Измерения спектров поглощения света

ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРОВ ПОГЛОЩЕНИЯ СВЕТА [гл. 7 [c.380]

При изучении кристаллофосфоров часто используют спектры возбуждения, которые представляют собой зависимость интенсивности свечения от длины волны возбуждающего света при одной и той же его интенсивности. Получение спектров возбуждения особенно существенно при исследовании порошкообразных кристаллофосфоров, где измерение спектров поглощения крайне затруднено из-за очень сильного рассеяния и отражения возбуждающего света. [c.182]

Кроме соблюдения условий чистоты спектра следует принять меры против загрязнений спектра рассеянным светом, который всегда возникает в оптической системе спектрального прибора. В случае измерения спектров поглощения в ультрафиолетовой и видимой областях эти меры сводятся к применению сменных светофильтров, выделяющих те участки спектра, где проводятся измерения. В случае инфракрасных спектрометров основную долю рассеянного света составляет испускание с длиной волны 1—3 где лежит обычно максимум испускания источников. Избавиться от него применением абсорбционных светофильтров затруднительно. Поэтому в ГОИ недавно был разработан весьма эффективный способ применения матированных зеркал для устранения рассеянного света. Такие отражательные светофильтры (М-7, М-10, М-14) позволяют уменьшать рассеянный свет в некоторых случаях в 10—15 раз. Устанавливаются они на место плоских зеркал перед входной и за выходной щелями. Существуют, конечно, и другие, в частности, дисперсионные светофильтры для этой цели. [c.386]

При измерении спектров люминесценции следует иметь в виду, что их форма может быть существенно искажена вторичным поглощением (реабсорбцией) света люминесценции, а также возникновением вторичных свечений. Эти явления вызваны тем, что у большинства веществ спектры поглощения и люминесценции в той или иной степени перекрываются между собой (рис. 68). В этих случаях длинноволновая часть спектра поглощения накладывается на коротковолновую часть спектра люминесценции. Поэтому длины волн коротковолновой части спектра люминесценции, которые попадают в область перекрытия спектров, выходят из толщи исследуемого вещества в значительной степени ослабленными. Длинноволновая же часть спектра люминесценции не ме- [c.202]

Следует подчеркнуть, что эти исследования только еще начаты и для возбуждения атомных пучков и обращения спектров поглощения требуются весьма сложные и тонкие эксперименты. Поэтому вряд ли такой когерентный источник света в недалеком будущем найдет широкое практическое применение при измерениях концевых и штриховых мер. Все эти работы необходимо рассматривать лишь с позиций дальнейшего улучшения воспроизведения самого нового эталона длины —длины световой волны. [c.71]

В работе [759] измеренные спектры оптического поглощения димеров Сга, М02 и СгМо, образующихся в твердом аргоне, сравнивали с предсказаниями вычислений методами ЕН и Ха. Было показано сильное различие электронных структур, даваемых этими методами. Например, ширина d-полосы согласно методу Ха оказалась приблизительно в 5 раз больше, чем следует из расчетов методом ЕН. В то же время экспериментальные и рассчитанные методом Ха положения пиков поглощения света достаточно хорошо согласовывались друг с другом. [c.260]

Рассмотренный выше оптический метод исследования локальных уровней захвата удобно применять только в том случае, когда селективное поглощение света электронами на локальных уровнях расположено в спектральной области, легко доступной экспериментальному исследованию. Однако мелкие локальные уровни обусловливают селективное поглощение в инфракрасной области, исследование в которой уже не относится к числу простых измерений. Кроме того, оптическая энергия активации отличается от термической энергии активации, а для некоторых практически важных случаев освобождение электронов с локальных уровней происходит за счет тепловой энергии колебаний решетки. В общем, термический метод исследования спектра локальных уровней представляет значительный интерес вследствие его простоты и универсальности. Методом термического высвечивания можно не только получить спектр локальных уровней, но и выделять и исследовать каждую группу уровней в отдельности. [c.90]

