Чувствительность диффузная

Если Арр=Др , то исчезновение колебательных членов имеет место при Т = Т2. Это значительно менее строгое требование, чем в случае метода, описанного в работе [48]. Здесь не требу--ется, чтобы Ар было равно нулю. Достаточно, чтобы любое рассеянное излучение было неполяризованным, т. е. рассеянным диффузно. На практике в этом методе погрешности возникают при измерении температуры поверхностей, имеющих выделенное направление, которое может получаться, например, в результате шлифовки или полировки в одном направлении. Чувствительность метода зависит от разницы между Ёр и е . [c.391]

Методы, изложенные в 1—3, слабо чувствительны к продольным смещениям диффузного объекта. Для измерения малых продольных смещений пригодна следующая схема (рис. 100). Это интерферометр Майкельсона, в котором два зеркала заменены плоскими диффузными поверхностями Mi и Мг. Объектив О создает в плоскости Я изображение поверхности М, смещение которой в направлении, перпендикулярном ее плоскости, и требуется определить. В плоскости Н наблюдают спекл-структуру, которая представляет собой результат интерференции двух спекл-структур, создаваемых диффузными поверхностями М и М2. Отъюстируем интерферометр таким образом, чтобы разность хода лучей, отражающихся от средних плоскостей шероховатых поверхностей М и Мг, была мала. Тогда суммарная спекл-структура в плоскости Я не будет модулирована интерференционными полосами и мы будем наблюдать обычную спекл-структуру. Переместим теперь поверхность М вдоль оптической оси на величину, настолько малую, чтобы вызванная смещением дефокусировка изображения в плоскости Я была пренебрежимо мала. Пусть, например, перемещение не достигает %/2. Из-за изменения разности хода распределение интенсивности в пятнах суммарной спекл-структуры в плоскости Я полностью изменится. Но когда перемещение достигнет величины %/2 и разность хода станет равной распределение интенсивности в пятнах восстановится и суммарная спекл-структура окажется идентичной исходной, которая была до смещения М. Суммарная спекл-структура в плоскости Я [c.104]

Устанавливают контрольный фотоэлемент так, чтобы он давал нормальный уровень сигнала от диффузного отражателя, освещаемого пучком лазера через заднее зеркало. Обычно его располагают на расстоянии 1—2 м. Настраивают осциллограф так, чтобы он запускался с началом импульса лампы накачки, и устанавливают такую скорость развертки, чтобы на экране умещался полный период импульса накачки. Регулируют чувствительность развертки второго луча, если получают интегрированный выходной сигнал фотоэлемента 2. [c.193]

Различают следующие виды чувствительности микрофона осевая (по фронту) и по различным направлениям (чаще всего по тылу) по свободному и по диффузному полю на номинальной согласованной нагрузке и на холостом ходу. В паспорте обычно приводится осевая чувствительность, измеренная в свободном поле при работе на согласованную нагрузку. [c.62]

На низких частотах из-за резонансов камеры диффузность поля получается хуже, чем на высоких, поэтому измерения на частотах ниже 100 Гц дают повышенную ошибку измерений. У этого типа камеры звукоизоляция ниже, чем у заглушенной камеры, примерно на 25 дБ [см. (7.25)], но для измерений в диффузном поле этого достаточно, так как проникающие шумы не превышают 40 дБ. В звукомерных камерах размещают только измерительный микрофон и по мере надобности испытуемый микрофон и измерительный громкоговоритель или испытуемый громкоговоритель. Всю остальную измерительную аппаратуру располагают в аппаратной, изолированной от камеры. Измерительные громкоговорители работают от соответствующих генераторов. Так как практически самый лучший громкоговоритель имеет неравномерность частотной характеристики не менее 6 дБ, то обычно применяют автоматическое регулирование чувствительности громкоговорителя с тем, чтобы развиваемое им звуковое давление во всем измерительном диапазоне частот не отклонялось от заданного более чем на 2—3%. Схема авторегулятора показана на рис. 11.2. Для регулировки применяют измерительный микрофон с усилителем, подключаемый к авторегулятору. При изменении звукового давления, создаваемого громкоговорителем, авторегулятор изменяет напряжение на громкоговорителе так, чтобы звуковое давление осталось прежним. Тот же измерительный микрофон входит в состав измерителя звукового давления, дающего возможность отсчета звукового давления непосредственно в паскалях или децибелах. [c.249]

