Эхо-дефектоскоп Структурная схема

Рмс. 3. Структурные схемы радиометрических дефектоскопов [c.376]

Вихретоковые приборы, построенные по структурной схеме, приведенной на рис. 72, могут быть использованы как толщиномеры, структуроскопы, дефектоскопы, измерители зазоров, перемещений и т. д. Назначение прибора определяется прежде всего типом ВТП, параметрами некоторых блоков и программами. [c.138]

Структурные схемы специализированных дефектоскопов определяются принятыми способами выделения информации. Приборы отличаются главным образом конструкцией, наличием блоков сортировки, блоков представления и регистрации информации, блоков маркировки дефектных участ. [c.139]

Структурные схемы дефектоскопов ИПП-1М, ИДП-1 и ВД-ЗОП в основном аналогичны структурной схеме, показанной на рис. 67, б, и отличаются наличием блоков усилителя огибающей, фильтров и пороговых устройств, включаемых между выходом фазового детектора и индикатором. Эти приборы снабжены проходными ВТП со сменными катушками (см. рис. 61), диаметр которых выбирается в зависимости от размеров поперечного сечения объекта контроля. Для подавления влияния концов объекта на результаты контроля применяют блокировки. [c.140]

Дефектоскоп ВД-40Н состоит из сканирующего механизма с ВТП и стационарной электронной стойки (рис. 74). При осевом перемещении объекта контроля преобразователя описывают винтовую линию вокруг его поверхности. Скорость перемещения объекта определяется скоростью вращения ВТП, их числом и шириной зоны контроля каждого из них. В приборе используются два ВТП и два измерительных канала соответственно. Структурная схема каждого из каналов отличается от схемы каналов дефектоскопа ВД-ЗОП тем, что здесь способ проекции используется для уменьшения влияния зазора. Кроме того, имеется дополнительный канал измерения расстояния между преобразователем и поверхностью детали. Сигнал, полученный от одной из измерительных обмоток и несущий информацию, в основном о величине зазора, обрабатывается в этом канале и служит для управления коэффициентом передачи основного измерительного канала. Таким образом, сохраняется неизменной чувствительность дефектоскопа при изменениях зазора, что позволяет вы- [c.144]

Толщиномеры диэлектрических покрытий на электропроводящих основаниях. Один из основных параметров толщиномера — погрешность измерения, возникающая, как правило, вследствие влияния мешающих факторов, связанных с измерением параметров объекта. В толщиномерах обычно используют только накладные ВТП, позволяющие оценивать локальную толщину объекта. Структурные схемы толщиномеров определяются способом выделения информации и отличаются от схем дефектоскопов, как правило, отсутствием блоков, применяемых при модуляционном способе. [c.148]

Рис. 17. Структурная схема дефектоскопа МД-41К

Рис. 90. Структурные схемы специализированных устройств ультразвуковых дефектоскопов для измерений времени распространения УЗК различными методами

Рис. 104. Структурная схема дефектоскопа АД-60С

Прочие средства контроля многослойных конструкций. Прибор АФД-2 (табл. 31) по структурной схеме, диапазону частот и области применения не отличается от своего прототипа — импедансного дефектоскопа ИАД-3 с со вмещенным преобразователем (см табл. 30). В отличие от него, он вы полнен на полупроводниковых эле ментах с универсальным питанием Прибор АФД-3 отличается от АФД-2 более низкими рабочими частотами и предназначен для контроля изделий из материалов с низкими модулями Юнга (в том числе пенопластов). [c.306]

Рис. 2.12. Структурная схема импульсного теневого дефектоскопа

Обобщенные структурные схемы ультразвуковых дефектоскопов с импульсным и непрерывным излучением существенно различаются. [c.180]

Обобщенная структурная схема дефектоскопа, реализующего метод отражений при непрерывном излучении упругих колебаний, приведена на рис. 4.6. При перемещении раздельно-совмещенного преобразователя 3 по контролируемому объекту 8 со скоростью V эхо-сигнал, отраженный от дефекта, имеет частоту /пр, отличную от частоты /о на значение определяемое выражением (4.1). В приемном устройстве осуществляется подавление (компенсация) сигналов с частотой /(, генератора, усиление и выделение сигналов [c.188]

