Сканирование спектральное

Во время сканирования спектральные ширины входной и выходной щелей поддерживаются постоянными. Сканирование [c.162]

Тип лазера Спектральный диапазон, мкм Способ или устройство сканирования Спектральное разрешение, см Мощность источника, Вт Минимально обнаружимый коэффициент поглош,ения, см Динами- ческий диапазон Точность измерения коэффициента поглощения, % Точность измерения частоты, см [c.141]

Для выбора оптимальных условий записи спектров при градуировке спектрометра часто применяют следующий способ. По эталонному спектру поглощения проводят оценку полуширины наиболее узкой полосы поглощения. Спектральную ширину щели берут приблизительно равной Д полуширины полосы. После вычисления и установки рабочей ширины щели подбирают усиление регистрирующей схемы с таким расчетом, чтобы во время записи перо самописца не выходило за пределы шкалы. Затем устанавливают приемлемый уровень шумов путем подбора постоянной времени усилителя. Скорость сканирования определяют таким образом, чтобы время записи наиболее узких линий поглощения было равно 10—20 т. Правильность выбора условий записи контролируют сравнением качества записанного и эталонного спектров. [c.150]

Линейное движение осуществляется со скоростью, достаточной для обеспечения необходимой экспозиционной дозы D . Диапазон линейных перемещений должен превышать размеры контролируемого объекта, что позволяет осуществлять коррекцию метрологических характеристик измерительного канала в ходе всего процесса сканирования. Эго положение облегчается тем, что в системе обычно имеется еще один — опорный детектор, идентичный с измерительным, но жестко связанный с излучателем и формирующий необходимый сигнал /о (Й, используемый для непрерывной коррекции на мгновенные нестабильности параметров рентгеновского излучения согласно соотношению (2). Спектральные, временные и прочие характеристики опорного канала обычно выбираются максимально близкими к средним данным измерительного канала с обеспечением имитации средних свойств объекта. Единственным отличием является более высокое отношение сигнала к шуму по опорному каналу, не связанному с ослаблением излучения через объект. [c.462]

Для каждой Ji. на входе рассматривается контур АФ, записанный во всём рабочем диапазоне сканирования от начальной до конечной Кц. В этом контуре, кроме осп. части спектральной линии шириной эф в окрестности Я. , учитываются и протяжённые крылья от фона рассеянного излучения и дополнит, пики от др. порядков дифракции на делениях шкалы X — тЯ. , m = 1, 2, 3... Совокупность таких АФ для всех элементарных компонент Я,(, исследуемого сплошного спектра даст полную картину свойств прибора в его рабочем диапазоне Я. Графически эта картина пред- [c.623]

Если определяется математическое ожидание амплитудных значений гармонического процесса со сканирующей частотой, то применяют нелинейную показательную функцию. При нахождении закона сканирования с целью получения спектральной плотности с постоянным разрешением и допускаемой погрешностью используют линейную функцию сканирования. Если спектральный анализ выполняется с постоянным относительным разрешением, то необходим линейный закон непрерывного сканирования по гиперболе возрастающей или убывающей частоты. Тогда постоянное во всем исследуемом диапазоне разрешение по частоте [c.355]

В реальном случае требуется обычно высокое спектральное и пространственное разрешение в достаточно широком спектральном диапазоне и для источников конечных размеров (могут быть поставлены другие требования, например, фокусировки спектра на плоскость, упрощения движения решетки и выходной щели при сканировании и т. д.). Чтобы удовлетворить все эти требования, решетка должна иметь достаточное число параметров оптимизации как по форме поверхности, так и по расположению и форме штрихов. [c.261]

Конечная спектральная полуширина выходной диафрагмы установки приводит к сглаживанию регистрируемого распределения яркости в интерференционной картине. Следствием инерционности фотоэлектрической системы регистрации является задержка во времени регистрируемой интерференционной картины, что ведет к сдвигу ее максимума, уширению и появлению асимметрии, йти эффекты будут зависеть от скорости сканирования интерференционной картины и профиля регистрируемого [c.48]

