Дифракция на непрерывных структурах

О При каких условиях дифракция Фраунгофера наблюдается на малых расстояниях Чем объясняется большая дисперсионная область дифракционной решетки Можете ли Вы описать возникновение дифракции на решетке с помощью представлений о дифракции на непрерывно изменяющихся структурах [c.228]

Дифракция на непрерывных периодических и непериодических структурах. Дифракционная решетка является периодической структурой, у которой коэффициент пропускания х амплитуды равен 1 на щелях и О на непрозрачных частях (рис. 175). [c.229]

Анализ задачи о дифракции на спиральных структурах мы начали с рассмотрения непрерывной спиральной линии и далее — ряда точек на ней. Такое рассмотрение можно обобщить на случай, когда линия не является спиралью, а свернута каким-либо более сложным способом. Такого рода задача для так называемой двойной спирали была решена Криком [29]. [c.154]

Исследуемые здесь стационарные решения со скачком или без скачка есть предельные решения, к которым стремятся нестационарные возмущения со скачком при сохранении стационарных условий перед (с ) и за (е) волной. Например, при движении поршня с постоянной скоростью Уо в покоящуюся среду в начальный момент около поршня возникает скачок, причем его начальная амплитуда и начальная скорость распространения практически не зависят от присутствия пузырьков и определяются только свойствами жидкости. В частности, скорость распространения скачка будет практически равна скорости звука С в чистой жидкости. Далее начнут сказываться дифракция переднего скачка на пузырьках и его разгрузка из-за сжимаемости пузырьков. Интенсивность скачка, являющегося передним фронтом возмущения, будет уменьшаться. При этом основное возмущение должно отставать от скачка. При сохранении скорости поршня Уо асимптотически при i оо установится стационарная волновая конфигурация. Если Уо = 1 0 — > У то передний скачок имеет предельную ненулевую амплитуду, что соответствует стационарному режиму С -, если Уо = ко — уИ < У , то интенсивность скачка затухает до нуля, что соответствует стационарному режиму Се < До < С/. Аналогичные режимы будут иметь место при мгновенном повышении давления с Ро до р, и сохранении его постоянным в каком-либо месте. И если то предельная волна будет иметь непрерывную структуру. [c.39]

В действительности ионы колеблются около своих положений равновесия (см. гл. 21—26). Это не влияет на выводы, к которым мы приходим в настоящей главе (хотя в первое время исследователям, занимавшимся рентгеновской дифракцией, оставалось неясным, почему такие колебания не размывают картины, характерной для рассеяния на периодической структуре). Оказывается, что колебания приводят к двум основным следствиям (см. т. 2, приложение О) а) интенсивность типичных максимумов, позволяющих восстановить структуру кристалла, понижается, но не обращается в нуль б) возникает более слабое непрерывное фоновое излучение ( диффузный фон ). [c.104]

На рис. 101,а показаны прямые (с индексами 13), соответствующие винтовому смещению в и М = 10/3). Однако видно, что через данную систему точек можно провести другие системы прямых, например имеющие индексы 31, 42 и т. п. Этим прямым радиальной проекции в спиральной структуре соответствуют некоторые определенные непрерывные спирали. Таким образом, через точки прерывной спирали можно провести не только одну (порождающую) непрерывную спираль, но и множество других непрерывных спиралей. Это и объясняет тот факт, что при дифракции от прерывной спирали в слоевые дают вклад различные функции Бесселя — каждая из них соответствует одной из этих возможных непрерывных спиралей. [c.151]

Основным методом изучения структуры аморфных материалов является метод дифракции рентгеноваких х лучей, электронов и нейтронов [67]. В главе 7 при рассмотрении вопросов дифракции излучения на кристаллах указывалось, что при рассеянии на неограниченном кристалле возникают узкие дифракционные максимумы, положение которых определяется в соответствии с формулой Вульфа -— Брэгга межплоскостными расстояниями, а ширина — размером кристалла,. В весьма грубой модели картину дифракции на аморфных материалах можно рассматривать как происходящую на совокупности ультрамалых беспорядочно ориентированных кристаллитов (см. рис. 12.2, а), и поэтому узкие дифракционные максимумы при переходе к рассеянию аморфными материалами должны трансформироваться в широкие диффузные гало. Такой подход позволяет качественно объяснить характер дифракционной картины от аморфных веществ, однако даже при исследовании структуры аморфных материалов с помощью наиболее высокоразрешающего метода — дифракции электронов — узкие дифракционные максимумы обнаружить не удалось. По этой причине модель аморфных материалов как ультрамикрокристал-лических веществ далеко не всегда считается справедливой. В качестве более корректной модели сейчас все чаще принимается модель непрерывного распределения сферических частиц, характеризующихся почти плотной упаковкой (иначе — случайной сеткой [c.277]

