Методы плоскопараллельного перемещения

Первый путь лежит в основе метода плоскопараллельного перемещения второй составляет теоретическую базу метода перемены плоскостей проекций. Рассмотрим каждый из этих методов в отдельности. [c.95]

МЕТОД ПЛОСКОПАРАЛЛЕЛЬНОГО ПЕРЕМЕЩЕНИЯ [c.95]

Изменение взаимного положения проецируемой фигуры и плоскостей проекций методом плоскопараллельного перемещения осуществляется путем перемещения геометрической фигуры в новое положение так, чтобы траектории перемещения ее точек находились в параллельных плоскостях. [c.95]

В зависимости от положения этих плоскостей по отношению к плоскостям проекций и вида кривой (траектории перемещения точек). метод плоскопараллельного перемещения подразделяют на способы [c.95]

Сочетание метода плоскопараллельного перемещения с методом перемены плоскостей проекций [c.110]

Пользуясь только одним методом плоскопараллельного перемещения нли только одним методом перемены плоскостей проекций, всегда можно перейти от произвольного положения геометрической фигуры к частному, обеспечивающему получение удобного вида проекций. Однако иногда бывает целесообразно применять не один какой-либо метод, а использовать сочетание двух методов — плоскопараллельное перемещение и перемену плоскостей проекций. [c.110]

Существенным преимуществом метода перемены плоскостей проекций является построение только одной вспомогательной проекции (при замене одной плоскости проекции), в то время как метод плоскопараллельного перемещения требует построения двух вспомогательных проекций (при перемещении параллельно одной плоскости) . [c.110]

Возможность совместного применения методов плоскопараллельного перемещения и перемены плоскостей проекций была указана еще [c.110]

В че.м состоит принцип преобразования ортогональных проекций методом плоскопараллельного перемещения [c.115]

Задача используя метод плоскопараллельного перемещения, вписать в двугранный угол с ребром ВС сферу с центром на прямой АО. [c.74]

Задача даны падающий луч 8 и отражающая плоскость 6(АВС). Построить отраженный луч, используя метод плоскопараллельного перемещения. [c.75]

Задача достроить треугольник АВС с заданным углом ф при вершине А, используя метод плоскопараллельного перемещения. [c.76]

Задача используя метод плоскопараллельного перемещения, через центр тяжести треугольника АВС провести произвольную прямую под заданным углом ф к плоскости треугольника. Определить натуральную величину треугольника АВС. [c.77]

Задача с помощью метода плоскопараллельного перемещения определить натуральную величину угла ф между прямой / и плоскостью 0(АВС), натуральную величину плоскости. [c.78]

Задача с помощью метода плоскопараллельного перемещения из центра тяжести треугольника АВС восстановить перпендикуляр плоскости треугольника данной длины I. Определить натуральную величину треугольника АВС. [c.79]

В основе этого метода лежит следующая теорема всякое - плоскопараллельное перемещение твердого тела может быть получено одним вращением около оси, перпендикулярной к основной плоскости. [c.127]

В основе этого метода лежит следующая теорема всякое плоскопараллельное перемещение твердого тела может быть получено с помощью одного поступательного и одного вращательного движения. % Пусть за время А/ отрезок АВ, определяющий плоскопараллельное движение тела, переместился в положение, (рис. 12.9). [c.131]

Плоскопараллельное перемещение и перемена плоскостей проекций являются не единственными методами получения вспомогательных проекций, удобных для решения поставленной задачи. [c.112]

При механической доводке деталей, имеющих две параллельные плоскости, одновременно доводят обе плоскости у нескольких деталей, устанавливаемых на станке. Детали помещают в обойме между плитами. Существуют два метода доводки плоскопараллельных деталей между вращающимися в разные стороны плитами и между неподвижными плитами. В первом случае рабочим движением является движение притирочных плит, а обойма совершает только колебательные движения для осуществления пересечения штрихов (путаный штрих). Колебательные движения обоймы в этом случае являются вспомогательным движением. Во втором случае обойма с деталями осуществляет как рабочее движение, так и перемещение детали для пересечения штрихов. [c.290]

Изучение отмеченны.ч выше методов преобразования ортогональных проекций выходит за рамки учебной программы курса начертательной геометрии для втуза. Мы остановились на них лишь для того, чтобы читатель имел в виду, что кроме методов плоскопараллельного перемещения и перемены плоскостей проекций существуют и другие методы . [c.115]

