Надежность электронных компонентов

НАДЕЖНОСТЬ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ [c.387]

Надежность электронных компонентов [c.396]

Прежде всего следует подчеркнуть то обстоятельство, что определение количественных показателей надежности электронных приборов, в отличие от аппаратуры, возможно только путем испытаний или по данным работы в условиях эксплуатации. В настоящее время нет таких методов, которые позволили бы определять показатели надежности электронных приборов расчетным путем. Можно лишь методом приближенного сравнения с ранее выпускавшимися или выпускающимся аналогом предположить уровень надежности разрабатываемого прибора. В то же время определение уровня надежности аппаратуры производится на этапе разработки методом расчета на основании уже имеющихся данных по надежности всех входящих компонентов. Совершенно очевидно, что от полноты и достоверности этих данных зависит точность и достоверность расчета уровня надежности аппаратуры. Поэтому особое внимание в работе органов надежности объединения в последнее время уделяется определению уровня надежности разработанных и серийно выпускаемых приборов с достаточно высокой достоверностью и подготовке для опубликования материалов в виде справочных данных. [c.505]

У приводов на основе машин переменного тока с возбуждением от постоянных магнитов и с короткозамкнутым ротором отсутствуют коллекторы, что обуславливает их простоту, невысокую стоимость и надежность в эксплуатации приводных двигателей. Преобразователи этих приводов сложнее, чем у привода на основе коллекторных двигателей постоянного тока, однако благодаря непрерывному совершенствованию управляющих и силовых электронных компонентов этих приводов, последние успешно применяются во многих моделях роботов для сварки. [c.127]

Остается, однако, малоисследованной обширная и важная в практическом отношении часть фазовой диаграммы, соответствующая плотностям, промежуточным между твердофазной и газофазной, и высоким давлениям и температурам. Это область неидеальной по отношению к широкому спектру межчастичных взаимодействий плотной плазмы, характеризующаяся большим разнообразием и крайней сложностью описания происходящих здесь физических процессов и явлений. В этой области реализуется также плотная разогретая металлическая жидкость, по мере расширения которой происходят снятие вырождения электронной компоненты, рекомбинация, переход металл-диэлектрик и переход в газовую или плазменную фазу. Сведения о свойствах металлов в этой области ограничены, по-существу, крайне малочисленными измерениями и полуэмпирическими оценками. Достаточно отметить, что из более чем 80 металлов периодической системы параметры критической точки надежно определены только для трех наиболее легкокипящих [51]. [c.359]

В сложных многоадресных системах КПТ, где необходимо иметь центральное управляющее устройство с большим объемом логических операций, рационально использовать схему управления на бесконтактных элементах. Приведенные схемы логических устройств блоков управления КПТ составлены из элементов, выполняющих элементарные логические операции. Каждый из этих элементов можно собрать из набора стандартных электронных компонентов транзисторов, диодов, резисторов и т. д., по существующим типовым схемам. Однако такой способ слишком трудоемок и не позволяет достигнуть высокого уровня надежности из-за большого числа дискретных комнонентов. [c.227]

В Японские промышленные стандарты также включили большую часть этих испытаний, в результате чего качество и надежность японских электронных компонентов значительно возросли. [c.396]

Постоянное ужесточение требований к надежности и долговечности аппаратуры, большая насыщенность ее компонентами, высокая плотность монтажа, затрудняющая, а часто вообще исключающая возможность замены дефектных деталей и комплектующих изделий, техническая сложность выпускаемых современных электронных приборов —все это ставит в течение многих лет в центр внимания коллектива предприятий объединения вопросы качества, надежности и долговечности выпускаемых изделий, определяет поиски наиболее эффективных решений этих вопросов как в организационном, так и в технико-экономическом отношении. [c.501]

Другим, более перспективным путем является применение интегральных микросхем. Простейшая логическая интегральная схема представляет собой один или несколько элементов, заключенных в один корпус и выполняющих элементарные логические операции. При использовании в КПТ интегральных микросхем повышается качество аппаратуры, увеличивается надежность, снижается стоимость, возрастает быстродействие и уменьшается потребляемая мощность. Повышение надежности достигается за счет того, что все компоненты микросхемы и связи между ними изготовляются в объеме кристалла в едином технологическом процессе. При этом резко уменьшается число межсоединений, являющихся одним из самых ненадежных элементов электронных схем. [c.227]

Методика обеспечения надежности на этапе проектирования. Выбор параметров компонентов электронных схем с учетом требований надежности с применением ЭВМ. Госкомитет стандартов СМ СССР. М., 1974. [c.238]

Подлинная теория почти свободных электронов не может, конечно, давать таких хороших результатов. Следовательно, задача на собственные значения для почти свободных электронов должна быть в действительности заключительной стадией гораздо более сложного анализа, например по методу ОПВ, а фурье-компоненты [/ц есть на самом деле матричные элементы потенциала по ОПВ, а не по плоским волнам. Поэтому подобные вычисления принято называть расчетами по методу ОПВ. В таком контексте этот термин служит, однако, лишь для напоминания о том, что хотя формально анализ идентичен методу почти свободных электронов, ему все же можно дать более надежное теоретическое основание. [c.211]

В последнее время проблеме надежности электронных компонентов, предназначенных для использования в электронных вычислительных машинах и искусственных спутниках Земли, стали уделять серьезное внимание. Зависимость надежности электронных компонентов от времени иногда следует показательной функции, иногда— распределению Гаусса, здесь же рассмотрено распределение Вейбулла, yдoби(Je тем, что оно позволяет объедтгить обе вышеуказанные фу гкцпи. [c.396]

