Растр оптический

Радиус стереоскопического зрении 177 Расстояние наилучшего зрения 173 Растр оптический 89 --, осветительная система 89—90 [c.445]

Голографические интерференционные микроскопы нашли применение для исследования самых разнообразных объектов — оптических волокон, оптических линзовых растров, искусственных кристаллов для оптики, пятен масла, биомедицинских объектов, а также для изучения процессов деления клеток, роста кристаллов и т. п. [c.86]

Благодаря мелкозернистости, теплостойкости, постоянству размеров и четкости изображения из светочувствительного стекла можно изготовлять визирные сетки оптических инструментов, отличающиеся высокой разрешающей способностью, растры для полутоновой печати, микрофотографии, диапозитивы для проекционных [c.486]

В качестве оптических мер в приборах используют измерительные растры, дифракционные решетки, штриховые меры, кодовые решетки, шкалы длин волн и другие меры. [c.423]

Датчики крутящего момента аналогичны датчикам силы и также основаны на методе упругого уравновешивания измеряемой величины. Они содержат упругий элемент, снабженный преобразователем угла его закручивания в электрический сигнал и токосъемником для передачи сигнала с вращающегося вала (рис. 24). Угол закручивания измеряют либо по деформации кручения, либо по углу поворота двух сечений упругого элемента, находящихся на определенном расстоянии друг от друга. Первый метод широко распространен, что является следствием стремления унифицировать методы измерений и аппаратуру. Тензорезистивные преобразователи позволяют достичь этого благодаря их универсальности. Однако сигнал наиболее отработанных и прецизионных металлических тензорезисторов мал по абсолютной величине и при передаче по токосъемнику подвержен влиянию помех. Кроме тензо-резисторных, применяют магнитоупругие МЭП [40]. Второй метод осуществляют с Помощью двух растровых дисков, расположенных рядом, но опирающихся на упругий элемент возможно дальше друг от друга. Взаимное угловое перемещение растров измеряют оптическим, индуктивным или другим МЭП, чувствительным к этому Параметру [c.231]

Развертка изображения в растр производится путем программированного перемещения объектного стола с образцом относительно измерительной диафрагмы, которая на поверхности шлифа выделяет участок, лежащий на оптической оси микроскопа. Полупроводниковый датчик преобразует свет, отраженный от этого участка, в электрический сигнал, который через дискриминатор передается в логические схемы. [c.187]

Голограммы, записанные на том или ином физическом носителе, необходимо для восстановления в цифровых процессорах преобразовать в цифровой сигнал. Если, как это обычно бывает, голограммы записаны на фотоматериале в виде распределения плотности почернения, для их преобразования в цифровой сигнал могут использоваться устройства, подобные описанным в 3.1. При этом главной проблемой является проблема согласования максимальной пространственной частоты голограммы с растром дискретизации, определяемым устройством ввода, коррекция нелинейности и других искажений, вносимых датчиком сигнала. Оптические голограммы обычно имеют пространственные частоты выше 50 ЛИН./мм. Вследствие этого шаг дискретизации при вводе их в ЦВМ должен быть менее 10 мкм, тогда как наиболее доступные и быстро действ уюш ие устройства ввода имеют шаг дискретизации 25 мкм и выше. Поэтому для ввода голограмм в ЦВМ их необходимо оптически увеличить в соответствуюш ее число раз. [c.166]

В качестве примера рассмотрим один из возможных вариантов голографического запоминающего устройства. Наиболее отработанной представляется система, в которой в качестве адресного устройства используется линзовый растр [183]. Оптическая схема приведена на рис. 8.3.3. Свет от лазера проходит через двухкоординатный дефлектор и расщепляется полупрозрачным зеркалом на опорный и [c.270]

Современные средства измерения шероховатости делят в основном на две группы бесконтактные и контактные. Из бесконтактных средств измерения параметров шероховатости наиболее распространены приборы, действие которых основано на принципах светового сечения, теневого сечения, интерференции света и применения растров оптические приборы для измерения шероховатости, основанные на перечисленных принципах, соответственно условно называют ППС, ПТС, МИИ иОРИМ. [c.698]

Лля исследования напряженного состояния на деталях плавных форм, в частности листовых, применяют метод полос муара. Он основан на оптическом совмещении мелкой сетки (растра) на деформированной детали с недсформированшам растром и получением в результате полос муара.- [c.478]

Фотоэлектрические приборы широко используют в сочетании с оптическими элементами, растрами, дифракционными решетками и интерферометрами (см. гл. 5). В качестве источника света может служить само раскаленное изделие, лампы накаливания, телевизионные трубки или лазеры. В качестве светоприемников применяют фоторезисторы, фотодиоды, фототранзисторы, фототиристоры, фотоэлектронные умножители, телевизионные трубки. Преимуш,е-ства фотоэлектрических приборов —высокая точность, ишрокие пределы измерений, дискретная (цифровая) форма выходного сигнала, возможность осуществления бесконтактного метода контроля н др. Однако эти приборы, как правило, сложны, дороги и требуют тш,ательной защиты от воздействия окружающей среды (пыли, конденсата и т. п.). [c.159]

