Излучение отражение

Излучение, отраженное частицами, не включенными в ячейку, моделируется фоновым излучением, заданным на боковых гранях нижней (е, f, g, h) и верхней (е, g, /i ) частей ячейки с плотностью Qbs и соответственно, Вследствие аддитивности потоков теплового излучения преобразования в ячейке внешнего и фонового потоков можно рассматривать раздельно. В связи с этим потоки на поверхности частиц удобно представлять в виде суммы двух составляющих qp+Ър на поверхности 1/8 сфер а, i, с, d и < р + бр на а, V, с, d . Потоки qp, q p образуются в результате преобразования внешнего излучения q , 6р и бр — фонового излучения qbs. [c.151]

Второй член является, конечно, результатом интегрирования, так как нужно учесть излучение, отраженное центром зад- [c.337]

У-образные канавки в нержавеющей стали (рю = 0,3 угол раствора 30°) будут иметь р1, 0,1. Таким образом, если задняя стенка выполняется с множеством У-образных канавок, рю в первом члене уравнения (7.56) просто заменяется на р . Второй член с множителем р , представляет излучение, отраженное от задней стенки к цилиндрической, а от нее в апертуру. Второй член может быть исключен, если цилиндрические стенки [c.345]

Эффективное излучение внешнего тела состоит из собственного излучения, отраженного от внутреннего тела, и отраженного собственного излучения [c.469]

Это весьма общее определение не позволяет отличать люминесценцию от теплового излучения, отраженного и рассеянного света, излучения Черенкова — Вавилова. Более конкретное определение люминесценции дал Вавилов люминесценция есть избыток над тепловым излучением тела в том случае, если это избыточное излучение обладает длительностью примерно 10 ° с и больше. [c.246]

Коэффициентом отражения называют отношение потока излучения, отраженного данным телом, к потоку излучения, упавшего на него. [c.767]

Геометрия города также влияет на климат. Обычно города состоят из зданий, гораздо более высоких, чем элементы рельефа окружающей местности. Высокие здания, сосредоточенные на небольшой площади, служат весьма эффективной ловушкой для солнечного излучения наружные поверхности зданий поглощают и отражают солнечный свет. Прямая противоположность этому — открытая местность, где поток солнечного излучения, отраженный от почвы, почти всегда направлен обратно в атмосферу (рис. 13.1). Кроме того, высокие здания служат препятствием для ветра они порождают турбулентность и затрудняют охлаждение воздуха, вызванное испарением влаги. [c.311]

Поскольку излучение многих реальных тел близко к диффузному (шероховатые окисленные поверхности металлов и др.), то будем, как и в работах [2—6], рассматривать только диффузно-излучающие и диффузно-отражающие поверхности, т. е. излучение которых удовлетворяет закону Ламберта [9]. Для таких поверхностей собственная яркость /(.qq и яркость, вызванная отраженным излучением / р, не зависят от направления и связаны с поверхностными плотностями собственного излучения отраженного излучения qtp падающего излучения формулами [1, 9] [c.133]

Большое значение при проведении неразрушающего контроля изделий имеет правильный выбор наиболее эффективных методов. В связи с этим методы контроля дефектов (методы дефектоскопии) полимерных материалов представляют значительный интерес. При этом следует иметь в виду, что способы реализации методов контроля физико-механических характеристик материалов и методов дефектоскопии имеют принципиальное различие. Если первые методы основаны на определении физических параметров с последующей их корреляцией с механическими характеристиками материалов, то методы дефектоскопии основаны на прямом преобразовании энергии излучения, отраженной от дефекта или прошедшей через контролируемую среду. В табл. 3.1 приведены основные факторы, вызывающие образование дефектов, виды дефектов и методы их контроля, Показано, что контроль качества [c.81]

Интенсивность бета-излучения, отраженного от основного материала, зависит от его атомного номера и может быть выражена следующим образом [c.191]

Излучение, отраженное от боковой поверхности волокна (I = 0), занимает угловую зону 0° с фо < 180°, за исключением области геометрической тени. [c.271]

Поток излучения, отраженного от тела 2, так же как и у первого тела, состоит из двух частей [c.111]

