Кривизна спектральных линий

Недостатком эллиптических решеток, используемых вместо сферических в схемах Роуланда, является значительная кривизна спектральных линий при удалении от точки стигматизма, вследствие чего их апертура обычно не превышает 1/20. Как показано в работе [38], этот дефект может быть исправлен добавлением к уравнению эллипсоида кубичных членов, при этом эквивалентное разрешение / = = 3 10 может быть получено для [c.263]

Кривизна спектральных линий [c.37]

Пример. Определить радиус кривизны спектральной линии для призмы с прямоугольным углом а= 60°, п= 1,6 в положении минимума отклонения (в долях фокусного расстояния объектива). [c.37]

Для исправления кривизны спектральных линий входную щель спектрального прибора иногда делают с некоторой компенсирующей кривизной обратного знака. В монохроматорах искривленной изготавливают иногда выходную щель. [c.75]

Для удобства выделения линии выходной щелью ее ножи подсвечиваются лампой непосредственно через сменные светофильтры 17. Кривизна ножей выходной щели соответствует кривизне спектральных линий в средней области спектра. Рабочая высота щели 8 мм. В верхней и нижней частях ножей имеются вырезы (рис. 464), которые позволяют рассматривать в микроскоп не только выходную щель и анализируемую линию, но и участок снектра, прилегающий к этой линии. Во время анализа вырезы в щели перекрываются шторкой. [c.614]

Из формулы (7.1.15) следует, что кривизна спектральных линий в большой степени зависит от фокусного расстояния второго объектива Ог — /г и тригонометрического множителя = = os Pi os Рг/sin Y. В соответствии с определением угловой дисперсии для призмы вне минимума отклонения De = = sin y/ os Pi os Рг. Тогда тригонометрический множитель в (7.1.15) может быть написан в следующем виде [c.431]

Так же, как в призменных системах, здесь имеет место кривизна спектральных линий из-за наклонных лучей, идущих вне [c.436]

Кривизна спектральных линий. В рассматриваемых приборах вследствие зависимости дисперсии от преломляющего угла призмы изображения прямой щели (спектральные линии) искривляются (рис. 232). Лучи, выходящие из центра щели, падают на призму по [c.356]

Стрелку прогиба и кривизну спектральной линии можно определить по формулам [54] [c.357]

Если в спектральном приборе имеется несколько одинаковых призм, то суммарная кривизна прямо пропорциональна числу призм и их угловому увеличению. В спектрографах кривизна спектральных линий несколько ухудшает условия расшифровки спектра. В монохроматорах она приводит к ухудшению чистоты выделяемого спектра, поэтому щели приходится делать искривленными. [c.358]

Если одну из щелей сделать искривленной, то загрязненность спектра уменьшается. Однако кривизна спектральных линий за- [c.404]

Усилитель приемника настраивается на частоту модуляции излучения, чем устраняется рассеянный свет. Вместо плоских зеркал 6 могут быть установлены сферические зеркала для устранения виньетирования пучков при работе с высокими щелями. По ширине выделяемого спектрального интервала система эквивалентна двойному монохроматору со сложением дисперсии. По этой же схеме может быть осуществлено восьмикратное прохождение пучка лучей через призму. Возможна установка добавочных зеркал над щелями. При этом несколько компенсируется кривизна спектральных линий. [c.412]

Направление лучей дифрагированных пучков зависит от угла у, в связи с чем в приборах с решетками, как и в призменных приборах, имеет место искривление спектральных линий прямая входная щель изображается в виде дуги, обращенной выпуклостью в сторону коротковолновой части спектра. Кривизна спектральных линий возрастает при увеличении длины волны света X и угла дифракции р. Мера борьбы с кривизной спектральных линий — применение искривленных щелей. [c.368]

Щель имеет конечную высоту, и лучи света, идущие от ее различных участков, проходят сквозь призму под различными углами. Наклонные лучи падают на призму под большим углом, чем приосевые, и преломляются сильнее. Вследствие этого спектральные линии оказываются искривленными, с выпуклостью, обращенной в сторону длинных волн. Кривизна увеличивается с уменьшением /а и с увеличением п призмы. Поэтому она возрастает к фиолетовому концу спектра. [c.20]