Исследуемые гармоники волны или комбинационные частоты в спектральном методе необходимо очень надежно отфильтровать от остальных спектральных компонент волны. Основную трудность при наблюдении искажения монохроматических волн, конечно, представляют более низкочастотные компоненты спектра (первая — в случае выделения второй гармоники, первая и вторая — в случае выделения третьей или особенно четвертой, и т. д.), так как уровень этих компонент может быть существевГ-но более высоким, чем уровень измеряемой гармоники. В случае наблюдения взаимодействия волн существенным является возможность отстроиться от нежелательных комбинационных частот и гармоник. В отличие от оптики, располагающей материалами с сравнительно большой дисперсией, для упругих волн все исследованные до настоящего времени среды не имеют вообще или имеют очень незначительную дисперсию, связанную с различными релаксационными процессами, что практически исключает возможность применения акустических призм. Вместе с тем, во всяком случае при исследовании нелинейных искажений упругих волн в мегагерцевом диапазоне частот, не возникает вопрос о высокой разрешающей способ-НОс№ акустического или электронного спектрального ап- [c.140]

Коррозия и чрезмерный износ деталей электрических и электронных устройств могут изменить электрические характеристики оборудования и пов.лиять на его нормальное функционирование. Может быть также нанесен ущерб безопасности работы оборудования. Меры предосторожности, разработанные в результате анализа конструкций электрических и электронных агрегатов с точки зрения их защиты от коррозии и воплощенные в плане мероприятий, должны приниматься по отношению к корпусу, шасси, арматуре и прочим элементам оборудования, а также к электрическим, электронным и электромеханическим компонентам и связанным с ними проводникам, осветительным устройствам и арматуре. План мероприятий должен устанавливать минимальные требования для выбора технологии, материалов и систем, а также методов защиты таких систем от воздействия агрессивной среды при этом до.лжны также быть обеспечены надежные электрические соединения и заземления оборудования. [c.417]

Даже в этом случае надежная идентификация представляет собсй непростую задачу, так как при сравнении спектров. Полученных в матрице и в газовой фазе, обнаруживается существенный сдвиг полос. Не достаточно надежно и отнесение электронного спектра к частице, преимущественное образование которой в матрице независимо установлено из ИК-спектров. Дело в том, что интенсивность полос электронных спектров сильно различается и обнаруженные в эксперименте полосы могут не принадлежать основному компоненту смеси. Иногда примеси, не имеющие отношения к объекту исследования, дают интенсивные электронные спектры, в то время как предполагаемая частица вообще не имеет полос в этом спектре. [c.94]

В практике хроматографического анализа для регистрации сигнала детектора обычно применяют самопишущие электронные потенциометры ЭПП (щкала на 2,5 или ЛО мВ) или КСП-4 (шкала на 1 мВ). Это надежные регистраторы с широкой диаграммной лентой. Однако их больщие габариты и масса уменьшают преимущества малогабаритных переносных хроматографов. В то же время при наблюдении за хроматограммой по показывающим приборам, в качестве которых иногда применяют милливольтметры М-136 и др., снижается точность и. чувствительность анализа. Если все характеристики прибора находятся в пределах норм, погрешность хроматографа будет определяться степенью точности, с которой проведена калибровка прибора. Следует считать установленным, что при хорошей воспроизводимости результатов измерений возможно различие между воспроизводимостью данного ряда измерений и действительным содержанием компонента в газе. Разница между найденным и действительным содержаниями компонента может быть значительно больше, чем между отдельными результатами ряда измерений, и будет зависеть от той погрешности, которая допущена при приготовлении и аттестации контрольных калибровочных смесей, служащих в данном случае эталонами. [c.301]

Каждое изменение электронного состояния в атоме вызывает возникновение линии, тогда как каждсе изменение электронного состояния в молекуле вызывает возникновение системы полос. Различные полосы системы возникают вследствие изменений колебательного состояния молекулы, которое, как правило, соответствует гораздо меньшим изменениям энергии молекулы, чем изменения электронного состояния. Поэтому при переходе от одного источника к другому полосы определенной системы обнаруживают в своем поведении некоторое сходство с компонентами узкого мультиплета, появляясь и исчезая одновременно. Но в то время, как мультиплет содержит относительно небольшую часть линий всего спектра, отдельная система полос зачастую состоит из нескольких сотен полос и может охватывать все обычно возбуждаемое излучение данной молекулы. Включение всех таких полос в один список приводит к большому числу совершенно случайных совпадений по длинам волн. Такие совпадения причиняют большие неудобства в случае полос, чем в случае линий, так как определяемая длина волны канта полосы в очень большой степени зависит от суждения наблюдателя и от примененной дисперсии. Таким образом, отождествление отдельной полосы только по длине волны гораздо менее надежно, чем такого же рода отождествление отдельной линии. Поэтому отождествление всякий раз должно быть дополнительно чем-либо подкреплено. [c.9]

Так же как и в методе электронного пучка, в этом методе точность целиком обусловлена параллельностью характеристических кривых, и те же самые источники ошибок приводят к отклонениям от параллельности. Малейшие изменения геометрии диода, неоднородность нагрева катода могут привести к ошибкам того же типа. Изменения природы и распределения пятен на аноде как в условиях А, так и в условиях В могут также привести к неприятностям. Диод не позволяет подавать на анод тормозящий потенциал, иначе попададие эмиттированных электронов на другие компоненты экспериментальной трубки приведет к заниженным значениям измеряемого тока, а следовательно, к нарушению параллельности. Несмотря на упомянутые недостатки, этот метод успешно использовался во многих экспериментах по определению контактной разности потенциалов. Однако он не дает достаточно надежного значения средней работы выхода. [c.212]

Техобслуживание. Применение электронных и высокоразвитых механических компонентов, которые практически не требуют обслуживания, обеспечивает надежность установок Jenba her и минимальное время простоя. Установки Jenba her активны 95% времени. [c.288]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...