Р-Спектрометр

Исследование энергетического распределения электронов р-распада производится при помощи магнитных р-спектрометров. устройство которых аналогично устройству масс-спектрометра. [c.141]

На рис. 48 показана схема р-спектрометра, использованного советскими физиками А. И. Алихановым и др. для измерения энергетического спектра позитронов, испускаемых Ra и Th (С + С")-В этом приборе позитроны (или электроны), испускаемые источником И, проходят через отверстие в подвижной диафрагме Д, фокусируются однородным магнитным полем ( перпендикулярным плоскости чертежа) и регистрируются двумя счетчиками l и s, включенными в схему совпадений. [c.141]

В другом методе анализ электронов отдачи производится при помощи магнитного р-спектрометра обычного устройства, в кото- [c.168]

Магнитные v-спектрометры предназначены для измерения энергии Y-квантов. Они бывают разных типов. В комптоновском спектрометре у-кванты выбивают комптон-электроны, которые фокусируются и регистрируются примерно так же, как в р-спектрометре. [c.526]

Схема опыта изображена на рис. 95. При бомбардировке мишени М протонами р с энергией 330 Мэе рождаются я -мезо-ны. На пути лучка медленных я -мезонов был поставлен сосуд со сжатым до 200 атм водородом. Образующиеся при взаимодействии по схеме (13.36) у-кванты проходили через систему коллиматоров К, защиту 3 и анализировались с помощью гамма-спектрометра, аналогично изображенному на рис. 90. [c.150]

Рис. 59. Пояснение к методу I градуировки ИК-спектрометра а — определение значений Рп б—кривая поправок р(Т ) = = [3(7 —1801)-И 735,6]—V

Исследования пульсаций давления в щелевых зазорах проводились при расходе 0,25 0,5 0,75 1,0 и 1,2 (поминальный расход жидкости = 46 м /ч) и номинальной частоте вращения электродвигателя = 3000 мин" . Сигналы с датчиков давления подавались через предварительный усилитель типа М-241 на спектрометры типа СИЧ и СЗЧ и на шлейфный осциллограф. Результаты измерения пульсаций давления в основных зонах взаимодействия элементов корпуса насоса с жидкостью приводятся в виде,осциллограмм процессов (рис. 2, 3) и графиков зависимостей амплитуд составляющих пульсаций давления р от относительного расхода (рис. 4, 5). [c.113]

Для увеличения апертуры в снижения уровня фона применяются М. с. с фокусировкой, напр, для исследования р-распада ядер (см. Бета-спектрометр). Это позволяет регистрировать частицы с определёнными импульсами, вылетающие в широком интервале углов. Фокусировка достигается с помощью спец. конфигурации магн. поля. [c.689]

Ряс. 2. ИК-полоса поглощения V молекулы SP , полученная на фурье-спектрометре с разрешением 0,04 см ниже показана тонкая структура линии Р(39), измеренная на диодном лазерном спектрометре с разрешением 10 см . [c.202]

Обычно Р. м. используют в спектрометрах радиочастотного диапазона (см. Радиоспектроскопия). Одним из важнейших применений Р. м. было измерение магн. моментов протона, дейтрона и электрона. Р. м. лежит в основе Квантовых стандартов частоты и мн. методов исследования спектральных характеристик газов, жидкостей и твёрдых тел. [c.193]

Для практических целей неоднородное магнитное поле было впервые применено в 1946 г. Зигбаном и Сватхолмом [29] для р-спектрометрии. Они выбрали коэффициент неоднородности 0,5, что дает фокусировку при отклонении пучка ионов в магнитном поле на угол п 2. Позднее, в 1952 г., Фишер [15,16] предложил масс-спектрометр со скрещенными полями — радиальным электрическим и неоднородным магнитным. Прибор также имел коэффициент неоднородности 0,5 и обладал фокусировкой ионных пучков по направлению и скоростям. Разрешающая способность этого прибора была лишь в два раза выше, чем у аналогичного прибора, использующего однородное магнитное поле. [c.34]

Рис. 2. Схема траекторий эл-нов в магн. р-спектрометре с однородным магн. полем (с полукруговой фокусировкой). Эл-ны, вылетевшие из источника в направлении, перпендикулярном В, в виде плоского расходящегося пучка с угл. шириной ф, после поворота на 180° фокусируются на фотопластинке, лежащей в щтоскости, параллельной В. Фокусировка по углу l3 (в плоскости, параллельной В) отсутствует.