Следует отметить, что методы исследования поверхностей, изложенные в предыдущем параграфе, в принципе могут быть использованы и для определения толщины пленки. Кроме изложенных выше (СМ. п. 4 настоящей главы) способов получения системы полос с необходимым шагом (многощелевые диафрагмы и сканирование системы полос), можно использовать сверхтонкую структуру спектральных линий. Один из способов заключается в получении дублетного расширения D-линии натрия [98]. Подбором соответствующего расстояния между пластинами интерферометра находят два положения, при которых полоса, соответствующая компоненте в непокрытой части пластинки, совпадает с компонентой Я,в части пластинки, покрытой пленкой, [c.234]

Картины излучения диодов исследовались методом сканирования. Диоды укреплялись на поворотном столе, который обеспечивал вращение либо вокруг оси, перпендикулярной плоскости р — /1-перехода, либо вокруг оси, лежащей в плоскости р — п-перехода и параллельной полированным поверхностям. Излучение диода исследовалось также при помощи монохроматора с щелевой диафрагмой, обеспечивающей угловое разрешение не ниже 0,1°, и спектральным разрешением не ниже 1 А [44]. [c.66]

В лазерной спектроскопии представляют интерес три основных типа приборов, измеряющих длины волн призменный спектрограф, предназначенный для фоторегистрации дифракционный монохроматор с регулируемыми входной и выходной щелями, снабженный набором фотоприемников и решеток для перекрытия спектрального диапазона от ультрафиолетовой до дальней инфракрасной области, и, наконец, интерферометр Фабри—Перо, в котором чаще всего применяется пьезоэлектрическое сканирование с набором зеркал и приемников для ближней ультрафиолетовой и дальней инфракрасной области спектра. Ниже мы рассмотрим основные особенности таких приборов. [c.334]

Более точным методом для определения особых точек зонной структуры кристаллов при изменении температуры является модуляционная спектроскопия отражения [5.12]. При спектральном сканировании особые точки (типа прямых межзонных переходов) проявляются в спектре в виде пиков отражения, относительная величина которых составляет AR/R Ширина пиков отражения увеличивается от [c.116]

С одной щелью, у к-рой верх, часть служит входной, а нижняя — выходной щелью, и пр. В тех случаях, когда особенно важно избежать попадания в выходную щель М. рассеянного света с длинами волн, далёкими от выделяемого участка спектра (напр., в спектрофотометрии), применяют т. н. двойные М., представляющие собой два М., расположенных так, что свет, выходящий из первого М., попадает во второй и выходная щель первого служит входной щелью второго (рис. 4). В зависимости от взаимного расположения диспергирующих элементов в каждом из этих М. различают двойные М. со сложением и с вычитанием дисперсий. Приборы со сложением дисперсий позволяют не только во много раз снизить уровень рассеянного света на выходе, но и увеличить разрешающую способность М., а при заданном разрешении — повысить выходящий световой поток (т. е. распгирить щели). Двойные М. с вычитанием дисперсий позволяют снизить уровень рассеянного света без увеличения разрешающей способности. В них на выходную щель приходит свет такого же спектрального состава, с каким он вышел из ср. щели. Такие М, менее светосильны, чем М. со сложением дисперсий, однако они позволяют проводить сканирование спектра перемещением ср. щели в пло- [c.211]

В одноканальных С, п. группы 1 исследуемый поток со спектром /(к) посылается на спектрально-селективный фильтр, K-pbJH выделяет из потока нек-рые интервалы бЯ, в окрестности каждой к и может перестраиваться (непрерывно или дискретно), осуществляя сканирование спектра во времени t по нек-роиу закону Я ((). Выделенные компоненты бЯ. посылаются на приёмник оптического излучения, запись сигналов к-рого даёт ф-цию времени F t). Переход от аргумента i к аргументу Я. позволяет получить ф-цию F(k) — наблюдаемый спектр. [c.612]

