Киселева профилометры

Лучшими из приведенных в таблице приборов для массовых измерений в цеховых условиях в серийном производстве являются профилометр Киселева и двойной микроскоп МИС-11 Линника. Для массового производства можно рекомендовать сравнительные образцы и профилометр Киселева. [c.293]

Электродинамический профилометр генераторного типа конструкции Киселева мод. КВ-7 с индукционным датчиком, представляющим собой систему, состоящую из подвижной катушки (закрепленной на ощупывающей игле), находящейся в магнитном поле. При перемещении датчика игла и катушка получают колебания в соответствии с профилем измеряемой поверхности. Пропорционально скорости колебания иглы в обмотке катушки возбуждается электродвижущая сила, которая затем усиливается. Усиленное напряжение интегрируется и подается на измерительный прибор, градуированный в единицах длины, показывающий среднее квадратическое значение подведенного напряжения, пропорциональное перемещению иглы. [c.150]

Профилометр конструкции Киселева мод. КВ-7 Измерение на показывающем приборе Индукционный датчик с электронным усилителем 5-12 [c.151]

Схема профилометра КВ-7 конструкции инж. Киселева показана на фиг. 24,а. В этом профилометре игла, проводник и магнит I помещены в специальной головке, называемой датчиком прибора. Датчик связан проводом с усилителем 2 и регистрирующим прибором 3. Датчиком вручную проводят по поверхности детали, и прибор регистрирует высоту шероховатости поверхности. В цеховых условиях применяют профилометр ПЧ-3. Схема его работы приведена на фиг. 24,6. Схема магнитной цепи профилометра состоит из якоря /, алмазной иглы 2, корпуса 3, двухполюсного наконечника 4, пружины подвески якоря 5, катушки 6, постоянного магнита 7. [c.63]

Профилометры В. М. Киселева КВ-4 и КВ-6. Все вышеперечисленные приборы позволяют оценить наибольшую высоту поверхностных неровностей. [c.157]

Предельная погрешность определения Нек профилометрами В. М. Киселева не превышает +15—20 /о. [c.157]

Для измерения микронеровностей в пределах от 4-г6 до 14-го классов чистоты поверхности применяют профилометр коН струкции В. М. Киселева, принцип действия которого заключается в возбуждении электродвижущей силы в результате колебательных движений ощупывающей иглы. [c.65]

Рис, 21. Схема профилометра конструкции В. М. Киселева [c.65]

Профилометр Киселева тип КВ-4. Рабочая инструкция, 1919. [c.54]

Для профилометра Киселева — среднее арифметическое значение На- [c.239]

Техническая характеристика 1015 Квазигармонические колебания — см. Колебания квазигарлюнические Кирпич — Обозначение на чертежах 1050 Кирпичев В. Л. 323 Киселева профилометры 452 Клапаны обратные 986 [c.1073]

Из перечисленных выше приборов наиболее производительными являются профилометр КВ-7 конструкции Киселева, профилометр ПЧ-3 конструкции Чамана и проЛи. п г паф-профилометр Ка-либр-ВЭИ . [c.49]

Основанные на этом Принципе профилометры Ч. Аббота и В.М. Киселева (типы КВ-7, КВ-6, КВ-4) дают показания первый — в микродюймах , второй — в микронах. Такими приборами пользуются в цеховых и лабораторных условиях. [c.90]

К щуповым приборам относятся электромагнитный профилометр Киселева или Аббота, оптико-механические профилографы Левина и Аммона и пьезо-электрический профилограф. [c.287]

На фиг. 90 показан ирофилометр Киселева КВ-4 (новая модель КВ-7 имеет наклонную панель). Профилометр Киселева, как и профилометр Аббота, — электромагнитный прибор, в котором катушка, жестко соединенная с ощупывающей алмазной иглой, перемещается в поле постоянного магнита. При ощупывании неровностей поверхности в витках катушки возбуждается ток, который поступает па интегрирующий контур и после усиления на стрелочный прибор, на котором отсчитывается величина среднего квадратического отклонения высот неровностей. Прибор удобен тем, что измерение микронеровностей поверхности отнимает очень мало времени [c.288]

При наличии значительного удельного давления алмазной иглы на ощупываемую поверхность профилометр Киселева (и в особенности Аббота) и профилограф Аммона значительно разрущают верхний слой металла при оценке поверхности детали из цветных сплавов и других металлов с низким сопротивлением разрыву. При многократном прохождении иглы профилометра по одному и тому же месту в процессе измерения микронеровностей игла переходит по царапинам, образовавшимся при предыдущих проходах, — показания прибора искажаются. Иглы профилографов Левина и Браш незначительно царапают испытываемую поверхность. Эти профилографы пригодны для оценки микрогеометрии не только металлов, но также слепков микронеровностей (це.ллулоид, пластмассы), лакокрасочных покрытий и т. д. [c.291]

