Коэффициент интегральный пропускания излучения

Коэффициент интегральный пропускания излучения 332, 333 [c.813]

ПОГЛОЩЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТ — отношение потока излучения, поглощённого данным телом, к потоку излучения, упавшему на это тело. Если падающий поток имеет широкий спектр, указанное отношение характеризует т. н. интегральный П. к. если же диапазон частот падающего света узок, то говорят о монохроматическом П.к.— поглощательной способности тела. В соответствии с законом сохранения энергии для монохроматич. излучения сумма П, к., отражения коэффициента и пропускания коэффициента равна единице. В отличие от поглощения показателя, характеризующего свойства вещества, П. к. зависит от толщины слоя, сквозь к-рый проходит свет, т. е. от размеров тела, от темп-ры, от состояния отражающей поверхности. В спектроскопии иногда под термином кП. к. понимают показатель поглощения. [c.661]

Расчет интегрального коэффициента пропускания светофильтра для видимой области спектра при сложном излучении [c.72]

Рис. 39. Спектральная кривая пропускания аммиачного раствора медного купороса (а) и схема определения интегрального коэффициента пропускания светофильтра для сложного излучения (б)

Интегральный коэффициент пропускания для данного падающего излучения Ех может быть вычислен по следующей формуле [c.332]

В фотометрии можно выделить в основном две группы измерений. К одной относятся измерения характеристик источников излучения, включающие в себя измерение испускаемого лучистого потока, измерение распределения потока по спектру длин волн, силы света в различных направлениях, яркости излучения в различных точках и по различным направлениям. Вторая группа объединяет измерения фотометрических характеристик различных веществ и тел. К этим характеристикам относятся интегральный и спектральный коэффициенты отражения, поглощения, пропускания и рассеяния излучения поверхностями тел и массой вещества. К этой же группе относятся и измерения освещенности различных поверхностей. [c.10]

Нейтральные фильтры необходимы для ослабления или разделения потока излучения без изменения спектрального состава. Они должны иметь равномерную спектральную характеристику пропускания в рабочем для фотометрического прибора диапазоне длин волн и интегральный коэффициент пропускания меньше единицы. [c.210]

Если на светофильтр падает излучение Ф , то интегральный коэффициент пропускания может быть вычислен по формуле [c.279]

Р Цветовая характеристика светофильтров выражается значениями координат цветности х и у для источников излучения А и В (см. гл. VI) и общим интегральным коэффициентом пропускания Т2. [c.258]

В дальнейшем при расчете оптической системы будем предполагать, что заданы или выбраны источник излучения и приемник, т. е. известны энергетическая яркость и площадь источника, а также интегральная чувствительность и минимальная реакция приемника. Будем считать известными коэффициенты пропускания всех сред, расположенных между источником и приемником излучения. [c.299]

Формула (427) получена в предположении, что коэффициенты пропускания оптических сред и интегральная чувствительность приемника взяты для данного спектрального состава излучения. В общем случае при определении диаметра входного зрачка оптической системы необходимо учитывать, спектральные характеристики источника излучения, оптических сред и приемника. [c.300]

Вторая поправка определяется в общем случае теплообменом излучением через слой исследуемого вещества и тепловыми потерями через крепежные детали стержня и электроды термопар. Поправка на излучение существенно зависит от природы исследуемого вещества, и для ее оценки приходится использовать сведения об интегральном коэффициенте пропускания слоя как функции температуры. Если вещество практически не поглощает излучение, поправка АХ-л( ) становится постоянной прибора [c.79]

При распространении электромагнитного излучения в периодических средах возникает много интересных и потенциально полезных явлений. К ним относятся дифракция рентгеновского излучения в кристаллах, дифракция света на периодических изменениях механических напряжений, возникающих при прохождении звуковой волны, и запрещенная зона для света в слоистых периодических средах. Эти явления используются во многих оптических устройствах, таких, как дифракционные решетки, голограммы, лазеры на свободных электронах, лазеры с распределенной обратной связью, лазеры с распределенным брэгговским отражением, брэгговские отражатели с высокой отражательной способностью, акустооптические фильтры, светофильтры Шольца и т. д. В данной главе мы рассмотрим некоторые общие свойства электромагнитного излучения в периодических средах и общую теорию его распространения в слоистой периодической среде. Эта теория имеет весьма близкую формальную аналогию с квантовой теорией электронов в кристаллах и поэтому позволяет использовать понятия блоховских волн, запрещенных зон, затухающих и поверхностных волн. Наконец, мы обсудим применение этой теории для решения ряда хорошо известных задач, таких, как расчет коэффициента отражения от брэгговского зеркала, коэффициентов пропускания фильтра Шольца и оптических поверхностных волн. Кроме того, мы обсудим двойное лучепреломление за счет формы и его применение в дихроичных поляризаторах. Периодические структуры играют также важную роль в интегральной оптике, рассмотрение которой мы отложим до гл. 11. [c.169]

Имеется симметричный резонатор с гауссовым профилем коэффициента отражения зеркал. Найдите размер пятна и радиусы кривизны ТЕМо -моды в непосредственной окрестности зеркал и вычислите поле излучения, выходящего из резонатора, а также интегральные потери на отражение. Подсказка. Рассмотрите резонатор как последовательность линз, в которой каждая линза имеет гауссов профиль пропускания. Заметьте, что интенсивность гауссовой моды, распространяющейся слева направо, не совпадает с интенсивностью моды, распространяющейся в противоположном направлении. (Подробнее об этом см. в работе [64].) [c.570]

Представленные выше расчетные формулы отражают принциниальные-особенности метода, но не являются рабочими, так как не учитывают ряда поправок, возникаюш,их при технической реализации метода. Основными из них являются поправка на показания термопар, измеряюших перепад температуры в слое, поправка на перенос тепла от блока к ядру через паразитные тепловые каналы и поправка на возможную пеизотермичность рабочих поверхностей ядра и блока. Первая поправка обычно возникает из-за паразитных э.д.с. в цепях термопар и заметного удаления спаев термопар от лицевых поверхностей блока и ядра. В условиях постоянного монтажа термопар эта поправка зависит только от уровня температуры и скорости разогрева, поэтому может отыскиваться из градуировочных опытов, как постоянная прибора. Вторая поправка складывается в обш,ем случае из теплообмена излучением через слой исследуемого вещества, а такн е утечек тепла по крепежным деталям ядра и электродам термопар. Поправка на излучение существенно зависит от природы исследуемого вещества, и для ее оценки приходится использовать сведения об интегральном коэффициенте пропускания слоя как функции температуры. Если вещество практически не поглощает излучение, поправка АЯд становится постоянной прибора и может отыскиваться с помощью градуировочных опытов. Поправка на утечки тепла по крепежным деталям ядра и термопарным электродам АХт в условиях постоянного монтажа может рассматриваться как постоянная прибора и вычисляться аналитически. Расчетные формулы (4) и (5) с учетом двух рассмотренных поправок приобретают вид [c.114]

Однокомпонентная система источиик излучения на конечном расстоянии. Принципиальная схема такой системы показана на рис. 237. При расчете оптической системы будем исходить из условия, что выбран источник излучения, имеющий энергетическую яркость Ье и площадь Qи т> и приемник, имеющий интегральную чувствительность 5 и площадь Qпp. Приемник должен иметь минимальную реакцию щщ- Задавшись коэффициентом пропускания оптической системы То. 01 определим апертурный угол в пространстве предметов по формуле (427) [c.306]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...