Для С. п. групп 3 и 4, получивших развитие с сер. 1960-х гг., принципиальной основой является спектрально-селективная. модуляция (см. Модуляция света), при к-рой задача разделения длин волн я. переносится из оптич, части прибора в электрическую. В одноканальном С. п. группы 3 исследуемый поток со спектром /(к) посылается на устройство, способное модулировать нек-рой частотой о) — onst лишь интервал бЯ в окрестности длины волны настройки к, оставляя остальной поток немодулировайным. Сканирование Я (Г) проводится так, чтобы различные к последовательно модулировались частотой со,. Выделяя составляющую о),, в сигнале приёмника с помощью электрич. фильтра, получают ф-цию времени F(l) и соответственно спектр F(k). [c.612]

Итак, принципиальное различие рассмотренных групп приборов следующее в одноканальных С. п. групг[ 1 и 3 время эксперимента затрачивается на накопление информации о новых участках спектра (на сканирование по Я.), в многоканальных приборах группы 2 -— иа накопление сигнала и усреднение шумов (улучшение отношения сигнал/шум), а в фурье-спект-рометрах — на накопление структурных деталей в данном спектральном диапазоне (рис. 6), [c.615]

В приборах, измеряющих непосредственно спектр Ф(х), излучение направляется на устройство, обладающее свойством спектральной селективности [выделяет узкий интервал (V, т-[- Зу)], и приёмник регистрирует мощность выделенной спектральной составляющей излучения. Полный спектр Ф(у) получается или после-доват. перестройкой частоты — сканированием (одноканальные системы), или одновременным независимым приёмом излучения от мн. интервалов 6у (многоканальные системы). [c.621]

Форма измеренного контура может быть различной. При сужении щелей до размеров дифракц. уширення ( нормальные щели) контур А приближается к виду 81псД = (sin XfX) . В другом крайнем случае при достаточно широких щелях контур А приближается к треугольному это объясняется тем, что контур А соответствует изменению сигнала приёмника при сканировании изображения входной щели поперёк выходной, при этом происходит свёртка двух П-контуров, к-рая и даёт в результате треугольный контур П П = Л. При промежуточных значениях ширин щелей треугольный контур сглаживается, что обычно удовлетворительно аппроксимируется гауссовой ф-цией (если аберрации не вносят асимметрии). Существенно подчеркнуть, что рассматриваемом случае аппаратная ф-ция А имеет v22 ширину Здф в спектральных единицах (в шкале прибо- [c.622]

Кроме отклика на одиночную й-функцию на в.ходе важное значение для полноты модельного описания имеет др. предельный случаи, когда входной сигнал обладает сплошным спектром (бесконечная последовательность б-фувкцлй). Тогда при фпкеиров. положении всех оптич. влементов монохроматора (при остановленном сканировании) в фокальной плоскости образуется континуум монохроматич. изображений входной щели, последовательно смещённых. за счёт угл. дисперсии. Суперпозиция этой последовательности на выходной щели соответствует операции свёртки, в результате к-рой формируется выходящий иоток. Контур его спектра, в отличие от АФ, наз. ф - ц п о й пропускания (ФП). Длина волны, соответстзующая максимуму ФП, наз. длиной волны н а с т р о u к и Я, ширина контура ФП ваз. выделяемым спектральным и н т е р в а л о. 1 6Х, отношение X ЬХ — селективностью С. [c.622]

Искажения контура / характеризуются инерционной погрешностью б (имеющей аналогично 6j смысл относит, снижения максимума контура). При умеренных скоростях сканирования (v < 0,2 bj/x, где bj — ширина / в единицах спектральной шкалы) имеет место приближённое выражение 6, te 2,8(nr/6j) . Напр., измерения формы / контуров с погрешностью б, < 1% возможны лишь за время bj/v, превышающее в 17 раз постоянную времени т. [c.623]

На ИСЗ Астрон , запущенном на высокоапогейную орбиту 23 марта 198 был установлен УФ-телескоп системы Ричи — Кретьена с диаметром гл. зеркала 80 см и эфф. фокусным расстоянием 8 м. В фокусе УФ-телескопа разметался роуландовский дифракционный спектрометр с последоват. сканированием спектра в области 1500— 3400 А с высоким (0,4 А) и низким (28 А) спектральным разрешением. Двухступенчатая система ориентации обеспечивала наведение и стабилизацию телескопа с точностью до 0,25 . Чувствительность телескопа позволяла регистрировать за 3 ч экспозиции спектры звёзд спектрального класса АО вплоть до 13". Астрон успешно функционировал на орбите св. 6 лет. За это время получено ок. 400 спектров разл. астр, объектов, в т. ч. Сверхновой 1987 А, кометы Галлея, вспыхивающих и нестационарных звёзд, внегалактич. объектов и др. источников. [c.220]

