Обнаружение случайных ошибок

Поскольку на результаты контроля оказывают влияние случайные ошибки, то оценка результатов представляется как вероятностная. Так, на надежность контроля оказывают влияние такие случайные ошибки, как низкая квалификация оператора, неустойчивый режим работы нагревательных и охлаждающих элементов дефектоскопа, недостаточно полный контакт его рабочих поверхностей с изделием и т. д. Важным источником случайных ошибок, который практически не поддается воздействию извне, но который требуется учитывать при разработке методики и обработке данных контроля, является различие в обнаружении однотипных дефектов в структуре клеевой прослойки, обусловленное их ориентацией, формой и другими факторами. Это различие можно учитывать введением коэффициента выявляемости, который позволяет производить оценку надежности контроля и выбирать оптимальный критерий оценки результатов, обеспечивающих достижение заданного значения показателя надежности. [c.252]

Обнаружение случайных ошибок. Под случайной ошибкой подразумевается такая ошибка, которая влияет только на отдельные значения функции, как, например, опечатка или ошибка в вычислениях. Такого рода погрешности, если они не слишком многочисленны, легко обнаружить изучением хода разностей. Чтобы показать влияние такой погрешности, в табл. 4 снова дан полином, табулированный в табл. 1, но значение /, соответствующее х= -f-1, изменено на единицу. [c.123]

Этот пример хорошо демонстрирует силу изложенного метода обнаружения случайных ошибок. В большинстве случаев, встречающихся на практике, разности будут сходиться быстрее, а ошибки окажутся [c.125]

В основе статистического регулирования лежат понятия налаженного и разлаженного процесса. Технологический процесс считается налаженным, если он обеспечивает выпуск продукции с уровнем дефектности, не превышающим некоторый средний допустимый уровень Процесс считается разлаженным, если ему соответствует процент брака, превышающий <7н- Технологический процесс может находиться в одном из названных состояний. Как мы уже отмечали, основной задачей статистического регулирования является своевременное обнаружение перехода технологического процесса из налаженного в разлаженное состояние с целью принятия мер по возвращению процесса в исходное, т. е. налаженное состояние. Таким образом, процедура статистического регулирования должна с высокой степенью достоверности обеспечивать определение истинного состояния процесса. Иными словами, статистическое регулирование должно быть так организовано, чтобы гарантировать приемку продукции, изготовленной в условиях налаженного процесса, и забракование с последующей разбраковкой продукции, изготовленной при разлаженном процессе. Но, как отмечалось ранее, абсолютные гарантии могут быть обеспечены только в условиях сплошного контроля. При выборочном контроле, а статистическое регулирование является выборочной процедурой, неизбежны ошибочные решения. В частности, возможна ошибка, связанная с принятием налаженного процесса за разлаженный. Эта ситуация возникает тогда, когда при налаженном процессе статистическая характеристика случайно попадает за границы регулирования. При планировании статистического регулирования эту ошибку стараются сделать возможно редкой. Для этого вводится понятие риска излишней наладки о, который представляет максимальный процент случаев ложной остановки налаженного технологического процесса. Риск излишней наладки планируется (обычно не более 1 %) и учитывается при разработке плана регулирования, точнее при обосновании значений границ регулирования. [c.230]

Сначала рассмотрим, существует ли фундаментальное ограничение, накладываемое на систему схемой ВКР-усиления. Когерентное усиление всегда сопровождается спонтанным шумом. Этот шум может приводить к флуктуации времени прихода импульса на детектор. Физически это происходит из-за случайного изменения групповой скорости, возникающего из-за малого случайного сдвига несущей частоты на каждой стад1 усиления [100]. Если импульс не поступает в промежуток времени, предназначенный для его (импульса) обнаружения, происходит ошибка. Если вероятность ошибки поддерживается на уровне ниже 10 , то оказывается [72, 100], что произведение скорости передачи информации на длину системы для световода со смещенной дисперсией (Рз — — 2 пс /км) ограничена величиной [c.134]

Обнаружение аномальных ошибок. Под аномальной ошибкой обычно понимают частный вид случайной ошибки, по значению намного превосходящей заданные характеристики информационно-измерительной системы. Причинами таких ошибок в аналитических системах могут быть нарушение методики отбора пробы, отказы аппаратурные и метрологические, сбои ЭВМ, алгоритмические и программные ошибки, неполные и неточные модели процесов, неверные действия обслуживающего нерсонала. [c.124]

