Дефокусировка

Следует отметить, что в средах с <0 (за счет нагрева среды, связанной с диссипацией энергии светового пучка и т. д.) соответственно происходит дефокусировка мощного светового пучка. [c.401]

С помощью описанных голографических пространственных фильтров решено большое количество технических задач по улучшению качества изображения повышению контраста, устранению дефокусировки. Одним из наиболее. эффективных применений метода явилось улучшение изображений в электронном микроскопе. Улучшенные изображения имели высокий контраст и разрешение, близкое к предельному. [c.53]

Здесь А— комплексная амплитуда поля, Яд— линейная часть показателя преломления среды, — отри-цат. нелинейная добавка к показателю преломления, конкретный Вид К-рой зависит от механизма нелинейности среды. Если нелинейная добавка к показателю преломления положительна п >0), то вместо дефокусировки развивается самофокусировка света. [c.407]

Её график представлен на рис. 2 (штриховая кривая). Ф-ция (12) выведена без учёта хроматической аберрации, в предположении освещения объекта когерентным пучком. Реальная частотно-контрастная характеристика, полученная с учётом хроматической аберрации и некогерентности освещающего объект пучка, представлена на рис. 2 сплошной линией. Это — затухающая при высоких пространственных частотах кривая, огибающие к-рой, изображенные штрих-пунктирной линией, с ростом R приближаются к оси абсцисс. Она получена для оптимальной дефокусировки Д /, при к-рой предельная частота Ло максимально сдвинута в сторону высоких частот при отсутствии глубоких провалов на промежуточных частотах. На рис. 2 видно, что структурные фурье-компоненты с пространств, частотами <Ло передаются на изображении с контрастом [c.548]

Хотя существуют различные методы моделирования изображения ВР, общий подход состоит в следующем. Предполагается некоторая микроструктура объекта, выполняется расчет изображения, полученный результат сравнивается с экспериментальной картиной, изменяется начальная микроструктура объекта и так до тех пор. пока расчетное изображение точно не совпадет с экспериментальным. Сложность данной процедуры состоит в том, что изображение чувствительно к следующим факторам положению электронного пучка относительно объекта и оптической оси прибора толщине образца, величине дефокусировки объективных линз, хроматической аберрации, когерентности пучка и внутренней вибрации материала. Для проведения корректных вычислений необходимо обладать по возможности полной информацией как об образце, так и об используемом микроскопе, так как многие параметры используются в программах расчета. Количественная обработка изображений высокого разрешения дает возможность сохранять изображение в компьютере в [c.492]

Различные дефекты освещения объектива слишком большой апертурный угол освещающего пучка из-за излишней длины катода, падения потенциала смещения на направляющем электроде (при этом возрастает ток эмиссии) неправильная фокусировка пучка конденсорной линзой (ток в линзе должен быть немного большим, чем нужно для получения изображения катода в плоскости объекта и соответственно на промежуточном экране) тупая вершина катода или неравномерное распыление катода (появляется двойное изображение, лучше видимое при дефокусировке). [c.38]

Экспозиция при съемке зависит от чувствительности пластинок и яркости изображения и колеблется от 1 до 10 с. Сокращать экспозицию можно, лишь повышая яркость, перегревая объект. Удлинение экспозиции связано с риском случайной дефокусировки или движения изображения. Хорошие негативы допускают печатание с полезным увеличением до 5-8 раз без потери резкости. [c.39]

Погрешность формы зеркал бг 25 0,12 Дефокусировка на 40 мм [c.221]

Отметим, что в значительной степени ухудшение разрешения при удалении от точки коррекции как в обычной, так и во вне-плоскостной схеме освещения решетки связано о дефокусировкой при использовании плоской поверхности детектора и может быть уменьшено при переходе к вогнутой поверхности о радиусом R о/2. [c.278]

Большой интерес представляет случай движения ионов, вошедших в то же поле, но под некоторым углом к касательным концентрических окружностей. Знание законов движения заряженных частиц, входящих в рассматриваемое поле под разными углами, позволяет оценить величину дефокусировки при отклонении ионных пучков от параллельности, а также возможность применения электростатической фокусировки пучков по направлению. [c.43]