Бесконечно удаленная прямая линия, параллельная ребру призмы (например, изображение щели или спектральной линии S, расположенной в переднем фокусе объектива 0 коллиматора см. рис. И) и рассматриваемая через призму, кажется искривленной по дуге окружности с вогнутостью, обращенной в коротковолновую область спектра. Когда призма не находится в положении наименьшего отклонения лучей, кривизна и стрелка прогиба линий, рассматриваемых в задней фокальной плоскости объектива Oj, соответственно равны [74, 961 [c.37]

И те, и другие связаны с субъективными ошибками оператора, ошибками аппаратуры и процессами измерения. Источники систематических ошибок весьма разнообразны. Основные из них вызваны ошибками измерения кривизны и профиля линии на рентгенограмме, эксцентриситетом образца, неточностью фокусировки,-угловых измерений, поглощением и преломлением рентгеновских лучей в образце, неточностью угловых экстраполяционных функций, асимметрией спектральных линий и др. Для разных углов отражения 0 ошибку измерения периода кристаллической решетки определяют из соотношения Аа/а = А0 tg 0, т. е. с увеличением угла отражения уменьшается ошибка измерения периода. Обычно при фотографической методике ошибка определения периода кристаллической решетки составляет около 0,0001 нм. Использование дифрактометров, а также соблюдение ряда условий, например, сохранение постоянства температуры позволяют снизить указанную величину на порядок и более. [c.73]

В некоторых случаях входную щель, как уже отмечалось, изготавливают с некоторой кривизной для компенсации искривления спектральных линий, обусловленных диспергирующей системой. [c.118]

Дифракционные решетки, вообще говоря, как и призмы, вызывают искривление спектральных линий. Радиус кривизны изоб- [c.148]

В первом приближении спектральная линия представляет собой отрезок параболы с радиусом р при вершине. Для призменного спектрального прибора (одна призма) радиус кривизны может быть представлен в виде формулы [c.431]

При фотоэлектрической регистрации сигнала от спектральной линии чаще всего применяется прямая щель. Очевидно, что кривизна линии является одним из факторов, влияющих на выбор высоты и ширины выходной щели, которая не должна экранировать линию. Чтобы выполнить это условие, необходимо иметь ширину выходной щели равной или больше стрелки прогиба линии. При определении стрелки прогиба приближенно можно считать, что спектральная линия совпадает с дугой окружности радиуса р, а стрелка прогиба Ар связана с высотой спектра h. Тогда [c.431]

При наличии кривизны изображения спектральных линий (и особенно сплошного спектра) возникает необходимость ограничить высоту входной щели, чтобы не ухудшить разрешающую способность прибора. В этом случае высота входной щели не должна быть больше величины Л, при которой имеет место [c.431]

Однако для вогнутой решетки ширина должна быть ограничена из-за возникающего с ее увеличением искажения изображения спектральной линии. Это объясняется тем, что на круге Роуланда лежит только центр решетки С, так как радиус кривизны круга Роуланда вдвое меньше радиуса кривизны решетки, и для лучей, дифрагировавших от периферийных частей решетки, возникает дополнительная разность хода. Согласно критерию Рэлея, эта добавочная разность хода не должна пре- [c.444]

Объектив камеры в спектрографах фокусирует диспергированный пучок лучей в плоскость фотоматериала. Задача, которую должен решать объектив камеры, отлична от задачи объектива коллиматора. Изображения щели — спектральные линии — образуются в фокальной плоскости объектива камеры на значительном расстоянии от оптической оси. Поэтому существенными аберрациями, подлежащими устранению, здесь являются астигматизм и кривизна изображения. Объектив камеры должен быть также исправлен на сферическую аберрацию и кому. Исправить все аберрации трудно и поэтому при расчетах их стараются свести к минимуму. [c.346]