Качественные методы абсорбционного анализа растворов, связанные с задачей идентификации веществ по их спектрам поглощения, проводятся в ультрафиолетовой и видимой областях спектра сравнительно редко. Объясняется это тем,что в этой области спектра лежат электронно-колебательные спектры вещества, которые, как правило, характеризуются широкими диффузными полосами. При наличии в растворе двух и более компонентов разобраться в этих спектрах не представляется возможным. Этому также сильно мешает и особая чувствительность электронных спектров поглощения к различного рода фактам, влияющим на их форму. [c.633]

Рис. 12.7. Схема измерения диффузной чувствительности микрофона

Чувствительность микрофона по диффузному полю можно также вычислить по формуле [ 2.2] [c.301]

Коэффициент направленности вычисляют по формуле Ом = ос/ диФ, где- ос и диФ — чувствительности по свободному и диффузному полю, мВ/Па. Индекс направленности вычисляют по формуле (7м = Ю1 Qm или по рис. 5.13 для где R — отношение чувствительности под углом к осевой чувствительности. [c.301]

Зернистость обусловлена размерами эмульсионных микрокристаллов (перед проявлением — микрокристаллов галогенида серебра, после проявления — серебряных зерен). Вследствие зернистости фотографического слоя имеют место статистические колебания чувствительности, связанные с количеством и распределением микрокристаллов в эмульсионном слое. Поэтому определение почернений малых размеров является менее точным. При увеличении зернистость может быть несколько уменьшена, если процесс копирования ведется в диффузном свете, тогда как печать парал- [c.24]

Чувствительность ультразвуковых методов в значительной степени зависит от размеров зерна в контролируемом металле. УЗК диффузно рассеиваются зернами, что приводит к потере энергии посылаемого и отраженного луча и к возникновению помехи в виде [c.66]

Однако при этом увеличивается направленность излучения, что повышает чувствительность и позволяет обнаруживать дефекты меньшей площади и с меньшим раскрытием. Условия приема эхо-сигнала, отраженного от поверхности дефекта, в большинстве случаев улучшаются вследствие увеличения диффузности отражения. Но если поверхность дефекта представляет собой плоскость, ориентированную не перпендикулярно лучу, то отраженный эхосигнал ослабляется (для малых дефектов в меньшей степени, для больших — в большей) и в,некоторых случаях может быть не принят вовсе. [c.116]

Ослабление линий испускания (третий критерий) можно вообще обнаружить, только когда наблюдается серия линий (ветвь) или полос (прогрессия). Эта серия может неожиданно обрываться или иметь внезапное понижение интенсивности, если при некотором вращательном или колебательном квантовом чис.пе становится возможной предиссоциация с достаточной вероятностью. Если, например, в этой точке вероятность перехода без излучения у примерно равна вероятности перехода с излучением , возникнет неожиданный спад интенсивности испускания на 50%, который легко наблюдается. Поэтому обрыв в спектре испускания также является гораздо более чувствительным критерием предиссоциации, чем диффузность в поглощении, но он не так чувствителен, как фотохимический распад. [c.471]

Введение наполнителей снижает степень кристалличности, особенно в материале КВН-3. Следовательно, этот параметр также оказывается чувствительным к форме частиц наполнителя. Температура 553 К для ПТФЭ является критической. Начиная с этой температуры идет процесс плавления кристаллических областей, который заканчивается при температуре 603 К. Степень "дальнего" порядка в матрице при этом уменьшается, она начинает рассеивать лучи более диффузно, однако некоторая степень упорядочения сохраняется в ней вплоть до температуры 683 К. [c.193]

Контролировать подобными дефектоскопами можно различные материалы стальные ленты холодно- или горячекатаные, протравленные и не-протравленные, покрытые защитной пленкой олова, цинка или хрома, ленты бумаги, ткани, полимерной пленки, фольги и т. д. Система контроля дефектов выбирается индивидуально для конкретного материала. При 01ражении, близком к диффузному, хорошие результаты обеспечивает метод светового пятна, при отражении, близком к зеркальному, — метод движущегося изображения. Увеличение чувствительности достигают установкой перед фотоэлементами поляризационного фильтра с направлением поляризации 90° к плоскости падения света. [c.94]

