Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Основные структурные схемы приборов

ОСНОВНЫЕ СТРУКТУРНЫЕ СХЕМЫ ПРИБОРОВ И КОНСТРУКЦИИ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ  [c.125]

Основные структурные схемы приборов  [c.127]

В основном существуют две принципиальные структурные схемы приборов, в которых применен метод на прохождение (рис. 15).  [c.218]

Измерительные схемы ОА-спектрометров. Все многообразие схем лазерных ОА-приборов можно свести в конечном счете к основной структурной схеме, представленной на рис. 5.9. Основными элементами этой схемы являются лазер, модулятор, согласующая оптическая система и измерительная ОА-ячейка, сигнал с выхода которой поступает в усилитель и далее в блок обработки и регистрации.  [c.137]


В последнее время этот метод получил приборное оснащение и его применяют для контроля абразивного инструмента, твердосплавных резцов, деталей подщипников и других технических объектов [9]. На рис. 2.39 показана структурная схема прибора для контроля абразивных кругов. Колебания ОК 2 возбуждают ударом молотка 1, регистрируют микрофоном 3, усиливают блоком 4 и подают на систему обработки информации 5, задача которой — измерение основной частоты / свободных колебаний. Для этого, например, выполняют измерение времени 1, соответствующее определенному числу N периодов колебаний. По нему определяют период Т=1/М и частоту /= 1/7.  [c.163]

Приборы амплитудно-фазовые на прохождение - внутреннее состояние объекта контроля определяется по изменению параметров сигнала, прошедшего через материал образца. В основном существуют две принципиальные структурные схемы приборов, в которых применен метод на прохождение (рис. 1.8 и 1.9). Чтобы исключить влияние переотражений, необходимо согласовать границы раздела с приемной и излучающей антеннами, т.е. исключить появление стоячей волны.  [c.16]

Вместо вибрационного гальванометра в качестве индикатора равновесия мостовой цепи может быть применен чувствительный транзисторный избирательный усилитель, па выходе которого включен стрелочный прибор. Структурная схема такого индикатора показана на рис. 3-7. Напряжение с измерительной диагонали моста подается на предварительный усилитель 1 и усиливается им. В предварительный усилитель входит регулирующее устройство, позволяющее изменять чувствительность индикатора. С выхода предварительного усилителя сигнал поступает на избирательный усилитель 2. Последний настраивается на частоту питания моста, т. е. усиливает только сигнал основной частоты и подавляет сигналы помехи, частота которых совпадает с частотой питания. Частоту настройки усилителя можно изменять  [c.57]

Структурные схемы дефектоскопов ИПП-1М, ИДП-1 и ВД-ЗОП в основном аналогичны структурной схеме, показанной на рис. 67, б, и отличаются наличием блоков усилителя огибающей, фильтров и пороговых устройств, включаемых между выходом фазового детектора и индикатором. Эти приборы снабжены проходными ВТП со сменными катушками (см. рис. 61), диаметр которых выбирается в зависимости от размеров поперечного сечения объекта контроля. Для подавления влияния концов объекта на результаты контроля применяют блокировки.  [c.140]


Дефектоскоп ВД-40Н состоит из сканирующего механизма с ВТП и стационарной электронной стойки (рис. 74). При осевом перемещении объекта контроля преобразователя описывают винтовую линию вокруг его поверхности. Скорость перемещения объекта определяется скоростью вращения ВТП, их числом и шириной зоны контроля каждого из них. В приборе используются два ВТП и два измерительных канала соответственно. Структурная схема каждого из каналов отличается от схемы каналов дефектоскопа ВД-ЗОП тем, что здесь способ проекции используется для уменьшения влияния зазора. Кроме того, имеется дополнительный канал измерения расстояния между преобразователем и поверхностью детали. Сигнал, полученный от одной из измерительных обмоток и несущий информацию, в основном о величине зазора, обрабатывается в этом канале и служит для управления коэффициентом передачи основного измерительного канала. Таким образом, сохраняется неизменной чувствительность дефектоскопа при изменениях зазора, что позволяет вы-  [c.144]

