Интерференция света

Использование микроинтерферометра для измерения неровностей поверхности основано на явлении интерференции света, которое можно наблюдать с помощью специального оптического устройства. Микроинтерферометры применяют в лабораторных условиях для оценки наиболее чистых поверхностей с неровностями высотой в пределах 0,02—2 мк. Поле зрения у этих приборов малое — до 0,5 мм . [c.91]

Интерференция света. Наиболее наглядно волновые свойства света обнаруживаются в явлениях интерференции и дифракции. Интерференцией света объясняется окраска мыльных [c.266]

ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ СВЕТА ОТ ПРОТЯЖЕННОГО ИСТОЧНИКА. [c.194]

Остановимся на одном приложении явлений интерференции света в тонких пластинах, значение которого за последние годы сильно возросло. Речь пойдет о нанесении тонких диэлектрических пленок на оптические поверхности с целью изменения коэффициента отражения. При этом могут решаться следующие две противоположные задачи [c.217]

Что такое интерференция света Сформулируйте необходимое условие интерференции двух произвольных электромагнитных волн Ео и Ег. [c.457]

Более глубокое содержание этого закона выясняется в явлениях интерференции света (принцип суперпозиции, см. 4 и 12). [c.15]

Разобранные в настоящей главе случаи интерференции света дают возможность наблюдать это явление на специально осуществляемых опытах. Однако явление встречи двух или нескольких когерентных волн, между которыми наблюдается интерференция, имеет место, по существу, во всяком оптическом процессе. Распространение света через любое вещество, преломление света на границе двух сред, его отражение и т. д. суть процессы такого рода. Распространение света в веществе сопровождается воздействием световой электромагнитной волны на электроны (и ионы), из которых построено вещество. Под действием световой волны эти заряженные частицы приходят в колебание и начинают излучать вторичные электромагнитные волны с тем же периодом, что и у падающей волны. Так как движение соседних зарядов обусловливается действием одной и той же световой волны, то вторичные волны определенным образом связаны между собой по фазе, т. е. являются когерентными. Они интерферируют между собой, и эта интерференция позволяет объяснить явления отражения, преломления, дисперсии, рассеяния света и т. д. Мы познакомимся в дальнейшем с объяснением перечисленных явлений с указанной точки зрения. В настоящем же параграфе мы остановимся на одном частном случае из описанного ряда явлений. [c.89]

Интерферометры. Устройства, в которых для измерений использовано явление интерференции света, относятся к наиболее точным. Их применяют для аттестации концевых мер, калибров и образцовых деталей, В сочетании с лазерными источниками света они позволяют регистрировать изменение длины до 10" м. Промышленные интерферометры имеют окулярное, экранное или цифровое отсчетное устройство. Интерферометры выпускают в виде двух модификаций — для вертикальных (мод, 264) и горизонтальных (мод. 273) измерешиг Контактные иитер41ерометры имеют переменную цену деления (от 0,05 до 0,2 мкм) и основаны на схеме Майкельсона (рис. 5.11). В таких интерферометрах свет от источника 2 через конденсор 3 и свето-124 [c.124]

Принцип действия интерферометров основан на использовании явле+1ия интерференции света, отраженного от образцовой и исследуемой поверхностей. Форма образующихся интерференционных полос зависит от вида и высоты (до 1 мкм) неровностей контролируемой поверхности. Принцип действия растровых микроскопов основан на явлении образования муаровых полос при наложении ]130бражений элементов двух периодических структур (направленных следов обработки и д.чфракцнонной решетки). При наличии неровностей муаровые полосы искривляются. Высоту микронеровностей определяют по степени искривления муаровых полсс. [c.201]

Интерференция света относится к явлениям, сыгравшим существенную роль при выяснении природы света. Именно это явление позволило Араго и Френелю не только подтвердить волновую природу света, но также установить поперечиость световых волн. [c.67]

