Аммона профилографы

Автоматические методы измерений 454 Автоматы контрольные — см. Контрольные автоматы Алюминиевые сплавы — см. Сплавы алюминиевые Аммона профилографы 450 Амплитуда 243 [c.1061]

Профилографы. также основаны на принципе ощупывания поверхности алмазной иглой. Эти приборы являются оптико-механическими. При помощи оптического устройства профиль поверхности записывается на фотографической ленте в увеличенном виде. На профилограмме увеличение в вертикальном направлении (по высоте) больше, чем в горизонтальном (по длине). К числу таких приборов относятся профилографы К. Л. Аммона и Б. М. Левина первый рассчитан на измерение шероховатости поверхности от 4-го до 11-го класса, второй — от 3-го до 12-го класса. [c.90]

К щуповым приборам относятся электромагнитный профилометр Киселева или Аббота, оптико-механические профилографы Левина и Аммона и пьезо-электрический профилограф. [c.287]

Каждый прибор имеет определенную область применения. Так, советский профилограф Аммона может оценивать профиль на длинной трассе (до 125 мм), т. е. прибор пригоден для оценки не только шероховатости, но также волнистости поверхности. Профилограф Левина имеет иглу с радиусом закругления на конце в 1,5 мк, что дает возможность записывать наиболее мелкие неровности. [c.288]

На фиг. 92 показан оптикомеханический профилограф Аммона, при помощи которого профиль увеличивается по вертикали от 400 до 2500 раз, по горизонтали — в 10, 30 и 50 раз. Профилограф может снимать профилограмму с деталей любого размера. [c.289]

В профилографе Браш и в некоторых конструкциях датчиков профилометра применяется одинарная плоская пружина. Профилограф Аммона имеет сложную ощупывающую головку, в которой вертикально расположенная игла находится под воздействием трех спиральных пружин и се рии рычагов, причем две пружины перемещают иглу в одну сторону, а другие три пружины — в противоположную сторону. Рационален крестообразный пружинный подвес иглы, примененный в профилографе Левина. Четыре крестообразно расположенные плоские 290 [c.290]

При наличии значительного удельного давления алмазной иглы на ощупываемую поверхность профилометр Киселева (и в особенности Аббота) и профилограф Аммона значительно разрущают верхний слой металла при оценке поверхности детали из цветных сплавов и других металлов с низким сопротивлением разрыву. При многократном прохождении иглы профилометра по одному и тому же месту в процессе измерения микронеровностей игла переходит по царапинам, образовавшимся при предыдущих проходах, — показания прибора искажаются. Иглы профилографов Левина и Браш незначительно царапают испытываемую поверхность. Эти профилографы пригодны для оценки микрогеометрии не только металлов, но также слепков микронеровностей (це.ллулоид, пластмассы), лакокрасочных покрытий и т. д. [c.291]

Различные щуповые приборы имеют алмазные иглы с различной величиной радиуса закругления на конце профилограф Левина — 1,5 мк, профилометр Аббота и профилограф Аммона — 12 мк, профилограф Браш—от 2,5 до 15 мк. [c.291]

Диапазон измеряемых неровностей по их высоте для различных щуповых приборов различен. Для оптико-механических профилографов (Левина и Аммона) он зависит от ширины применяемой в приборе фотобумаги или фотопленки и вертикального увеличения прибора. Для профилометра и пьезо-электрического профилографа лимитирующим фактором является частотная характеристика приборов. Оба последних электрических прибора работают с постоянной скоростью перемещения щупа. Частота колебаний иглы при перемещении ее по неровностям определяется расстоянием между 9 291 [c.291]

При сравнении профилограмм, снятых на профилографах Левина и Аммона, с профилем поверхности, полученным двойным микроскопом и методом кошдх шлифов, оказалось, что профилографы Левина и Аммона дают профиль, близкий к истинному. Профилограф Браш значительно искажает профиль поверхности. При очень большой скорости перемещения иглы и записывающего пера профиль, записанный при ходе иглы в одну сторону, не совпадает с профилем, записанным при ходе иглы в другую сторону. [c.292]

М профилографы Левина и Аммона. [c.292]

Для оценки шероховатости поверхности в настоящее время пользуются или механическими ощупывающими приборами (профилометр Аббота, профилограф Аммона и Левина) или [c.121]

Профилограф Аммона 0,1—230 Все отделочные виды обработки получистовая обработка резцом фрезерование шлифование шабрение протягивание 1,5 Деталь кладётся рядом с прибором Профилограмма в виде фотозаписи на узкой киноплёнке. При печатании даётся увеличение Одно измерение 1,5 мнн. (без установки детали). В кассете плёнка на 20 снимков профилограмм (20 измерений). Затем следуют проявление и печатание. [c.201]

Количественный метод оценка основан на измерении микрогеометрии специальными приборами двойным микроскопом и микроинтерферометром В. П. Липника, профилографами К. Л. Аммона и Б. М. Левина, пьезоэлектрическим профилографом МАХИ, индуктивным профплографом-профнлометром Ка-либр-ВЭИ и др. [c.37]

Профилограф конструкции Аммона [c.151]

Оптико-механические профилографы за последние годы были значительно усовершенствованы в результате работ К. Аммона и Б. Левина. [c.79]

Была изготовлена небольшая серия профилографов Аммона. Затем изготовление прибора было прекращено. Государственных испытаний профилограф Аммона не проходил. [c.79]

ФИГ. 378. Общий вид профилографа кон- профилографы. Первые струкции К. Л. Аммона характеризуют чистоту по- [c.424]

Фиг. 380. Устройство профилографа К. Л. Аммона.