Прибор ВС-17П представляет собой дальнейшее развитие структуроскопов серии ВС. Он автоматизирован на основе встроенного микропроцессора, управляющего режимом работы прибора и обработкой информации ВТП. Микропроцессор управляет установкой частоты тока возбуждения, позволяет выделить амплитуду и фазу основной, третьей и пятой гармоники сигнала ВТП и провести совместную обработку по заданным алгоритмам, проверить работоспособность прибора, скомпенсировать начальное напряжение ВТП. Возможна сортировка деталей не по двум ( годные и брак ), а по нескольким группам качества. В основе аналоговой части прибора лежат структурные схемы, приведенные на рис. 67, в, г, но без подключения ЭЛТ к выходам фазовых детекторов, как в схеме на рис. 67, г. Выходами в этом случае служат блоки автоматики и сигнализации.  [c.155]

Структурные схемы таких приборов и установок соответствуют в основном схеме, приведенной на рис. 72.  [c.159]

Рис. 33. Структурные схемы основных типов универсальных регистраторов а — прибор прямого преобразования б — следящего в — развертывающего Рис. 33. <a href="/info/2014">Структурные схемы</a> основных типов универсальных регистраторов а — прибор <a href="/info/220185">прямого преобразования</a> б — следящего в — развертывающего
Классическое решение достаточного широкого круга поисковых задач, осуществляемых на основе методов НК и Д, предполагает в качестве первого и основного шага оптимальный выбор физического метода или их комбинации с учетом цели и содержания задачи, условий ее решения, а также особенностей обьекта контроля и обьекта поиска с последующей разработкой алгоритма, структурно-функциональной схемы прибора и непосредственно создание аппаратуры в совокупности с методикой контроля.  [c.627]

Введение в анализатор логических состояний микрокомпьютера как общего управляющего элемента позволяет реализовать в приборе несколько удобных возможностей. На рис. 6.6 показана структурная схема основных компонентов типичного анализатора, в котором сохранены быстродействующие логические элементы для восприятия данных от проверяемой системы и микрокомпьютер, осуществляющий общее управление.  [c.127]

ОСНОВНЫЕ ЧАСТИ И СТРУКТУРНАЯ СХЕМА ДИСТАНЦИОННОГО ПРИБОРА  [c.5]

Экспериментальная проверка основной структурной схемы турбулентности была впервые произведена Веске и Планкольтом с помощью прибора, предложенного автором. Первоначальные результаты, без сом-  [c.64]

Если при этом весовые коэффициенты в сумме равны единице, то каждый из них может трактоваться как процент влияния соответствующего частотного критерия в общем. Очевидно, изменение набора i будет приводить к изменению оптимума. Это можно истолковать как проявление неявной функциональной зависимости X = X (С), С Сх, g, С и при необходимости использовать эту зависимость в интересах повышения эффективности объемных оптимизационных расчетов, В последний период развиваются новые интересные подходы для решения многокритериальных задач, которые основаны на методах ма тематической теории принятия решений. Рассмотренные в этой главе задачи расчета и синтеза газовых лазеров можно с полной уверенностью отнести к многокритериальным задачам парамеяри-ческой оптимизации, причем в общем случае с нелинейным функ-ционалом. Для оптимизации характеристик газовых лазеров или поиска при заданных характеристиках оптимальных конструктивных решений в этих приборах, в отсутствии разработанных средств математического исследования такого рода задач, необ ходимо исходить из физических соображений. Эти предпосылки по существу заложены в этапы реализации основной структурной схемы разработки газовых лазеров с использованием ЭВМ, изложенной в п. 2.3.Уже на первом этапе (анализ конкретной рассматриваемой задачи) многокритериальная оптимизация характеристик газовых лазеров может быть сведена к однокритериальной. Таким примером может служить задача разработки газового лазера с заданными характеристиками излучения в дальней зоне или расчет характеристик молекулярного усилителя. Именно физические соображения определили основным объектом исследования в обратной задаче расчета газового лазера резонатор с зеркалами, имеющими переменные по апертуре коэффициенты отражения. Затем анализ технологических возможностей привел к основному критерию оптимизации этих зеркал —- минимальному числу колебаний в зависимости R (г). Такой физический подход к оптимизации на сегодняшний день является типичным в задачах квантовой электроники. Однако прикладные задачи уже в настоящее время требуют большого количества принципиально разных газовых лазеров, работающих в различных режимах генерации, спектральных диапазонах и с различными уровнями входной мощности. Не всегда физический подход может обеспечить необходимые упрощения, способные свести задачу к простейшим приемам оптимизации, которые не требуют исследований функционалов (см. выражения (2.155) и (2.156)). Оптимизация выходных характеристик и конструктивных элементов прибора с учетом тенденций, определенных в теории и эксперименте, может осуществляться подбором необходимых данных в небольшом интервале изменений управляемых переменных. Дальнейшее совершенствование оптимизационных задач с использованием ЭВМ, как основных в разработке и исследовании  [c.123]