В Ф.-с. реализуются два осн. принципа сканирования интерферограммы — шаговое и непрерывное (быстрое). В быстросканирующем Ф.-с. подвижный отражатель движется с пост, скоростью V. На выходе интерферометра каждая спектральная составляющая исследуемого сигнала синусоидально модулируется с частотой v-2v и осн, интегральное соотношение фурье-спектроскопии принимает вид [c.390]

Временное разрешение (фактически время регистрации интерферограммы) получаемых спектров в большинспе Ф.-с. составляет от долей секунды до неск. минут. Ф.-с. с высокими скоростями из иенения оптич. разности хода обладают временным разрешением до 2—3 мс при достаточно высоком спектральном разрешении (до 0,1 м ). В приборах с шаговым сканированием достигается временное разрешение порядка Не при исследовании периодически повторяющихся сигналов. Ф.-с. на основе статич. интерферометров, где в качестве интерферограммы регистрируется пространственно фиксированная в плоскоста приёмных площадок многоэлементного фотоприёмника (линейки или матрицы фотодиодов) интерференц. картина, позволяют достигать временного разрешения, определ -емого физ. пределом отд. измерения на отд. приёмнике, т. е. до i МКС и быстрее. Однако спектральное разрешение таких Ф.-с, оказывается довольно низким (не лучше 50 см ). [c.390]

ХРОНОСПЕКТРОМЕТР — спектральный npuf>op для регистрации изменений спектров во времени и содержащий устройства быстрого циклического спектрального сканирования. Если последние отсутствуют, а развёртка во времени осуществляется для всех длин волн рабочего спектрального диапазона одновременно, то прибор паз. хроноспектрографом. [c.417]

Рис. 8. Схема управления испытаниями на узкополосную случайную вибрацию а — спектральные плотности узкополосной и широкополосной вибрации, б — структурная схема системы / — привод сканирования частоты, 2 — виброметрическая аппаратура, 3 — датчик, 4 — испытуемое изделие, 5 — вибровозбудитсль. 6 — усилитель мощности 7 — автократический рс гулятор усиления, 8 — сопровождающий фильтр 9 — генератор белого шума

Преимуществом оптических камер с механическим сканированием по сравнению с телевизионными датчиками является более широкий спектральный диапазон съемки от ультрафиолетового до теплового инфракрасного (0.3-14 мкм). При этом развертка вдоль строки изображения обеспечивается качающимся или вращающимся зеркалом, а в поперечном направлении — за счет движения спутника. Оптико-механические сканеры размещаются, например, на ИСЗ Landsat-4,5 (аппаратура MSS, ТМ, ЕТМ) и bers (IRMSS). Основным недостатком устройств такого типа является наличие механического сканирующего зеркала, ограничивающего точность географической привязки получаемых изображений и снижающего долговечность и надежность устройства в целом. [c.57]

В оптико-электронных камерах на приборах с зарядовой связью (ПЗС), получивших наименование наименование push-broom s anner , элементы с механическим сканированием не используются. Строка изображения в одном спектральном диапазоне формируется при помощи линейной матрицы (линейки) детекторов на ПЗС, ориентированной перпендикулярно направлению полета спутника. Строчная развертка изображе- [c.57]

В традиционном спектральном анализе используется гетеродинное сканирование сигнала от узкополосного частотноизбирательного фильтра при этом информация о различных спектральных составляющих поступает последовательно и слишком медленно для многих практических применений. Использование для спектрального анализа акустооптического взаимодействия позволяет обрабатывать сигналы параллельно и получать все спектральные составляющие одновременно в оптическом виде. Эти методы играют важную роль для обработки сигналов в радарах. [c.431]