Одной из наиболее сложных задач, с которой часто приходится иметь дело на практике, является задача восстановления изображений, искаженных смазом или дефокусировкой. Такие искажения встречаются, например, при съемке через турбулентную среду, при получении электронно-микроскопических изображений и картин рентгеновской дифракции. [c.143]

На рис. 7.6 показана передаточная характеристика оптической системы с дефокусировкой, описываемая в приближении геометрической оптики следующим выражением [23] [c.146]

В этом случае эффективная дефокусировка исчезает. В приближении геометрической оптики изображение идеально. Следовательно, размытие определяется только дифракцией на каждой из преломляющих поверхностей [c.69]

Рассмотрим ситуацию, когда превалируют геометрические аберрации каждой из преломляющих поверхностей. Поскольку неустранимая дефокусировка в этом случае мала по сравнению с аберрационным размытием, то координаты 6ps пересечения луча, идущего из точки Гу(ру, Zy) нелинейного кристалла, с плоскостью Zs = Zso определяются в основном pv и практически не зависят от Zr (рис. 3.3). Если выполнены условия (3.5), в которых фаза (3.2)—линейная функция Zy, то нетрудно убедиться, что формула (3.6), а при 5 /zсферической аберрацией, определяется выражением [c.70]

Модификацией этого метода является автоколлимационный растровый способ измерения глубины неровностей. Схема растрового устройства показана на рис. 18. Растры 2 и 3 проектируются полупрозрачным, зеркалом 4, тубусной линзой 5 и объектом 6 па контролируемую поверхность 7. Растры расположены симметрично относительно фокальной плоскости F F. Шаг растров выбирают с учетом разрешающей способности микрообъектива 6. При точной фокусировке автоколимациониые изображения растров симметрично располагаются относительно рястра-ама-лизатора 8, причем их штрихи смещены на 1/2 шага относительно растра — анализатора 8. Поэтому в момент точной фокусировки в плоскости растра 8 устанавливается фотометрическое равновесие. При дефокусировке оно нарушается и регистрируется визуально или фотоприемником 9—12, как показано на рисунке. [c.75]

Если температурное изменение линейных размеров механического устройства, связывающего оптическую систему с приемником, компенсирует изменение расстояния от последней преломляющей поверхности оптической системы до плоскости приемника, то, очевидно. Да = О П Д5 = О или Д ф Это и есть условие нерасстраиваемости оптического прибора по температурной дефокусировке изображения относительно плоскости приемника. Для нерасстраиваемости оптического прибора в отношении температурного изменения размеров изображения на фиксирующей поверхности приемника необходимо Ц — Ш = 0. При Д и. ф = О [c.204]

Управление поперечными взаимодействиями. Для эффектов, приводящих к нелинейному изменению угл. спектра, таких как самофокусировка и само дефокусировка, генерация диссипативных структур, пространственная бистабильность и мультистабильность, определяющую роль играет характерный масштаб поперечных взаимодействий 1. Мелкомасштабные поперечные взаимодействия ( 1 й — поперечного размера светового пучка) возникают за счёт дифракции ( диффузии лучевой амплитуды), диффузии частиц нелинейной среды, В системах с оптич. обратной связью, в нелинейных резонаторах ст. ы. двумерной обратной связью, используя относительно несложные преобразования светового поля, можно получить т — (см. раздел 7). [c.298]

Нелинейная расходимость пучка при внутр. дефоку> сировке, т. е. в толстом слое, равная вдл = слабее зависит от мощности пучка, чем в тонком слое (6). Заметная дефокусировка наблюдается при 0 л бцифг откуда можно определить порог этого эффекта. [c.408]

Первое тё шое кольцо образуется при Дф = п, второе — при Дф = Зге и т. д. Второе светлое кольцо (внутри внещ. светлого кольца с угл. расходимостью 0нл) образуется при Дф = 2я, а последующие — при Дф = 2лN. Т. о., число дополнит, светлых колец в аберрац. картине дефокусировки равно [c.408]

