Приборы скользящего падения

Если в приборе скользящего падения поставить вместо входной щели фильтр со следующими параметрами 5 1, с/=0,008 мм, Ь=6,0 мм, то при этом удастся почти полностью избавиться от рассеянного видимого света, если число решеток больше двух. [c.126]

Для исследования излучения с длиной волны короче 500 А практически всегда применяются приборы с углом падения света на решетку больше 80°. Это единственная возможность получить достаточную энергию в дифрагированном пучке. Такие приборы называют приборами скользящего падения [4]. [c.128]

Обычно спектральные приборы скользящего падения снабжаются переменной диафрагмой, позволяющей открывать участок решетки необходимой ширины. Окончательный выбор последней приходится делать экспериментально, идя на компромисс между желаемой разрешающей силой и светосилой прибора. [c.165]

В настоящее время приборы скользящего падения выпускаются и промышленностью. Так, например, фирма ARL изготовляет спектрографы скользящего падения с радиусом кривизны решетки 3 м. Метровый прибор ДФС-6 выпущен [c.167]

У фотоматериалов для вакуумного ультрафиолета обнаружен ряд свойств, которыми не обладают слои, предназначенные для видимой области спектра. Коэффициент контрастности проявляет сильную зависимость от угла падения излучения на поверхность эмульсионного слоя [152]. Для длины волны 584 А, например, при переходе от нормального падения к углу ф = 80° у у пленки УФ-2Т уменьшается почти в три раза, а у 5С-5 более чем иа 20%. Эффект настолько велик, что спектральная зависимость коэффициента контрастности, измеренная на приборах скользящего падения, практически целиком отражает зависимость от ф, проявляющуюся также в различных значениях у для различных дифракционных порядков одной и той же длины волны. Зависимость у от угла падения объясняется главным образом поглощением желатиной и должна быть присущей в большей или меньшей степени всем фотоматериалам в вакуумной области спектра. [c.210]

В приборах скользящего падения фокусирующим действием решетки в сагиттальной плоскости можно пренебречь и вместо формулы (18.1) могут быть использованы выражения [c.243]

В пятой главе рассматриваются традиционные фокусирующие и изображающие системы скользящего падения, которые находят широкое применение в различных приборах рентгеновских [c.7]

Крупный шаг в развитии изображающей рентгеновской оптики был сделан в 1952 г. Вольтером [86], который предложил использовать осесимметричные, глубоко асферические зеркала о поверхностями вращения второго порядка. Такие зеркала не имеют астигматизма и сферической аберрации, апертура пучка может быть значительно большей, чем в системах скрещенных зеркал. Вольтер показал, что кома первого порядка, препятствующая построению изображений с помощью одиночных осесимметричных зеркал скользящего падения, значительно снижается в системах с четным числом отражений. К ним относятся системы параболоид—гиперболоид , гиперболоид—эллипсоид , параболоид—эллипсоид и ряд других, которые будут подробно рассмотрены ниже. Системы, построенные на идеях Вольтера, в настоящее время находят широкое применение в различных рентгеновских приборах. [c.158]

При практической разработке зеркальных систем скользящего падения для рентгеновских телескопов, микроскопов и других приборов часто возникает задача выбора таких параметров системы, при которых одновременно достигаются максимальная светосила и разрешение в заданном поле зрения. Как мы видим, требования получения максимальной светосилы и разрешения противоречат одно другому. Задача поиска оптимальных параметров системы может быть решена как расчетным, так и аналитическим путем. [c.188]

Как уже отмечалось, разрешение изображающих зеркальных систем, использующихся в рентгеновских телескопах, микроскопах и других приборах, определяется не столько геометрией зеркал, сколько точностью их формы и качеством изготовления. Для того чтобы достичь предельного дифракционного разрешения и иметь при этом максимальную светосилу, допустимое отклонение в форме зеркал скользящего падения от идеальной не должно превосходить значения [c.215]

Отражательные дифракционные решетки широко используются для получения спектров и спектральных изображений в рентгеновском диапазоне и являются основным средством исследования в таких областях науки, как физика твердого тела, физика горячей плазмы, космическая астрофизика и др. Известно, что в более длинноволновых диапазонах спектра (инфракрасном, видимом и ближнем ультрафиолетовом) высокого качества спектров можно достигнуть с помощью обычной сферической решетки, работающей вблизи нормального падения. В рентгеновской области спектра достаточно высокие дисперсия и эффективность отражения могут быть получены только при скользящем падении однако в этом случае обычная сферическая решетка с регулярными штрихами работает с большими аберрациями, которые ограничивают максимальное разрешение и светосилу прибора. [c.249]