Принципы построешя и основные структурные схемы цифровых измерительных приборов достаточно подробно рассмотрены в ряде монографий (Л. 1—7]. Поэтому здесь очень кратко описаны наиболее распространенные структурные схемы.  [c.4]

На фиг. 2.6 приведена структурная схема прибора для работы двумя раздельными головками. Основным узлом служит генератор качающейся частоты. Он возбуждает искательную головку 1, выполняющую функцию излучателя ультразвука. Одновременно в генераторе формируется напряжение развертки, подаваемое на горизонтально отклоняющие пластины осциллоскопа. При использовании. метода сквозного прозвучивания ультразвуковой сигнал проходит через образец и принимается головкой 2, преобразующей его в переменное электрическое напряжение. При другом расположении искательных головок, применяемом для работы методом отражения, ультразвук излучается в образец под небольшим углом и улавливается приемной головкой после отражения от донной поверхности или внутренней неоднородности образца.  [c.71]

Гука или кадданной передачи), этот-механизм служит для передачи вращательного движения между валами, оси которых пересекаются, Нешироко применяется в автомобилях, станках, приборах (входное и выходное звенья 1,3 выполнены в виде вилок, звено 2 — в виде крестовины, звено 4 — стойка О — точка пересечения осей) ж — структурная схема основного рычажного механизма одного из видов промышленного робота, это механизм с незамкнутой кинематической цепью AB DEF (звенья I—5 — подвижные, б — стойка, f —охват). Промышленные роботы в настоящее время находят все более широкое применение для выполнения самых различных технологических и вспомогательных операций сборки, сварки, окраски, загрузки и т. п.  [c.28]

Для контроля мелких деталей (в основном деталей подшипников) разработаны приборы (типа СК27-МД1115, СК-39, СК-31, МДР-1, МДР-2, МДР-3) отраслевого назначения. Структурные схемы этих приборов показаны на рис. 67, б. Они снабжены также устройствами транспортирования и сортировки деталей.  [c.147]

Эта разработка могла бы найти применение, например, в химической промышленности при контроле крупногабаритных заготовок из пластмасс или при контроле огнеупорных материалов, проверке футеровки обжиговых печей и т. п. Одноканальная радиометрическая аппаратура ДГС-1 и девятиканальная ДГС-9 [55] предназначены для контроля сплошности изделий простой формы методом просвечивания с применением в качестве источника излучения °Со активностью 32—64 Ки. В аппаратуре ДГС-1 и в каждом из каналов аппаратуры ДГС-9 определение плотности потока нерассеянного излучения на контролируемом участке изделия осуществляют путем измерения средней частоты следования электрических импульсов, поступающих со сцинтилляционного детектора, амплитуда которых превышает установленный уровень дискриминации. Для этого используется интенсиметр с 7 С-ячей-кой. К выходу интенсиметра подключается самопишущий прибор. Структурная схема одноканальной установки ДГС-1 показана на рис. 88. Основными частями ее являются стойка  [c.154]

В основном каждый прибор можно и целесообразно считать состоящим из трех частей воспринимающей или чувствительной, передающей или преобразующей и показывающей или отсчет-ной. Структурно-метрологическая схема прибора показана на фиг. 1.  [c.20]

На рис. 7.19 представлена структурная схема двухкоординатного электрогидравлического следящего привода с использованием приводов объемного управления, примененная в токарнокопировальном станке ТКБ-2 производства Краматорского завода тяжелого станкостроения. Внутренняя и основная обратные связи выполнены при помощи потенциометров и электрокопиро-вального прибора — датчика.  [c.517]