Рис. 88. Структурная схема радиометрического дефектоскопа ДГС-1

Рис. 89. Структурная схема радиометрического дефектоскопа

Структурная схема шлангового дефектоскопа приведена на рис. 6.1. На рис. 6.2 показаны радиационные головки некоторых отечественных шланговых дефектоскопов, а на рис. 6.3 — типовое оборудование гамма-дефектоскопии с дистанционным пультом управления. Основным элементом радиационных головок является защитный урановый кожух, смонтированный внутри корпуса и предназначенный для защиты обслуживающего персонала от радиоактивного излучения. [c.89]

Рис. 6.1. Структурная схема шлангового гамма-дефектоскопа

Обнаружение и измерение имеющихся в конструкции дефектов осуществляют с помощью ультразвуковых дефектоскопов специального или общего назначения. Структурная схема импульсного ультразвукового эхо-дефектоскопа общего назначения приведена на рис. 9.7. [c.151]

Структурные схемы дефектоскопов ИПП-1М, ИДП-1 и ВД-ЗОП в основном аналогичны структурной схеме, показанной на рис, 45, б, и отличаются наличием блоков усилителя огибающей, фильтров и пороговых устройств, включаемых между выходом фазового детектора и индикатором. [c.135]

Неферромагнитную проволоку, особенно проволоку из тугоплавких металлов, проверяют дефектоскопом типа ДКВ-2 нескольких модификаций. В приборе применяется проходной преобразователь с однородным полем и базой 6 = = 0,5 1. Это позволило перекрыть диапазон диаметров контролируемой проволоки 0,3—2,5 мм тремя преобразователями ири регулировке коэффициента передачи измерительного канала и возбуждающего тока. Структурная схема прибора отличается от схемы, показанной на рис. 43, наличием усилителя огибающей и фильтра. Для индикации служат световой сигнализатор и электромеханический счетчик дефектов. Для настройки прибора применяют подключаемые к нему осциллограф и самописец (серийные). Прибор прост в эксплуатации, имеет малые габариты и массу. [c.138]

Рис. 46. Структурная схема эхо-дефектоскопа

Рис. 103. Структурная схема спектрального дефектоскопа ЧИЬ П-4УС

Приборы серии ППД имеют аналогичное назначение, но существенно отличаются от рассмотренных выше дефектоскопов структурной схемой автогенера-торного типа (тем. рис. 48). Автогенератор выполнен на одном транзисторе, что позволяет резко упростить схему прибора и уменьшить его габариты. На бездефектном участке детали автогенератор работает в режиме, близком к срыву автоколебаний. При попадании в зону контроля дефектного участка происходит срыв колебаний, что фиксируется стрелочным индикатором и звуковым сигналом. Влияние зазора не ослабляется. Прпбор имеет автономное питание. [c.142]

Ультразвуковые дефектоскопы предназначены для излучения ультразвуковых колебаний, приема эхо-сигналов, установления положения и размеров дефектов. Простейшая структурная схема эходефектоскопа изображена на рис. 6.22, о. Здесьгенератор I возбуждает короткие электрические импульсы и подает их на излучатель 2, который работает как пьезопреобразователь и преобразует данные импульсы в ультразвуковые колебания (УЗК). УЗК распространяются в объект контроля (ОК) 3, отражаются от дефекта и противоположной стороны ОК, принимаются приемником 4 (излучатель и приемник может быть одним и тем же элементом при совмещегшой схеме пьезопреобразователя). Приемник 4 превращает УЗК в электрические сигналы и подает их на усилитель 5, а затем на вертикально отклоняющие пластины электронно-лучевой трубки, на которой формируются пики импульсов I, II, III (верхняя часть рисунка), характеризующие амплитуду эхо-сигналов. Одновременно с запуском генератора импульсов 1 (или с некоторой заданной задержкой во времени) начинает работать генератор развертки 7. Правильную временную последовательность их включения и работы (а также правильную последовательность работы других узлов дефектоскопа, не показанных на рисунке) обеспечивает синхронизатор 6. Синхронизатор приводит в действие генератор развертки 7. Сигнал, поступающий на генератор развертки 7, направляется на гори-зонтально-отклоняющие пластины электронно-лучевой трубки. При этом на электронно-лучевой трубке появляется горизонтальная линия (линия развертки дефектоскопа), расстояние между пиками пропорционально пути импульса от излучателя до отражателя и обратно. Таким образом, развертка позволяет различать по времени прихода сигналы от различных отражателей ультразвука (от дефекта II, донный III) и их отклонение от зондирующего I. [c.178]