Следует иметь в виду, что, вообще. говоря (и в особенности при скользящем падении света на решетку), имеет место различие в углах падения на разные ее части. Поэтому положение максимума концентрации света данной решеткой меняется для разных ее частей [36а]. Это снижает светосилу прибора и усложняет его энергетическую градуировку. Для устранения этого выпускаются решетки, имеющие несколько участков, нарезанных при разных наклонах резца. Наклон резца выбирается так, чтобы все части решетки давали максимум интенсивности по возможности под одним углом [37]. [c.135]

Наибольший интерес для спектральных систем представляют вогнутые голографические решетки. Существенными недостатками вогнутой нарезной решетки являются присущий ей астигматизм и ограниченный размер нарезанной части. Изготовление вогнутой решетки на тороидальной поверхности позволяет исправить астигматизм, но ограничивает размер нарезанной части. Это обычно ухудшает оптические и эксплуатационные характеристики приборов. Изготовление вогнутой решетки на тороидальной поверхности позволяет исправить астигматизм в одной точке на круге Роуланда (см. гл. 7). Однако для скользящего падения (для коротковолновой области спектра) астигматизм очень велик, поэтому тороид будет иметь большое отношение радиусов кривизны. Такую поверхность получить весьма трудно. Решетку можно изготовить на эллипсоидальной поверхности тогда можно исправить астигматизм и аберрации второго порядка в небольшом спектральном интервале. Другая возможность улучшения свойства решеток состоит в нарезании штрихов решетки с переменным шагом или криволинейными штрихами. Например, применение решетки с шагом, изменяющимся по линейному закону, позволяет исправить астигматизм даже при достаточно больших углах дифракции. Однако и в этом, случае астигматизм исправляется в узкой спектральной области. [c.416]

Основными областями спектра, в которых наиболее эффективно применяется синхротронное излучение, являются вакуумная ультрафиолетовая, мягкая рентгеновская и рентгеновская области. Именно в этих областях СИ имеет наибольшие преимуш ества перед другими источниками. В зависимости от областей спектра подразделяются и применяемые спектральные приборы в вакуумной ультрафиолетовой области применяются монохроматоры нормального падения и его модификации, в мягкой рентгеновской — скользящего падения и частично кристаллические, в рентгеновской — кристаллические монохроматоры. [c.235]

С использованием приведенных выше выражений были проведены расчеты конденсорных систем для спектрометра ВМ-3 и спектрографов скользящего падения ДФС-26 и ДФС-451, исследовано также качество изображения оптической системы приборов совместно с конденсорным зеркалом. На рис. 42 даны графики аберраций оптической системы прибора ДФС-451 при использовании его в канале синхротрона в Пахре на энергию 1,3 ГэВ. [c.244]

Так, первый вид измерений может осуществляться прибором, не имеющим монохроматора, работающим на отдельных характеристических линиях. Требования к точности установки угла падения излучения на образец не очень высоки — порядка единицы угловых минут, поскольку в мягкой рентгеновской области скользящие углы падения составляют единицы градусов. [c.41]

Прочность пленки на удар испытывают с помощью прибора, изображенного на фиг. 165. Определяют максимальную высоту (в см) падения груза, скользящего в стальной трубке и имеющего вес 1 кг, при котором он, ударяя по бойку, передающему удар на испытываемую пластинку, лежащую на наковальне, не вызывает [c.376]

О. с. играет огромную роль во многих природных явлениях, в оптич. приборах (зеркальные и зеркально-линзовые приборы и др.), при постановке научных экспериментов. Для визуального наблюдения к.-л. точки необходимо, чтобы из нее выходил пучок лучей. Поэтому окружающие не самосветящиеся предметы видимы благодаря диффузному О. с. если поверхность предмета гладкая и отражает зеркально, то видна но сама граница раздела, а видны изображения светящихся предметов, полученные при отражении от этой поверхности. Явление миража можно рассматривать как полное внутреннее О. с. от неоднородной слоистой атмосферы в случае наблюдения нри скользящих углах падения. Многие из т. н. летающих тарелок объяснены О. с. Солнца от мелких кристалликов льда в атмосфере. О. с. оказывает и вредное воздействие свет, отражаемый от поверхности линз, приводит к появлению бликов , уменьшению яркости и контрастности изображения. Во многих случаях О. с. можно существенно уменьшить нанесением на поверхности оптич. деталей специальных слоев (см. Просветление оптики). [c.567]

Поскольку 1в ВУФ-области спектра используются спектральные приборы с отражательными решетками, в измерениях нужно учитывать и их собственную поляризующую способность, в меньшей степени для нормального падения (коэффициенты отражения для обеих компонент при нормальном отражении совпадают), в большей — для скользящего. Специальная установка спектрального прибора (щель параллельно плоскости ор- 1 биты) позволяет повысить линейную поляризацию СИ на выходе прибора. Установка щелей выше или ниже плоскости орбиты позволяет выделить круговую поляризацию, левую или правую соответственно. [c.241]