Преобразование составляющей информации "к ъ х осуществляется спектрографами с пространственным разделением спектра % в t — спектральными приборами со сканированием в с или в у — осциллографом или электронно-оптическим усилителем с отклонением по одной из координат / в л и у — телевизионными приемными трубками, записывающими трубками с памятью. Чрезвычайно важным обстоятельством, которое необходимо учитывать при построении светоинформационных систем, включая и голографическую, является ограниченность детекторов в приеме и записи различных видов световой информации. Практически детекторы могут записывать лишь распределение интенсивностей света по х и у, для получения другой информации ее необходимо предварительно преобразовать из а, 3, X и др. в д и у. Эта операция входит в задачу преобразования, выполняемую первым звеном светоинформационной системы (включая голографическую). [c.53]

В предыдущих главах рассматривались основные причины, влияющие на вид интерференционной картины, наблюдаемой с ИФП. При этом предполагалось, что источник излучения испускает свет в виде цугов бесконечно большой длины, т. е. анализируемое излучение обладает временной когерентностью. Пространственная когерентность реального газоразрядного источника. может быть определена с помощью теоремы Ван-Циттера — Цернике [5] или, для объемных источников спонтанного излучения типа полого катода, с помощью обобщения теоремы Ван-Циттера— Цернике, выполненного в работе [17]. До появления лазеров ИФП обычно освещался светом с очень малыми разме-)ами области пространственной когерентности (10 —10 см). Использование ИФП совместно с лазерами в качестве селекторов излучения, применение ИФП в перестраиваемых лазерах для сканирования и монохроматизации излучения, измерение АК ИФП с помощью одночастотного лазера и другие способы их применения приводят к необходимости развития теории, описывающей вид интерференционной картины при прохождении через ИФП полностью или частично пространственно-когерентного излучения. В то же время появление импульсных лазеров с малой длиной излучаемого светового цуга, а также исследование спектральных линий, испускаемых атомами и ионами с малым временем жизни возбужденного состояния, ставят вопрос о влиянии на вид наблюдаемой с ИФП интерференционной картины временной когерентности излучения. Число работ, посвященных этим проблемам, в настоящее время невелико [29, 38, 47], хотя пространственная и временная когерентность анализируемого излучения, конечно, оказывают решающее влияние на формирование АК идеального и реального ИФП. [c.78]

За последние 10—15 лет значительно расширилась область Приложений многолучевой интерференционной спектроскопии. Развитие фотоэлектрического метода регистрации интерференционной картины, разработка многослойных диэлектрических слоев с высоким коэ( ициентом пропускания и малой величиной поглощения, применение электронно-оптических преобразователей, создание широкой номенклатуры узкополосных интерференционных фильтров для видимой, ультрафиолетовой и инфракрасной областей спектра, разработка способов сканирования интерференционной картины и устройств для их реализации, теоретическое обоснование и экспериментальное осуществление муль-типлекс-эталона существенно расширили экспериментальные возможности спектрометра Фабри-Перо во всех областях оптического спектра. Следует заметить при этом, что важной причиной успешного применения эталона Фабри-Перо является его высокая свето--сила, превосходящая светосилу обычных спектральных приборов с призмой или решеткой, имеющих одинаковую тэлором Фаори-Перо величину разрешающей сйлы, [c.5]

Вслед за работами Жакино [69], Фельжета [70], Стронга [71] и др., имевшими основополагающее значение для спектроскопии Фурье, последовали исследования [72—74], в которых были установлены замечательные свойства и существенные достоинства различных вариантов этого метода. Одно из главных достоинств этого метода состоит в одновременной регистрации всех спектральных компонент (длительность регистрации не зависит от ширины спектра), а также высокая освещенность. Применение этого метода выдвигает требование прецизионного сканирования или перемещения зеркала (сравнимых по точности с требованиями, предъявляемыми к делительным машинам). Иско- [c.176]

Указанные выше новые спектральные приборы, а так ке классические приборы с фотоэлектрической регистрацией и сканированием спектра пригодны лишь для исследования спектров источников. яркость которых остается постоянной во времени в течение всего времени регистрации. По этой причине они 11епригодны для ис-следованпя спектров импульсньгх источников и. в частности, спектров излучения импульсных оптических квантовых генераторов. [c.14]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...