Приемная оптическая система ОЭП преобразует излучение от объектов наблюдения, фонов, организованных оптических помех, которое проходит через слой пространства и посгупает в ее входной зрачок. Изображение, построенное огггической системой, модулируется подвижным или неподвижным растром. В результате модуляции на чувствительную площадку приемника излучения падает переменный во времени поток излучения. Приемник излучения преобразует электромагнитное излучение в электрический ток или изменение напряжения. [c.4]

Такой подсистемой может быть юдвижный и неподвижный растры, оправа приемника лучистой энергии мозаика фоторезисторов и т. п. В вырожденном случае - это неподвижная диафрагма и стоящий непосредственно за ней приемник лучист13й энергии. Методически удобно отнести к подсистеме анализатор изобр 1жения — развертывающее устройство, характеризуемое некоторым коэффициентом пропускания г и законом перемещения в поле анализа изображения, а также устройство, осуществляющее преобразование многомерного сигнала в одномерный без искажений во временной координата. Таким устройством может быть, например, безынерционный фотоприемник. В этом случае можно считать, что на вход анализатора изображения поступает сигнал в виде распределения освещенности, создаваемого либо оптической системой, либо слоем пространства. [c.60]

Для измерения неровностей поверхности до 40 мкм разработан растровый-микроскоп ОРИМ-1. Принцип его действия заключается в образовании муаровых полос при взаимном смещении или развороте двух растров, например, в виде решеток. Оптическая схема прибора аналогична схеме двойного микроскопа. При этом вместо щели на поверхность изделия проектируется изображение растра, наблюдаемое с помощью второй ветви оптической системы микроскопа. [c.73]

Оптическая система растрового микроскопа представлена на рис. 32. Штрихи растровой сетки 3 пересекают совмещенную с сеткой узкую и длинную щель. Форма щели и расстояние между штрихами подобраны так, чтобы после проецирования на поверхность они были эквидистантными, а изображение щели становилось прямым и одинаковой ширины на всем протяжении. Щель освещают белым источником света 5 через конденсор 4 и на испытуемой поверхности 1 получают изображение чередующихся коротких и узких участков освещенной щели. Для проецирования используется микрообъектив 2. Под некоторым углом к поверхности наблюдают искривленное распределение растровых элементов вдоль щели. Изображение растра проектируют с помощью объектива 10 и зеркала 6 в наблюдательную систему. Для увеличения проек- [c.115]

В этом приборе штрихи исходного растра с помощью оптической системы проектируются на исследуемую поверхность под некоторьш углом а. Вследствие наличия микронеровиестей на исследуемой поверхности при отражении от нее света происходит перераспределение изображений штрихов исходного растра, т. е. появляется местное изменение величины шага растра. Другая оптическая система создает в плоскости растра сравнения изображение исследуемой поверхности вместе с спроектированными на нее штрихами исходного растра. При этом возникает картина муаровых полос, искривления которых пропорциональны высотам неровностей исследуемой поверхности. Зная цену С муаровой полосы и измерив ее искривление в долях полосы, можно определить высоту неровности Н [c.116]

Фотоэлектрограф [1, И, 121 предназначен для регистрации развивающихся трещин на испытуемом вращающемся образце с по.мо-щью электрохимической бумаги. Его функциональная схема представлена на рис. 4 где а — увеличенное оптическое изображение образца б — электрохимическая бумага А/ — растр-эле.мент (параллелограмм со стороной 0,01 мм), выделенный анализирующим устройством на поверхности образца А/) - растр-элемент (параллелограмм со стороной 0,2 мм), выделенный диафрагмой в плоскости увеличенного оптического изображения образца и создающий световой сигнал и — электрический сигнал фотоэлектронного умножителя — усиленный и сформированный электрический [c.307]

Принцип действия фотоэлёктрографа состоит в том, что ана-л йзирующее оптико-механическое устройство с фотоэлектронным умножителем увеличивает оптическое изображение микроплощадки рабочей части испытываемого образца, выделяет на этом изображении растр-элемент (элементарную площадку конечных размеров), преобразовывает световую энергию в электрическую и создает электрический сигнал, пропорциональный яркости растр-элемента, находящегося в поле диафрагмы. Этот сигнал направляется в усилитель, а затем в синтезирующее устройство, где он управляет ходом реакции и мгновенно воспроизводит на электрохимической бумаге соответствующее изобра- [c.187]

РАСТРОВЫЕ ОПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ — класс оптич. систем, составным элементом к-рых является растр. Наличие растра образует в системе множество входных в выходных зрачков, смежно расположенных и действующих совместно в формировании оптич. изображения. Такие системы обладают рядом специфич. свойств, таких, как множащее, пвтегрирующеа, анализирующее. [c.294]