Поиски частиц с массами, промежуточными между массой [г-мезона и массой протона, начались в 1946 г. опытами советских ученых А. И. Алиханова и А. И. Алиханяна, проведенными с помощью разработанного ими прибора — масс-спектрометра (р,ис. 238). Принцип устройства прибора заключается в использовании нескольких ковров счетчиков С, расположенных около большого магнита таким образом, что заряженная частица, идущая сверху вниз, последовательно проходит через систему счетчиков, межполюсное пространство магнита и снова через систему счетчиков, разделеннь.1х поглотителем Я. С каждым счетчиком связана неоновая лампочка, вспыхивающая в момент прохождения частицы через счетчик. Траектория частицы в приборе и, следовательно, ее импульс определяются по расположению одновременно вспыхнувших лампочек, которые фиксируются фотоаппаратом. Пробег частицы определяется по толщине пройденного ею поглотителя. По имшульсу и пробегу вычисляется масса прошедшей через прибор частицы. В результате большой серии опытов с таким прибором авторы высказали утверждение, что, кроме ц-мезонов и протонов, в составе космических лучей должны быть частицы с промежуточными массами. Позднее такие частицы были обнаружены. [c.557]

Бета-спектрометр — это прибор для измерения энергетических спектров электронов, вылетаюш,их из ядер при р-распаде или при внутренней конверсии. Схема одного из типичных 3-спектрометров [c.526]

Активационые методы заключаются в облучении пробы частицами высоких энергий. При этом кислород, который надо определить в пробе, может быть превращен в изотопы кислорода, фтора, углерода, азота и т. д. и определен в виде таковых обычными химическими методами или методами усцинтилля-ционной спектрометрии [63—74]. Наибольший интерес представляет реакция [69—74], требующая для выполнения весьма простого оборудования. Метод скорый, чувствительный, избирательный и свободен от большинства обычных помех. Среднее время анализа, включая взвешивание, составляет примерно 7 мин. Быстрые нейтроны (более 10 Мэе) превращают Ю по реакции (п, р) в с периодом полураспада 7,4 сек. Последний испускает от 6 до 7 Мэе у-квантов, которые измеряют сцинтилляционной спектрометрией. Единственную помеху составляет фтор, но она может быть компенсирована при отношении F/0<10. [c.290]

Поскольку на образование одной пиры носителей заряда требуется, по крайней мере, в 100 раз меньше энергии (2,8 эВ в кристалле Ge), чем затрачивается в сциптплляц. счётчике па получение одного фотоэлектрона с фотокатода ФЭУ, то разрешающая способность иолупроводникоаого F.- . оказывается гораздо более высокой, чем у сцпнтилляц. Г.-с. Для спектрометрии у-квантов с энергией порядка иеск. МзВ D ОСН. применяются работающие при темн-ре жидкого азота германиевые детекторы двух типов детекторы, в к-рых обеднённая область создала внедренном ионов Li в кристалл Ge с проводимостью р-тина, и детекторы из сверхчистого Ge. Полупроводниковые F.- . дают возможность получить кэБ при = [c.412]

Собственно электромагнитный метод основан на том же принципе, что и масс-спектрометр. Любой масс-спектрометр является миниатюрной установкой для И. р. Для нолучения больших кол-в изотопов служат крупные установки (амор. термин к а л ю т р о-н ы), работающие по принципу масс-спектрометра Демп-стера (рис. 4) [1—41. В однородном магн. попе с напря- [c.124]