Радиоизотопные источники излучения. Разработаны различные структурные схемы регистрации радиометрических дефектоскопов со сцинтил-ляционными счетчиками, работающие в средиетоковом (рис. 3, а) и импульсном режимах (рис. 3, б). [c.376]

Неферромагнитную проволоку, особенно проволоку из тугоплавких металлов, проверяют дефектоскопами ти-иов ВД-ЮП, ВД-20П, ВД-21 П. Структурная схема этих приборов, так же как и более универсального прибора ВД-23П (рис. 73), отличается от схемы, показанной на рис. 65, наличием усилителя огибающей, фильтра и блока распознавания вида дефекта, включенных последовательно между выходом амплитудного детектора и индикатором, в качестве которого используются счетчики суммарной протяженности длинных дефектов (типа расслоев в вольфрамовой проволоке) и числа коротких дефектов, превышающих пороговый. Благодаря применению измерительного преобразователя скорости перемотки проволоки результаты контроля не зависят от вариации скорости перемотки. Приборы снабжены осциллографическим индикатором, имеют выход для подключения самописца и выход информации в двоично-десятичном коде для сопряжения с ЦВМ. Они позволяют контролировать проволоку в изоляции и под слоем графитового смазочного материала. Для дефектоскопии ферромагнитной проволоки применяется подмагничи-вание постоянным магнитным полем. [c.143]

Ультразвуковой эхо-дефектоскоп предназначен для обнаружения несплош-ностей и неоднородностей в изделии, определения их координат, размеров и характера путем излучения импульсов ультразвуковых -колебаний, приема и регистрации отраженных от неоднородностей эхо-сигналов [15, 21]. Его структурная схема показана на рис. 43. [c.228]

Система с ручным сканированием. Структурная схема такого современного интроскопа приведена на рис. 78. Так же, как в импульсном эхо-дефектоскопе, здесь имеется преобразователь, высокочастотный усилитель (УС), устройство автоматического регулирования (АРУ), детектор (Дет), блок представления информации (здесь дисплей), генератор зондирующих импульсов (Г) и синхронизатор (Синхр). В отличие от эхо-дефектоскопа здесь после некоторого усиления сигнал логарифмируется в блоке лога- [c.267]

Рис. 101. Общая структурная схема им-педансного дефектоскопа с раздельно-совмещенным преобразователем и амлпи-тудно-фазовой обработкой информации

Структурная схема импульсного ультразвукового эходефектоскопа приведена на рис. 8.8. Электроакустический преобразователь ЭАП (пьезоэлектрический искатель) служит для преобразования электромагнитных колебаний в ультразвуковые, излучения их в изделие и приема колебаний, отраженных от дефектов. Усилитель сигналов УС состоит из усилителя высокой частоты с коэффициентом усиления 10 —10 и детектора. Генератор зондирующих импульсов ГИ вырабатывает высокочастотные импульсы напряжения, возбуждающие ультразвуковые колебания ЭАП. Синхронизатор С предназначен для обеспечения синхронной работы узлов дефектоскопа. Он обеспечивает одновременный запуск генератора ГИ и генератора линейно изменяющегося напряжения ГЛИН, который служит для формирования напряжения развертки электронно-лучевой трубки ЭЛТ. Измеритель времени ИВ предназначен для измерения времени прохождения импульса до дефекта и обратно. Регистрирующее устройство РУ селектирует эхосигнал от дефекта по времени и по амплитуде и фиксирует его на самописце. Блок регулировки чувствительности РЧ служит для выравнивания амплитуд сигналов от дефектов, залегающих на разной глубине. [c.376]