Отличительным признаком измерительной головки является увеличивающее устройство, преобразующее малое перемещение измерительного штока 9, вызываемое отклонением Ад детали, в значительно большее перемещение указателя 8, отсчитываемое по шкале 7. Шкалы этих приборов, в отличие от приборов для абсолютных измерений, не являются штриховыми мерами. В связи с этим для этих приборов вводится понятие цена деления шкалы, определение которого дано выше. Приборы для относительных измерений получили широкое распространение после практического освоения и распространения плоскопараллельных концевых мер длины и интерференционных методов их измерений. Эти приборы значительно повысили точность измерений по сравнению с инструментами и приборами для абсолютных измерений. С помощью концевых мер длины практически можно составлять блоки любых применяемых в машиностроении размеров через 0,001 мм. Следовательно, можно подобрать блок такого размера А, чтобы неизвестное отклонение Ад сделать весьма малым. Это позволяет использовать прибор с большим увеличением, тем самым повышая точность измерения. Размеры концевых мер длины и блоки из них с помощью интерференционных методов измерений можно аттестовать с точностью до сотых долей микрона. [c.348]

На практике, неудобно записывать кривую качания, поворачивая для этого тонкий совершенный кристалл в электронном пучке . Вместо этого можно использовать любой из двух методов. Так, например, можно наблюдать в электронном микроскопе светлопольные или темнопольные изображения равномерно изогнутой плоскопараллельной кристаллической пластинки. Для плоской падающей волны угол падения на плоскости решетки меняется при перемещении электронного пучка вдоль кристалла, как показано на фиг. 9.2. Интенсивность прошедшего и дифракционного пучков в любой точке выходной поверхности будет зависеть от ошибки возбуждения для плоскостей решетки в данной точке, и при постоянной кривизне кристалла ошибка возбуждения будет меняться вдоль кристалла почти линейно. Тогда, если в изображении участвуют дифракционные пучки, интенсивность в результирующем изображении будет меняться, согласно (9.4), как функция расстояния вдоль кристалла, эквивалентная изменению Прямые проходящие пучки дадут светлопольное изображение, которое в этом случае, если пренебречь поглощением, покажет изменение интенсивностей 1— / ( й). [c.197]

МИКРОКАТОР (измерительная пружинная головка) — прибор для измерения линейных размеров абсолютным (в пределах шкалы) или относительным (сравнением с концевой мерой длины или образцовой деталью) методами. Перемещение измерительного стержня 5 прибора вызывает деформацию нлоских пружин 3 и 4. Первая из них смещает вертикальную стойку упругого угольника 2, к к-рому прикреплена одним концом бронзовая лснта-мультинликатор 1 (см. рис.). При растяжении лента, завитая в спираль от середины, раскручивается и поворачивает прикрепленную к ней стрелку 6. Поворот стрелки пропорционален перемещению стержня, поэтому шкапа на пластинке 7 равномерна. Для определения размера изделия на столик стойки, в к-рой укреплен М., помещают плоскопараллельную концевую меру длины или образцовую деталь. Измерительный наконечник 8 приводят в соприкосновение с поверхностью меры и читают отсчет прибора. Номинально размер измеряемой детали равен размеру hl меры. Заменяя меру измеряемой деталью, по отсчету 2 прибора определяют фактич. разность ДЛ их размеров Ah = h — = ( г — h (размер / J указан в аттестате меры). В соответствии с ГОСТ 6933— 61 цена деления шкал М. может быть [c.231]

При всех применениях импульсов эхо-метода, которые имеют-целью выявление несплошностей, решение о том, следует ли регистрировать данный дефект, принимается в зависимости от амплитуды эхо-сигнала. Как правило, предъявляется требование, чтобы эхо-импульсы от еще допустимых отражателей (дефектов) не превышали некоторых предельных значений. У испытываемых образцов с плоскопараллельными поверхностями наблюдается также амплитуда эхо-сигпала от задней стенки. Если не достигаются предельные значения, то это позволяет судить о затеняющих несплошностях (см. рис. 10.3, г). Вентильные схемы, называемые здесь также монитором , служат для того, чтобы облегчить труд контролера они посылают сигнал тревоги независимо от наблюдения на экране, если будут превышены или наоброт не достигнуты заранее установленные предельные значения амплитуды. Контроль с автоматическим перемещением искателя приобретает смысл только при наличии такого устройства. [c.211]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...