Профилографы советских инженеров Левина и Аммона позволяют записывать профнлограммы поверхностей с большим увеличением, достигающим 18 ООО раз. [c.63]

Для контроля волнистости могут использоваться профилографы типа Аммона а Левина, а также координатные методы, базирующиеся на применении универсальных приборов (рычан<но-оптических, рычажно-механических и др.) в сочетании с отсчетными устройствами, связанными с предметным столом. Кроме того, могут применяться универсальные приборы с опорной базой, путем перемещения которых оценивается наибольшее значение высоты волны на исследуемом участке профиля (так называемые волномеры ). [c.164]

У профилографа алмазная игла связана с зеркалом. На зеркало падает тонкий луч света. При колебаниях иглы, перемещаемой по исследуемой поверхности, отраженный луч света через систему зеркал направляется на вращающийся барабан со светочувствительной бумагой, на которой записывается профилограмма, отображающая неровности с увеличением по вертикали в 500—13800 раз и по горизонтали в 25—1000 раз. Профилографы типа Аммона и Левина пригодны для оценки чистоты в пределах 3—10-го классов. Они применяются главным образом в лабораторных исследованиях, так как использование их в производственных условиях затруднительно. Оценку класса чистоты поверхности оптическими методами производят с помощью микроскопа (фиг. 4) и микроинтерферометра акад. В. П. Линника. Первый используется для замера неровностей в пределах 3—8-го классов чистоты, второй — для контроля поверхностей 10—14-го классов. [c.24]

Профилограф Аммона. Принципиальная схема профилографа К. Л. Аммона показана на фиг. 100. Лучи света от лампы 1 падают на посеребрённую призму 2, которая может занимать два положения в первом положении (левом) лучи, отражаясь от торца призмы, идут вниз и пронизывают правую половину пластины 3, несущей на себе прозрачную полосу и прозрачную точку. Лучи, проходящие через прозрачную полосу, претерпевают двойное внутреннее отражение в прямоугольной призме [c.450]

Профилограф Аммона применяется как в лабораториях, так и в цеховых условиях. [c.451]

Профилограф Аммона позволяет измерять высоту неровностей от 0,5 до 50 мк при этом форма и размеры деталей могут быть весьма разнообразны. Соответствующей настройкой можно получить следующие соотношения между скоростью перемещения иглы по исследуемой поверхности и движением барабана 1 10 1 30 и 1 50, что соответствует горизонтальному увеличению 10 , 30 и 50 , а при увеличении 4 при печатании снятой профилограммы на светочувствительной бумаге горизонтальное увеличение её соответственно составит 40 , 120 , 200 . Вертикальное увеличение, изменяемое перестановкой иглы в рычаге, при этом может быть от 1600 до 10 000 . [c.451]

Промышленные сооружения — Металлоконструкции — Допускаемые сооружения 906 Пространственные фермы — см. Фермы пространственные Профили тонкостенных стержней 225, 231, 238, 240 Профилографы Аммона 450 [c.1085]

Такие приборы называются профилографами. К профилографам оптико-механического типа относится профилограф советского инженера К. Л. Аммона, который дает возможность измерять высоты неровностей в пределах от 0,5 до 50 мк. [c.20]

Для оценки высоты и шага волны можно применить профилограф Аммона с использованием специальной пластинки вместо опорного шарика. Этот прибор замеряет волнистость на значительной трассе (до 125 мм). Может быть также использован профилограф ИЗП-5 с удлинением трассы и интерференционный прибор ИЗК-14 ГОИ. [c.85]

Наиболее распространенными и имеющими практическое значение методами оценки чистоты, т. е. микрогеометрии поверхности являются а) оптические методы измерения профиля поверхности на двойном микроскопе, микроинтерферометре и микропрофилометре акад. В. П. Линника б) методы ощупывания профиля поверхности иглой с записью профилограммы на профилографах Б. М. Левина, К. Л. Аммона и др. , в) метод ощупывания профиля поверхности иглой с непосредственным получением числовой величины, характеризующей микропрофиль в Нек, на профилометрах В. М. Киселева и др. г) метод сравнения поверхности контролируемой детали с образцами чистоты поверхности д) метод исследования естественных профилограмм е) метод слепков. [c.137]

В профилографе Аммона по исследуемой поверхности перемещается измерительная головка прибора, несущая алмазную иглу, которая и ощупывает микронеровности. Получающееся в результате перемещений иглы движение светящейся точки вдоль шкалы прибора позволяет определять визуально, по амплитуде колебаний, значения высот неровностей. Вместе с тем движение светящейся точки можно фиксировать на фотопленке, перемещающейся с постоянной скоростью в фотокамере прибора, и получить таким путем профилограыыу. Прибор имеет вертикальные увеличения от 400 до 2500 раз и горизонтальные увеличения в 10, 30 и 50 раз, в зависимости от скорости перемещения головки прибора, несущей иглу. [c.138]

Профилограф Аммона может быть использован для оценки микрогеометрии поверхностей деталей любой величины, так как его можно установить рядом с деталью. Он может быть использован также для определения волнистости поверхности, так как измеряемая им трасса достигает 125 мм. [c.139]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...