Прп использовании спектрографов скользящего паденпя обычно работают со спектрами первого порядка, и поэтому область дисперспи достаточно велика. Переход от одной области спектра к другой осуществляется передвижением кассеты по кругу Роуланда. Заметим также, что в приборах скользящего падения угловая и линейная дисперсии (в отличие от схем нормального падения) значительно изменяются с длиной волны за счет изменения угла (р (см. (3.94)). Все прпборы ско.льзящего падения вакуумные. [c.301]

Приборы скользящего падения. В условиях скользящего падения основные оптические элементы спектрального прибора расположены так, как это 1 зображено на рпс. 3.28. Угол сс [c.162]

Во многих работах по классификации спектров применяется прибор скользящего падения Национального Бюро Стандартов (США) с радиусом кривизны решетки 10,7 м. Используемая решетка имеет 1200 штрих]мм, решетка покрыта пленкой золота, обратная дпсперсия в первом порядке меняется от 0,173 к мм для 80 А и до 0,273 к мм для 400 А. Прибор может быть использован и в более высоких порядках [139а]. [c.165]

Фотопленки не пригодны для точного измерения длин волн, поскольку из-за высыхания в вакууме, а также усадки при фотографической обработке подвержены значительным дефор-мация.м. К качеству же поверхности фотоматериала в приборах скользящего падения предъявляются высокие требования [142]. Для этих целей выпускаются фотопластинки Ilford Q, SWR и Kodak 101-05. Пластинки изготовляются из экстратонкого стекла 0,8 мм, допускающего изгиб и использование в вогнутых кассетах с радиусом кривизны до 0,5 м. [c.209]

В работе [7а] описан удачный метод визуальной фокусировки приборов скользящего падения с роу 1андовской установкой. [c.226]

Этим методом были проградуированы две спектральные установки в одной использовался прибор скользящего падения, в другой прибор, собранный по схеме Сейа — Намиока. Основ- [c.244]

Hel Я = 5876 А и Не I Л = 3889 А. Л,иния НеП 1 = 304 А регистрировалась на двухметровом приборе скользящего падения [c.370]

В п. 6.1 анализируются требования к качеству зеркал, используемых в рентгеновских телескопах, микроскопах и других системах скользящего падения. Рассматриваются выбор материалов, методы изготовления этих зеркал (в том числе полирование, алмазное точение, репликовые методы, гибка), а также приборы и установки для контроля их геометрических параметров и реальных свойств в рентгеновском диапазоне. [c.8]

Микротопография поверхности зеркал исследуется различными методами, отличающимися как по чувствительности, так и по пространственному разрешению. Большинство этих методов крайне сложно использовать для контроля внутренних отражающих поверхностей зеркал скользящего падения, поэтому исследования обычно выполняются на плоских образцах или небольших кусочках, вырезанных из пробных зеркал. Исключением является метод измерения рассеяния рентгеновского излучения, в котором измеряются интенсивность и угловоераспределениеизлучения, рассеянного произвольным участком зеркала при падении на него узкого скользящего пучка. В некоторых других случаях используют специально сконструированные щуповые или оптические приборы, в которых датчик может помещаться внутрь зеркала и сканировать его поверхность [33, 85]. [c.228]

Развитие дифракционной рентгеновской спектроскопии началось в конце 1920-х годов, когда Комптон и Доан [43] впервые предложили использовать для разложения рентгеновских спектров штриховую решетку, работающую при малых скользящих углах, а Осгуд [80] применил для этой цели вогнутую решетку. Вплоть до 1950-х годов центральной задачей спектроскопии в мягкой рентгеновской области оставалась систематизация спектров и измерение длин волн линий, а основным типом прибора классический спектрограф скользящего падения со сферической решеткой на роуландовском круге (схема Пашена— Рунге или ее модификации). Регистрация спектров проводилась на фотопленку. Достоинствами таких спектрографов являются широкая рабочая область спектра (в типичном случае от 0,5 до 50—100 нм), высокое разрешение, превышающее 10 при оптимальных размерах решетки и входной щели, и универсальность для различных типов источников. Основные недостатки — малая светосила, связанная с аберрационными ограничениями ширины решетки, а также отсутствие пространственного разрешения по высоте щели вследствие астигматизма. [c.281]

