайную крепь является то обстоятельство, что градиенты на всей остальной части основания плотины будут по необходимости малыми, уменьшая, таким образом, опасность разрушения основания плотины размывом песка вследствие высоких скоростей движения жидкости. [c.208]

Если на стержень действуют внешние нагрузки, равнодействующая которых находится на оси стержня (осевая сила), то стержень продольно деформируется (осевое растяжение или сжатие). В результате деформации расстояния между точками разных поперечных сечений изменяются в зависимости от нагрузок и их распределения по длине стержня. Для достаточно длинных стержней на некотором удалении от концов стержня, к которым приложены внешние продольные силы, можно напряженно-деформированное состояние считать равномерным в пределах каждого отдельного поперечного сечения. Такое положение наблюдается уже на расстоянии порядка толщ,ины стержня от нагруженных концов, и с удалением от концов оно выполняется с более высокой точностью. На рис. 3.1 показаны два различных характера загружения концов стержня внешней осевой нагрузкой Fi = 2Fa- Штриховыми линиями показано очевидное деформированное состояние с изображением искривления поперечных сечений по мере изменения расстояния от нагруженных концов. На расстояниях порядка толщины (ширины) стержня плоские поперечные сечения практически не искривляются. Это одна из иллюстраций справедливости принципа Сен-Вепана, который утверждает, что статически эквивалентное преобразование внешних нагрузок на малой площади границы тела не влияет на распределение напряжений на некотором удалении от места приложения нагрузок. Опираясь на этот принцип, примем гипотезу плоских сечений, которая состоит в следующем материальные, точки стержня, расположенные в плоскости поперечного сечения до деформирования, после деформирования располагаются в одной и той же плоскости поперечного сечения (гипотеза Бернулли), или, иначе, плоские до деформирования поперечные се-нЕНия бруса остаются плоскими и после деформирования. [c.51]

Следовательно, А численно равна ширине линии. Для линии, контур которой представлен на рис. 286а, величина А (по формуле (7)) тоже имеет размерность сек и равна ширине эквивалентной ей по поглощению [c.517]

Если в пределах поперечного сечения (при фиксированном значении а/6) провести линию через точки, координата у у которых составляет одинаковую долю от ширины 6 = 6 (х), то во всех точках этой линии (такие линии на рисунках в табл. 13.6 показаны штрихами) погрешность, даваемая формулой элементарного решения, оказывается одинаковой. Это свидетельствует об аффинной эквивалентности эпюр компонента касательного напряжения на всех линиях, параллельных нейтра.чьно 1. В табл. 13.7 помещены значения 1) — Ра /1у) для точек первого квадранта. Разумеется, приведенные выводы относятся именно к эллиптическому поперечному сечению. Однако некоторые бнаруженные закономерности проявляются и в других поперечных сечениях. [c.354]

Обозначим через L = d- -b. внешний характерный размер элементарной ячейки (расстояние между центрами двух соседних частиц эквивалентного диаметра d) h— толщина и ширина мнимого стержня ячейки Л—толщина прослойки связующего между частицами наполнителя. Предполагая, что линии теплового тока пря молиней-ны и параллельны вертикальным образующим элементарной ячейки, с учетом положений теории электротеп-ловой аналогии термические сопротивления элеме нтов ячейки (рис. 3-2,г) можно представить в виде [c.81]

Проведем далее численный анализ влияния податлнво-1( пи депланацнонных связей в. виде поперечных. планок или раскосов (см. рис. 1,а) на частоты Изгибно-крутильных колебаний. При этом достаточно часто расположенные связи заменяются сплошной эквивалентной пластиной с толщиной бэ последняя определяется из условий одина.ковой сопротивляемости деформации сдв1Иг.а реальных связей и эквивалентной пластины [1, 3]. Численно податливость связей оценивается коэффициентом аО/бэО, где а — ширина участка срединной линии сечения, занимаемого связями (см. рис. 1,а) [c.31]

Второй путь более простого анализа структур (см. рис. 2.9, 2.12) имеет право на жизнь, если в С-секции управляющая полоска имеет ширину, сравнимую с шириной основного проводника, и распространение квази-Т волн вдоль оси можно не учитывать, что возможно при маленькой электрической длине сплошной полоски по Х2. Такой путь расчета приводит к модели на основе трехпроводной структуры [70, 71]. Меан-дровая линия со сплошной управляющей полоской при длине полосок меандра вдоль оси Х2 5—10 град также может рассматриваться или как многопроводная структура с числом линий (rt+1), или даже как двухпроводная структура с соответствующими эквивалентными параметрами. [c.41]

Типичная ширина допплеровски уширенной линии усиления в ксеноне на длине волны 2,026 мк равна Avd = 210 Ю Мгц. Поскольку в выражение для ширины допплеровской линии входит эквивалентная температура атомов, можно найти последнюю, измерив величину Avl> [c.397]

И. Г. Грабарем и А. А.ДБанявским были исследованы плоские образцы из алюминиевого сплава Д16АТВ с боковым надрезом радиусом 4 мм толщиной 1,4 мм и шириной 60 мм. Исследования показали, что при различной асимметрии цикла зависимость от длины трещины аппроксимируется прямой линией с тангенсом угла наклона а при коэффициенте корреляции не хуже 0,93, причем мейкду параметром а и эквивалентным напряжением существует однозначная связь (более подробно представление об эквивалентном напряжении изложено в следующих разделах). [c.233]

Спектр генерации при отсутствии селектирующих элементов. Даже в отсутствие селектирующих элементов в резонаторе спектр генерируемого излучения обужается по сравнению со спектром полосы люминесценции. Это связано с многопроходовым характером генерации, который приводит к усилению неравенства интенсивностей отдельных мод, определяемым контуром полосы усиления и процессами миграции энергии внутри этого контура. Наиболее просто анализ спектральных особенностей генерации проводится для однородно уширенной линии усиления (или эквивалентной ей неоднородной линии с временем кросс-релаксации, меньшим длительности генерируемого импульса). Для определенности будем считать, что линия усиления имеет лоренцев контур (см. гл. 2) с шириной Avл. [c.227]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...