Во многих случаях возможно проведение контроля по эхо-схеме с использованием стандартных прямых или РС-преобразо-вателей. Выбор типа преобразователя главным образом зависит от расстояния между поверхцостью изделия и сварным соединением, а также от мертвой и ближней зон преобразователя. Чувствительность контроля при этом определяется отношением полезного сигнала к сигналам помех от диффузного слоя, которое не должно быть меньше двух. [c.355]

Анализ приведенных концентрационных зависимостей свидетельствует об аналогичном характере изменения порога хладноломкости и энергии дефекта упаковки [100]. Оба эти параметра являются структурно-чувствительными характеристиками и изменяются по кривой с минимумом, соответствующим границе (е+у)- и у-областей. Несовпа-)дение по содержанию марганца при одинаковом фазовом составе объясняется различной чистотой выплавки взятых для исследования сплавов [12, 100]. По мере приближения к температуре начала мартенситного превращения Мп энергия дефекта упаковки уменьшается. В сплавах, расположенных на границе (e-fl-y)- и -областей температура М-а близка к комнатной, при этом энергия дефекта упаковки минимальная, что свидетельствует о снижении устойчивости кристаллической решетки [100, 108]. Наблюдается особое предмартенситное состояние, когда возникает ближ- ний порядок динамических смещений атомов, что характеризуется появлением диффузного рассеяния электронов и [c.246]

С другой стороны, между голографической и спекл-интерферометрией, как уже отмечалось выше, существует определенная общность, связанная с тем, что оба метода регистрации позволяют воспроизводить информацию о фазовых вартациях диффузно рассеяньк световых полей, обусловленных смещением поверхности о ьекта. Здесь следует отметить, что npi регистрации спеклограммы фазовая информация, соответствующая продольным смещениям, в отличие от гологр ической регистрации, теряется (усредняется). Позтому возможность выявления таких перемещений в спекл-интерферометрии обусловлена сдвигом и изменением размеров индивидуальных спеклов вследствие изменения масштаба изображения, что и определяет пониженную чувствительность спекл-интерферометрии к такого рода перемещениям. [c.135]

Отметим, что для исследования продольных колебаний пригодна и приведенная на рис. 134 схема измерения щеро-ховатости поверхности (гл. 9), которая не чувствительна к поперечным смещениям диффузного объекта [147]. [c.113]

Когда диффузный прозрачный объект освещается лазером, т. е. источником, создающим излучение, когерентное в пространстве и во времени, контраст спекл-структуры в изображении объекта максимален. Если же диффузный объект освещается источником, излучение которого обладает временной когерентностью, но в пространстве когерентно лишь частично, то контраст спекл-структуры уменьшается. В этом случае контраст спекл-структуры сильно зависит от шероховатости диффузной поверхности и появляется возможность определения шероховатости по контрасту спекл-структуры. Схема опыта приведена на рис. 138. Конденсор С проецирует изображение монохроматического источника S на малое отверстие Т, помещенное в фокусе объектива L. Сформированный пучок освещает диффузный прозрачный объект G, например матовое стекло. Два объектива 0 и Ог формируют изображение объекта О на чувствительной поверхности фотоприемника R. Перед фотоириемником R помещается экран с отверстием, диаметр которого меньше диаметра пятен спекл-структуры. Диафрагма Р, помещенная в фокальной плоскости объектива Оь позволяет изменять диаметр пятен спекл-структуры на поверхности фотоприемника (экране). Перемещая фотоприемник в плоскости изображения G, можно определить профиль интенсивности спекл-структуры. [c.137]