Спектры поглощения указанных фосфоров измерены нами двумя методами — фотографическим и спектрофотометрическим. Фотографирование спектров производилось при помощи спектрографа ИСП-22 и водородной лампы ГОИ в качестве источника света. Спектрофотометрические измерения произведены на кварцевом спектрофотометре СФ-4. [c.162]

СПЕКТРОСКОПИЯ (раздел физики, в котором изучают спектры оптические абсорбпионпая изучает спектры поглощения видимого, инфракрасного и ультрафиолетового света акустическая — совокупность методов измерения фазовой скорости и коэффициента поглощения звуковых волн различных частот, распространяемых в веществе вакуумная — спектроскопия коротковолнового ультрафиолетового и мягкого рентгеновского излучения, в которой применяют вакуумные спектральные приборы лазерная изучает полученные с помощью лазерного излучения спектры испускания, поглощения и рассеяния света мессбауэровская — метод изучения электрических и магнитных полей, создаваемых на атомных ядрах их окружением микроволновая — радиоспектроскопия электромагнитных волн сантиметрового и миллиметрового диапазонов длин волн нелинейная — методы исследования строения вещества, основанные на нелинейных оптических явлениях оптико-акустическая — метод анализа вещества, основанный на изучении спектров поглощения света, возникающих [c.278]

Спектрометр предназначен для измерения спектров поглощения в области 9- 4000 см и имеет разрешающую способность 0,1 см . В качестве источника света применена стабилизированная ртутная лампа, приемником излучения является ячейка Голея. [c.112]

Измерение спектров поглощения но методу спектров сравнения, согласно вышеприведенным двухлучевым схемам (рис. 306), отличается высокой точностью потому, что колебания в интенсивности источника света здесь исключаются, поскольку они сказываются одинаково на интенсивности обоих сравниваемых спектров. Даже такие малостабильные источники, как конденсированная искра высокого напряжения или активизированная дуга переменного тока, дают вполне удовлетворительные результаты. Соответствующим подбором электродов (латунь, алюминий, цинк, кадмий, содержащие железо, и т. д.) можно получить очень богатый линиями спектр в короткой ультрафиолетовой области спектра вплоть до области поглощения атмосферой 1840 А. [c.395]

Измерение спектров пспускания, в отличие от измерения спектров поглощения, составляет задачу гетерохромной фотометрии, так как здесь необходимо получить сведения о распределении энергии по спектру исследуемого источника света, т. е. об отношении интенсивности спектра ири одной длине волны к интенсивности спектра ири другой длине волны, точнее, других длин волн. [c.425]

Методика измерения спектров поглощения состоит в спектрофотометрическ. определении ослабления света для различных длин волн и вычислениях отсюда значения Е или к. Для жидких тел толщина поглощающего слоя задается расстоянием между плоскопараллельными пластинками, закрывающими сосуд, в к-рыи наливается жидкость, твердые же тела должны исследоваться в виде плоскопараллельных пластинок точно определенной толщины, причем в случае кристаллов д. б. известным положение светового луча по отношению к оптич. оси. Т.к. на практике измеряется всегда ослабление падающего на тело луча, то необходимо принимать во внимание ослабление света вследствие отражения. По ф-ле Френеля при перпендикулярном падении луча на плоскость раздела двух сред, относительный показатель прелом-. [ения к-рых равен п, эта отраженная часть г равна [c.312]

Этим методом находят следовательно сразу разность постоянных поглощения раствора и растворителя. Относительная погрешность измерения во втором методе меньше. Для измерения спектров поглощения непрозрачных тел можно применять следующее расположение лучи от мощного источника света (вольтовой дуги, лампы накаливания в 2 ООО—3 ООО свечей) при помощи конденсора собираются на исследуемом объекте, рядом с к-рым помещается белая пластинка, рассеивающая все лучи в равной степени. При помощи фотографич. объектива на щелях спектрофотометра получаются действительные изображения. Лучи от источника света должны падать на освещаемый предмет под возможно малым углом. Наиболее точные результаты можно получить, применяя полусферич. осветитель Гибсона. При спектро-фотометрич. исследованиях в отраженном свете должно учитывать влияние на результат измерений поляризации света при отражении от исследуемого образца. Если измерения производятся по второму способу с перестановкой, то, обозначив коэфициент поляризации для лучей правого и левого полей бипризмы через а и Ъ, вместо ф-лы (3) получают [c.314]