Точность измерения скорости света определяется в этом случае, во-первых, тем, насколько стабилен данный источник, и, во-вторых, тем, с какой точностью удается измерить частоту и длину волны излучения. Источниками электромагнитного излучения, наиболее удовлетворяющими этим требованиям, являются лазеры. Измерение длины В0Л1ГЫ , основанное на явлении интерференции света, производится с ошибкой, не превышающей величину порядка 10 , Измерение частоты излучения основано на технике нелинейного преобразования частоты. Используемый прибор (например, полупроводниковый диод), приняв синусоидальное колебание некоторой частоты, дает на выходе колебания более высокой частоты — удвоенной, утроенной и т. д. Этот метод с помощью нелинейного элемента излучс1П1Я кратной частоты позволяет измерять частоту излучения лазера и сравнивать его с частотами, измеренным прежде. Согласно результатам изме-рени , в1> пол 1ен ЫМ этим методом в 1972 г., скорость света в вакууме равна (299792456,2 1,1) м/с. Новые методы разработки нелинейных фотодиодов, испо.и.зусмых для смещения частот светового диапазона спектра, позволят в будущем увеличить точность лазерных измерений скорости света. [c.418]

Следовательно, не исключается возможность наблюдения интерференции от двух источников света, но требуется, чтобы фазы излучаемых ими волн были скоррелированы [т.е. соблюдено условие (5.5)]. Излучение лазера наиболее близко к монохроматической волне, и во многих случаях можно считать разность фаз двух лазерных волн практически постоянной. Поэтому обычно наиболее простым оказывается наблюдение интерференции света при использовании лазерного излучения. [c.178]

Перейдем к изучению интерференции света от протяженного источника. Будем наблюдать суммарную картину в тех же условиях, что и в предыдущем случае. Но вместо двух источников света Sj и б з пусть весь промежуток 2d занимает один протяженный источник света, создаюший на экране среднюю освещенность 1о - Разобьем его мысленно на светящиеся полоски шириной Sf, X. Такие элементарные источники света, конечно, некоге-рентны. Найдем суммарное действие этих некогерентных излучателей в произвольной точке экрана на высоте А, учитывая, что произвольный точечный источник, смещенный на расстояние от оси, создает в точке экрана на высоте h освещенность, равную [c.200]

Это неравенство показывает, что чем меньше апертура интерференции, тем больше допустимые размеры источника. Такое количественное соотношение находится в полном согласии с результатами описанных ранее опытов (отражение света от тонкой слюдяной пластинки, зеркало Ллойда), в которых уда-юсь наблюдать четкую интерференционную картину при больших размерах источника света. Как уже указывалось, апертура интерференции в этих опытах была очень мала. Становится также понятной роль дополнительной щели в опыте Юнга. Ведь произведение 2dtgo), определенное неравенством (5.31), связано с угловыми размерами источника света, ограничение которых и позволило Юнгу наблюдать интерференцию света от двух щелей (см. 6.5). [c.201]

При рассмотрении интерференции света (см. гл. Ь) указывалось, что во. чногих практически важных случаях (iianpn.Mep, при свечении плазмы низкого давления) уширение спектральной линии в основном определяется изменением наблюдаемой частоты, связанным с хаотическим движением излучающих атомов. Такое уширение линии, легко наблюдаемое на опыте, является [c.382]

Физика. Справочные материалы (1991) -- [ c.266 ]

Справочник машиностроителя Том 2 (1955) -- [ c.226 ]

Лазерная термометрия твердых тел (2001) -- [ c.25 ]

Справочник машиностроителя Том 6 Издание 2 (0) -- [ c.2 , c.226 ]

Метрология, специальные общетехнические вопросы Кн 1 (1962) -- [ c.328 ]

Краткий справочник по физике (2002) -- [ c.184 ]

Справочное руководство по физике (0) -- [ c.366 ]

Машиностроение Энциклопедический справочник Раздел 2 Том 3 (1948) -- [ c.226 , c.252 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...