Прибор ИТЛ-1М, предназначенный для измерения толщины холоднокатаных стальных листов, также построен по двухканальной схеме. В основном канале используется накладной экранный преобразователь с фазометрической схемой в дополнительном предназначенном для выделения информации о а листа, применена структурная схема, показанная на рис. 45, б, с накладным преобразователем. Выходной сигнал дополнительного канала воздействует на генератор основного канала, изменяя его частоту так, чтобы ослабить влияние изменений а на ноказания индикатора основного канала. Функция преобразования этого сигнала в изменения частоты генератора определяется экспериментально для каждой марки стали. Обобщенный параметр контроля дополнительного канала выбран достаточно большим с целью исключения влияния толщины листа на сигналы преобразователя. В основном канале снижение погрешности от влияния зазора достигается применением накладного экранного преобразователя. Конструктивно прибор выполнен в виде стойки, имеющей четырехблочную структуру. Блок преобразователей помещен в массивный металлический кожух и снабжен пневмоприводом, что позволяет выдвигать блок преобразователей при установке контролируемой полосы.  [c.148]

Более совершенная модель по сравнению с приборами серии ЭМИД — структуроскоп ВС-10П (рис. 58). Он выполнен по структурной схеме, объединяющей схемы, показанные на рпс. 45, в, г. Основные отличительные особенности этого прпбора заключаются в наличии выходного малоинерционного двухканального автоматического устройства, позволяющего выбирать границы сортпровкп прп поточном контроле продукции проката типа прутков, трубных заготовок и других деталей диаметром 1—150 мм.  [c.153]

Для измерения а деталей из неферромагнитных материалов с плоскими поверхностями применяют приборы серии ИЭ, отличающиеся друг от друга диапазоном значений о и значениями рабочих частот. Эти приборы выполнены по структурной схеме, показанной на рис. 47, в них используются параметрические накладные ВТП с ферритовыми сердечниками. Настройкой колебательного контура добиваются снижения погрешности, вызванной влиянием изменений зазора в пределах 150—200 мкм. В приборах ИЭ предусмотрено абсолютщ>е измерение сг значение отсчитывается по лимбу. Основные технические данные приборов серии ИЭ и других измерителей а приведены в табл. 15.  [c.159]


Более разнообразна группа двухлучевых спектрофотометров. Из отечественных приборов можно отметить модели СФ-8 с диапазоном 195—2500 нм и СФ-17 с диапазоном 190—800 нм (см. рис. 28, в). Точность установки длины волны в них (0,14-0,5) нм, фотометрическая точность составляет (0,5ч-1)%. Запись спектров производится на специальных калиброванных бланках. Примером ИК-спектрофотометра являются приборы серии ИКС (СССР), работающие в области спектра 0,75—25 мкм. В приборах этой серии используются призменные монохроматоры. Структурная схема модели ИКС-14А в основных чертах повторяет схему спектрофотометра СФ-17. Отличия в схемах обусловлены спецификой построения прибора для инфракрасной области и типом фотоэлектрического преобразователя — болометра. Выделим двухлучевые спектрофотометры серии Акта . Спектральный диапазон, в котором работают эти приборы, 190—3000 нм, охватывает ближнюю инфракрасную область. В модели Акта М УП используется двухрешетчатый монохроматор с особо высокой разрешающей способностью (лучше, чем 0,05 нм) в источнике излучения могут быть вклю-  [c.256]

Задание на курсовое проектирование содержит название темы проекта, краткое описание назначения машины или прибора и функций их исполнительных органов и элементов, структурные схемы основных механизмов, схемы согласованности перемещений исполнительных органов (циклограммы, тактограммы), исходные данные.  [c.7]

Приборы позволяют с различной степенью точности измерять любые физические величины, вести наблюдения, управление или регулирование исследуемых процессов. Для этих целей измеряемый параметр воспринимается, преобразуется и передается исполнительному механизму прибора. В соответствии с выполняемой задачей в любом приборе различают три основных узла воспринимающий, преобразующий, передающий и исполнительный. На рис. 2 показана структурная схема измерительного прибора.  [c.8]


Смотреть страницы где упоминается термин Основные структурные схемы приборов : [c.151]    [c.229]    [c.320]    [c.249]    [c.217]    [c.6]   
Смотреть главы в:

Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий  -> Основные структурные схемы приборов



ПОИСК



Основные приборы

Основные структурные схемы приборов и конструкции преобразователей

Основные схемы

Основные части и структурная схема дистанционного прибора

Прибор схема

Схема структурная



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте