Локализация полос интерференции

ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПОЛОС ИНТЕРФЕРЕНЦИИ 25. Цвета тонких пластинок [c.120]

ГЛ. VI. ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПОЛОС ИНТЕРФЕРЕНЦИИ [c.123]

Рис. 6.5. К вопросу о локализации полос интерференции.

Но при замене точечного источника протяженным сразу же пришлось ограничить ту область пространства, где может наблюдаться интерференция. Теперь можно уже более четко сформулировать необходимое условие локализации интерференционных полос при данной ширине 2d источника наблюдение интерференции в свете с длиной волны /. возможно лишь в той области пространства, где а) достаточно мало, чтобы выполнялось условие (5. 31). Полезно напомнить, что опыт с зеркалом Ллойда и привел к качественным соображениям о зависимости видимости интерференционной картины от апертуры интерференции при анализе этого опыта возник также вопрос о локализации интерференционных полос. [c.210]

Наибольший интерес представляют собой случаи локализации интерференционных полос на поверхности какой-либо пластинки, используемой для создания разности хода (полосы равной толщины), и локализация их в бесконечности (полосы равного наклона). Удобно начать изучение этих явлений с исследования интерференции в тонких пластинах при освещении протяженными источниками света, которую часто называют цветами тонких пластин. Все наблюдали чрезвычайно красивые цвета тонких пленок (например, пленок нефти на поверхности воды) при освещении их солнечным светом. Рассмотрим физику этих явлений, так как она окажется очень полезной для понимания более сложных процессов, происходящих в интерферометрах, интерференционных фильтрах и других оптических устройствах. [c.210]

Образование области локализации интерференционной картины можно рассмотреть с помощью схемы интерференционного поля, изображенного на рис. 4.2, а. Предположим, что в точке А пересекаются два луча, образованные из одного луча при амплитудном делении первичного пучка, и что разность хода между ними равна нулю. Тогда вдоль линии пересечения фронтов, перпендикулярной к плоскости чертежа и проходящей через точку А, образуется полоса нулевого порядка интерференции, а плоскость р — р, являющаяся биссектрисой создаваемого волновыми фронтами двугранного угла е, будет плоскостью локализации интерференционной картины. В этой плоскости контраст картины максимален. По мере удаления от плоскости локализации и от линии пересечения фронтов, проходящей через точку А, происходит падение интерференционного контраста полос. Это происходит из-за увеличения порядка интерференции, поперечного смещения сечений пучков относительно друг друга и вследствие наложения интерференционных картин, образуемых параллельными лучами, распространяющимися по различным направлениям в пределах угловой апертуры пучков. [c.178]

В этом параграфе в анализе используются те величины, характеризующие образование полос, которые связаны с производной от оптической разности хода. Это означает, что производная вектора смещения будет также входить в рассмотрение. Начнем с простого описания понятия интерференции, которым мы пользовались до сих пор, и определим расстояние между полосами и их направление. Затем привлечем более полную теорию, в которой учитываются все световые лучи, отраженные небольшим участком поверхности объекта. В зависимости от того, как изменяется оптическая разность хода этих лучей, полосы имеют большую или меньшую видность. Поэтому необходимо также включить в рассмотрение контраст полос и их локализацию. Произведя анализ этих оптических явлений, получим представление о том, как с их помощью измеряется деформация. [c.95]

Рассмотрим частный случай интерференции в клине (рис. 5.4). Найдем расположение плоскости локализации, если будем наблюдать полосы равной толщины в воздушном клине при условии освещения его коллимированным пучком, которому соответствует плоский фронт Wq. После отражения от первой (1) и второй (2) поверхностей клина сформируются два плоских волновых фронта Wi и W2 соответственно. [c.59]

Локализация полос ). Иптерфере1Щионные устройства, рассмотренные до сих пор, можно в общем охарактеризовать как устройства, в которых свет от источника достигает точек в области интерференции двумя различными путями. Пусть Р будет такой точкой, и предположим, что свет длиной волны [c.271]