Таким образом, для оценки микрогеометрии поверхности можно рекомендовать щуповые приборы — профилометр Киселева и [c.292]

В настоящее время известны три модели профилометра Аббота Р, РАС и Q, а также отечественный профилометр Киселева. [c.23]

Модель профилометра Q работает также на переменном токе, очень портативна, легка и имеет панель, наклонённую под углом 45° для удобства наблюдения за отсчётами прибора. Профилометр Киселева — наиболее портативный из существующих, ие уступает в точности и удобстве приборам Аббота, работает на переменном токе. [c.23]

Профилометры служат для цехового контроля шероховатости поверхностей 5—12-го классов чистоты по ГОСТу 2789-59 определяемый показатель шероховатости—среднее арифметическое отклонение неровностей поверхности от средней линии. Наибольшее применение нашли контактные электродинамические профилометры КВ-4, КВ-7 (В. М. Киселева) и ПЧ-3 (В. С. Чамана). [c.715]

Все Электрощуповые приборы (профилографы и профилометры) по типу устройства, преобразующего линейное перемещение иглы в колебания электрического напряжения, удобно классифицировать на приборы с датчиками генераторного и параметрического типов. К приборам с датчиками генераторного типа относятся электродинамический и пьезоэлектрический профилометры. Электродинамическими щуповыми приборами наиболее часто называют приборы, в которых игла жестко связана с катушкой, колеблющейся в поле постоянного магнита (профилометр Аббота, профилометр Киселева КВ-7). При пересечении магнитных силовых линий витками катушки, в ней генерируется э.д.с., пропорциональная скорости осевого перемещения иглы. В пьезоэлектрических профилометрах и профилографах чувствительным элементом является пьезокристалл или пьезокерамика, на обкладках которых при движении иглы возникает разность потенциалов. [c.63]

Здесь мы рассмотрим особенности работы индукционного датчика профилометра. С внешней стороны его конструктивное оформление аналогично оформлению электродинамических датчиков. Для подвеса иглы применен пружинный параллелограмм, а контакт иглы с поверхностью осуществляется с помощью микрометрического механизма. С точки зрения движения подвижной системы датчик профилометра ПЧ-2 отличается от датчиков приборов Аббота и Киселева. Помимо обычных сил, обусловленных величинами т, и к, имеется сила притяжения постоянного магнита а также значительные силы, проявляющиеся в динамике и обусловленные вихревы.ми токами, возникающими в якоре. Эти силы пропорциональны скорости осевого перемещения иглы. СЗни действуют 3 направлении, противоположном движению якоря. Следовательно, в дифференциальном уравнении движения системы величина К будет иметь значительный удельный вес. Сила не постоянна, она зависит от величины выдвижения иглы, т. е. от величины воздушного зазора У 2 .между хвостовиком и якорем. Это- [c.73]

Одним из больших преимуществ электрощуповых приборов является возмолсность использовать их как автоматические счетно-решающие системы. Судить по профилограмме о чистоте поверхности в цеховых условиях не всегда удобно. Р1еобходимо непосредственно иметь числовое значение чистоты поверхности. Эта задача до известной степени решается электродинамическими профилометрами Аббота и Киселева (КВ-7). [c.80]

Потребность в простой и удобной аппаратуре для производственного контроля и для быстрой и надежной оценки чистоты поверхности вызвала к жизни большое количество конструкций щуповых профилометров, позволяющих производить отсчет показаний непосредственно по циферблату прибора. Помимо широко известных профилометров Аббота и Киселева, в которых использованы электродинамические датчики, за последние годы были разработаны также профилометры с пьезоэлектрической ощупывающей головкой. Одной из первых конструкций подобного-рода был пьезоэлектрический профилометр Л. Ронина (ЦНИИТМАШ). В качестве чувствительного элемента в приборе применялся кристалл сег-нетовой соли. Последний, как известно, генерирует электродвижущую-силу в сотни раз большую, чем датчик прибора Аббота. Благодаря этому усилитель профилометра имел всего лишь одну лампу (двойной триод). Включение микроамперметра по схеме моста еще более повышало чувствительность прибора. [c.83]