Применение такого мощного источника излучения, как синхротрон, снизило требования к апертуре и светосиле приборов и дало возможность повысить разрешение за счет использования высоких порядков дифракции в скрещенных схемах. Обзор современных типов монохроматоров скользящего падения для синхротронов приведен в работе [25]. Из более поздних публикаций укажем на работу Вернера и Висселя [99], в которой описан монохроматор с плоской решеткой, работающей в схеме конической дифракции (рис. 7.18). Пучок, прошедший через входную щель, коллимируется параболическим зеркалом и через плоское зеркало направляется под скользящим углом на решетку дифрагированный пучок поворачивается вторым плоским зеркалом и фокусируется параболическим зеркалом на выходной щели. Сканирование спектра выполняется одновременно перемещением решетки перпендикулярно к отражающей грани штрихов и поворотом плоских зеркал, при этом изменяется только угол скольжения, условие блеска сохраняется. При использовании решетки с плотностью 3600 штрихов/мм и углом блеска 13,5" эффективность отражения в 1-м порядке спектра, согласно измерениям [96] и теории [76], составляет около 70 %, и в области спектра [c.285]

Комбинированный монохроматор-спектрограф с полуметровой решеткой описан Райхом [117]. В этом приборе поворотный столик с источником света и входной ш,елыо установлен на роуландовском круге, а решетка и выходная щель с фотоумножителем, а также кассета, установлены на радиальных рычагах (рис. 3.26). Вращением элементов схемы можно получить одну из трех установок нормальную (а), скользящего падения (б) и Сейа — Намиока [в). [c.161]

В спектральных приборах со скользящим падением применяются решетки с радиусом кривизны от 0,4 до 13 м. Решетка с радиусом кривизны 13 м применена в самом большом из построенных до настоящего времени спектрографе скользящего падения, описанном Киркпатриком [139]. Прибор предна- [c.165]

Спектрограф-монохроматор скользящего падения с переменным углом падения описан Лэндоном [143]. Прибор снаб- [c.166]

Оригинальный спектрограф скользящего падения по схеме Роулпкда был построен Кодлингом и Митчеллом [145]. Чтобы избежать изменения направления луча при отражении от вра-щаюгцейся решетки, они установили внутри прибора на входной и выходной щелях поворотные зеркала. [c.167]

Жэгле предложил и построил спектрограф скользящего падения большо дисперсии, в котором применены две вогнутые дифракц юнные решетки с одинаковыми радиуса.ми кривизны [151, 152] (рис. 3.34), расположенные па одном роуландовском круге. Разумеется, светосила прибора очень мала, и для регистрации спектра искры потребовалось 1500 разрядов конденсатора (60 кв. 0,5 мкф) между алюминиевыми электродами. [c.168]

Был предложен и другой тип интерферометра для вакуумной области спектра [189а]. Схема прибора ясна из рис. 3.45. Между двумя плоскими параллельными зеркалами Л и В помещается точечный источник света и наблюдаются отраже- г ния при скользящем падении. [c.179]

Спектрографы со скользящим падением лучей строят и для решеток с большим радиусом кривизны (до 7 м). Хотя аберрацпи этих приборов больше, чем прп нормальном падении лучей на решетку, одпако они значительно светосильнее последних. [c.153]

Измерение термоэлектродвижущей силы потенциометром. Принципиальная схема потенциометра показана на фиг. 37. Она рассчитана на постоянную силу тока в так называемой компенсационной цепи. В компенсационную цепь, питаемую аккумулятором А, включены регулировочное сопротивление г, постоянное сопротивление и сопротивление Яр, вдоль которого перемешается скользящий контакт С. Величина Яр и сила тока I, протекающего от батареи по компенсационной цепи А, определяют пределы измерения прибора. К компенсационной цепи с помощью переключателя П можно присоединить цепь нормального элемента или цепь термопары. Обычно берут нормальный элемент Вестона, развивающий при 20 °С постоянную э. д. с., равную 1,0183 в, и обладающий небольшим температурным коэфициентом (0,04 /о на 1° С). Прп замыкании переключателя П на точку 7 нормальный элемент НЭ оказывается присоединённым последовательно с нуль-прибором НП. Ток в цепи аккумулятора регулируется реостатом г до тех пор, пока падение напряжения на Янз не будет равно э. д. с. нормального элемента При этом тока в цепи нормального элемента не будет и стрелка нуль-прибора будет находиться на нуле, т. е. 1Янэ пз- Затем переключатель П ставят в положение 2 и перемещают движок С вдоль реохорда так, чтобы падение напряжения в левой части реохорда (между С и Ят) с сопротивлением / рбыло [c.733]

В одном из простейших приборов стальной шар свободно ладает с определенной высоты на испытуемую пластинку. Мерой сопротивления удару служит число падений, необходимое для разрушения пленки. Сходный принцип используется в приборе с падающим молотком [12], который свободно вращается на ко1ще рукоятки и падает из вертикального положения на образец. Высоту рукоятки можно изменять, что позволяет производить прямые или скользящие удары. Ударяющая поверхность молотка имеет либо шаровидную форму, либо форму зубила. [c.1078]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...