Сущность оптического метода заключается в следующем. Свет источника 1 (рис. 1) попадает в конденсор 3, после которого пучок света разбивается линейчатым растром 4 на 50 пучков. Линейчатый растр представляет собой рамку 10X10 см, к которой припаяны 50 отрезков проволоки диаметром 0,61 мм, образующие линейчатую решетку. Последняя покрывалась копотью. Пучки света, проходя первый растр, попадают в объек- [c.188]

К наиболее распространенным методам исследования полей упругопластических деформаций относятся методы делительных сеток и муара, имеющие общую геометрическую природу и позволяющие измерять деформации как при кормаль-ноп, T3[v и при повышенных (в отличие от метода оптически активных покрытий) температурах. Исходным этапом исследования местных упругопластических деформаций в зонах концентрации каждым из указанных методов является нанесение делительной сетки (растра) с различной формой ячейки и с базой 0,01. .. 1,0 мм. Эгп методы достаточно отработаны для целей исследования как статических (длительных статических), так и циклических упругоиластических деформаций в широком диапазоне температур [85, 11S]. [c.171]

Кривизна растра. Точки изображения плоского объекта попадают на искривленную плоскость, характеризующегося симметрией вращения относительно оптической оси. Вследствие этого при наводке на резкость середины изображения нерез-кость в направлении к краю изображения увеличивается. [c.176]

В классическом варианте этого метода на плоскую поверхность исследуемого тела до его деформации наносят два линейных растра с взаимно перпендикулярными, ориентированными вдоль координатных осей х, у линиями (рабочие растры). В последующем эти растры механическим или оптическим методом совмещаются с аналогичным недеформированным, эта-лонны.м растром. Возникающие при этом полосы являются И.ЗОЛИНИЯМИ перемещения в направлении, перпендикулярном линиям рабочего растра. Так, при совмещении эталонного растра, линии которого параллельны оси х, с рабочим растром, линии которого до деформирования также параллельны оси х. возникает картина полос, на которых перемещение вдоль оси у о = onst. Величину этого перемещения определяют по формуле v = np, где п — порядок полосы р —шаг растра. Аналогично определяется перемещение и вдоль оси х. [c.51]

Ниже описано несколько экспериментов по цифровому восстановлению изображений с оптических и акустических голограмм [41, 81]. При восстановлении оптической голограммы Фурье [37] исходная голограмма с максимальной пространственной частотой, приблизительно равной 100 лин/мм [39], фотографически увеличивалась в 20 раз. После увеличения голограмма была введена в, ЦВМ в виде матрицы из 512 X 512 чисел, полученных в результате измерения видеосигнала на растре 512 X 512 элементов. [c.167]

Рис. 3.10. Оптическая схема ГЛОН с растром

Рис 4 2. Упрощсшшс схемы параллельной адресации оптически модулятора (а), адресации по методу мгновенной фотографии нательной записи растра (в) [c.213]

На рис. 64 показана схема перевода киноизображения, полученного путем съемки в некогерентном свете многообъективным методом, в голографическое. Пучок света каждого лазера / расщепляется на два, один из которых направляется через линзы и светорассеивающий линзовый растр 2 на пленку 3. Зарегистрированные на этой пленке изображения объекта, отличающиеся друг от друга ракурсами, с помощью оптического блока 4 проецируются в плоскость голографической пленки 5, которая одновременно освещается [c.120]

На рис. 69 показана принципиальная схема перевода обычного киноизображения в голографическое. Пучки света лазеров 1 с красным, зеленым и синим излучением разделяются на два канала. Каждый таким образом, что три из шести разноцветных пучка проходят через светорассеивающий растр 2 и затем через негатив обычного фильма с плоским изображением 3. Далее лучи проходят через объектив 4, осуществляющий оптическое преобразование Фурье, в результате чего лучи, выходящие из точечного элемента поверхности пленки 3 в виде расходящегося пучка, выходят из объектива 4, образуя параллельный пучок, который проходит через всю поверхность кадра на голографической кинопленке 5. Фазовый фильтр 6 уменьшает интерференционную зернистость изображения (спеклы). На ту же голографическую кинопленку 5 направляются остальные три пучка, формируя опорный пучок 7. [c.124]

Съемка трехмерных изображений в свете лазеров обладает большим йреимуществом перед съемкой в обычном свете с помощью растров или многообъективных оптических блоков. Эти преимущества обусловлены значительно большим количеством информации, которое может быть зарегистрировано на голографической пленке вследствие ее чрезвычайно высокой разрешающей силы по сравнению с обычной кинофотопленкой при одинаковых размерах кадра. Максимальная плотность информации при съемке на голо-графическую пленку может превосходить в тысячи раз плотность информации при съемке на обычную фотопленку, что обеспечивает более высокое качество изображения и значительно более экономное решение. [c.268]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...