Широкое распространение для описания топографии получил математический аппарат теории случайных полей. Знание статистических моментов спектральной плотности нулевого (тд), второго (wj) и четвертого (т ) порядков позволяет определить такие характеристики, как высотный параметр, угловой коэффициент, кривизны вершин неровностей. Анализ зависимости интенсивности вторичной эмиссии электронов от угла падения зонда показывает, что по характеру изменения и амплитуде сигнала ВЭЭ можно непосредственно определить число экстремумов поверхности (число пересечений сигнала со средней линией на единицу длины), средний тангенс угла 178 [c.178]

Отражательные объективы применяются в спектральных устройствах в виде сферических и параболических алюлшпированных зеркал. Главное преимущество зеркальных объективов заключается в отсутствии у них хроматических аберраций. Сферические аберрации и астигматизм здесь очень значительны, в особенности у сферических зеркал. Они несколько меньше для параболических зеркал. Так, для параллельных пучков, падающих па параболическое зеркало и проходящих затем через фокус, сферическая аберрация на оптической оси отсутствует совершенно. Для этого параболическое зеркало следует комбинировать с плоским, наиример но схеме рис. 87. Однако можно пользоваться успешно внеосевой частью зеркала. Опыт и расчет показывают, что если точечный источник света расположен вне оси в фокальной плоскости зеркала (рис. 88, а), то возникает аберрация кома. Если же источник расположить на оси зеркала и использовать не центральную его часть (внеосевую, рис. 88, б), то кома отсутствует, однако возникает дополнительная кривизна спектральной линии. Внеосевые параболические зеркала используются теперь часто в. [c.121]

Рассмотрим вопрос о кривизне спектральных линий. Так как входная щель имеет конечную высоту, то через призменную систему пройдут пучки лучей, наклоненные к плоскости главного сечения призмы. Это приведет к искривлению изображения входной щели. Поясним это с помощью рисунка 7.1.7. Пучок лучей, выходящий из центральной точки входной щели 5о, проходит через призму в плоскости главного сечения ВАС. Лучи, идущие из верхней точки щели 51, образуют параллельный пучок, наклонный и пересекающий призму в плоскостях, непараллельных плоскости главного сечения, например, в плоскости В А С. Преломляющий угол ZB A больше угла ZBA в плоскости главного сечения призмы. В результате этого лучи, пересекающие призму вне плоскости главного сечения отклоняются больше. Это приводит к тому, что изображение входной щели искривляется, выпуклость изображения направлена в сторону больших длин волн. В ряде случаев это искривление мало [c.430]

Для компенсации кривизны спектральных линий, вносимой диспергирующим элементом, и аберрационного уширения щели конструктивные элементы оптики монохроматора выбирают так, чтобы для определенной длины волны дисперсионная и аберрационная кривизны были одинаковы по величине, но противоположны по знаку. Знаки обоих видов кривизны зависят от взаимного положения диспергирующего элемента и внеосевого зеркала. В призменных приборах эти знаки противоположны, если основание призмы ближе к оси параболоида, чем ее вершина. Такое расположение призмы принято в монохроматорах большинства инфракрасных спектрофотометров. В автоколлимацион- [c.383]

При наличии кривизны линий астигматичные изображения, получаемые от каждой точки щели, оказываются смещенными друг относительно друга и тем больше, чем дальше от середины щели находится изображаемая точка. В результате качество изображения спектральной линии ухудшается от середины к ее концам. В большинстве случаев на практике используется центральная часть щели, которая выделяется специальной диафрагмой, установленной перед щелью (диафрагма Гартмана). [c.20]

Часто призмы конструируют из двух (трех) флинтовых и трех (четырех) кроновых призм. Пятипризменные системы могут быть рассчитаны так, чтобы кривизна некоторых спектральных линий была уничтожена. [c.189]