Тепловое и рентгеновское излучение, отраженные, вторичные и тепловые электроны снижают эффективно используемую долю энергии электронного луча для нагрева и плавления свариваемого материала. Как и другие виды излучений, рентгеновские лучи воздействуют на организм человека и при интенсивности, превышающей допустимую, вредны. Меры по защите операторов от рентгеновского излучения учитываются при проектировании электронно-лучевых установок выбо- [c.246]

В дифрактометре предусмотрена монохрома-тизация излучения отражением от кристалла на первичном и дифрагированном пучке. Последнее более эффективно, поскольку позволяет избавиться и от флуоресцентного излучения образца. [c.121]

При применении промышленной сушки инфракрасными лучами полезно знать характеристики отражения, так как поток излучения, отраженный высушиваемыми материалами, уменьшает продуктивность сушки. [c.84]

Плотность отраженного излучения (доля падающего излучения, отраженная поверхностью тела) [c.474]

Входящая в это выражение индикатриса полусферического отражения Р(М, s, s) характеризует пространственное распределение излучения, отраженного от элементарной площадки с точкой М, т. е. вероятность того, что излучение, распространяющееся в направлении s, после отражения от площадки с точкой М находится внутри элементарного телесного угла с осью S. Интегрируя Р(М, s, s) по всем направлениям в пределах (о=2я, получим условие замкнутости [c.496]

Часть этого излучения отразится поверхностью во всех направлениях в пределах полусферического телесного угла. Пусть f/v(r, fl)—интенсивность излучения, отраженного в направлении Q. Интенсивность отраженного излучения связана с энергией падающего излучения спектральной функцией распределения [c.45]

Излучение, отраженное в пределах полусферы [c.47]

Энергия излучения, отраженного во всех направлениях единицей площади поверхности в единицу времени, в единичном интервале частот, равна [c.50]

Для элемента поверхности, облучаемого со всех направлений в пределах полусферы, интенсивность излучения, отраженного [c.54]

Для коэффициентов излучения, отражения, поглощения и пропускания мы будем использовать обозначения е, р, а и т соответственно. Термины коэффициент излучения , коэффициент отражения и т. д. относятся к реальным поверхностям и включают эффекты геометрии поверхности. Такие термины, как излучательная способность или отражательная способность , относятся к идеальным гладким поверхностям, и их использование ограничивается дискуссией об отверстии в полости черного тела. Полезным иногда термином является и коэффициент яркости Я, который определяется как отно-щение потока излучения, отраженного от элемента поверхности в специфических условиях излучения и наблюдения, к потоку, отраженному идеальной, полностью отражающей, полностью диффузной поверхностью, излученному и наблюдаемому таким же образом. [c.323]

Предположим, что требуется найти излучательную способность изотермической полости, показанной на рис. 7.5. Величина, которую необходимо вычислить, представляет собой отношение спектральной яркости элемента стенки А5, визируемого в Р, к спектральной яркости черного тела при той же температуре. В свою очередь поток излучения, исходящий из в направлении апертуры а, состоит из двух частей потока, излученного самим элементом А5, и лучистого потока, отраженного тем же элементом А5. Первый зависит только от коэффициента излучения стенки и ее температуры и не зависит от присутствия остальной части полости. Отраженный поток, со своей стороны, зависит от коэффициента отражения поверхности элемента А5 и от лучистого потока, попадающего на А5 из остальной части полости. На значении отраженного потока сказывается влияние а, так как лучистый поток, который в замкнутой полости пришел бы от а в направлении А5, в рассматриваемом случае отсутствует. Именно этот эффект отсутствия падающего потока от а в потоке излучения, отраженного от А5, и необходимо вычислить. Следует также учесть, что отсутствует не только лучистый поток в направлении а- А5, но и лучистый поток от а в направлении остальной части стенок полости. Таким образом, лучистый поток, поступающий в А5 от всей оставщейся части полости, является несколько обедненным. Из всего этого должно быть ясно, что расчет излучательной способности такой полости никоим образом не является тривиальной операцией. Для строгого вычисления необходимо знать в деталях геометрию полости и системы наблюдения, угловые зависимости излучательной и отражательной характеристик материала стенки полости, а также распределение температуры вдоль стенок полости. Температурная неоднородность изменяет поток излучения полости в целом так же, как и наличие апертуры, но с некоторым дополнительным усложнением, которое состоит в том, что изменение потока [c.327]