Т. о., с увеличением мощности пучка растёт его интенсивность Е на оси, растут п л н 0нл1 т- е. увеличивается эффект дефокусировки. Чем больше расходимость пучка, тем больше число аберрац. колец N. Дефокусировка пучка выражается в том, что с ростом мощности пучка амплитуда и интенсивность уменьшаются а появление каждого нового тёмного кольца со- [c.408]

В движущейся д е ф о к у с и р у ю щ ё й среде ( нп < 0) тепловая дефокусировка проявляется в самоотклонении светового пучка при дп)дТ < 0 навстречу поперечному потоку в более холодную часть [c.408]

Если скорость поперечной конвекции становится большой, то в выносе тепла из области пучка в направлении оси я оси. роль итрает конвекция [член vSTjdx в ур-нин (9)1 и распределение темп-ры среды по поперечному сечению пучка становится несимметричным. В результате этого пучок смещается по оси х на угол воткл кл/у СЛ к-рый сравним или даже больше угла дефокусировки. Поперечное сечение пучка на расстоянии приобретает характерную серповидную фор1игу (рис. 3). [c.409]

Рис. 5. Изображение доменной структуры тонкой однородной по толщине пермаллоевой плёнки. Снято в просвечивающем электронном микроскопе при дефокусировке изображения (метод лоренцевой электронной микроскопии). Светлые и тёмные узкие полосы— границы доменов. Видна рябь намагниченности, возникающая вследствие малых изменений направлений векторов намагниченности (отмечены стрелками) внутри доменов.

Рис. 5. Изображение <a href="/info/166947">доменной структуры</a> тонкой однородной по толщине пермаллоевой плёнки. Снято в просвечивающем <a href="/info/1617">электронном микроскопе</a> при дефокусировке изображения (метод лоренцевой <a href="/info/1617">электронной микроскопии</a>). Светлые и тёмные узкие полосы— границы доменов. Видна рябь намагниченности, возникающая вследствие малых изменений <a href="/info/19230">направлений векторов</a> намагниченности (отмечены стрелками) внутри доменов.

В последние годы большой интерес вызывают многокомпонентные наноструктурные пленки, обладающие уникальным комплексом физико-механических свойств. Эти объекты, как правило, состоят из смеси нескольких кристаллических фаз, внедренных в аморфную матрицу. Получение изображения с индивидуального кристаллита является важной, но довольно трудной задачей. Средний размер нанокристаллитов обычно определяют или из полуширины дифракционных линий на рентгенограмме с помощью формулы Дебая—Шеррера, либо по методу темнопольных (ТП) изображений. Однако первый метод, особенно в случае наноструктур, может приводить к значительным погрешностям вследствие эффекта уширения дифракционных максимумов и их сложной формы. Это связано с вкладом целого ряда факторов, таких как суперпозиция дифракционных линий от нескольких фаз, присутствие нанокристаллитов переменного состава с различными параметрами кристаллической решетки, наличие макро- и микронапряжений. Размер нанокристаллитов, определенный по методу ТП изображений, хорошо подтверждается прямыми наблюдениями при проведении ПЭМ ВР. Однако следует помнить, что в случае наноразмерного масштаба порядка 1 нм и менее размер кристаллитов совпадает с размером светлых областей на ТП изображении, соответствующих аморфному контрасту, что не позволяет однозначно интерпретировать результаты. Размер этих областей обычно составляет 0,5...1,5 нм и зависит от величины дефокусировки. Отметим, что в литературе нет однозначного ответа на вопрос, какой материал, исходя из экспериментально полученных результатов, действительно считать аморфным. Иногда для описания аморфного состояния вещества [c.490]