Из теории вогнутой решетки следует, что спектры различных порядков должны фокусироваться на одной кривой. Между тем в работе [20] отмечалось, что для одной из исследованных решеток (радиус кривизны 6,4 м, 1200 штрих1мм) спектры второго и третьего порядков не фокусируются на одной кривой, а для спектров четвертого ш пятого порядков никаких аномалий не наблюдается. Указанное явление, вероятно, связано с отступлением свойств данной решетки от свойств идеальной решетки. Других упоминаний в литературе о таких аномалиях мы не встречали. Наоборот, отсутствие сдвигов спектральных линий, связанных с фокусирующим действием решетки, отмечается в работе [20а]. Измерения проводились с решеткой 1200 штрих мм, с радиусом кривизны 10,7 м. [c.132]

Положение щели и положение изображений щели (т. е. спектральных линий) определяются радиусом кривизны вогнутой решетки и углами падения и дифракции. Элементарный расчет показывает, что щель Sp, ее изображение Sp и вершина сферической решетки А В лежат на одной и той же окружности — роулан-довом круге, диаметр которого равен радиусу кривизны R вогнутой решетки (рис. 73). [c.98]

Контур спектральной линии зависит, конечно, не только от условия освещения и ширины входной щели. Аппаратурные искажения спектральных приборов имеют и нещелевой характер. Так, например, кривизна спектральных лини11 может вызывать в монохроматорах как асимметрию наблюдаемого контура, так даже и смещение его максимудга. Увеличение высоты щели и ее наклон относительно преломляющего ребра призм или штрихов дифракционной решетки приводят к некоторому увеличению нолу- [c.106]

Систематические ошибки а) субъективные ошибки измерения кривизны и профиля линий на рентгенограмме, связанные с различием положений центра тяжести и максимума линии, точечностью линии, смещением соседних линий (наложением кривых интенсивности) б) ошибки аппаратуры износ и старение аппаратуры, влияние конструкции и метода съемки, однородное или неоднородное сжатие пленки, эксцентриситет образца, кривизна пленки, неточность фокусировки, связанная с формой и расположением образующей, положение экватора пленки, наклон первичного пучка лучей, аксиальное и экваториальное расхождение пучка лучей, высота образца (наложение конусов интерференции), точность угловых измерений, сдвиг счетчика, регистрация импульсов, поглощение или пропускание лучей образцом, температура образца, преломление рентгеновских лучей в образце в) ошибки процесса измерения-, неточные шкалы приборов, неточности в угловых экстраполяционных функциях, зависимость поправки на преломление от состояния кристаллов, неопределенность длины волны, асимметрия спектральных линий, неточность абсолютного значения Х-единицы или ангстрема. [c.642]

Кассету с фотопластинкой или пленкой можно поместить в сходящемся пучке камеры Шмидта или Максутова. Но ЭОП, спектра-коны и аналогичные им приборы требуют схему с вынесенной фокальной плоскостью. К таковым относятся системы типа Шмидт — Кассегрен и менисковый Кассегрен. Модификация последнего, предложенная Винне [218], показана на рис. 8.28, в. Использование дополнительной линзы 2 позволило уменьшить кривизну поверхностей мениска 1 и тем уменьшить остаточные аберрации высших порядков. При относительном отверстии 1 1,6 она обеспечивает поле 2и) = 10° с шириной спектральных линий не более [c.299]

А) фотометрировали на микрофотометре МФ-2 небольшими участками по высоте. Столик микрофотометра с фотопластинкой через каждые 0,5 мм передвигали вдоль спектральных линий. Передвижение каретки контролировали по боковой шкале микрофотометра. Наклон щели микрофотометра корректировали с изменением кривизны фотометрируемого уча- [c.135]

Объективы спектральных систем в ряде случаев могут не быть исправленными в отношении хроматических аберраций и кривизны поля, так как поверхность нзображення щели может и ие быть плоской. Исправление дисторсии также необязательно, поскольку измерение положения спектральных линий производится обычно сравнением двух спектров, образованных той же оптической системой. Исправление астигматизма обязательно только тогда, когда прибор должен давать резкое изображение каждой точки щели, что не всегда необходимо. [c.341]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...