КИЙ К точному, применение уравнения (7.53) к другим полостям, форма которых отличается от сферической, приводит к большой погрешности. В частности, для длинных цилиндрических полостей формула Гуффе дает сильно заниженные значения коэффициентов излучения. Легко понять, почему это происходит. После первого отражения от основания цилиндра большая часть отраженного излучения падает на элементы стенки вблизи основания, и поэтому после второго отражения полость покидает относительно малое количество излучения по сравнению с предсказанным формулой Гуффе. Однако после нескольких отражений распределение излучения становится более равномерным. В пределе больших п излучение, отраженное от полости, должно составлять приблизительно ри,5/5 от излучения, остающегося в полости после /г-го отражения. После ( +1) отражения получим рш (5/5)(1—з/З) для доли от излучения, оставшегося после п-го отражения, а после (п-Ь2)-го Рю з/3) (1—з/З) от того же излучения и т. д. Другими словами, как только излучение становится существенно диффузным во всей полости, приближение Гуффе оказывается справедливым. [c.339]

С изменением температуры контролируемого веи1.ества произведение р/ остается неизменным и, следовательно, температурная погрешность для подобных устройств на точность не влияет. Интеп-сивность потока излучения, отраженного веществом, можио приближенно определить по формуле [c.159]

Понятие мод для открытого резонато ра вводится так же, как и для о бъемного резонатора. Однако в открытом резонаторе отсутствие боковых стенок приводит к тому, что появляются дополнительные потери, поскольку часть излучения, отраженного от одного из зеркал, может пройти мимо второго зеркала и выйти из резонатора. Эти потери, называемые дифракционными, существенно отличаются для разных мод открытого резонатора. Относительно малыми дифракционными потерями Обладает лишь небольшое количество мод, иоле которых концентрируется вблизи оси резонатора. Именно эти моды и возбуждаются в лазере. [c.283]

В тех случаях, когда необходима высокая чувствительность и разрешающая способность выявления дефектов, могут быть рекомендованы оптические методы, основанные на регистрации светового или инфракрасного излучения, отраженного или прошедшего через исследуемую среду [37]. Однако большинство типов пластмасс и стеклопластиков являются непрозрачными или слабопрозрачными для светового и инфракрасного диапазона. Данные материалы являются рассеивающими средами, что существенно усложняет задачу. В последнее время достигнуты большие успехи в области теории рассеяния, основанной на решении уравнений переноса, описывающих распространение световой или инфракрасной радиации в рассеивающей среде. [c.89]

Поток излучения, отраженный от детали с покрытием, кроме их атомных номеров, зависит также от размеров детали, формы поверхности и чистоты ее обработки. Следовательно, непосрадстванное использование зависимости интенсивности обратно-рассеянного Р-излучения от толщины [c.228]

В 1896 г. русский физик П. Н. Лебедев, продолжая опыты Г. Герца,, нашел простой способ генерирования электромагнитных волн длиной 1 см. Способ получения длинноволнового излучения, предложенный Лебедевым, состоял в отсортировании из всего спектра длинноволнового излучения отражением его от металлических решеток. [c.377]

Такие измерители [8, 18, 113] состоят из источника излучения (лазера), оптического устройства-интерферометра, формирующего сигнал измерительной информации, а также, как и другие измерители, включают в себя электронное устройство обработки и индикации результатов измерения. Для устранения влияния излучения, отраженного от интерферометра обратно в лазер, на его характеристики в таких измерителях предусмотрена оптическая развязка резонатора лазера и интерферометра, которая обычно осуществляется поляризациоииыми элементами или путем разнесения мест деления и наложения интерферирующих пучков. Чувствительность к направлению изменения оптической длины почти у всех приборов достигается построением схем с двумя интерференционными картинами, сдвинутыми друг относительно друга на четверть иптерференционной полосы. [c.237]

Фиг. 4.3. Разделение излучения, отраженного образцом из окисленной латуни, на зеркальную (заштриховано) и диффузную (незаштриховано) компоненты. Приведены характеристики отражения в плоскости падения [10а].

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...