Дефектоскоп ЭДМ-65 предназначен для выявления поверхностных дефектов на зачищенных сварных швах в деталях из алюминиевых сплавов. В состав дефектоскопа входит электронный блок и головка с вращающимися преобразователями, включенными дифференциально. Структурная схема его отличается от схемы, показанной на рис. 43, наличием фильтра и усилителя огибающей, включенных между амплитудным детектором п осциллографпческпм индикатором. Сканирующая головка снабжена световым сигнализатором. Влиянпе изменений а в зоне шва исключается с помощью выбора соответствующих фильтров. Недостаток дефектоскопа состоит в снижении чувствительности к дефектам прп измененпи зазора. [c.141]

По структурной схеме прибор не отличается от дефектоскопа ВД-40Н. Подбирая фазу опорного напряжения фазового детектора, добиваются ослабления влияния кривизны поверхности изделпя. Автоматическая регулировка усиления позволяет вести контроль при увеличении зазора от О до 1 мм. Световой сигнализатор вынесен в сканирующую головку. [c.141]

Приборы серии ДНМ (ДНМ-15, ДНМ-500, ДНМ-2000) предназначены для контроля качества поверхности деталей из алюминиевых и жаропрочных сплавов. Преобразователи, применяемые в приборах, — однокатушечные, параметрические и имеют ферритовый концентратор. Приборы созданы по единой структурной схеме (см. рис. 45, б) и отличаются только частотой генератора и геометрическими размерамп преобразователя. При соответствующей настройке фазорегулятора ослабляется влияние небольших изменений зазора. Дефектоскоп настраивают на образце, электромагнитные характеристики которого идентичны характеристикам детали, или на бездефектном участке. [c.142]

Дефектоскоп ВД-20НСТ предназначен для выявления поверхностных дефектов в ферромагнитных и неферромагнитных материалах. Его структурная схема отличается от схемы, показанной на рис. 45, б, наличием дополнительного канала измерения зазора, подключенного к блоку преобразователей и состоящего из последовательно соединенных усилителя, амплитудного детектора и светового индикатора, сигнализирующего о превышении допустимого значения зазора. Кроме того, опорное напряжение на фазорегулятор подается не от генератора, а от преобразователя. В допустимых пределах влияние зазора ослабляется соответствующей настройкой фазорегулятора. Световые индикаторы (наличия дефекта п превышения допустимого зазора) расположены непосредственно на корпусе преобразователя. Эффективность отстройки от зазора и уровень сигнала от дефекта можно проверять с помощью стрелочного индикатора. [c.142]

Многоцелевой прибор NDT-6 американской фирмы Нортек может быть использован для сортировки деталей по маркам сплавов, для контроля качества термообработки, измерения толщины электропроводящих слоев и толщины покрытий на нпх, а также для дефектоскопии ферро- и неферромагнитных материалов. Прпбор, выполненный по структурной схеме, показанной на рис. 45, г, снабжен запоминающей ЭЛТ, благодаря чему на экране могут быть получены годографы векторов напряжения ВТП при изменениях контролируемых параметров и мешающих факторов. Изменяя в широких пределах чувствительность прибора, а также разворачивая плоскость комплексных напряжений на экране ЭЛТ с помощью фазорегулятора (см. рис. 45, можно добиться того, что линии влияния мешающего фактора (например, зазора) будут иметь вид горизонталей, Варпации контролируемого параметра вызывают смещение этих линий по вертикали. Значения этих смещений и определяют контролируемый параметр. Предварительно выбирают рабочую частоту исходя пз наилучших условий разделения контролируемого параметра и мешающего фактора. [c.160]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...