Наиб, распространение в Э.с. получили энергоанализаторы электростатического типа с тормозящим или отклоняющим полем. Квазисферич. сеточные анализаторы с тормозящим полем позволяют, кроме анализа электронов по энергиям, визуализировать угл. распределения эмитируемых электронов на коллекторе, для этого его покрывают люминофором (напр., в дифракц. методах исследования). В случае отклоняющего поля преим. используют анализаторы типа цилиндрич. зеркала и секторные со сфе-рич. полем. С их помощью исследуют и пространств, распределения электронов во всём диапазоне их энергий. Специфика регистрирующей аппаратуры обусловлена тем, что структура энергетич. спектров наблюдается на непрерывном фоне, часто превосходящем её по величине, и задача состоит в вьщелении этой структуры и её измерении. В разработанной аппаратуре используется как аналоговая, так и цифровая техника в сочетании с ЭВМ (в частности, для увеличения отношения сигнал/фон широко применяется аналоговое дифференцирование спектра с помощью синхронного детектирования). Предложены способы полного Удаления фона. В случае цифровой техники часто применяют способ, основанный на использовании многоканального анализатора, работающего в режиме многоканального счётчика. [c.554]

В принципе изображение одиночной звезды в фокусе телескопа представляет собой дифракционное пятно (круг Эйри, рис. 3), определяемое апертурой телескопа. Чтобы наблюдать идеальную картину дифракции, необходимы исключительные атмосферные условия падающая на телескоп световая волна, идущая от звезды, должна быть плоской. В действительности обычно таких условий нет, и вследствие турбулентности атмосферы волновой фронт может быть сильно искажен. Телескоп воспринимает волну с неровностями волнового фронта, которые лежат в пределах от нескольких сантиметров до нескольких десятков сантиметров. Кривая S на рис. 117 изображает волновую поверхность, кО торая поступает в телескоп в данное мгновение. Разумеется, форма волновой поверхности изменяется очень быстро во времени. Вот почему при наблюдении в телескоп глазом изображение одиночной звезды обычно видно в виде размытого пятна, которое непрерывно изменяется и структура которого не имеет ничего общего с картиной дифракции Эйри. [c.118]

Рассмотрим теперь образование кластеров в исходном твердом растворе (матрице). С помощью рентгеновского анализа или электронной микроскопии можно обнаружить кластеры определенного размера, формы и состава, называемые обычно зонами Гинъе — Престона. Эти зоны, впервые обнаруженные в сплавах алюминий — медь, обычно представляют собой небольшие пластинки толщиной всего в несколько (а возможно, один) атомных слоев они отличаются от матрицы по составу и могут отличаться по величине межатомных расстояний, но их структура переходит в структуру матрицы непрерывным образом. Интерпретация эффектов, наблюдаемых при исследовании дифракции рентгеновских лучей в сплавах на ранних стадиях старения,— проблема очень сложная, и в течение многих лет было неясно, следует ли приписывать эти эффекты образованию зон Гинье — Престона или небольших частиц когерентных выделений. Такие когерентные выделения в отличие от зон Гинье — Престона имеют кристалли- [c.250]

В двумерной проекции вдоль любого другого направления, наклонного по отношению к направлению с, структура со сдвигами (проектируюш имися на это направление) будет выглядеть как обладаюш,ая нарушениями второго рода, причем увеличение наклона даст увеличение проекции сдвигов. В обратном пространстве дифракции от таких косых проекций соответствуют плоскости с ненулевыми I, на которых, таким образом, рефлексы будут размываться. Непрерывному сдвигу t(z) (47) соответствует полная потеря периодичности при любом наклоне направления проектирования, кроме идеального вдоль с. Поэтому при непрерывном [c.267]

В данном параграфе мы еще раз вернемся к рассмотрению задач дифракции плоской волны на неидеально проводящих периодических структурах гребенке и системе полуплоскостей. Здесь мы обсудим подход, основанный на непосредственном ре-щении систем линейных алгебраических уравнений, получаемых методом сщивания. Рещение таких систем эквивалентно обращению вполне непрерывного матричного оператора, поэтому их называют системами первого рода. [c.156]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...