Аналогичный характер имеют зависимости И к = /( ) Для электродинамического профилометра Киселева типа КВ-7 (фиг. 81 и 82). Небольшой подъем кривых на образцах грубых классов при снижении скорости ощупывания с 10—15 мм1сек до 5—10 мм сек объясняется увелпче шсм коэффициента усиления прибора на низких частотах. [c.96]

Для профилометров Аббота и Киселева нами были найдены значения Д, соответственно равные 20 и 17 гц. Зная номинальную величину скорости ощупывания о и Д, можно определить шаг наибольших неровностей которые можно измерить на приборе, т. е. отсечку шага . [c.97]

Для профилометров Аббота и Киселева (КВ-7) наибольший шаг В =0,75—0,8 мм. Это значит, что неровности, имеюшие шаги большие, чем 0,8 мм, даже если высоты их превышают высоты неровностей с мел- [c.97]

Как известно, вибратор впервые был применен для калибровки профилометра Абботом. В описываемой установке была использована с небольши.м изменением конструкция В. Киселева . [c.144]

Количественный метод оценки заключается в измерении микрогеометрии поверхности при помощи приборов профилографа К. М. Аммона, профилографа Б. М. Левина (мо дели ИЗП-17 и ИЗП-5), двойного микроскопа и микроинтерферометра В. П. Линника, профилометра Б. М. Киселева и др. [c.64]

Для измерения микронеровностей применяют также профилометр конструкции В. М. Киселева, принцип действия которого заключается в возбуждении электродвижущей силы в результате колебательных движений ощупывающей иглы. На рис. 18 приведена схема этого профилометра (модель КВ-7). Игла 1 с алмазным наконечником, радиус закругления которого 12 мкм, подвешена на пружинах 2. Нижний конец ее ощупывает неровности поверхности детали, а верхний связан с индукционной катушкой 8, которая перемещается в магнитном поле полюсов 4 VI 6 магнита 5. Возбуждаемые этим перемещением малые токи усиливаются и отмечаются гальванометром. Перемещение иглы по проверяемой поверхности осуществляется с помощью электропривода со скорЪстью 10...20 мм/с. Давление иглы на поверхность проверяемой детали в пределах 0,5...2,5 гс/мм . При подключении к профилометру осциллографа можно получить профилограмму исследуемой поверхности. [c.49]

У профилометра ощупывающая игла вставлена в стержень, на котором находится индуктивная катушка, помещенная между полюсами постоянного магнита. При колебании иглы в катушке возникает ток, величина которого тем больше, чем больше величина неровностей. Ток через ламповый усилитель поступает в интегрирующий контур и оттуда направляется в гальванометр, стрелка которого показывает класс чистоты. Профилометры типа Киселева и Аббота пригодны для определения чистоты поверхности в пределах 5—12-го классов. [c.24]

Количественный метод оценки основан на измерении неровностей поверхности приборами. Величину неровностей определяют при ощупывании исследуемой поверхности иглой с твердым наконечником. Приборы, основанные на этом принципе, называются контактными и разделяются на профилометры и профилографы. У профилометра ощупывающая игла вставлена в стержень, на котором находится индуктивная катушка, помещенная между полюсами постоянного магнита. При колебании иглы в катушке возникает ток, величина которого тем больше, чем больше неровности. Ток через ламповый усилитель поступает в интегрирующий контур и затем направляется в гальванометр, стрелка которого показывает параметр шероховатости. Профилометры типа профилометров В. М. Киселева и В. С. Чамона пригодны для определения шероховатости поверхности Кг= 10 20 мкм и / а = 0,02 2,5 мкм. У профилографа алмазная игла связана с зеркалом. На зеркало падает тонкий луч. При колебаниях иглы, перемещаемой по исследуемой поверхности, отраженный луч через систему зеркал направляется на вращающийся барабан со светочувствительной бумагой, на которой записывается профилограмма, отображающая неровности с увеличением по вертикали в 500—13 800 раз и с увеличением по горизонтали в 25—1000 раз. Профилографы типа профилографов [c.27]

Приборы, показывающие иепосредственно чистоту поверхности, называют профилометрами. В цеховых условиях для контроля поверхности до 12-го класса чистоты применяют электродинамический профилсмстр КВ-7 конструкции В. М. Киселева. [c.109]

Электроди намический профилометр Б. М. Киселева КВ-7 5-12 Нек 15 10 0,4—0,6 1—40 — — [c.82]

Профилометр 2 Киселева предназначен для контроля чистоты поверхности изделийУУ 5—УУУУ 12 классов чистоты. Результаты контроля получаются непосредственно в величинах среднего квадратического отклонения неровностей поверхности Н [c.146]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...