Однако следует отметить обстоятельство, которое дает возможность, жертвуя небольшой частью световой энергии, добиться хорошей равномерности освещенности плоскости РР и стоящих за ней, в частности плоскости экрана ЭЭ . Если все светильники одинаковы по форме и стоят на равных расстояниях друг от друга как в вертикальном, так н в горизонтальном направлении, то распределение световой энергии в ллоскости РР, носит двоякопериодический характер (в обоих указанных направлениях) при этом должно соблюдаться условие, чтобы при переходе, от одного светильника к следующему аберрации системы Li/,2 оставались постоянными, что всегда происходит, когда число светильников - велико. Кроме того,, необходимо, чтобы потоки, излучаемые всеми светильниками, были равны. Указанное свойство сохраНяетсй и иа плоскости экрана 55,, на котором вследствие размазывания картины распределения освещенности из-за дефокусировки скачки освещенности становятся меньше, чем в плоскости РР таким образом, возможность уравнять распределение на экране тем же способом, что для плоскости РР-, (введением рассеивателя), остается н решение задачи облегчается благодаря уменьшению колебаний освеш,еиности. [c.466]

В схеме Кёлера на экран ЭЭ, проектируется оправа конденсора KKi (см. рис. VI.24), которой также следует придать вид квадрата или правильного шестиугольника. Но если создать определенную дефокусировку в зависимости от характеристик источника. То можно довести колебания освещенности на стыке двух соседних изображений до достаточно малых, практически незаметных величин. [c.468]

В этом случае указанный выше прием дефокусировки, т. е. см ешення источника с фокуса системы, неприменим невозможно добиться равномерной освещенности на далеком экране нли силы света в заданном телесном угле, если последний отличен от нуля, и приходится прибегать к другим приемам, основанным иа разделении системы (обычно зеркала) иа большое число отдельных рассеивающих элементов, каждый из которых создает нужный угол рассеяния около общей оси системы. Эти элементы представляют собой небольшие сферические или плоские отражатели они располагаются таким образом, что их центры (или вершины) каса-тельны общей параболической Яоверхиости, в фокусе которой помещается точечный источник таким образом, лучи, отраженные от центров (вершии) элементов, параллельны осн симметрии зеркала, а остальные лучи рассеиваются равномерно около этой осн. [c.471]

По оси ордниат отложены величины контраста К. Кривые тветствуют значениям q, связанным с продольной дефокусировкой Д формулой [c.605]

Анализ этих данных показывает, что разрешение системы Вольтера—Шварцшильда может быть описано выражением типа (5.13), в котором второй член, соответствующий коме, отсутствует. При малых а и больших у разрешение этой системы, как и системы параболоид—гиперболоид , обусловлено первым членом, включающим кривизну поля и наклонную сферическую аберрацию, и имеет примерно такую же величину. Форма оптимальной фокальной поверхности обеих систем практически одинакова. Если необходимо умеренное разрешение порядка нескольких угловых минут, то преимущество системы Вольтера—Шварцшильда в разрешении может быть использовано для расширения поля зрения при дефокусировке. Например, в телескопе спутника ЭКСУВЕ таким образом получено разрешение лучше 5 в поле зрения 5° (без дефокусировки поле зрения составляет 3°) [88]. [c.179]

После длительной работы масс-спектрометра внутренние поверхности трубы анализатора периодически очищают от следов ионов, создающих тонкие изоляционные пленки. Если своевременно не удалить эти налеты, то вследствие накопления электрических зарядов возникают колебания и дефокусировка ионного луча. Налеты рекомендуется снимать безворсистой тканью, смоченной в спирте. [c.83]

Для случая дефлектора с дисковой отклоняющей системой изменение частоты на голограмме записывается в полярных координатах. Пример такой голограммы показан на рис. 7.22 [103]. Голограммы сначала записывались бинарным методом с помощью графопостроителя, а затем уменьшались фотографически в 10 раз. Результаты работы такого дефлектора показаны на рис. 7.23 (а, б, в — соответствуют освещению участков а — с на голограмме рис. 7.22 3 — при непрерывном вращении диска). Для того чтобы избежать дефокусировки пятна, вызванной зависимостью пространственной частоты от радиуса голограммы, можно синтезировать еще одну голограмму, компенсирующую эту зависимость. Используя аналогичные методы, можно синтезировать голограммы для отклонения луча в двух направлениях. При этом, как и ранее, сама голограмма будет перемещаться только в одном направлении. [c.161]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...