В первых двух параграфах этой главы будем полагать, что волновые поля в точности таковы, как если бы они исходили непосредственно от освещенных поверхностей объекта. Это означает, что голографический процесс восстановления считается идеальным (соответствующие условия описаны в п. 3.1.2), а голограмма рассматривается как окно, через которое можно наблюдать световые волны (так называемая обычная голографическая интерферометрия). Таким образом, нет необходимости уточнять, только одно или оба волновых поля восстановлены голографически точно так же можно не уточнять, чем обусловлены изучаемые состояния объекта — статической деформацией или же промежуточными состояниями во время движения объекта. В п. 4.1 дадим простое описание явления интерференции, используя понятие оптической разности хода между двумя лучами. Оптическая разность хода определяется вектором Смещения между парой точек, в которые приходят лучи. Этот вектор можно измерить, исследуя ход полос на интерферограмме, В п. 4.2 проанализируем явления интерференции, рассматривая малые области вокруг выбранных на поверхности объекта точек и совокупность отраженных ими лучей. Наиболее важный момент заключается в том, что здесь будут фигурировать первые производные от оптической разности хода и, следовательно, производные от смещения, т. е. тензоры относительной деформации и вращения, в знании которых специалист более всего заинтересован. Получаемые результаты связывают указанные величины с направлением, пространственной частотой, видностью, контрастом и локализацией интерференционных полос. [c.79]

Прежде, чем перейти к дальнейшему анализу обоих типов локализации, сделаем некоторые дополнительные пояснения относительно упрощенного описания явления интерференции, приведенного в пп. 4.1 и 4.2.1. Там рассматривались только два луча из всего пучка лучей, участвующих в образовании интерференционной полосы, т. е. подразумевалось, что все лучи вносят одинаковый вклад в формирование полосы. В принципе это справедливо только для случая полной локализации. Действительно, из выражения (4.75) следует, что в этом случае номер полосы зависит только от О. Однако это приближение годится также и в общем случае, но при условии, что апертура оптической системы V наблюдения очень мала, так что изменением йОкчля 8 в (4.70) можно пренебречь. Тогда полосы можно наблюдать повсюду, однако они будут иметь слабую яркость и подчас весьма невысокую видность. Здесь мы можем определить номер полосы в любой точке К вдоль направления наблюдения. Если, наоборот, величинами 40 и б нельзя пренебречь вследствие того, что не мала апертура, то может возникнуть [c.111]

В интерферометрических измерениях плазма как бы зондируется электромагнитным излучением (световым лучом). Смещение интерференционных полос в некоторой точке поля интерференции пропорционально среднему значению показателя преломления на том отрезке, который световой луч проходит в облаке плазмы разряда. Например, при изучении течения плазмы вблизи препятствий необходимо на интерферограмме получить четкое изображение интерференционных полос и препятствия. В этих случаях следует применять интерферометры, в которых поверхность локализации интерференционной картины может быть совмещена с исследуемым сечением объекта. Этому требованию удовлетворяет, в частности, интерферометр Цендера—Маха и интерферометр последовательного типа (ИПТ). [c.180]

При 5 = 0 угол р = 0. Следовательно, интерференционная картина при s = О наблюдается в результате сложения колебаний лучей, у которых р = 0. Другими словами, отраженные от зеркал лучи образуются от одного луча. Плоскость, в которой наблюдается интерференционная картина, должна проходить через точку О. Таким образом, при широком источнике света (широкой щели) можно наблюдать интерференционную картину с хорошим контрастом, но положение поля иитерференц1ш должно быть вполне определенным. Такие интерференционные полосы называют локализованными. Поле интерференции, в котором наблюдаются локализованные полосы, называется плоскостью локализации. Практически полосы наблюдаются не только в плоскости локализации, но и вблизи нее, хотя контраст при этом уменьшается. [c.141]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...