Простейшие случаи практического применения теории ошибок (см. Ошибки измерений и наб.т-дений и Практическая математика). При всяких измерениях и наблюдениях, возникающих в процессе С., происходят ошибки систематические и случайные и могут происходить грубые ошибки. Систематич. ошибки д. б. исключаемы приемами измерений и наблюдений случайные ошибки, к-рые не устранимы, д. б. доводимы до наименьшей величины и наконец грубые ошибки д. б. вовсе устраняемы путем их обнаружения с помощью контрольных измерений и наблюдений. Факт неустра-нимости случайных ошибок приводит к заключению, что всякие измерения и наблюдения не дают истинного значения измеряемых величин и наблюдаемых явлений отсюда ясно, что при С. возникает практич. вопрос—с какою именно степенью точности должны производиться измерения и наблюдения, чтобы результаты С. соответствовали по своей точности той цели, ради к-рой данная С. производится. Практич. решение такого вопроса требует ясного представления об ошибках и об устранении их вредного влияния на результаты С., а также об уравновешивании (увязке) тех ошибок, избежать к-рые не представляется возможным даже при самом тщательном выполнении С. [c.306]

Этот тип структурной неустойчивости проще всего может быть обнаружен в эволюции самовоспроизводящихся по.пимерных молекул с постоянным притоком мономеров. Рассмотрим ряд полимеров, полученных в результате автокаталитической реакции пусть эти большие молекулы способны к самовос-производству по матричному механизму. В этом случае каждый новый полимер выступает в роли компонента, вызывающего автокатализ. Предположим кроме того, что это самовоспроизводство подвержено случайным ошибкам, или мутациям. Каждая мутация самовоспроизводящейся молекулы вводит новые компоненты и включает новые химические реакции. Таким образом. [c.425]

Например, у некоторых самолетов имеется около 22 ООО пред-ставляюш,их опасность отверстий только лишь на нижней плоскости крыла [79, стр. 1.5.13]. Полная проверка такого большого количества участков утомительна и трудоемка. Кроме того, в процессе осуш,ествления несложных однообразных операций по проверке более 20 ООО отверстий ничего не стоит допустить ошибку и пропустить всего лишь одно отверстие с представляющей опасность трещиной (называемой иногда коварной трещиной). Доля случайности при применении даже наилучших современных методов дефектоскопии все еще велика, и надежность обнаружения даже больших коварных трещин составляет лишь около 80% при высокой вероятности необнаружения этих же трещин во время второй проверки [79, стр. 1.5.13]. [c.299]

Необходимо различать два типа ошибок случайные или даже постоянно повторяюш,иеся машинные ошибки и ошибки, обусловленные незамеченными ошибками в программе. В наших первых работах методом Монте-Карло использовались вычислительные устройства, даюш,ие довольно много машинных ошибок, связанных главным образом с ошибками в элементах памяти, где использовались электростатические запоминаюш,ие трубки. Для обнаружения таких ошибок использовались тгдательно разработанные методы, включая циклическое суммирование инвариантной части кода и констант, а также проверочную программу , которой мы коснемся ниже. Следующее поколение машин давало значительно меньшее, но все еще заметное количество таких ошибок, связанных главным образом с выходом из строя электронных ламп в цепях возбуждения памяти на магнитных сердечниках. В последующих вычислительных устройствах на транзисторах чрезвычайно уменьшилось количество машинных ошибок благодаря уменьшению частоты выхода из строя отдельных элементов машины, включению проверочных схем (проверка на четность бит и т. д.), а также благодаря разработке промышленных машинных проверочных программ. Во многих случаях уменьшению влияния отдельных машинных ошибок способствует также сама стохастическая природа вычислений методом Монте-Карло. [c.314]

Проверки анормальности результатов наблюдений основываются на двух предположениях результаты подчинены нормальному закону распределения отсутствуют систематические погрешности. Так как эти предположения выполняются не строго, реальный уровень засорения выборки анормальными результатами неизвестен, а их выявление выполняется по одной и той же выборке, то обнаружение анормального результата наблюдения является случайным событием и сопровождается ошибками классификации. Это означает в первом случае, что подозреваемый результат может быть ошибочно отброшен (это ошибка первого рода), во втором случае — ошнбоч[ю признан не анормальным (это ошибка второго рода). Появление таких ошибок приводит к искажению результатов и их точностных характеристик. [c.54]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...