Эффект П. р. применяется также в новом методе спектроскопии кристаллов, позволяющем сравнительно просто из.мерять в широком спектральном диапазоне линейные и нолипейные параметры пьезокристаллов, их стехиометрия, состав, обнаруживать слабые колебания решётки, доменную структуру, фазовые переходы. Обычно удобно использовать метод скрещенной дисперсии , при к-ро. 1 регистрируется непосредственно частотно-угл. спектр П. р. и поляритонного рассеяния (о(в). В этом методе свет от источника накачки 1 (рис. 4) проходит через рассеивающий исследуемый криста,лл 2 и гю[]адает в объектив 3, в фокусе к-рого расположена вертикальная щель 4 спектрометра 5. Вдоль щели образуется утл. спектр /(й), к-рый при [c.544]

Спектрометрия Р-частяц (электронов и позитронов) с энергиями < 1 МэВ, к-рые имеют пробеги в Si Д 1 мм, осуществляется как поверхностно-барьерными П. д., так и 81(Е1)-детекторами. В области энергий < 100 кэВ) применение полупроводниковых спектрометров предпочтительнее по сравнению с др. бета-спектрометрами (рис. 3). Особенностью регистрации электронов с энергиями Г > 100 кэВ является появление в процессах взаимодействия де, кэВ электронов с веществом у-квантов, к-рые могут уйти из объёма П. д. [c.49]

Р. применяют как эмиттер электронов (реииевые острия в автокатодах, катоды в масс-спектрометрах и т. д.), в электронной аппаратуре (подогреватели катодов и т. п.). Р. и его сплавы с W и Mo используют для изготовления термопар, В качестве радиоактивного индикатора служат Re (электронный захват, --pa Him, Г.д = 90,6 ч) и др. радионуклиды Р. [c.338]

В дисперсионной Р. с. а. в ультрадлициоволновой области спектра излучение разлагают в спектр с помощью вогнутых дифракц. решёток скользящего падения (рис. 1). Разрешение спектрометров с дифракц. решёт- [c.351]

В электронных спектрометрах (рис. 1), используемых в Р. с,, на образец воздействуют излучением рентг. [c.380]

СПЕКТРОМЕТР ПО ВРЕМЕНИ ПРОЛЕТА — прибор для измерения скорости о (энергии ) частиц по времени пролёта ими заданного расстояния. Измеряется временной интервал между импульсами от двух детекторов частиц (сцинтилляциовных, искровых или черенконеких), ограничивающих т. н. пролётную базу. Для частицы с известным импульсом р = тоь>1 1 — (т — масса частицы), к-рый может быть измерен, напр., маги, спектрометром, измерение v позволяет определить т, т, е. идентифицировать частицу. Если масса частицы известна (напр., протон отдачи), С. по в. п, позволяет измерить её импульс. Разрешающая способность по массе Лт/п при заданном разрешении по скорости резко ухудшается с ростом энергии [c.621]

Эксперим. методы С. к. аналогичны применяемым в др. методах спектроскопии (см. Спектральные приборы, Спектрометрия). Характерные ширины спектральных полос (10 м ) связаны с осн. веществом кристалла, спектральные линии поглощения и испускания шириной от неск. сотен до единиц см (при комнатной темп-ре) принадлежат примесям и др. дефектам кристалла. Для исследования тонкой структуры спектров образцы охлаждают до азотных (77 К), гелиевых (4,2 К) и более низких темп-р, при этом ширины линий составляют доли СМ . [c.625]

СПЕКТРОФОТОМЕТРИЯ совокупность методов фо-тометрированин потоков оптич. излучения от источников излучения или после его взаимодействия с образцами в зависимости от длины волны объединяет разделы спектрометрии, фотометрии и метрологии. С. источников излучения наз, спектрорадиоме т-р и е й она занимается измерениями энергетич. характеристик изл чения и излучателей (потока силы света, светимости, яркости, освещённости и т. и.). В узком смысле под С. понимают теорию и методологию измерений фотометрия, характеристик образца, безразмерных коэф., определяемых отношением потоков X = Ф/Фд (где Фо — поток, падающий на образец, Ф — поток, наблюдаемый после взаимодействия с образцом) в зависимости от направлений освещения и наблюдения величина X — коэф. пропускания, отражения или рассеяния. Специфич. случай С.— метод нарушенного полного внутреннего отражения. [c.626]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...