Применение светофильтров существенно повышает чувствительность измерений, так как светофильтры выделяют из всего светового потока как раз ту область, которая соответствует максимальному поглощению света колори-метрируемым раствором. Светофильтр как бы отрезает балластный свет , т. е. те участки спектра, которые пропускаются почти без поглощения данным раствором. [c.211]

ПОЛЯРИМЁТРПЯ — оптич. методы исследования сред с естественной или наведённой магн. полем оптической активностью, основанные на измерениях величины вращения плоскости поляризации света с помощью поляриметров и спектрополяриметров. Поляри-метрич. и спектрополяриметрич, исследования сред с естеств. оптич. активностью используются для измерения концентрации оптически активных молекул в растворах (см. Сахариметрия), для изучения структуры молекул и кристаллов, межмолекулярных взаимодействий. идентификации электронных переходов в спектрах поглощения оптически активных систем, определения симметрии ближайшего окружения молекул в жидкости или в твёрдом теле и т, д. [c.76]

Ко.лориметрический метод. Данный метод оенован на измерении ослабления светового потока, происходящего вследствие избирательного поглощения света в видимой части спектра специальными растворами. Определяемый компонент переводят в окрашенное соединение при помощи специфической химической реакции и определяют интенсивность окраски раствора но его оптической плотности. [c.86]

Влияние легирования на чувствительность кристаллов LiNbO, и LiTaOj подробно описано в [44, 65J. Использование переходных металлов в качестве легирующих добавок связано с их способностью под действием света обратимо отдавать d-электроны в зону проводимости. Измерение дифракционной эффективности при записи на длинах волн % = 0,488 мкм и Я = 0,633 мкм показало значительное увеличение чувствительности кристаллов, легированных Мп, Fe, Си, однако легирование Сг, Со и Ni не оказывает существенного влияния на дифракционную эффективность. Рост дифракционной эффективности во время записи голограммы в чистом кристалле LiNbOs и в кристаллах с различными добавками показан на рис. 7.13 [44J. Легирование Fe увеличивает чувствительность в 500 раз. Имеется связь между спектрами поглощения и чувствительностью к записи кристаллов с различными добавками. При легировании Сг, Со и Ni оптическое поглощение обусловлено внутризонными переходами, в то время как для Мп, Fe и Си поглощение вызывается ионизацией. [c.322]

В 1943 году Като [241] исследовала спектры поглощения ряда щелочно-галоидных фосфоров, и ее данные в отношении МаС1—Ag совпадают с более ранними измерениями Смаку-лы. Като также установила, что свет, соответствующий по частоте селективной полосе поглощения активатора, возбуждает в Na l—Ag флуоресценцию со спектром, состоящим из двух полос с максимумами при 249 шц и около 400 тц. [c.162]

Приведенные в предыдущей главе данные об изменениях, возникающих в спектрах поглощения и люминесценции при фотохимическом и аддитивном окрашивании щелочно-галоидных фосфоров, убедительно показывают, что введенная в кристалл активирующая примесь помимо ее основной функции в создании центров свечения проявляется также в роли электронных центров захвата. Дополнительные сведения об этой второй не менее существенной роли активирующей примеси могут быть получены путем изучения термического высвечивания и спектрального распределения стимулирующего действия света на свечение кристал-лофосфора. Подобные измерения, проводившиеся автором и рядом других исследователей, позволяют выяснить роль тепловых микродефектов в образовании центров захвата, а также их взаимодействие с введенной в кристалл активирующей примесью. [c.209]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...