Расшифровкой называют процесс отождествления различных элементов и деталей изображения, полученного на радиографическом снимке, с действительно имеющимися в изделии дефектами. Расшифровку производят при просмотре пленок на негатоскопе, который должен иметь равномерное, диффузно излучающее световое поле регулируемой яркости. О размерах дефектов по глубине судят по степени потемнения пленки в месте дефекта в сопоставлении с потемнением пленки в месте расположения соответствующей канавки эталона чувствительности, глубина которой известна. Расшифровку должны производить опытные операторы, умеющие отличить дефекты сварного соединения от дефектов пленки, которые могут иметь место из-за неравномерности [c.127]

Чувствительность по диффузному полю диф определяют при воздействии на микрофон звукового давления в диффузном поле, причем напряжение У на выходе микрофона относят к звуковому давлению Рдиф в точке до размещения в ней микрофона [c.63]

Измерение характеристик микрофона в ре-верберационной камере (в диффузном поле). В этой камере измеряют диффузную чувствительность микрофона. Размещая измерительный микрофон в зоне чисто диффузного поля (рис. 11.7) поблизости от испытуемого микрофона, измеряют развиваемые ими выходные напряжения (Удиф и /диф. Чувствительность по диффузному полю вычисляют либо по фор- [c.291]

R Q). Очевидно, что из-за направленности микрофона его чувствительность по диффузному полю, т. е. чувствительность, определенная при приходе звуковых волн к микрофону под всевозможными углами, будет меньше осевой чувствительности. Для учета величины этого уменьшения введен коэффициент направленности — отношение квадрата осевой чувствительности микрофона Б свободном поле к среднему из квадратов чустви-тельности по всем радиальным направлениям Е щ, т. е. [c.75]

Измерение характеристик микрофона Б реверберационной камере. В этой камере измеряют только индексы направленности микрофона. Размещая измерительный микрофон в зоне чисто диффузного поля, поблизости от испытуемого микрофона, измеряют развиваемое м напряжение. Отношение осевой чув ствителыности микрофона, измеренной в заглушенной камере, к чувствительности, измеренной в реверберационной, дает диффузный индекс направленности (5.7) [c.255]

Измерение характеристик микрофонов ближн сго действия проводят с помощью искусственного рта. Искусственный рот предварительно градуируют эталонным измерителем звукового давления. Микрофон устанавливают на расстоянии- 1,6— 2,5 см от отверстия рта и измеряют развиваемое им напряжение при звуковом давлении (в точке микрофона),, равном 1 Па. Измерения частотной характеристики рекомендуют проводить в заглушенном ящике или вдалв от отражающих поверхностей. Характеристику направленности микрофона ближнего действия снимают в заглушенной камере (т. е. только для удаленного источника звука). Отношение чувствительностей микрофона, измеренных в ближнем поле с искусственным ртом и в диффузном поле, определяет его шумостойкость. [c.258]

Измерение характеристик микрофона в реверберациониой камере (в диффузном поле). В этой камере измеряют диффузную чувствительность микрофо- [c.300]

В снектральной С. — основной величиной является спектральная (монохроматическая) чувствительность Это — величина, обратная количеству освещения монохроматич. излучением данной длины волны Я, создающему на фотографич. слое при заданных условиях проявления определенный фотографич. эффект напр., в случае черно-белых материалов диффузную оптич. плотность [c.514]

Метод взаимности в диффузном поле впервые был использован в воз ушной акустике Дистелем [22]. Он демонстрирует универсальность метода взаимности, и поэтому описание градуировок методом взаимности было бы неполным без упоминания о его разновидности в диффузном поле. Диффузный звук — это звук с совершенно случайным направлением. Чувствительность гидрофона в диффузном >поле определяется как отношение средиеквадр атичного значения выходного напряжения холостого хода к среднеквадратичному значению давления в д-иффузНом звуковом поле в отсутствие гидрофона. Чувствительность в диффузном поле полезна, например, при измерении окружающих шумов. Чувствительности ненаправленного гидрофона в диффузном и свободном полях одинаковы. Если гидрофон обладает направленностью, то они различны и связаны друг с другом через коэффициент концентрации [c.56]

Смотреть страницы где упоминается термин Чувствительность диффузная : [c.361] [c.79] [c.613] [c.335] [c.337] [c.500] [c.107] [c.112] [c.357] [c.361] [c.291] [c.291] [c.293] [c.76] [c.255] [c.301] [c.301] [c.303] [c.508] [c.56]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...